一种集成光学调制器半波电压测试装置的制作方法
本技术涉及集成光学调制器测试，尤其涉及一种集成光学调制器半波电压测试装置。
背景技术：
1、半波电压是评价集成光学调制器调制特性的重要指标，集成光学调制器半波电压的频率响应特性与系统的匹配对于闭环光纤陀螺性能有重要作用。传统的光学调制器半波电压测试装置采用类似光纤陀螺系统的架构，需要引入光纤环在内的闭环光纤陀螺其他光学器件，通过给集成光学调制器加载调制信号，提取光电探测器上的信号来确定半波电压幅值。由于集成光学调制器半波电压的大小是随调制频率变化而变化，但光纤环的长度固定，因此无法测得半波电压的频率响应特性。
技术实现思路
1、鉴于上述的分析，本实用新型旨在提供一种集成光学调制器半波电压测试装置，用以解决现有的测试装置无法测得集成光学调制器半波电压的频率响应特性的问题。
2、本实用新型的目的主要是通过以下技术方案实现的：
3、本实用新型实施例提供了一种集成光学调制器半波电压测试装置，包括光源、待测集成光学调制器、信号发生器、耦合器、探测器和信号处理设备；
4、所述光源的输出尾纤与待测集成光学调制器的单根输入端连接；所述信号发生器输出信号线与待测集成光学调制器一根电极相接，所述信号发生器地线与待测集成光学调制器另一根电极相接；
5、所述待测集成光学调制器的双根输出尾纤分别与所述耦合器一侧的双根输入尾纤连接；所述耦合器另一侧的单根输出尾纤与所述探测器的尾纤连接，另一根为空头；所述探测器的信号线、信号发生器输出信号线分别与所述信号处理设备相接。
6、基于上述方案的进一步改进，所述待测集成光学调制器的双根输出尾纤的长度相同。
7、基于上述方案的进一步改进，所述耦合器一侧的双根输入尾纤的长度相同。
8、基于上述方案的进一步改进，所述光源与待测集成光学调制器、所述待测集成光学调制器与耦合器、所述耦合器与探测器的连接方式为熔接方式，通过熔接机进行熔接。
9、基于上述方案的进一步改进，所述信号发生器与待测集成光学调制器、所述探测器与信号处理设备的相接方式为焊接，通过电烙铁进行焊接。
10、基于上述方案的进一步改进，所述光源为掺铒光纤光源，输出待测集成光学调制器工作波长的光信号。
11、基于上述方案的进一步改进，所述信号发生器为正弦信号发生器，输出固定幅值、不同频率的正弦信号。
12、基于上述方案的进一步改进，所述耦合器为光纤耦合器。
13、基于上述方案的进一步改进，所述光纤耦合器为2×2耦合器。
14、基于上述方案的进一步改进，所述探测器为pin-fet光电探测器。
15、与现有技术相比，本实用新型可实现如下有益效果：
16、本实用新型提供的一种集成光学调制器半波电压测试装置，包括光源、待测集成光学调制器、信号发生器、耦合器、探测器和信号处理设备，通过光源输出待测集成光学调制器工作波长的光信号，信号发生器生成固定幅值、不同频率的正弦信号加载到待测集成光学调制器进行调制，输出两路光强近似一致的光信号，并通过耦合器产生干涉，探测器将干涉光信号转化为电信号，信号处理设备采集干涉电压信号，并提取信号的信息，进行计算分析后得到不同频率下的集成光学调制器半波电压幅频特性，实现了对集成光学调制器半波电压的频率响应特性的测试，可在不依赖光纤环的条件下，提供一种低成本简易化的闭环光纤陀螺用集成光学调制器测试和筛选方案，能够较好地应用于工程实践中，具有进一步的市场应用价值。
17、本实用新型中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本实用新型的其他特征和优点将在随后的内容中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过文字以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
技术特征：
1.一种集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，包括光源、待测集成光学调制器、信号发生器、耦合器、探测器和信号处理设备；
2.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述待测集成光学调制器的双根输出尾纤的长度相同。
3.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述耦合器一侧的双根输入尾纤的长度相同。
4.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述光源与待测集成光学调制器、所述待测集成光学调制器与耦合器、所述耦合器与探测器的连接方式为熔接方式，通过熔接机进行熔接。
5.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述信号发生器与待测集成光学调制器、所述探测器与信号处理设备的相接方式为焊接，通过电烙铁进行焊接。
6.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述光源为掺铒光纤光源，输出待测集成光学调制器工作波长的光信号。
7.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述信号发生器为正弦信号发生器，输出固定幅值、不同频率的正弦信号。
8.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述耦合器为光纤耦合器。
9.根据权利要求8所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述光纤耦合器为2×2耦合器。
10.根据权利要求1所述的集成光学调制器半波电压测试装置，其特征在于，所述探测器为pin-fet光电探测器。
技术总结
本技术涉及一种集成光学调制器半波电压测试装置，属于集成光学调制器测试技术领域，解决了现有技术中的测试装置无法测得集成光学调制器半波电压的频率响应特性的问题。包括光源、待测集成光学调制器、信号发生器、耦合器、探测器和信号处理设备；光源的输出尾纤与待测集成光学调制器的单根输入端连接；信号发生器输出信号线与待测集成光学调制器一根电极相接，信号发生器地线与待测集成光学调制器另一根电极相接；待测集成光学调制器的双根输出尾纤分别与所述耦合器一侧的双根输入尾纤连接；耦合器另一侧的单根输出尾纤与所述探测器的尾纤连接，另一根为空头；探测器的信号线、信号发生器输出信号线分别与所述信号处理设备相接。
技术研发人员：吴小宇,谢良平
受保护的技术使用者：中航捷锐（西安）光电技术有限公司
技术研发日：20231228
技术公布日：2024/9/23