检测系统

本技术涉及扫描检测，尤其涉及一种检测系统。

背景技术：

1、目前，在过往车辆经过检查站时，通常需要利用扫描设备对车辆进行扫描检查，以确认车辆是否存在超载或者携带违禁品等问题。

2、在相关技术中，扫描设备因自身缺陷，可能无法扫描到车辆的全部空间，存在漏检死角，造成检测结果不准确。

3、为了防止出现漏检等问题，通常在检查站还需要配置人员进行辅助检查，增大人力成本。

4、需要说明的是，公开于本实用新型背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。上述的陈述仅用于提供与本申请有关的背景技术信息，而不必然地构成现有技术。

技术实现思路

1、本实用新型实施例提供一种检测系统，可以有效提高扫描检测的准确性。

2、根据本实用新型的一个方面，提供一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。

3、在一些实施例中，第一射线源和第二射线源沿被检物的移动路线前后布置。

4、在一些实施例中，第一射线源和第二射线源在竖直方向上间隔布置。

5、在一些实施例中，第一射线源所发射的射线对被检物的扫描面积和第二射线源所发射的射线对被检物的扫描面积的总和能够完全覆盖被检物的至少一个侧表面。

6、在一些实施例中，第一射线源和第二射线源均为飞点装置。

7、在一些实施例中，第一射线源和第二射线源的出射时间同步或者相互错开。

8、在一些实施例中，第一射线源和第二射线源设置于被检物的同侧。

9、在一些实施例中，检测系统还包括舱体，第一射线源和第二射线源均设置于舱体内。

10、在一些实施例中，第一射线源和第二射线源的辐射能量相同或不同。

11、在一些实施例中，检测系统还包括控制装置，控制装置与第一探测器和第二探测器信号连接，控制装置被配置为接收第一探测器和第二探测器的探测结果并拼接形成被检物的完整扫描图像。

12、基于上述技术方案，本实用新型实施例提供的检测系统包括两个射线源、两个用于接收透射射线的探测器和两个用于接收散射射线的探测器，可以组成两套透射检测装置和两套背散射检测装置，从而可以根据两套透射检测装置和两套背散射检测装置的检测结果综合判断被检物的情况，大大提高检测的准确性。

技术特征：

1.一种检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)沿所述被检物(10)的移动路线前后布置。

3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)在竖直方向上间隔布置。

4.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)所发射的射线对所述被检物(10)的扫描面积和所述第二射线源(2)所发射的射线对所述被检物(10)的扫描面积的总和能够完全覆盖所述被检物(10)的至少一个侧表面。

5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)均为飞点装置。

6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)的出射时间同步或者相互错开。

7.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)设置于所述被检物(10)的同侧。

8.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，还包括舱体，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)均设置于所述舱体内。

9.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一射线源(1)和所述第二射线源(2)的辐射能量相同或不同。

10.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，还包括控制装置，所述控制装置与所述第一探测器(3)和所述第二探测器(4)信号连接，所述控制装置被配置为接收所述第一探测器(3)和所述第二探测器(4)的探测结果并拼接形成所述被检物(10)的完整扫描图像。

技术总结
本技术涉及一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。

技术研发人员：李元景,张丽,宗春光,刘必成,刘磊,马媛,迟豪杰,喻卫丰,宋涛,季峥,谭惠文
受保护的技术使用者：清华大学
技术研发日：20231228
技术公布日：2024/9/23