一种存储器的测试系统及其测试方法与流程
本发明涉及存储领域，特别涉及一种存储器的测试系统及其测试方法。
背景技术：
1、随着手机、平板等电子产品的大量应用，对存储器的低功耗要求越来越高。电源关闭通知（power off notification，pon）是存储器中一个重要的功能，其能够显著降低电子产品的功耗。存储器的固件必须能够正确处理正常的pon操作，同时在各种电源断电和上电组合情况下，确保电子产品能够恢复到正常状态。不同的应用场景对固件的处理能力要求不同，因此对固件的处理能力进行压力测试是必要的。
2、现有的固件的压力测试大多基于固件内部的白盒测试，这种测试方法的条件单一且复杂度不够，无法全面覆盖客户真实使用场景中的各种断电和上电的组合问题。这种测试局限性导致固件内部验证不充分。因此，存在待改进之处。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种存储器的测试系统及其测试方法，以对存储器的固件进行全面压力测试。
2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：
3、本发明提供了一种存储器的测试系统，包括：
4、处理单元，用以配置不同的低功耗模式与对应的超时时间阈值，并发送至存储器；
5、电源管理单元，电连接于所述处理单元、存储器，所述电源管理单元用以控制存储器的输入/输出电源引脚的上下电；以及
6、监控单元，电连接于所述处理单元、存储器，所述监控单元用以监控存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的状态；
7、其中，所述处理单元用以搭建测试环境，并在不同的低功耗模式下，对所述存储器进行压力测试；
8、所述处理单元在确定所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电完整时，读取所述存储器掉电前写入主机数据对应的地址数据；
9、所述处理单元还用以将存储器在掉电前写入的主机数据与掉电后读取的主机数据进行比对，以生成测试结果。
10、在本发明一实施例中，所述低功耗模式包括短电源模式，所述超时时间阈值包括短时长阈值；
11、在所述短电源模式下，所述处理单元用以向电源管理单元下发立即断电指令，以使所述存储器进入掉电状态；
12、所述处理单元还用以向电源管理单元下发延时断电指令，并在所述存储器发出完成信号之后，以使所述存储器进入掉电状态；
13、所述处理单元还用以向所述存储器下发断电等待指令，在存储器发出完成信号之前，在第一延迟时长之后，以使所述存储器进入掉电状态，其中，所述第一延迟时长小于短时长阈值；
14、其中，在所述存储器进入掉电状态后，所述处理单元还用以对存储器的核心电源引脚的上下电和输入/输出电源引脚的上下电进行不同组合的测试，记录所述存储器的响应结果。
15、在本发明一实施例中，所述低功耗模式还包括长电源模式，所述超时时间阈值还包括长时长阈值；
16、在所述长电源模式下，所述处理单元用以向电源管理单元下发立即断电指令，以使所述存储器进入掉电状态；
17、所述处理单元还用以向电源管理单元下发延时断电指令，并在所述存储器发出完成信号之后，以使所述存储器进入掉电状态；
18、所述处理单元还用以向所述存储器下发断电等待指令，在存储器发出完成信号之前，在第二延迟时长之后，以使所述存储器进入掉电状态，其中，所述第二延迟时长小于长时长阈值；
19、其中，在所述存储器进入掉电状态后，所述处理单元还用以对存储器的核心电源引脚的上下电和输入/输出电源引脚的上下电进行不同组合的测试，记录所述存储器的响应结果。
20、在本发明一实施例中，所述低功耗模式还包括休眠模式，所述超时时间阈值还包括休眠时长阈值；
21、在所述休眠模式下，所述处理单元用以向电源管理单元下发立即断电指令，以使所述存储器进入掉电状态；
22、所述处理单元还用以向电源管理单元下发延时断电指令，并在所述存储器发出完成信号之后，以使所述存储器进入掉电状态；
23、所述处理单元还用以向所述存储器下发断电等待指令，在所述存储器发出完成信号之前，在第三延迟时长之后，以使所述存储器进入掉电状态，其中，所述第三延迟时长小于休眠时长阈值；
24、其中，在所述存储器进入掉电状态后，所述处理单元还用以对存储器的核心电源引脚的上下电和输入/输出电源引脚的上下电进行不同组合的测试，记录所述存储器的响应结果。
25、在本发明一实施例中，在所述短电源模式与所述长电源模式下，所述处理单元对存储器的测试包括：核心电源引脚上电与输入/输出电源引脚的上电、核心电源引脚上电与输入/输出电源引脚的下电、核心电源引脚下电与输入/输出电源引脚的上电、核心电源引脚下电与输入/输出电源引脚的下电中的至少一种组合。
26、在本发明一实施例中，在所述休眠模式下，所述处理单元对存储器的测试包括：核心电源引脚上电与输入/输出电源引脚的上电、核心电源引脚下电与输入/输出电源引脚的上电中的至少一种组合。
27、在本发明一实施例中，所述处理单元在确定所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电不完整时，重复对所述存储器进行压力测试，直至所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电完整为止。
28、在本发明一实施例中，所述处理单元确定所述存储器在掉电前写入的主机数据与掉电后读取的主机数据相同时，生成所述测试结果；
29、所述处理单元确定所述存储器在掉电前写入的主机数据与掉电后读取的主机数据不同时，生成所述测试结果，并对所述存储器的固件进行优化。
30、本发明还提供了一种存储器的测试方法，包括：
31、获取存储器，并搭建所述存储器的测试环境；
32、配置不同的低功耗模式与对应的超时时间阈值，并发送至所述存储器；
33、在不同的所述低功耗模式下，对所述存储器进行压力测试；
34、判断所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电是否完整；
35、当所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电不完整时，重复对所述存储器进行压力测试；
36、当所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电完整时，将所述存储器在掉电前写入的主机数据与掉电后读取的主机数据进行比对，以生成测试结果。
37、在本发明一实施例中，所述低功耗模式包括短电源模式、长电源模式、休眠模式，所述超时时间阈值包括短时长阈值、长时长阈值、休眠时长阈值，所述在不同的所述低功耗模式下，对所述存储器进行压力测试的步骤包括：
38、在所述短电源模式、所述长电源模式以及所述休眠模式下，处理单元用以向电源管理单元下发立即断电指令，以使所述存储器进入掉电状态；
39、在所述短电源模式、所述长电源模式以及所述休眠模式下，所述处理单元用以向电源管理单元下发延时断电指令，并在所述存储器发出完成信号之后，以使所述存储器进入掉电状态；
40、在所述短电源模式、所述长电源模式以及所述休眠模式下，所述处理单元用以向所述存储器下发断电等待指令，在所述存储器发出完成信号之前，在预设延迟时长之后，以使所述存储器进入掉电状态，其中，所述预设延迟时长包括与短电源模式对应的第一延迟时长、与长电源模式对应的第二延迟时长以及与休眠模式对应的第三延迟时长，所述第一延迟时长小于短时长阈值，所述第二延迟时长小于长时长阈值，所述第三延迟时长小于休眠时长阈值；
41、其中，在所述存储器进入掉电状态后，所述处理单元还用以对存储器的核心电源引脚的上下电和输入/输出电源引脚的上下电进行不同组合的测试，记录所述存储器的响应结果。
42、如上所述，本发明提供一种存储器的测试系统及其测试方法，通过在不同模式下进行详细的测试，包括pon短时间忙碌、长时间忙碌和睡眠忙碌的情况，以及在命令执行后立即断电、等待存储器完成后断电、存储器工作中断电等不同场景，能够测试存储器在各种pon模式下的响应时间和处理能力，可以及时发现固件在pon模式下可能存在的潜在风险和缺陷。通过详细的测试和验证，能够确保固件能够在不同的电源模式和操作条件下都能稳定运行，减少数据丢失或设备损坏的风险。
43、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
技术特征：
1.一种存储器的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器的测试系统，其特征在于，所述低功耗模式包括短电源模式，所述超时时间阈值包括短时长阈值；
3.根据权利要求2所述的存储器的测试系统，其特征在于，所述低功耗模式还包括长电源模式，所述超时时间阈值还包括长时长阈值；
4.根据权利要求3所述的存储器的测试系统，其特征在于，所述低功耗模式还包括休眠模式，所述超时时间阈值还包括休眠时长阈值；
5.根据权利要求3所述的存储器的测试系统，其特征在于，在所述短电源模式与所述长电源模式下，所述处理单元对存储器的测试包括：核心电源引脚上电与输入/输出电源引脚的上电、核心电源引脚上电与输入/输出电源引脚的下电、核心电源引脚下电与输入/输出电源引脚的上电、核心电源引脚下电与输入/输出电源引脚的下电中的至少一种组合。
6.根据权利要求4所述的存储器的测试系统，其特征在于，在所述休眠模式下，所述处理单元对存储器的测试包括：核心电源引脚上电与输入/输出电源引脚的上电、核心电源引脚下电与输入/输出电源引脚的上电中的至少一种组合。
7.根据权利要求1所述的存储器的测试系统，其特征在于，所述处理单元在确定所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电不完整时，重复对所述存储器进行压力测试，直至所述存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电完整为止。
8.根据权利要求1所述的存储器的测试系统，其特征在于，所述处理单元确定所述存储器在掉电前写入的主机数据与掉电后读取的主机数据相同时，生成所述测试结果；
9.一种存储器的测试方法，其特征在于，包括：
10.根据权利要求9所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述低功耗模式包括短电源模式、长电源模式、休眠模式，所述超时时间阈值包括短时长阈值、长时长阈值、休眠时长阈值，所述在不同的所述低功耗模式下，对所述存储器进行压力测试的步骤包括：
技术总结
本发明提供了一种存储器的测试系统及其测试方法，测试系统包括：处理单元，用以配置不同的低功耗模式与对应的超时时间阈值，并发送至存储器；以及监控单元，用以监控存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的状态；其中，处理单元用以搭建测试环境，并在不同的低功耗模式下，对存储器进行压力测试；处理单元在确定存储器的核心电源引脚与输入/输出电源引脚的上下电完整时，读取存储器掉电前写入主机数据对应的地址数据；处理单元还用以将存储器在掉电前写入的主机数据与掉电后读取的主机数据进行比对，以生成测试结果。通过本发明提供的一种存储器的测试系统及其测试方法，能够对存储器的固件进行全面压力测试。
技术研发人员：余玉,许展榕
受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/9/23