电子装置及电子装置的方法与流程
本发明有关于一种测试验证方案，尤其涉及一种电子装置和方法。
背景技术：
1、一般而言，基于传统机制，一个电路设计者会将一传统芯片电路的设计发送到一制程代工厂，由制程代工厂来实际生产或量产该传统芯片电路。而在传统芯片电路制作完成之后，该芯片电路的功能/操作会由一封装测试厂进行测量、测试验证，其例如会进行一芯片探测测试程序、一封装测试程序和一最终测试程序。如果在任何一个测试过程中出现失败，则该电路设计者就需要配合封装测试厂的操作人员来进行测试并解决测试失败的问题，而这必然导致花费较长时间、电路设计者与封装测试厂的操作人员之间的大量沟通、无效率及测试成本较高等的结果。
2、此外，电路设计者也只能根据封装测试厂上报的测试结果来猜测测试失败的发生原因，然而由于目前开发的芯片电路设计变得较为复杂，因此通过猜测测试失败的发生原因来解决问题的难度是很大的。
技术实现思路
1、因此本发明的目的之一在于提供一种电子装置及相应的方法，以解决上述问题。
2、根据本发明的实施例，揭露了一种电子装置。该电子装置包括一功能电路、一测试模式电路与一验证电路。该功能电路耦接至至少一信号埠，并用以连接至一外部装置，以因应于从该外部装置发出的至少一控制信号来执行至少一功能操作。测试模式电路耦接至该功能电路，并用以控制该功能电路因应于从一验证电路所传送的一测试型样信号来执行至少一测试操作。验证电路设置于该电子装置内并耦接至该测试模式电路，并用以根据该测试模式电路所提供的一时脉信号将该测试型样信号转换为多个测试波形信号、用以产生并输出该多个测试波形信号至该测试模式电路、用以当对应于该测试型样信号的该至少一测试操作被执行时从该测试模式电路接收多个测试结果波形信号、用以将一目标型样信号转换成多个目标结果波形信号以及用以接着将该多个测试结果波形信号与该多个目标结果波形信号进行比较以决定并输出一失败结果信号至该测试模式电路，该失败结果信号用于指示是否发生了至少一失败。
3、根据本发明的实施例，另揭露了一种电子装置。该电子装置包括一功能电路、一测试模式电路与一验证电路。功能电路耦接至至少一信号埠，该至少一信号埠用以连接至一外部装置，该功能电路用以因应于从该外部装置所发出的至少一控制信号来执行至少一功能操作。测试模式电路耦接至该功能电路，并用以控制该功能电路因应于一验证电路所传送的一测试型样信号来执行至少一测试操作。验证电路设置于该电子装置内并耦接至该测试模式电路，并用以根据该测试模式电路所提供的一时脉信号将该测试型样信号转换为多个测试波形信号、用以产生并输出该多个测试波形信号至该测试模式电路、用以当对应于该测试型样信号的该至少一测试操作被执行时从该测试模式电路接收多个测试结果波形信号、用以将一目标型样信号转换成多个目标结果波形信号以及用以接着比较该多个测试结果波形信号与该多个目标结果波形信号以直接决定并输出对应于一失败结果信号之一中断信号至该功能电路，该失败结果信号用于指示是否发生了至少一测试位元失败。
4、根据本发明的实施例，另揭露了一种电子装置的方法。该方法包括：提供并使用一功能电路以因应于从一外部装置发出的至少一控制信号来执行至少一功能操作，该功能电路耦接至至少一信号埠，该至少一信号埠用以连接至该外部装置；提供并使用一测试模式电路以控制该功能电路因应于从该电子装置内部的一验证电路所传送的一测试型样信号来执行至少一测试操作；根据该测试模式电路所提供的一时脉信号将该测试型样信号转换为多个测试波形信号；产生并输出该多个测试波形信号至该测试模式电路；当对应于该测试型样信号的该至少一测试操作被执行时，从该测试模式电路接收多个测试结果波形信号；将一目标型样信号转换成多个目标结果波形信号；以及，将该多个测试结果波形信号与该多个目标结果波形信号进行比较以决定并输出一失败结果信号至该测试模式电路，该失败结果信号用于指示是否发生了至少一失败。
5、根据本发明的实施例，所揭露的方法可以对于对一电子装置例如是一芯片电路采用一芯片上(on-chip)的测试与验证的技术解决方案，以缩短芯片电路的失败排除时间，并实现降低芯片电路的测试成本的效果。
技术特征：
1.一种电子装置，包括：
2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该电子装置为一快闪存储器控制器芯片电路，该外部装置为一主机电脑装置。
3.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该验证电路包括：
4.如权利要求3所述的电子装置，其特征在于，该多个测试比较电路中的一特定测试比较电路包括有：
5.如权利要求4所述的电子装置，其特征在于，该多个测试比较电路中所分别包含的多个正反器电路是串联连接。
6.如权利要求4所述的电子装置，其特征在于，该特定闩锁单元包括有：
7.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该测试模式电路包括：
8.如权利要求7所述的电子装置，其特征在于，该功能电路包括有：
9.一种电子装置，包括：
10.如权利要求9所述的电子装置，其特征在于，该电子装置为一快闪存储器控制器芯片电路，而该外部装置为一主机电脑装置。
11.如权利要求9所述的电子装置，其特征在于，该验证电路包括：
12.如权利要求11所述的电子装置，其特征在于，该多个测试比较电路中的一特定测试比较电路包括有：
13.如权利要求12所述的电子装置，其特征在于，该多个测试比较电路中所分别包含的多个正反器电路是串联连接。
14.如权利要求12所述的电子装置，其特征在于，该特定闩锁单元包括：
15.如权利要求11所述的电子装置，其特征在于，该处理电路包括：
16.如权利要求15所述的电子装置，其特征在于，该功能电路包括：
17.一种电子装置的方法，包括：
18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，该电子装置为一快闪存储器控制器芯片电路，该外部装置为一主机电脑装置。
19.如权利要求17所述的方法，其特征在于，另包括：
20.如权利要求17所述的方法，其特征在于，接收该多个测试结果波形信号并将该多个测试结果波形信号与该多个目标结果波形信号进行比较的步骤包括：
技术总结
本发明涉及一种电子装置及电子装置的方法。该电子装置包括一功能电路、一测试模式电路和一验证电路。验证电路基于从测试模式电路提供的时脉信号产生测试波形信号并将其输出到测试模式电路、当对应于测试型样信号的至少一个测试操作被执行时从测试模式电路接收多个测试结果波形信号以及并将多个测试结果波形信号与多个目标结果波形信号进行比较来产生并输出失败结果信号至测试模式电路，失败结果信号用以指示是否发生至少一测试位元失败。
技术研发人员：刘则言
受保护的技术使用者：慧荣科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/9/23