本发明涉及电路检测，具体涉及一种h桥拓扑电路的短路故障检测方法。
背景技术：
1、h桥拓扑（h-bridge）是电力电子领域中的一种基本电路拓扑，主要用于实现直流电压或电流的方向反转，以及在交流应用中生成可变频率和幅值的交流信号，h桥广泛应用于电机控制、逆变器、电池充电器和其他电力转换系统中；h桥由四个开关器件（通常是晶体管，如mosfet或igbt）组成，它们被配置成“h”形状；在实际应用中由于功率问题，往往每个桥臂都并联两个开关器件。
2、h桥拓扑具有结构简单、模块化设计、效率较高等优点，但同时也带来了成本较高、控制复杂及难以维护等问题；在以往设计中，当h桥功率模块产生短路故障时，由于并联mosfet多以及mosfet封装设计，难以定位短路mosfet位置，从而给产品维护带来很大不便，造成产品全生命周期的成本上升，大大降低了产品竞争力。因此本发明研究设计出一种h桥拓扑电路的短路故障检测方法。
技术实现思路
1、因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的不便于对当h桥功率模块产生短路故障时，难以定位短路mosfet位置的缺陷，从而提供一种h桥拓扑电路的短路故障检测方法。
2、为了解决上述问题，本发明提供一种h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其包括：
3、s-1：检测h桥拓扑电路中器件是否发生短路故障，若否，检测结束；
4、s-2：若器件发生短路故障，则对所述h桥拓扑电路的直流侧外加直流电源，并通入电流；
5、s-3：基于通电后所述h桥拓扑电路中各器件的阻抗差异，对故障器件进行定位。
6、优选地，所述s-1中，通过万用表对所述h桥拓扑电路进行检测，以判断对应器件是否发生短路故障。
7、优选地，所述h桥拓扑电路包括：第一开关器件、第二开关器件、第三开关器件以及第四开关器件组成的h桥式电路，其中第一开关器件、第二开关器件串联形成第一桥臂，第三开关器件和第四开关器件串联形成第二桥臂，所述第一桥臂和所述第二桥臂并联，且所述h桥式电路接地，所述h桥式电路并联有电容，外加的所述直流电源的正负极分别与所述电容的两端连接。
8、优选地，所述第一桥臂与所述第二桥臂的中点之间还连接有电感。
9、优选地，所述第一开关器件、第二开关器件、第三开关器件管和第四开关器件均为场效应晶体管。
10、优选地，所述s-2中，对检测h桥拓扑电路的直流侧中电流的添加为由小到大逐渐调节，直至明显获取到所述h桥拓扑电路中器件的阻抗差异。
11、优选地，所述s-3中，器件的阻抗差异通过检测期间的通电后的发热差异情况进行判断。
12、优选地，所述s-3中，通过实时利用热成像仪获取检测h桥拓扑电路所对应器件的发热状况。
13、本发明提供的一种h桥拓扑电路的短路故障检测方法具有如下有益效果：
14、1.本发明通过判断器件是否发生短路故障后，通过对检测h桥拓扑电路的直流侧加直流电源并调整直流电源的大小，利用已短路损坏mosfet和正常mosfet的ds阻抗差异，使得能清楚获取到检测h桥拓扑电路所对应器件的发热状况，通过对应器件发热的差异化，可以定位出正常和故障器件的位置，做到快速、精准化的定位；
15、2.本发明具有低成本、操作简单、快速反应的特点，可以大大提高产品的维修率以及降低产品的维修成本。
1.一种h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
6.根据权利要求1所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
7.根据权利要求1所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
8.根据权利要求7所述的h桥拓扑电路的短路故障检测方法，其特征在于：
