本公开涉及显示，尤其涉及一种显示面板的缺陷检测方法及系统、显示面板。
背景技术：
1、微发光二极管(micro-led)显示器是一种在基板上集成高密度微小尺寸的led阵列来实现图像显示的显示器，其因具有高品质、机身薄、能耗低等优点，被视为下一代显示器，逐步成为显示装置中的主流。然而，微发光二极管显示器工艺制程中面临着很多困难点，巨量检测和修复就是其中很重要的一个环节，现有技术中往往无法准确检出显示面板中的缺陷，以及缺陷的位置。
2、因此，如何将显示面板中的缺陷准确检出，上报正确的缺陷位置成为现阶段亟待解决的技术问题之一。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本公开提供了一种显示面板的缺陷检测方法及系统、显示面板，用以改善显示面板的缺陷检测的准确率。
2、第一方面，本公开提供了一种显示面板的缺陷检测方法，包括：
3、根据显示面板的基本信息建立所述显示面板的预设模型；其中，所述基本信息至少包括所述显示面板中的像素单元的行列排布信息和所述像素单元的物理尺寸信息；
4、点亮所述显示面板，采用视觉相机对所述显示面板进行拍照生成发光图像；
5、对所述发光图像进行处理，根据所述预设模型对所述显示面板进行缺陷检测并输出结果。
6、第二方面，基于同一发明构思，本公开还提供了一种显示面板的缺陷检测系统包括：
7、图像处理系统和视觉相机；
8、所述图像处理系统包括信息输入端、第一处理模块和结果输出端；
9、所述信息输入端用于输入显示面板的基本信息，所述基本信息至少包括所述显示面板中的像素单元的行列排布信息和所述像素单元的物理尺寸信息；
10、所述视觉相机用于对所述显示面板进行拍照生成发光图像；
11、所述第一处理模块用于建立所述显示面板的预设模型，还用于对所述发光图像进行处理，根据所述预设模型对所述显示面板进行缺陷检测；
12、所述结果输出端用于输出检测结果。
13、第三方面，基于同一发明构思，本公开还提供一种显示面板，采用第一方面中所述的显示面板的缺陷检测方法进行检测。
14、本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：
15、本公开提供了一种显示面板的缺陷检测方法及系统、显示面板，其中，显示面板的缺陷检测方法包括根据显示面板的基本信息建立显示面板的预设模型，该预设模型能够描述像素单元的行列坐标和物理坐标；点亮显示面板，采用视觉相机对显示面板进行拍照生成发光图像；对发光图像进行处理，根据预设模型对显示面板进行缺陷检测并输出结果；该方法通过建立预设模型，在进行图像分析时，将发光图像中的像素单元与预设模型中的像素单元一一对应，定位出发光异常的像素单元，并准确输出该像素单元的位置，如此设置，有利于提升显示面板的缺陷检测的准确率，也有利于准确输出该缺陷的位置，从而有利于精准检测和修复。
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述像素单元包括至少两个子像素，所述基本信息还包括所述子像素在所述像素单元内的排布顺序。
4.根据权利要求3所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述基本信息还包括所述子像素的尺寸信息。
5.根据权利要求4所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述预设模型对所述显示面板进行缺陷检测包括，将所述发光图像与所述预设模型进行嵌套重合，对所述子像素进行定位，获取发光异常的所述子像素的位置。
6.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述采用视觉相机对所述显示面板进行拍照生成发光图像具体为，所述视觉相机根据所述像素单元的发光亮度识别发光的所述像素单元，在图像处理系统中进行成像。
7.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述发光图像进行处理具体为，图像处理系统将所述发光图像与所述预设模型进行嵌套重合，对所述像素单元进行定位，获取发光异常的所述像素单元的位置。
8.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述视觉相机包括图像传感器，所述图像传感器包括若干个像元，所述对所述发光图像进行处理还包括根据所述像元的尺寸和所述像素单元的尺寸对所述像素单元进行定位。
9.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述预设模型包括行列分布起始点和物理分布原点；
10.根据权利要求9所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，当所述物理分布原点不在所述显示面板内时，所述显示面板的缺陷检测方法还包括输入一个所述像素单元的物理坐标。
11.根据权利要求1所述的显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述输出结果包括缺陷的行列坐标、物理坐标和缺陷类型。
12.一种显示面板的缺陷检测系统，其特征在于，包括：
13.根据权利要求12所述的显示面板的缺陷检测系统，其特征在于，所述像素单元至少包括两个子像素，所述信息输入端还用于输入所述子像素在所述像素单元内的排布顺序。
14.根据权利要求13所述的显示面板的缺陷检测系统，其特征在于，所述信息输入端还用于输入所述子像素的尺寸信息。
15.根据权利要求12所述的显示面板的缺陷检测系统，其特征在于，所述结果输出端用于输出缺陷的行列坐标、物理坐标和缺陷类型。
16.一种显示面板，其特征在于，采用权利要求1-11中任一项所述的显示面板的缺陷检测方法进行检测。
