芯片测试装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，尤其涉及芯片测试装置。

背景技术：

1、芯片测试座也称为晶圆测试座或芯片测试夹具，是用于连接芯片和测试设备之间的接口工具，主要用于半导体制造业中的晶圆测试和量产测试，是半导体工业中的重要工具之一。

2、专利公告号为cn218974524u所述的稳定的芯片测试装置，属于芯片测试技术领域。主要包括下座，下座的两侧均设置有两组滑槽，滑槽内滑动连接有滑块，滑块上安装有连杆，连杆上安装有上盖，滑块内安装有弹性卡块，滑槽下侧设置有卡槽，但是该装置在测试完成后需要使用工具将芯片从下座内夹取出来，取出芯片的效率低下。

3、因此针对上述问题现在研发能够快速取出芯片的芯片测试装置。

技术实现思路

1、为了克服该装置在测试完成后需要使用工具将芯片从下座内夹取出来，取出芯片的效率低下的缺点，本实用新型提供能够快速取出芯片的芯片测试装置。

2、技术方案如下：芯片测试装置，包括有支撑座、测试仓和绝缘垫，支撑座共有4个，支撑座上部之间连接有测试仓，测试仓内连接有多个绝缘垫，还包括有顶升机构，顶升机构包括有顶板、滑动杆、推盘和弹簧，测试仓内中部滑动式连接有顶板，顶板下部穿过测试仓下部连接有滑动杆，滑动杆下部连接有推盘，测试仓与推盘之间连接有弹簧。

3、可选地，还包括有防护机构，防护机构包括有导向框、连接架、防护盖和把手，测试仓前后两侧均连接有导向框，测试仓上部滑动式连接有两个防护盖，防护盖相邻的一部的前后两侧均连接有连接架，连接架下部均与相邻的导向框之间滑动式连接，防护盖相邻的一部上侧均连接有把手。

4、可选地，支撑座均呈上窄下宽结构，稳定性较强。

5、可选地，顶板上连接有软垫。

6、可选地，推盘边缘均呈弧形。

7、可选地，把手上均连接有绝缘套。

8、本实用新型的有益效果是：1、本实用新型通过推盘与滑动杆之间配合，从而使得顶板将芯片顶托取出，无需使用工具伸进测试仓内夹取芯片，提高了取出芯片的效率。

9、2、本实用新型通过把手与防护盖之间配合，从而使得防护盖对测试仓进行防护，进而延长测试仓的使用寿命。

技术特征：

1.芯片测试装置，包括有支撑座（1）、测试仓（2）和绝缘垫（3），支撑座（1）共有4个，支撑座（1）上部之间连接有测试仓（2），测试仓（2）内连接有多个绝缘垫（3），其特征在于，还包括有顶升机构（4），顶升机构（4）包括有顶板（41）、滑动杆（42）、推盘（43）和弹簧（44），测试仓（2）内中部滑动式连接有顶板（41），顶板（41）下部穿过测试仓（2）下部连接有滑动杆（42），滑动杆（42）下部连接有推盘（43），测试仓（2）与推盘（43）之间连接有弹簧（44）。

2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，还包括有防护机构（5），防护机构（5）包括有导向框（51）、连接架（52）、防护盖（53）和把手（54），测试仓（2）前后两侧均连接有导向框（51），测试仓（2）上部滑动式连接有两个防护盖（53），防护盖（53）相邻的一部的前后两侧均连接有连接架（52），连接架（52）下部均与相邻的导向框（51）之间滑动式连接，防护盖（53）相邻的一部上侧均连接有把手（54）。

3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，支撑座（1）均呈上窄下宽结构，稳定性较强。

4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，顶板（41）上连接有软垫。

5.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，推盘（43）边缘均呈弧形。

6.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，把手（54）上均连接有绝缘套。

技术总结
本技术涉及芯片测试技术领域，尤其涉及芯片测试装置。本技术提供能够快速取出芯片的芯片测试装置。芯片测试装置，包括有支撑座、测试仓和绝缘垫，支撑座共有4个，支撑座上部之间连接有测试仓，测试仓内连接有多个绝缘垫，还包括有顶升机构，顶升机构包括有顶板、滑动杆、推盘和弹簧，测试仓内中部滑动式连接有顶板，顶板下部穿过测试仓下部连接有滑动杆，滑动杆下部连接有推盘，测试仓与推盘之间连接有弹簧。本技术通过推盘与滑动杆之间配合，从而使得顶板将芯片顶托取出，无需使用工具伸进测试仓内夹取芯片，提高了取出芯片的效率。

技术研发人员：魏北,刘水庆
受保护的技术使用者：江西万泰达电子科技有限公司
技术研发日：20231215
技术公布日：2024/9/23