一种办公桌板平整度缺陷测量方法、介质及设备与流程

xiaoxiao2026-07-26  24


本发明涉及平整度测量,尤其涉及一种办公桌板平整度缺陷测量方法、介质及设备。


背景技术:

1、在办公桌的生产制造过程中,随着科技的日益发展,对于品控的要求越来越高。其中,办公桌板作为办公桌中用户最看重的部件之一,其平整度最影响用户的体验。

2、传统技术中,对于桌面的平整度测量,大多采用机械装置,比如公开号为cn207976105u、cn214010202u的中国专利申请。但在使用过程中,技术人员发现该些机械装置中滑动部位的配合精度直接影响了平整度测量的精度,并且通过肉眼读取刻度也存在较大的误差。

3、因而,在此基础上,技术人员开发了基于图像处理的平整度测量方法,如公开号为cn113310438a的中国专利申请。该申请通过获取包括有若干条等距排布的线状条纹的初始条纹图像;并将初始条纹图像投影至待测表面,使原本缺少纹理信息及几何结构的待测墙面,会因为待测墙面中的凸出部或凹陷部而使投影在墙面上的条纹投影图像中的条纹出现畸变,进而在待测墙面形成携带用深度信息的条纹投影图像,通过采集该条纹投影图像;并根据条纹投影图像中的条纹弯曲特征和条纹投影图像中的条纹稀疏特征,确定待测表面的平整度信息。

4、但使用过程中发现,若待测表面本身存在图案,则原图案会和所投影的条纹图像发生干涉,对于条纹弯曲特征和条纹稀疏特征的提取造成干扰。因而上述方案较为适用无图案的纯色表面或者带有简单图案的表面,而对本身带有复杂图案的桌面(比如原木的桌板)测量并不准确。

5、因此,如何开发一种能够适用原本带有图案/花纹的办公桌板的平整度测量方案是亟待解决的难题之一。


技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种办公桌板平整度缺陷测量方法、介质及设备,能够避免办公桌板原本带有的图案或者花纹的影响,从而提升平整度测量的准确性。

2、为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

3、第一方面,本发明提供一种办公桌板平整度缺陷测量方法,包括如下步骤:

4、s1,依次从办公桌板的周围的固定高度处的至少三处光源位置投射光束于办公桌板上,并分别采集办公桌板表面的投影图像;

5、s2,将所述投影图像分割为若干第一区域;

6、s3,测量每一处光源位置下,所述投影图像的每个第一区域的相对亮度,并根据所述相对亮度将第一区域区分为背光区、面光区和平面区;

7、s4,将相邻的背光区和面光区合并为疑似缺陷区域;

8、s5,针对每一疑似缺陷区域,计算对应所有光源位置下该疑似缺陷区域的面积或者相对亮度的绝对值之和作为其缺陷值,若最大的缺陷值大于所预设的对应阈值,则判定该疑似缺陷区域为确认缺陷区域。

9、在本发明第一方面的某些实施例中,所述s3中,相对亮度的测量方法如下:

10、s301,将所述投影图像在每一第一区域内的图像转化为灰度图像,遍历所述灰度图像的所有像素,计算灰度值的平均值作为所述投影图像的每一个第一区域的亮度;

11、s302,获取对应同一处光源位置下的标准图像,并按照s301的步骤计算标准图像的每一个第一区域的亮度;

12、s303,将所述投影图像和标准图像相对应的第一区域的亮度作差,则得到第一区域的相对亮度。

13、在本发明第一方面的某些实施例中,所述至少三处光源位置在同一高度上,并且呈环形阵列分布,所述环形阵列的中心位于办公桌板中心的正上方。

14、在本发明第一方面的某些实施例中,所述s3中,根据所述相对亮度将第一区域区分为背光区、面光区和平面区的方法如下:

15、设置小于零的第一阈值和大于零的第二阈值;

16、若所述相对亮度小于第一阈值,则对应的第一区域为面光区;

17、若所述相对亮度大于第二阈值,则对应的第一区域为背光区;

18、若所述相对亮度位于第一阈值和第二阈值之间,则对应的第一区域为平面区。

19、在本发明第一方面的某些实施例中,在所述s4中,还包括以下步骤:

20、s411,将位于疑似缺陷区域边缘的背光区/面光区所在的第一区域进一步分割为第二区域;

21、s412,并根据相对亮度将第二区域分为背光区、面光区和平面区;

22、s413,将被划分为平面区的第二区域从原疑似缺陷区域内剔除。

23、在本发明第一方面的某些实施例中,所述s3中,还包括以下步骤:

24、s421,将位于疑似缺陷区域边缘的平面区所在的第一区域进一步分割为第三区域;

25、s422,并根据相对亮度将第三区域分为背光区、面光区和平面区;

26、s423,将被划分为背光区、面光区的第二区域增补至原疑似缺陷区域内。

27、在本发明第一方面的某些实施例中,将相邻的背光区和面光区合并为疑似缺陷区域时,若相邻的背光区和面光区之间存在平面区,则将相邻的背光区和面光区之间的平面区并入疑似缺陷区域。

28、在本发明第一方面的某些实施例中,所述s5中,还对所述确认缺陷区域分为凹陷部和凸起部,区分方法如下:

29、判断相邻的背光区和面光区沿着所述确认缺陷区域所对应的投射光束方向的排列顺序,若面光区位于背光区的前方,则该确认缺陷区域分为凹陷部;若背光区位于面光区的前方,则该确认缺陷区域分为凸起部。

30、第二方面,本发明提供一种非暂态存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行如第一方面所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法的步骤。

31、第三方面,本发明提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如第一方面所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法的步骤。

32、与现有技术相比,本发明的有益效果是:

33、1、本发明通过对办公桌板的表面图像的多个第一区域进行相对亮度的分析,从而区分出肉感背光区和面光区,结合不平整位置对于光线反射的不同效果可知,无论是凹陷部还是凸起部,都会存在相邻的背光区和面光区,因此,将区分出的相邻背光区和面光区合并即可得到疑似缺陷区域;并且,结合对平整度的要求,将疑似缺陷区域的面积或者相对亮度之和进一步判断是否为确认缺陷区域。本方法通过相对亮度来进行判断,因此不会受到办公桌板表面原有的图案/花纹的影响。

34、2、由于办公桌板的缺陷部位形状不一,有可能是圆形,也有可能椭圆形获取其他不规则的形状。而这些不规则形状在不同角度的光束投射下,所呈现出来的疑似缺陷区域的缺陷值(即面积或者相对亮度的绝对值之和)也是不同的,若采用固定的一个光源来检测,会出现漏检的情况。因此,本发明采用至少三处光源位置透射光束,并在最终判断中,针对同一疑似缺陷区域,取最大的缺陷值进行判断,从而可避免漏检的情况。



技术特征:

1.一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,所述s3中,相对亮度的测量方法如下:

3.根据权利要求2所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,所述至少三处光源位置在同一高度上,并且呈环形阵列分布,所述环形阵列的中心位于办公桌板中心的正上方。

4.根据权利要求2所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,所述s3中,根据所述相对亮度将第一区域区分为背光区、面光区和平面区的方法如下:

5.根据权利要求1所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,在所述s3中,还包括以下步骤:

6.根据权利要求1或5所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,所述s3中,还包括以下步骤:

7.根据权利要求1所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,将相邻的背光区和面光区合并为疑似缺陷区域时,若相邻的背光区和面光区之间存在平面区,则将相邻的背光区和面光区之间的平面区并入疑似缺陷区域。

8.根据权利要求1所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法,其特征在于,所述s5中,还对所述确认缺陷区域分为凹陷部和凸起部,区分方法如下:

9.一种非暂态存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令用于使所述计算机执行如权利要求1至权利要求8任一项所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法的步骤。

10.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至权利要求8任一项所述的一种办公桌板平整度缺陷测量方法的步骤。


技术总结
本发明提供一种办公桌板平整度缺陷测量方法、介质及设备,涉及平整度测量技术领域。包括如下步骤:从办公桌板的周围的固定高度处的至少三处光源位置投射光束于办公桌板上,并采集办公桌板表面的投影图像;将投影图像分割为若干第一区域;测量投影图像的每个第一区域的相对亮度,并将第一区域区分为背光区、面光区和平面区;将相邻的背光区和面光区合并为疑似缺陷区域;计算对应所有光源位置下该疑似缺陷区域的面积或者相对亮度的绝对值之和作为其缺陷值,若最大的缺陷值大于所预设的对应阈值,则判定该疑似缺陷区域为确认缺陷区域。本发明能够避免办公桌板原本带有的图案或者花纹的影响,从而提升平整度测量的准确性。

技术研发人员:钱爱君,厉权贯,尹若君,陈超峰,戚芳芳,姜茵茵
受保护的技术使用者:圣奥科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/9/23
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