一种铆接的低频同轴测试塔结构的制作方法

本技术涉及电磁场屏蔽测试，特别是一种铆接的低频同轴测试塔结构。

背景技术：

1、低频同轴反射法适用于30m-600mhz频率范围吸波材料吸波性能测试，低频同轴测试塔一般分为卧式和立式两种形式，国内外现有方案多采用焊接内、外导体组装形式。焊接立式同轴塔，要求高的安装空间，高空维护作业难度大，且一般安装于户外，从而塔体表面防腐要求高。焊接卧式同轴塔，焊接变形及自重影响塔体平面度、直线度，造成内外导体同心度差，影响整个系统测试精度，塔体焊接变形也导致内外导体装配难度大，安全性、环保性差，故需要设计一种新的测试塔结构以避免焊接组装。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种铆接的低频同轴测试塔结构，以克服现有技术的缺点。

2、本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：一种铆接的低频同轴测试塔结构，包括塔体和塔尖，所述塔体由若干段组成，所述塔尖固定在所述塔体上，所述塔体包括外导体、内导体以及支撑板，所述内导体通过所述支撑板固定在所述外导体内，所述外导体与所述内导体均由面板和棱角件拼接而成，所述外导体的外壁上铆接有拼缝连接板，所述拼缝连接板用于封堵所述面板与所述棱角件之间的缝隙，相邻两段所述外导体之间铆接有外压板，所述外压板用于封堵相邻所述外导体之间的缝隙，相邻两段所述内导体之间铆接有内压板，所述内压板用于封堵相邻所述内导体之间的缝隙。

3、优选地，所述外导体内壁上、所述内导体的外壁上均开设有环形的定位槽，所述支撑板呈回字形且由两块拼接而成，所述回字的外侧卡在所述外导体上的定位槽内，所述回字的内侧卡在所述内导体上的定位槽内，所述支撑板位于相邻两段所述塔体的连接处。

4、优选地，所述内导体内铆接有板状的十字龙骨，所述十字龙骨位于相邻的两段所述内导体的连接处，所述内压板紧压在所述十字龙骨上。

5、优选地，还包括紧箍框，所述紧箍框铆接在相邻所述外导体的连接处，所述紧箍框用于箍紧所述外压板，相邻所述紧箍框之间固定有连接杆。

6、优选地，所述塔尖包括同心环、外锥筒、内锥芯以及导电柱，所述外锥筒的大端一体成型有法兰，所述法兰固定在所述外导体上，所述内锥芯通过所述同心环固定在所述外锥筒内，所述导电柱用于连接所述内导体与所述内锥芯。

7、优选地，所述支撑板上开设有避让孔。

8、优选地，所述外导体的外壁上铆接有x形的加强筋，所述连接杆固定在所述加强筋上。

9、优选地，所述外导体与所述内导体之间填充有低介电常数材料，所述低介电常数材料位于所述内导体与所述内锥芯的连接处。

10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

11、本实用新型的测试塔结构，避免了高空和焊接作业，施工简单，安全环保，产品尺寸可控，测量精度高，稳定性好。

技术特征：

1.一种铆接的低频同轴测试塔结构，包括塔体和塔尖，所述塔体由若干段组成，所述塔尖固定在所述塔体上，其特征在于：所述塔体包括外导体（1）、内导体（2）以及支撑板（3），所述内导体（2）通过所述支撑板（3）固定在所述外导体（1）内，所述外导体（1）与所述内导体（2）均由面板（4）和棱角件（5）拼接而成，所述外导体（1）的外壁上铆接有拼缝连接板（6），所述拼缝连接板（6）用于封堵所述面板（4）与所述棱角件（5）之间的缝隙，相邻两段所述外导体（1）之间铆接有外压板（7），所述外压板（7）用于封堵相邻所述外导体（1）之间的缝隙，相邻两段所述内导体（2）之间铆接有内压板（8），所述内压板（8）用于封堵相邻所述内导体（2）之间的缝隙。

2.根据权利要求1所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述外导体（1）内壁上、所述内导体（2）的外壁上均开设有环形的定位槽，所述支撑板（3）呈回字形且由两块拼接而成，所述回字的外侧卡在所述外导体（1）上的定位槽内，所述回字的内侧卡在所述内导体（2）上的定位槽内，所述支撑板（3）位于相邻两段所述塔体的连接处。

3.根据权利要求1所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述内导体（2）内铆接有板状的十字龙骨（9），所述十字龙骨（9）位于相邻的两段所述内导体（2）的连接处，所述内压板（8）紧压在所述十字龙骨（9）上。

4.根据权利要求1所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：还包括紧箍框（10），所述紧箍框（10）铆接在相邻所述外导体（1）的连接处，所述紧箍框（10）用于箍紧所述外压板（7），相邻所述紧箍框（10）之间固定有连接杆（11）。

5.根据权利要求1所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述塔尖包括同心环（12）、外锥筒（13）、内锥芯（14）以及导电柱（15），所述外锥筒（13）的大端一体成型有法兰（16），所述法兰（16）固定在所述外导体（1）上，所述内锥芯（14）通过所述同心环（12）固定在所述外锥筒（13）内，所述导电柱（15）用于连接所述内导体（2）与所述内锥芯（14）。

6.根据权利要求1所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述支撑板（3）上开设有避让孔（17）。

7.根据权利要求1所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述棱角件（5）、所述拼缝连接板（6）、所述外压板（7）以及所述内压板（8）上均开设有网槽（20），所述网槽（20）内放置有金属网。

8.根据权利要求4所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述外导体（1）的外壁上铆接有x形的加强筋（18），所述连接杆（11）固定在所述加强筋（18）上。

9.根据权利要求5所述的一种铆接的低频同轴测试塔结构，其特征在于：所述外导体（1）与所述内导体（2）之间填充有低介电常数材料（19），所述低介电常数材料（19）位于所述内导体（2）与所述内锥芯（14）的连接处。

技术总结
本技术涉及电磁场屏蔽测试技术领域，公开了一种铆接的低频同轴测试塔结构，它包括塔体和塔尖，塔体由若干段组成，塔尖固定在塔体上，塔体包括外导体、内导体以及支撑板，内导体通过支撑板固定在外导体内，外导体与内导体均由面板和棱角件拼接而成，外导体的外壁上铆接有拼缝连接板，拼缝连接板用于封堵面板与棱角件之间的缝隙，相邻两段外导体之间铆接有外压板，外压板用于封堵相邻外导体之间的缝隙，相邻两段内导体之间铆接有内压板，内压板用于封堵相邻内导体之间的缝隙。本技术的有益效果是：本技术的测试塔结构，避免了高空和焊接作业，施工简单，安全环保，产品尺寸可控，测量精度高，稳定性好。

技术研发人员：刘刚,李维佳,孙勃,张辉彬,陈学智
受保护的技术使用者：成都佳驰电子科技股份有限公司
技术研发日：20231215
技术公布日：2024/9/23