一种存储芯片测试座的制作方法
本技术涉及芯片测试，具体地讲，涉及一种存储芯片测试座。
背景技术：
1、ic芯片(integrated circuit集成电路)是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的ic芯片(如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”)，存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。所以存储芯片在出厂前要经过严格的检测。
2、芯片测试时，需要使用测试座，例如实用新型一种存储芯片测试座及测试装置，授权公告号cn217544166u，实现芯片的位置固定，以方便实现测试。
3、目前，还缺少一种设备，方便实现芯片的放置以及取出。
技术实现思路
1、本实用新型要解决的技术问题是提供一种存储芯片测试座，有利于实现芯片检测时放置、夹持以及取出。
2、本实用新型采用如下技术方案实现发明目的：
3、一种存储芯片测试座，其特征是，包括：测试座，所述测试座底板设置有一组安装槽，所述测试座的顶板设置有一组槽口；一组夹持组件，设置在所述测试座内，每个所述夹持组件分别设置在对应的所述安装槽内，每个所述夹持组件分别匹配对应的所述槽口；所述夹持组件包括安装板，所述安装板设置在所述安装槽内，所述安装板固定连接所述测试座，所述安装板固定连接卡槽，所述卡槽设置在所述槽口内；所述安装板固定连接对称的导向筒，对称的所述导向筒内分别设置有升降架的竖杆，所述升降架固定连接安装支架，所述安装支架轴承连接对称的锥齿轮的中心轴，对称的所述锥齿轮的中心轴分别固定连接夹持l杆。通过设置卡槽，方便实现芯片的定位，将芯片放置到卡槽后，方便后续测试；通过设置夹持组件，夹持l杆实现向上运动同时向卡槽方向摆动，实现芯片的夹持固定；夹持l杆在非使用状态时，远离卡槽，方便实现芯片的放置以及为芯片的取出提供充足的空间。
4、作为本技术方案的进一步限定，所述安装板固定连接双轴电机，所述双轴电机的一个输出轴穿过所述安装板固定连接转盘，所述转盘的边缘处固定连接圆块，所述圆块设置在滑槽内，所述滑槽固定连接所述升降架。通过采用升降架，实现夹持l杆沿高度方向运动。
5、作为本技术方案的进一步限定，所述双轴电机的另一个输出轴固定连接动力锥齿轮，所述安装板轴承连接从动锥齿轮的中心轴，所述从动锥齿轮啮合所述动力锥齿轮，所述从动锥齿轮的中心轴固定连接导向轴，所述导向轴穿过导向锥齿轮的中心轴，所述导向锥齿轮的中心轴轴承连接所述安装支架。通过采用锥齿轮啮合，实现动力传输。
6、作为本技术方案的进一步限定，所述安装支架轴承连接对称的内锥齿轮的中心轴，对称的所述内锥齿轮分别啮合所述导向锥齿轮，对称的所述内锥齿轮的中心轴分别固定连接外锥齿轮，对称的所述外锥齿轮分别啮合对应的所述锥齿轮。通过采用锥齿轮啮合，为夹持l杆的摆动提供动力。
7、作为本技术方案的进一步限定，所述夹持l杆表面材料为橡胶。夹持l杆采用橡胶材料，避免夹持时对芯片产生损伤。
8、与相关技术相比较，本实用新型提供的一种存储芯片测试座具有如下有益效果：
9、(1)本装置通过设置卡槽，方便实现芯片的定位，将芯片放置到卡槽后，方便后续测试；
10、(2)本装置通过设置夹持组件，夹持l杆实现向上运动同时向卡槽方向摆动，实现芯片的夹持固定；
11、(3)本装置的夹持l杆在非使用状态时，远离卡槽，方便实现芯片的放置以及为芯片的取出提供充足的空间。
技术特征：
1.一种存储芯片测试座，其特征是，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征是：所述安装板(11)固定连接双轴电机(12)，所述双轴电机(12)的一个输出轴穿过所述安装板(11)固定连接转盘(9)，所述转盘(9)的边缘处固定连接圆块(19)，所述圆块(19)设置在滑槽(20)内，所述滑槽(20)固定连接所述升降架(8)。
3.根据权利要求2所述的存储芯片测试座，其特征是：所述双轴电机(12)的另一个输出轴固定连接动力锥齿轮(13)，所述安装板(11)轴承连接从动锥齿轮(14)的中心轴，所述从动锥齿轮(14)啮合所述动力锥齿轮(13)，所述从动锥齿轮(14)的中心轴固定连接导向轴(15)，所述导向轴(15)穿过导向锥齿轮(16)的中心轴，所述导向锥齿轮(16)的中心轴轴承连接所述安装支架(7)。
4.根据权利要求3所述的存储芯片测试座，其特征是：所述安装支架(7)轴承连接对称的内锥齿轮(17)的中心轴，对称的所述内锥齿轮(17)分别啮合所述导向锥齿轮(16)，对称的所述内锥齿轮(17)的中心轴分别固定连接外锥齿轮(18)，对称的所述外锥齿轮(18)分别啮合对应的所述锥齿轮(6)。
5.根据权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征是：所述夹持l杆(5)表面材料为橡胶。
技术总结
本技术公开了一种存储芯片测试座，其特征是，包括：测试座，所述测试座底板设置有一组安装槽，所述测试座的顶板设置有一组槽口；一组夹持组件，设置在所述测试座内，每个所述夹持组件分别设置在对应的所述安装槽内，每个所述夹持组件分别匹配对应的所述槽口；所述夹持组件包括安装板，所述安装板设置在所述安装槽内，所述安装板固定连接所述测试座，所述安装板固定连接卡槽，所述卡槽设置在所述槽口内。本技术涉及芯片测试技术领域，具体地讲，涉及一种存储芯片测试座。本技术要解决的技术问题是提供一种存储芯片测试座，有利于实现芯片检测时放置、夹持以及取出。
技术研发人员：洪育铠,洪育铃
受保护的技术使用者：深圳市志忠微电子有限公司
技术研发日：20240221
技术公布日：2024/9/23