光学性能检测装置的制作方法

本技术属于光学检测，尤其涉及一种光学性能检测装置。

背景技术：

1、随着社会发展、科技进步，应用光学的检测设备应用得越来越广泛。其中，pcr技术是一种在生物体外放大扩增特定的dna片段的分子生物学技术，其最大的特点是能将微量的dna大幅增加。pcr技术具有特异性强、灵敏度高、纯度要求低以及简便、快速的特点，因而被广泛应用于分子生物学检测及分析。

2、现如今pcr仪或poct设备通常采用模块化设计，其中将荧光激发与发射光学系统跟温度控制系统组合成一个pcr模块是一种常见的做法。在经过一段时间使用后，pcr模块的性能是否发生了变化，需要进行检测判断。

3、现有技术中通常通过制备荧光参比溶液或者固态荧光标准品，来检测pcr模块的光学性能，荧光参比溶液制备起来非常不易，而且检测也非常耗时，长久保存使用面临蒸发等问题。若pcr模块有多通道，比如4个通道，甚至6个通道，会更耗时。制备固态荧光标准品也并非易事，需要反复调配才能找到配方，导致检测效率较低。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的是提出一种光学性能检测装置，旨在解决现有技术中光学性能检测装置检测耗时长且效率低的技术问题。

2、为了实现上述目的，本实用新型提供一种光学性能检测装置，用于光学设备的光学性能检测，所述光学设备包括激发模块和带有光电探测器的发射模块，所述光学性能检测装置包括：第一检测模块，包括依次设置的检测光源、衰减片组和耦合透镜；对接模块，包括对接壳和安装于所述对接壳的第一光纤、第二光纤，所述对接壳用于对接所述发射模块和所述激发模块，所述第一光纤用于将所述第一检测模块射出的光线传输至所述发射模块内，所述第二光纤用于传输所述激发模块射入的光线；第二检测模块，用于接收并检测所述第二光纤射出的光线。

3、在本实用新型实施例中，所述第一检测模块还包括用于对光线强度进行线性衰减的线性衰减组件，所述线性衰减组件位于所述衰减片组和所述耦合透镜之间。

4、在本实用新型实施例中，所述线性衰减组件包括滤光轮和衰减片轮，所述滤光轮、所述衰减片轮依次设置于所述衰减片组和所述耦合透镜之间。

5、在本实用新型实施例中，所述滤光轮包括至少两个滤光片。

6、在本实用新型实施例中，衰减片轮包括至少两个二次衰减片。

7、在本实用新型实施例中，所述第一检测模块还包括位于所述检测光源和衰减片组之间的第一准直透镜。

8、在本实用新型实施例中，所述第一准直透镜的数量为至少两个。

9、在本实用新型实施例中，所述第二检测模块包括依次设置的第二准直透镜、聚焦透镜和检测器，其中，所述第二准直透镜靠近所述第二光纤设置。

10、在本实用新型实施例中，所述检测光源为全光谱光源。

11、在本实用新型实施例中，所述第二检测模块为光功率计或光谱仪。

12、通过上述技术方案，本实用新型实施例所提供的光学性能检测装置具有如下的有益效果：

13、在采用光学性能检测装置进行光学性能检测时，可先将对接壳和光学设备对接，使发射模块、激发模块分别对应第一光纤、第二光纤设置，检测光源能发出检测光线，光线经过衰减片组衰减后，衰减片组能将光线强度降低至所需强度，经过耦合透镜的聚焦，光线能通过第一光纤传播至发射模块，发射模块内的光电探测器将接收到的光线转换为电信号，通过与发射模块标准品的值进行对比完成发射模块的光学性能检测；激发模块发出的光线能通过第二光纤进入第二检测模块，第二检测模块接收光线，通过与激发模块标准品进行对比完成激发模块的光学性能检测，能避免现有技术中荧光溶液或固态荧光标准品的制备，缩短光学设备光学性能检测时长。本实用新型中的光学性能检测装置通过第一检测模块、对接模块和第二检测模块三者配合，能对光学设备的激发模块和发射模块进行光学性能检测，能避免荧光样品制备，提高了光学性能检测的效率。

14、本实用新型的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

技术特征：

1.一种光学性能检测装置，用于光学设备的光学性能检测，所述光学设备包括激发模块(10)和带有光电探测器的发射模块(20)，其特征在于，所述光学性能检测装置(100)包括：

2.根据权利要求1所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述第一检测模块(1)还包括用于对光线强度进行线性衰减的线性衰减组件(14)，所述线性衰减组件(14)位于所述衰减片组(12)和所述耦合透镜(13)之间。

3.根据权利要求2所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述线性衰减组件(14)包括滤光轮(141)和衰减片轮(142)，所述滤光轮(141)、所述衰减片轮(142)依次设置于所述衰减片组(12)和所述耦合透镜(13)之间。

4.根据权利要求3所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述滤光轮(141)包括至少两个滤光片。

5.根据权利要求3所述的光学性能检测装置，其特征在于，衰减片轮(142)包括至少两个二次衰减片。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述第一检测模块(1)还包括位于所述检测光源(11)和衰减片组(12)之间的第一准直透镜(15)。

7.根据权利要求6所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述第一准直透镜(15)的数量为至少两个。

8.根据权利要求1至5中任意一项所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述第二检测模块(3)包括依次设置的第二准直透镜(31)、聚焦透镜(32)和检测器(33)，其中，所述第二准直透镜(31)靠近所述第二光纤(23)设置。

9.根据权利要求1至5中任意一项所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述检测光源(11)为全光谱光源。

10.根据权利要求1至5中任意一项所述的光学性能检测装置，其特征在于，所述第二检测模块(3)为光功率计或光谱仪。

技术总结
本技术提供一种光学性能检测装置，光学设备包括激发模块和带有光电探测器的发射模块，光学性能检测装置包括：第一检测模块，包括依次设置的检测光源、衰减片组和耦合透镜；对接模块，包括对接壳和安装于对接壳的第一光纤、第二光纤，对接壳用于对接发射模块和激发模块，第一光纤用于将第一检测模块射出的光线传输至发射模块内，第二光纤用于传输激发模块射入的光线；第二检测模块，用于接收并检测第二光纤射出的光线。本技术中的光学性能检测装置通过第一检测模块、对接模块和第二检测模块三者配合，能对光学设备的激发模块和发射模块进行光学性能检测，能避免荧光样品制备，提高了光学性能检测效率。

技术研发人员：解亚平,李建军,欧阳春宝,姚红利,戴立忠
受保护的技术使用者：湖南元景智造科技有限公司
技术研发日：20240226
技术公布日：2024/9/23