一种测试CT探测器位置的方法及装置与流程
本申请属于ct探测器，尤其涉及一种测试ct探测器位置的方法及装置。
背景技术：
1、ct技术一直向着更多排数、更宽视野发展。目前除主流的32排和64排ct之外，128排和256排ct系统也相继问世，其中，ct排数是指ct探测器的排数。探测器排数的提升一般是指通过多个探测器在z向拼接增加z向物理像素的数量来实现，接下来，将多个探测器在紧密排列安装到ct导轨上，并位于一个面向ct的球管焦点的弧面上。由于ct图像的重建依赖特定的光路几何，因此，探测器的组装定位精度，对ct的成像质量有着重要影响。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种测试ct探测器位置的方法及装置，用于解决多个探测器拼接安装精度差的问题。
2、本发明第一方面提供一种测试ct探测器位置的方法，所述方法包括：
3、根据x射线装置启动指令，得到x射线；
4、根据采集卡启动指令，得到所述x射线穿过狭缝，射在探测器上，形成的采集数据；
5、根据所述采集数据，得到所述探测器的光响应数据；
6、根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线；
7、根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量；
8、根据所述偏移量，调整所述探测器的位置。
9、可实施的一些方式中，所述根据x射线装置启动指令，得到x射线的步骤，包括：
10、获取控制信号，所述控制信号包括x射线装置启动指令；
11、所述x射线装置，响应于x射线装置启动指令，得到x射线；
12、所述根据采集卡启动指令，得到所述x射线穿过狭缝，射在探测器上，形成的采集数据的步骤，包括：
13、获取所述控制信号，所述控制信号还包括采集卡启动指令；
14、所述采集卡，响应于所述采集卡启动指令，采集穿过所述狭缝，且射在所述探测器上的数据，得到所述采集数据。
15、可实施的一些方式中，所述根据所述采集数据，得到探测器的光响应数据的步骤，还包括：
16、根据所述采集数据，得到所述光响应数据；其中，
17、所述光响应数据表示数据a(x，y，t)为n×m探测器的光响应数据；
18、每组所述光响应数据对应每个时刻t，共t个时刻；
19、x为在所述探测器x方向的第x个通道，n为所述探测器x方向的通道总数，y代表在所述探测器y方向的第y排，m为所述探测器y方向的通道总数。
20、可实施的一些方式中，所述根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线的步骤，包括：
21、根据所述光响应数据，在时间t方向，计算光响应均值，得到向量b，其中，向量b(x，y)计算公式为：
22、
23、利用样条插值法，对所述探测器每个y向上的数据a(x)进行多次样条插值运算，得到每个所述探测器的每个y向插值数组a’(x’)；
24、以x’为横坐标，a’(x’)为纵坐标，绘制曲线，得到a’(x’)数据曲线；
25、根据a’(x’)数据曲线，得到a’(x’)数据曲线的半高宽，其中，所述半高宽中心对应横坐标值记为xfwhm；
26、根据所述探测器y向数据的对应xfwhm，得到探测器的数组xfwhm(y)；
27、以y为横坐标，利用最小二乘法，对所述数组xfwhm(y)进行直线拟合，得到狭缝投影的响应曲线。
28、可实施的一些方式中，所述根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量的步骤，包括：
29、根据预设的判断标准，对所述狭缝投影的响应曲线的偏斜情况进行比较，得到每个所述探测器在y向偏斜量；
30、将所述探测器的数组xfwhm(y)与预设的探测器标准偏差值进行比较，得到每个所述探测器的x向偏移量；
31、根据所述探测器在y方向上的偏斜量和所述探测器的x向偏移量，得到所述探测器的偏移量。
32、本发明第二方面提供一种测试ct探测器位置的装置，应用于前述的测试ct探测器位置的方法，装置包括：
33、检测部，包括一字狭缝结构和定位支架，所述定位支架上设置有探测器和一字狭缝结构；
34、x射线装置，用于射出x射线；
35、电气部，包括采集卡和控制电路板，所述采集卡与所述探测器连接，用于采集所述探测器的光响应数据；所述控制电路板分别与所述采集卡和所述x射线装置连接；其中，
36、所述一字狭缝结构位于所述探测器和所述x射线装置之间，以便x射线装置射出的x射线经过所述一字狭缝结构射向所述探测器；
37、所述控制电路板响应操作指令，向所述x射线装置发出x射线装置启动指令，以及向所述采集卡发出采集卡启动指令。
38、可实施的一些方式中，所述一字狭缝结构包括支撑部和狭缝板，所述狭缝板上具有一字狭缝，所述狭缝板的至少一端连接有所述支撑部，所述支撑部远离所述狭缝板的一端与所述定位支架连接。
39、可实施的一些方式中，所述一字狭缝结构为高密度合金制成。
40、可实施的一些方式中，所述定位支架位于所述x射线的传播方向，且具有预设的安装精度，以使所述一字狭缝结构位于所述探测器y方向的中心线上。
41、可实施的一些方式中，还包括供电电源，所述供电电源分别与所述x射线装置、采集卡和控制电路板电性连接，以便为所述x射线装置、所述采集卡和所述控制电路板供电。
42、有益效果：
43、本发明提供一种测试ct探测器位置的方法及装置，首先，根据x射线装置启动指令，得到x射线；以及根据采集卡启动指令，得到所述x射线穿过狭缝，射在探测器上，形成的采集数据；接下来，根据所述采集数据，得到探测器的光响应数据；然后，根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线；最后，根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量；根据所述偏移量，调整每个所述探测器的位置。通过上述方法，可以根据测试数据计算出每一个探测器与基准检测位对位关系，进而推算出每一个探测器的实际偏移量，从而指导对探测器的位置调节，有利于提高ct设备的患者图像质量。
技术特征：
1.一种测试ct探测器位置的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的测试ct探测器位置的方法，其特征在于，所述根据x射线装置启动指令，得到x射线的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的测试ct探测器位置的方法，其特征在于，所述根据所述采集数据，得到探测器的光响应数据的步骤，还包括：
4.根据权利要求3所述的测试ct探测器位置的方法，其特征在于，所述根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线的步骤，包括：
5.根据权利要求4所述的测试ct探测器位置的方法，其特征在于，所述根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量的步骤，包括：
6.一种测试ct探测器位置的装置，其特征在于，应用于权利要求1-5中任一项所述的测试ct探测器位置的方法，装置包括：
7.根据权利要求6所述的测试ct探测器位置的装置，其特征在于，所述一字狭缝结构包括支撑部和狭缝板，所述狭缝板上具有一字狭缝，所述狭缝板的至少一端连接有所述支撑部，所述支撑部远离所述狭缝板的一端与所述定位支架连接。
8.根据权利要求7所述的测试ct探测器位置的装置，其特征在于，所述一字狭缝结构为高密度合金制成。
9.根据权利要求7所述的测试ct探测器位置的装置，其特征在于，所述定位支架位于所述x射线的传播方向，且具有预设的安装精度，以使所述一字狭缝结构位于所述探测器y方向的中心线上。
10.根据权利要求7所述的测试ct探测器位置的装置，其特征在于，还包括供电电源，所述供电电源分别与所述x射线装置、采集卡和控制电路板电性连接，以便为所述x射线装置、所述采集卡和所述控制电路板供电。
技术总结
本申请属于CT探测器技术领域，尤其涉及一种测试CT探测器位置的方法及装置。一种测试CT探测器位置的方法包括根据X射线装置启动指令，得到X射线；根据采集卡启动指令，得到所述X射线穿过狭缝，射在探测器上，形成的采集数据；根据所述采集数据，得到所述探测器的光响应数据；根据所述光响应数据，得到狭缝投影的响应曲线；根据所述狭缝投影的响应曲线，得到所述探测器的偏移量；根据所述偏移量，调整所述探测器的位置。通过上述方法，可以根据测试数据计算出每一个探测器与基准检测位对位关系，进而推算出每一个探测器的实际偏移量，从而指导对探测器的位置调节，有利于提高CT设备的患者图像质量。
技术研发人员：王伟
受保护的技术使用者：赛诺威盛科技（北京）股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/9/23