本技术属于集成电路制造,具体涉及一种聚焦离子束中的多功能芯片托盘。
背景技术:
1、现有技术的多功能芯片托盘采用两边夹芯片管脚的方式,使用时芯片放中间槽中,芯片上样的管脚必须全部接触铝工具,两边螺丝拧紧即可夹芯片管脚。其缺点是:因为芯片封装种类众多,此工具只能适应两边管脚的芯片;一次性上样只能是同样宽度的芯片,且能上的芯片数量太少;不能满足四边管脚芯片的封装,因其会有两边管脚悬空,不能接触到芯片托盘上的铝;不能上qfn、qfp、dip及pcb板上芯片;其总体厚度过厚,对于过高过厚的封装芯片超出了加工高度极限。
技术实现思路
1、本实用新型要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供一种聚焦离子束中的多功能芯片托盘。
2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:包括托盘本体,所述托盘本体为直径75cm的圆盘,所述圆盘的整个盘面上设置有线切割矩阵小铝块、铝阵列划槽;所述圆盘的中部盘面上还设置直径50cm的圆印记;所述圆盘的盘面上设置有两个螺丝孔;所述圆盘的底部中间设置有凸台,在所述凸台的中心部位处设置底柱。
3、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型可以一次大量上样,满足不同客户各种不同封装的芯片,大大减少了频繁上样抽真空的时间,平均每天可节省3-4个小时的上样抽真空次数的时间;解决了一些厚的产品封装,一些大的pcb测试板无法上进设备,无法加工的问题;解决了现有技术中四面管脚芯片两边悬空不能接地的问题,托盘在设备中本身是接地的,因为管脚不接地会在加工过程中对芯片造成静电击穿。
1.一种聚焦离子束中的多功能芯片托盘,其特征在于:包括托盘本体,所述托盘本体为直径75cm的圆盘,所述圆盘的整个盘面上设置有线切割矩阵小铝块、铝阵列划槽;所述圆盘的中部盘面上还设置直径50cm的圆印记;所述圆盘的盘面上设置有两个螺丝孔;所述圆盘的底部中间设置有凸台,在所述凸台的中心部位处设置底柱。
