一种电子元件的定位转盘的制作方法

本技术涉及电子元件检测，特别涉及一种电子元件的定位转盘。

背景技术：

1、电子元件在进行检测时，需要用到定位转盘，对每个放置在定位转盘上的电子元件进行逐一检测；

2、现有的电子元件的定位转盘仍存在一些不足之处，在对电子元件检测完毕后，需要工作人员逐一的将每个电子元件取下，下料较为繁琐，使用较为不便，降低了工作效率。

技术实现思路

1、(一)解决的技术问题

2、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种电子元件的定位转盘，解决现有的电子元件的定位转盘仍存在一些不足之处，在对电子元件检测完毕后，需要工作人员逐一的将每个电子元件取下，下料较为繁琐，使用较为不便，降低了工作效率的技术问题。

3、(二)技术方案

4、为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：

5、一种电子元件的定位转盘，包括定位盘和支撑板，所述定位盘上表面的两侧均开设有一组定位槽，所述支撑板的数量为两个，两个所述支撑板均位于定位盘的底端，并关于定位盘的中点为中心对称分布，两个所述支撑板均为半圆形，每个所述支撑板上均固定安装有连接块，其中，每个所述连接块内均固定贯穿有转轴，每个所述转轴上均固定安装有齿轮，两个所述齿轮相互啮合，所述定位盘的底端固定安装有电机一，所述电机一的输出轴一与其中一个所述转轴固定连接，其中，所述定位盘底端的中部固定安装有固定块，两个所述转轴均与固定块转动连接。

6、优选的：所述定位盘上表面的两侧均内凹有凹槽，其中，每个所述凹槽内均设置有磁铁板一。

7、优选的：每个所述支撑板底面均开设有通口，其中，每个所述通口内均固定安装有磁铁板二。

8、优选的：每个所述磁铁板二分别与每个所述磁铁板一磁吸连接。

9、优选的：每个所述支撑板分别封堵住每组所述定位槽的底部。

10、优选的：所述定位盘的下方设置有底座，所述底座内固定安装有电机二，所述底座的上端固定安装有圆筒，所述圆筒内转动安装有连接轴，所述电机二的输出轴二与连接轴固定连接，其中，所述连接轴的上端与固定块底端的中部固定连接。

11、(三)有益效果

12、一、通过定位盘的转动能够使每个电子元件转动至检测设备的下方，便于对电子元件进行检测，当对两组定位槽内的电子元件检测完毕后，启动电机一，使得其中一个转轴转动，由于两个转轴上均固定安装有齿轮，两个齿轮相互啮合，使得两个转轴进行转动，并且两个转轴转动的方向相反，通过两个转轴的转动会带动两个支撑板转动，使得两个支撑板不再封堵住两组定位槽底部，不再对电子元件进行支撑，利用重力，使得电子元件脱离定位槽，下料更加方便，便于对检测完毕后的电子元件进行集中收集，提高了工作效率。

13、二、通过支撑板的表面开设有通口,通口内设置有磁铁板二,定位盘底面凹槽内设置有与磁铁板二相适配的磁铁板一，磁铁板一与磁铁板二磁吸连接，使得两个支撑板与定位盘连接较为稳定，避免电机一输出轴二自转导致电子元件掉落的情况，提升了稳定性。

技术特征：

1.一种电子元件的定位转盘，包括定位盘(1)和支撑板(2)，其特征在于：所述定位盘(1)上表面的两侧均开设有一组定位槽(11)，所述支撑板(2)的数量为两个，两个所述支撑板(2)均位于定位盘(1)的底端，并关于定位盘(1)的中点为中心对称分布，两个所述支撑板(2)均为半圆形，每个所述支撑板(2)上均固定安装有连接块(21)；

2.根据权利要求1所述的一种电子元件的定位转盘，其特征在于：所述定位盘(1)上表面的两侧均内凹有凹槽；

3.根据权利要求2所述的一种电子元件的定位转盘，其特征在于：每个所述支撑板(2)底面均开设有通口(22)；

4.根据权利要求3所述的一种电子元件的定位转盘，其特征在于：每个所述磁铁板二(23)分别与每个所述磁铁板一(13)磁吸连接。

5.根据权利要求1所述的一种电子元件的定位转盘，其特征在于：每个所述支撑板(2)分别封堵住每组所述定位槽(11)的底部。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件的定位转盘，其特征在于：所述定位盘(1)的下方设置有底座(5)，所述底座(5)内固定安装有电机二，所述底座(5)的上端固定安装有圆筒(51)，所述圆筒(51)内转动安装有连接轴(52)，所述电机二的输出轴二与连接轴(52)固定连接；

技术总结
本技术公开了一种电子元件的定位转盘，涉及电子元件检测技术领域，包括定位盘和支撑板，所述定位盘上表面的两侧均开设有一组定位槽，本技术通过定位盘的转动能够使每个电子元件转动至检测设备的下方，便于对电子元件进行检测，当对两组定位槽内的电子元件检测完毕后，启动电机一，使得其中一个转轴转动，由于两个转轴上均固定安装有齿轮，两个齿轮相互啮合，使得两个转轴进行转动，并且两个转轴转动的方向相反，通过两个转轴的转动会带动两个支撑板转动，使得两个支撑板不再封堵住两组定位槽底部，不再对电子元件进行支撑，利用重力，使得电子元件脱离定位槽，下料更加方便，便于对检测完毕后的电子元件进行集中收集，提高了工作效率。

技术研发人员：石钱送,李新龙
受保护的技术使用者：上海曦富实业有限公司
技术研发日：20231205
技术公布日：2024/9/23