用于真空设备中的样品托

xiaoxiao2026-08-05  10


本发明属于真空设备,具体涉及一种用于真空设备中的样品托。


背景技术:

1、样品托作为大型互联真空系统中的传递操作的部件。现有的样品托在互联真空系统中用于承载、固定和传递运输样品,样品是固定于样品托上,其会与外界环境相接触,但是当需要把样品在并不互联的俩个真空设备进行传递时,样品会直接接触到大气,会导致样品被严重污染。

2、公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。


技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种用于真空设备中的样品托,其能够使样品处于一个密闭空间内,避免了样品会直接接触到大气导致的严重污染。

2、为了实现上述目的,本发明一具体实施例提供的技术方案如下:一种用于真空设备中的样品托,包括:

3、底座,具有第一表面;

4、盖板,具有第二表面,所述盖板与底座转动连接;

5、密封环,可夹持安装于第一表面和第二表面之间,以形成用于容纳样品的密闭空间;

6、其中,所述底座和盖板其中之一上设有连接件,其中另一上设有连接孔,所述连接件能够与连接孔固定连接,以夹持所述密封环。

7、在本发明的一个或多个实施例中,所述连接件包括抵接部,所述抵接部用于与连接孔的内壁相抵,以使连接件与连接孔固定连接。

8、在本发明的一个或多个实施例中,所述连接件包括至少两个自底座或盖板向外延伸的第一连接杆、以及自第一连接杆弯折延伸的第二连接杆,全部所述第二连接杆上远离第一连接杆的一端相互连接,所述第一连接杆和第二连接杆的连接处为所述抵接部。

9、在本发明的一个或多个实施例中,所述底座和盖板其中之一上间隔设有多个连接件,其中另一上间隔设有多个连接孔,所述连接件与连接孔一一对应。

10、在本发明的一个或多个实施例中,所述连接件为弹性连接件。

11、在本发明的一个或多个实施例中,所述第二表面上设有用于容纳部分密封环的限位槽。

12、在本发明的一个或多个实施例中,所述密封环与限位槽粘接。

13、在本发明的一个或多个实施例中,所述底座上固定连接有转轴,所述盖板上设有轴孔,所述转轴与轴孔转动插接;或,

14、所述底座上转动连接有转轴,所述盖板上设有轴孔,所述转轴与轴孔固定插接。

15、在本发明的一个或多个实施例中,所述底座上间隔设置有两个轴头,所述转轴的两端分别与一个轴头相连接。

16、在本发明的一个或多个实施例中,所述底座包括相连接的本体部和把手部。

17、与现有技术相比,本发明的用于真空设备中的样品托,通过底座、盖板和密封环的相互配合形成了一个用于容纳样品的密闭空间,使样品托在不互联的真空设备之间转移时,可以避免样品与外界空气(大气)相接触,即在一定的真空保护下对样品进行转移,从而避免样品被与外界空气(大气)所污染。



技术特征:

1.一种用于真空设备中的样品托,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述连接件包括抵接部,所述抵接部用于与连接孔的内壁相抵,以使连接件与连接孔固定连接。

3.根据权利要求2所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述连接件包括至少两个自底座或盖板向外延伸的第一连接杆、以及自第一连接杆弯折延伸的第二连接杆,全部所述第二连接杆上远离第一连接杆的一端相互连接,所述第一连接杆和第二连接杆的连接处为所述抵接部。

4.根据权利要求1所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述底座和盖板其中之一上间隔设有多个连接件,其中另一上间隔设有多个连接孔,所述连接件与连接孔一一对应。

5.根据权利要求1所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述连接件为弹性连接件。

6.根据权利要求1所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述第二表面上设有用于容纳部分密封环的限位槽。

7.根据权利要求6所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述密封环与限位槽粘接。

8.根据权利要求1所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述底座上固定连接有转轴,所述盖板上设有轴孔,所述转轴与轴孔转动插接;或,

9.根据权利要求8所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述底座上间隔设置有两个轴头,所述转轴的两端分别与一个轴头相连接。

10.根据权利要求1所述的用于真空设备中的样品托,其特征在于,所述底座包括相连接的本体部和把手部。


技术总结
本发明公开了一种用于真空设备中的样品托,包括:底座,具有第一表面;盖板,具有第二表面,所述盖板与底座转动连接;密封环,可夹持安装于第一表面和第二表面之间,以形成用于容纳样品的密闭空间;其中,所述底座和盖板其中之一上设有连接件,其中另一上设有连接孔,所述连接件能够与连接孔固定连接,以夹持所述密封环。本发明用于真空设备中的样品托可以保证在真空设备之间转移样品时,避免样品托上样品被大气污染,提高了转移过程的安全性,还可以大大减少样品掉落的可能性,也更加便捷,成本也更加低廉。

技术研发人员:郭世庚,宋文涛,陈科蓓,何庆,徐科
受保护的技术使用者:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
技术研发日:
技术公布日:2024/9/23
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