芯片测试方法、装置和系统与流程

本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片测试方法、芯片测试装置和芯片测试系统。

背景技术：

1、在对量产芯片自动化测试的过程中，对于相同封装、功能近似的系列芯片，由于版本号或型号的不同，对芯片的测试方式也不同。

2、现有技术中，在对某一版本或型号的芯片进行测试前，需要将芯片的标准测试接口语言(standard test interface language，stil)文件中待测试部分的内容提取出来，转换成特定格式文件，并将其编译成固件烧录于测试芯片的测试工装中，以对待测芯片进行测试。

3、上述技术方案的测试工装需要与芯片的型号或版本号一一对应，在测试其他型号或版本的芯片时，需要重新搭建测试工装。因此，同一测试工装无法对不同的芯片进行测试，存在着芯片测试的通用性较差的缺陷。

技术实现思路

1、本技术的一些实施例提供了一种芯片测试方法、装置和系统。以下从多个方面介绍本技术，以下多个方面的实施例和有益效果可互相参考。

2、第一方面，本技术提供了一种芯片测试方法，用于包括控制装置和芯片测试装置的系统，方法包括：控制装置获取待测芯片的芯片标识和待测芯片的标准测试接口语言stil文件；控制装置向芯片测试装置发送匹配信息，匹配信息至少包括芯片标识；芯片测试装置基于匹配信息，判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件；若芯片测试装置判断未满足测试条件，向控制装置发送第一消息；控制装置响应于第一消息，向芯片测试装置发送stil文件；芯片测试装置对接收到的stil文件进行文件转换处理，得到测试文件，并根据测试文件对待测芯片进行测试。

3、根据本技术实施例，芯片测试装置在未满足待测芯片的测试条件的情况下，控制装置可以向芯片测试装置发送用于测试待测芯片的stil文件。芯片测试装置可以根据该stil文件生成待测芯片的测试文件，并根据测试文件直接对待测芯片进行测试，而无需将测试文件编译成固件烧录于芯片测试装置中，从而可以实现对不同的待测芯片进行测试，提升了芯片测试装置对芯片测试的通用性。

4、在一些实施例中，匹配信息还包括对stil文件进行校验所得到的校验码。

5、根据本技术实施例，可以提高测试文件的匹配准确性。

6、在一些实施例中，芯片测试装置基于匹配信息，判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件，包括：芯片测试装置基于匹配信息，查询芯片测试装置中是否存在与匹配信息相匹配的测试文件，并根据查询结果判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件。

7、在一些实施例中，方法进一步包括：若芯片测试装置判断满足测试条件，向控制装置发送第二消息；控制装置响应于第二消息，向芯片测试装置发送测试指令，测试指令用于指示芯片测试装置测试待测芯片。

8、在一些实施例中，芯片标识包括待测芯片的型号和/或版本号。

9、在一些实施例中，芯片测试装置对接收到的stil文件进行文件转换处理，得到测试文件，包括：对stil文件进行提取，得到提取文件；对提取文件进行格式转换，得到测试文件。

10、第二方面，本技术提供了一种芯片测试方法，用于控制装置，方法包括：获取待测芯片的芯片标识和待测芯片的stil文件；向芯片测试装置发送匹配信息，匹配信息用于芯片测试装置判断是否满足待测芯片的测试条件，匹配信息至少包括芯片标识；若接收到来自芯片测试装置的第一消息，第一消息用于指示芯片测试装置未满足测试条件；响应于第一消息，向芯片测试装置发送待测芯片的stil文件。

11、根据本技术实施例，芯片测试装置在未满足待测芯片的测试条件的情况下，控制装置可以向芯片测试装置发送用于测试待测芯片的stil文件，以使得芯片测试装置可以根据该stil文件生成待测芯片的测试文件，从而可以实现对不同的待测芯片进行测试，提升了芯片测试装置对芯片测试的通用性。

12、在一些实施例中，匹配信息还包括对stil文件进行校验所得到的校验码；其中，在向芯片测试装置发送匹配信息之前，方法还包括：对stil文件进行校验计算处理，以得到校验码；根据待测芯片的芯片标识和校验码确定匹配信息。

13、在一些实施例中，根据待测芯片的芯片标识和校验码确定匹配信息，包括：将芯片标识和校验码进行拼接，以得到匹配信息。

14、在一些实施例中，方法进一步包括：若接收到来自芯片测试装置的第二消息，第二消息用于指示芯片测试装置满足测试条件；响应于第二消息，向芯片测试装置发送测试指令，测试指令用于指示芯片测试装置测试待测芯片。

15、第三方面，本技术提供了一种芯片测试方法，用于芯片测试装置，方法包括：接收到来自控制装置的匹配信息，匹配信息至少包括待测芯片的芯片标识；基于匹配信息，判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件；若未满足测试条件，向控制装置发送第一消息，以请求控制装置发送待测芯片的stil文件；对接收到的stil文件进行文件转换处理，得到测试文件，并根据测试文件对待测芯片进行测试。

16、根据本技术实施例，芯片测试装置在未满足待测芯片的测试条件的情况下，控制装置可以向芯片测试装置发送用于测试待测芯片的stil文件。芯片测试装置可以根据该stil文件生成待测芯片的测试文件，并根据测试文件直接对待测芯片进行测试，而无需将测试文件编译成固件烧录于芯片测试装置中，从而可以实现对不同的待测芯片进行测试，提升了芯片测试装置对芯片测试的通用性。

17、在一些实施例中，匹配信息还包括对stil文件进行校验所得到的校验码。

18、在一些实施例中，基于匹配信息，判断是否满足待测芯片的测试条件，包括：

19、基于匹配信息，查询芯片测试装置中是否存在与匹配信息相匹配的测试文件，并根据查询结果判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件。

20、在一些实施例中，对接收到的stil文件进行文件转换处理，得到测试文件，包括：对stil文件进行提取，得到提取文件；对提取文件进行格式转换，得到测试文件。

21、在一些实施例中，方法进一步包括：删除stil文件和/或提取文件。

22、在一些实施例中，方法进一步包括：以预设文件名存储测试文件，其中，预设文件名包括匹配信息。

23、在一些实施例中，方法进一步包括：若满足测试条件，向控制装置发送第二消息，以请求控制装置发送测试指令；响应于接收到测试指令，对待测芯片进行测试。

24、第四方面，本技术提供了一种芯片测试装置，包括：通信模块，用于接收来自控制装置的匹配信息，匹配信息至少包括待测芯片的芯片标识；匹配模块，用于基于匹配信息，判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件；通信模块，还用于在芯片控制装置未满足测试条件时，向控制装置发送第一消息，以请求控制装置发送待测芯片的stil文件；stil转换模块，用于对获取到的stil文件进行文件转换处理，得到测试文件；扫描测试执行模块，用于根据测试文件，对待测芯片进行测试。

25、根据本技术实施例，芯片测试装置在未满足待测芯片的测试条件的情况下，控制装置可以向芯片测试装置发送用于测试待测芯片的stil文件。芯片测试装置可以根据该stil文件生成待测芯片的测试文件，并根据测试文件直接对待测芯片进行测试，而无需将测试文件编译成固件烧录于芯片测试装置中，从而可以实现对不同的待测芯片进行测试，提升了芯片测试装置对芯片测试的通用性。

26、在一些实施例中，芯片测试装置还包括非易失性存储器，非易失性存储器用于存储芯片测试装置的历史测试文件；其中，匹配模块基于匹配信息，判断是否满足待测芯片的测试条件，包括：匹配模块基于匹配信息，查询非易失性存储器存储的历史测试文件中是否存在与匹配信息相匹配的测试文件，并根据查询结果判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件。

27、在一些实施例中，非易失性存储器还用于以预设文件名存储测试文件，预设文件名包括匹配信息。

28、在一些实施例中，芯片测试装置还包括：选择模块，用于在满足测试条件时，从历史测试文件中选择与待测芯片相对应的测试文件。

29、在一些实施例中，芯片测试装置还包括易失性存储器，易失性存储器用于存储stil文件。

30、在一些实施例中，芯片测试装置还包括：进度结果统计模块，用于统计待测芯片测试过程中的测试进度和测试结果。

31、在一些实施例中，通信模块为usb-hid模块；非易失性存储器为flash；和/或，易失性存储器为ram。

32、第五方面，本技术提供了一种芯片测试系统，系统包括控制装置和本技术第四方面任一实施例提供的芯片测试装置，控制装置用于对芯片测试装置进行控制。第五方面能达到的有益效果可参考第五方面任一实施例所提供的方法的有益效果，此处不再赘述。

33、第六方面，本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有指令，该指令在计算机上执行时使得计算机执行本技术第一方面任一实施例所述的芯片测试方法，或执行本技术第二方面任一实施例所述的芯片测试方法，或执行本技术第三方面任一实施例所述的芯片测试方法。第六方面能达到的有益效果可参考第一方面任一实施例、第二方面任一实施例或第三方面任一实施例所提供的方法的有益效果，此处不再赘述。

技术特征：

1.一种芯片测试方法，用于包括控制装置和芯片测试装置的系统，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述匹配信息还包括对所述stil文件进行校验所得到的校验码。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述芯片测试装置基于所述匹配信息，判断所述芯片测试装置是否满足所述待测芯片的测试条件，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片标识包括所述待测芯片的型号和/或版本号。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片测试装置对接收到的所述stil文件进行文件转换处理，得到测试文件，包括：

7.一种芯片测试方法，用于控制装置，其特征在于，所述方法包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述匹配信息还包括对所述stil文件进行校验所得到的校验码；

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测芯片的芯片标识和所述校验码确定所述匹配信息，包括：

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

11.一种芯片测试方法，用于芯片测试装置，其特征在于，所述方法包括：

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述匹配信息还包括对所述stil文件进行校验所得到的校验码。

13.根据权利要求11或12所述的方法，其特征在于，所述基于所述匹配信息，判断是否满足所述待测芯片的测试条件，包括：

14.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述对接收到的所述stil文件进行文件转换处理，得到测试文件，包括：

15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

16.根据权利要求14所述的测试方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

17.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

18.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

19.根据权利要求18所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括非易失性存储器，所述非易失性存储器用于存储所述芯片测试装置的历史测试文件；

20.根据权利要求19所述的芯片测试装置，其特征在于，所述非易失性存储器还用于以预设文件名存储所述测试文件，所述预设文件名包括所述匹配信息。

21.根据权利要求19所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：

22.根据权利要求19所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括易失性存储器，所述易失性存储器用于存储所述stil文件。

23.根据权利要求18所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：

24.根据权利要求19所述的芯片测试装置，其特征在于，所述通信模块为usb-hid模块；所述非易失性存储器为flash；和/或，所述易失性存储器为ram。

25.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括控制装置和权利要求18至24任一项所述的芯片测试装置，所述控制装置用于对所述芯片测试装置进行控制。

技术总结
本申请提供了一种芯片测试方法、装置和系统，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：控制装置获取待测芯片的芯片标识和STIL文件；控制装置向芯片测试装置发送匹配信息，匹配信息至少包括芯片标识；芯片测试装置基于匹配信息，判断芯片测试装置是否满足待测芯片的测试条件；若芯片测试装置判断未满足测试条件，向控制装置发送第一消息；控制装置响应于第一消息，向芯片测试装置发送STIL文件；芯片测试装置对接收到的STIL文件进行文件转换处理，得到测试文件，并根据测试文件对待测芯片进行测试。本申请的芯片测试方法可以实现芯片的测试文件的切换，使得芯片测试装置可以对不同的芯片进行测试，提升了芯片测试装置对芯片测试的通用性。

技术研发人员：樊宏斌
受保护的技术使用者：上海艾为电子技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/9/23