树脂部件的评价方法及高电压贯通型电容器的制造方法与流程

本发明涉及一种树脂部件的评价方法以及使用了该评价方法的高电压贯通型电容器的制造方法。

背景技术：

1、包含合成树脂的树脂部件例如可以通过将树脂原料与高分子用稳定剂和功能赋予剂等添加物混合，使得到的混合物固化来制造。在这样的树脂部件的制造中，如果原材料的混合不充分，则有可能树脂部件的物性降低或不均匀化。因此，需要掌握树脂部件的混合状态，评价树脂部件的均质性。

2、例如，专利文献1公开了在使用2种以上的树脂原料的树脂部件的制造中，在树脂原料中添加成色剂，确认混合树脂原料后的色调的变化，由此判定混合状态好坏的方法。在专利文献1的方法中，虽然可以评价能够目视确认的程度的宏观的混合程度，但难以评价添加物的局部的凝聚的有无等微观的混合状态。

3、另外，专利文献2公开了基于与纤维状添加物的占有面积相关的频率分布来评价包含树脂和摩擦材料的复合部件的混合状态的方法。在专利文献2中，依据与混合时间相应地圆当量直径减少这样的纤维状添加物的特殊性来评价复合部件的混合状态，专利文献2的评价方法有时难以应用于其他树脂部件。

4、现有技术文献

5、专利文献

6、专利文献1：日本特开平10-182984号公报

7、专利文献2：日本特开2002-226832号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的课题

2、本发明的例示性的实施方式的目的在于提供一种能够评价树脂部件的均质性的树脂部件的评价方法、以及使用了该评价方法的高电压贯通型电容器的制造方法。

3、用于解决课题的技术手段

4、为了实现上述目的，本发明的树脂部件的评价方法具有：第一工序，在包含经过固化的树脂和1种以上的添加物的树脂部件的截面中，测量从属于指标添加物的粒子中选择的1个关注粒子的短径rc；第二工序，将具有3rc的直径且以所述关注粒子的重心为中心的圆的内侧区域确定为所述关注粒子的附近区域；第三工序，判定存在于所述附近区域的粒子分别是否属于所述指标添加物；以及第四工序，将存在于所述附近区域且属于所述指标添加物的粒子作为附近粒子，测量所述附近粒子的数量，变更所述关注粒子并且重复多次所述第一工序至所述第四工序，基于所述附近粒子的数量的最大值nmax来评价所述树脂部件的均质性。

5、在所述第三工序中，也可以判定存在于所述附近区域的所述粒子中的具有所述短径rc的0.6倍以上的短径的粒子属于所述指标添加物。

6、在所述第三工序中，也可以判定存在于所述附近区域的所述粒子中的具有与所述关注粒子相同的组成的粒子属于所述指标添加物。

7、优选的是，所述树脂部件是使包含2种以上树脂原料的混合物固化而得到的固化物，所述指标添加物是仅包含在选自2种以上树脂原料中的1种树脂原料中的添加物。

8、优选所述树脂部件中的所述指标添加物的体积含有率为1vol％以上30vol％以下，更优选为1.5vol％以上20vol％以下。

9、在上述评价方法中，也可以将用于判定均质性的好坏的所述最大值nmax的阈值设定为3，评价所述树脂部件的均质性。

10、上述评价方法的应用领域没有特别限定。例如，上述评价方法也可以应用于使用绝缘树脂的各种电子部件的评价。作为使用绝缘树脂的电子部件，例如可以举出高电压贯通型电容器(hfc)，高电压贯通型电容器具有电容器单元和覆盖所述电容器单元的树脂部件。在这样的高电压贯通型电容器的制造中，也可以利用本发明的树脂部件的评价方法来确定用于形成所述树脂部件的原材料的混合条件。

技术特征：

1.一种树脂部件的评价方法，其中，

2.根据权利要求1所述的树脂部件的评价方法，其中，

3.根据权利要求1所述的树脂部件的评价方法，其中，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的树脂部件的评价方法，其中，

5.根据权利要求1～3中任一项所述的树脂部件的评价方法，其中，

6.根据权利要求1～3中任一项所述的树脂部件的评价方法，其中，

7.根据权利要求1～3中任一项所述的树脂部件的评价方法，其中，

8.一种高电压贯通型电容器的制造方法，其中，

技术总结
本发明提供一种能够评价树脂部件的均质性的树脂部件的评价方法、以及使用该评价方法的高电压贯通型电容器的制造方法。该树脂部件的评价方法具有：第一工序，在包含经过固化的树脂和1种以上的添加物的树脂部件的截面中，测量从属于指标添加物的粒子中选择的1个关注粒子的短径r<subgt;C</subgt;；第二工序，将具有3r<subgt;C</subgt;的直径且以关注粒子的重心为中心的圆的内侧区域确定为关注粒子的附近区域；第三工序，判定存在于附近区域的粒子分别是否属于指标添加物；以及第四工序，将属于存在于附近区域的指标添加物的粒子设为附近粒子，测量附近粒子的数量。变更关注粒子并且重复多次第一工序至第四工序，基于附近粒子的数量N的最大值N<subgt;Max</subgt;，评价树脂部件的均质性。

技术研发人员：小林央始,加茂雄大,佐藤日和,田中寿,安藤德久
受保护的技术使用者：TDK株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/9/23