一种分布空间编辑方法、缺陷筛选方法、产品分类方法与流程

1.本技术涉及检测技术领域，尤其是涉及到一种缺陷分布空间编辑方法、缺陷筛选方法、产品分类方法、缺陷分布空间编辑装置、缺陷筛选装置、产品分类装置、计算机设备和可读存储介质。


背景技术：

2.目前，为了保证产品的质量以及在生产过程中减少次品成本，需要在关键工序对产品质量进行检测。在采用智能化aoi(automatic optical inspection，自动光学检测)设备对工业产品的外观进行高精度检测的过程中会检测出来一些结果，这些结果里面既包含缺陷，也包含落尘、脏污、水渍等非缺陷。因此需要对缺陷进行分类筛选，区分产品中检测出来的缺陷以及非缺陷。
3.但是非缺陷与缺陷成像相似，导致对缺陷与非缺陷的分类筛选较为困难，并且，相关技术中分类筛选方式比较复杂，对检测人员的友好性较低，非专业的检测人员很难操作，进一步增加了缺陷与非缺陷分类筛选的困难。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术提供了一种缺陷分布空间编辑方法、缺陷筛选方法、产品分类方法、缺陷分布空间编辑装置、缺陷筛选装置、产品分类装置、计算机设备和可读存储介质，解决了相关技术中缺陷与非缺陷分类筛选较为困难的问题。
5.第一方面，本技术实施例提供了一种缺陷分布空间编辑方法，包括：接收用户的第一操作指令，显示图形化界面，图形化界面中包括特征量池和坐标空间编辑区，特征量池中包括多个特征量标识，特征量标识用于指示待筛选缺陷的特征量，特征量包括关键特征和约束特征；接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间；接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第一类边界线，将第一数据空间划分为多个区域；接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征和多个区域，构建第二数据空间；接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第二类边界线，将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间；接收用户的第六操作指令，为每个子空间，分别添加约束特征的约束条件，添加约束条件后的子空间用于对待筛选缺陷进行分类筛选。
6.第二方面，本技术实施例提供了一种缺陷筛选方法，包括：获取多个待筛选缺陷；根据如第一方面的方法，基于多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将数据空间划分为多个相互独立的子空间，其中，多个待筛选缺陷为数据空间中的点集；在子空间中对待筛选缺陷进行分类筛选，以确定待筛选缺陷为缺陷或非缺陷。
7.第三方面，本技术实施例提供了一种产品分类方法，包括：获取产品的多个产品图像，并从多个产品图像中分割出待筛选缺陷；根据如第二方面的方法，确定待筛选缺陷是否为缺陷；若待筛选缺陷为缺陷，则确定待筛选缺陷的缺陷等级，并统计不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量；根据为缺陷的待筛选缺陷的缺陷等级和不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量，确定产品的分类。
8.第四方面，本技术实施例提供了一种缺陷分布空间编辑装置，包括：接收模块，用于接收用户的第一操作指令；显示模块，用于响应于第一操作指令，显示图形化界面，图形化界面中包括特征量池和坐标空间编辑区，特征量池中包括多个特征量标识，特征量标识用于指示待筛选缺陷的特征量，特征量包括关键特征和约束特征；接收模块，还用于接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令；构建模块，用于响应于第二操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间；接收模块，还用于接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令；划分模块，用于响应于第三操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第一类边界线，将第一数据空间划分为多个区域；接收模块，还用于接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令；构建模块，还用于响应于第四操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识所指示的关键特征和多个区域，构建第二数据空间；接收模块，还用于接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令；划分模块，还用于响应于第五操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第二类边界线，将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间；接收模块，还用于接收用户的第六操作指令；添加模块，用于响应于第六操作指令，为每个子空间，分别添加约束特征的约束条件，添加约束条件后的子空间用于对待筛选缺陷进行分类筛选。
9.第五方面，本技术实施例提供了一种缺陷筛选装置，包括：获取模块，用于获取多个待筛选缺陷；处理模块，用于根据如第四方面的装置，基于多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将数据空间划分为多个相互独立的子空间，其中，多个待筛选缺陷为数据空间中的点集；筛选模块，用于在子空间中对待筛选缺陷进行分类筛选，以确定待筛选缺陷为缺陷或非缺陷。
10.第六方面，本技术实施例提供了一种产品分类装置，包括：获取模块，用于获取产品的多个产品图像，并从多个产品图像中分割出待筛选缺陷；判断模块，用于根据如第五方面的装置，确定待筛选缺陷是否为缺陷；确定模块，用于若待筛选缺陷为缺陷，则确定待筛选缺陷的缺陷等级，并统计不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量；分类模块，用于根据为缺陷的待筛选缺陷的缺陷等级和不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量，确定产品的分类。
11.第七方面，本技术实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括处理器和存储器，存储器存储可在处理器上运行的程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。
12.第八方面，本技术实施例提供了一种可读存储介质，可读存储介质上存储程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。
13.第九方面，本技术实施例提供了一种芯片，芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面的方法。
14.第十方面，本技术实施例提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如第一方面的方法。
15.在本技术实施例中，提供图形化界面，其中显示有坐标空间编辑区和包括多个特征量标识的特征量池，每一个特征量标识指示待筛选缺陷的一个特征量，特征量标识能够被用户进行操作，以实现对其指示的特征量的选择。接收用户的操作指令，根据用户在特征量池中所选的特征量标识指示的关键特征构建数据空间，从而将待筛选缺陷转化为分布在该数据空间的点集，以及根据用户在坐标空间编辑区编辑的数值刻度生成边界线，并基于边界线将数据空间划分为多个相互独立的子空间。进一步地，接收用户的操作指令，确定用户在特征量池中为每一个子空间所选的特征量标识指示的约束特征，以及确定用户在坐标空间编辑区对约束特征编辑的约束条件，从而能够在子空间中对待筛选缺陷进行缺陷和非缺陷的分类筛选。具体地，落入该子空间中的待筛选缺陷，满足该子空间所有约束条件则被判为真缺陷，否则为假缺陷。
16.本技术实施例中，为了判断从产品外观检测出来的待筛选缺陷是否为缺陷，提出一种基于图形化框架搭建缺陷分布空间的方法。该图形化框架可以通过图形化操作构建及划分数据空间，并可视化缺陷的分布，从而有利于将待筛选缺陷细分到多个子空间中进行筛选，从而筛选出真缺陷。并且，通过将结构化调参的思维框架设计成具有可操作性的图形化界面，增加对缺陷分布空间调参的易操作性，可以大大增加缺陷筛选这一环节的用户友好性。
17.上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。
附图说明
18.此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
19.图1示出了本技术实施例的缺陷分布空间编辑方法的流程示意图；
20.图2示出了本技术实施例的长、宽的二维坐标系数据空间的示意图；
21.图3示出了本技术实施例的长、宽、对比度的三维坐标系数据空间的示意图；
22.图4示出了本技术实施例的对比度、面积的次级二维坐标系数据空间的示意图；
23.图5示出了本技术实施例的缺陷筛选方法的流程示意图；
24.图6示出了本技术实施例的产品分类方法的流程示意图；
25.图7示出了本技术实施例的缺陷分布空间编辑装置的结构框图；
26.图8示出了本技术实施例的缺陷筛选装置的结构框图；
27.图9示出了本技术实施例的产品分类装置的结构框图；
28.图10示出了本技术实施例的计算机设备的结构框图。
具体实施方式
29.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的
实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
30.本技术的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
31.下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本技术实施例提供的缺陷分布空间编辑方法、缺陷筛选方法、产品分类方法、缺陷分布空间编辑装置、缺陷筛选装置、产品分类装置、计算机设备和可读存储介质进行详细地说明。
32.本技术实施例提供了一种缺陷分布空间编辑方法，如图1所示，该方法包括：
33.步骤101，接收用户的第一操作指令，显示图形化界面，图形化界面中包括特征量池和坐标空间编辑区，特征量池中包括多个特征量标识，特征量标识用于指示待筛选缺陷的特征量，特征量包括关键特征和约束特征。
34.在该步骤中，用户触发显示图形化界面，图形化界面显示有坐标空间编辑区和包括多个特征量标识的特征量池，每一个特征量标识指示待筛选缺陷的一个特征量，特征量标识能够被用户(也即检测人员)进行操作，以实现对其指示的特征量的选择。
35.需要说明的是，在显示多个特征量标识之前，计算每个待筛选缺陷的特征量，其中，特征量包括关键特征和约束特征，从而生成并显示对应的特征量标识。这些特征量作为该待筛选缺陷的基本属性，包括但不限于：长、宽、长宽比、长宽均值(也即，(长+宽)/2)、面积、缺陷灰度平均值与背景灰度平均值的差值的绝对值、线性度、等价骨骼长度等等。实际应用中，可以根据需要选择性的计算十几个到几十个不等的特征量。这些特征量按照属性类型可以分为：尺度特征、衍生尺度特征、位置特征、形态特征、灰度特征、缺陷灰度特征、缺陷领域灰度特征等。按照其作用可以划分为关键特征和约束特征，关键特征用于划分子空间，关键特征包括但不限于：长、宽、长宽比、长宽均值、面积等，约束特征用于将子空间中对应的待筛选缺陷区分为缺陷或非缺陷，除了关键特征之外的特征都可以作为约束特征。
36.步骤102，接收用户的从特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间。
37.在该步骤中，接收用户的第二操作指令，该第二操作指令用于在特征量池中选择特征量标识。响应于该第二操作指令，根据用户在特征量池中所选的特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间，从而将待筛选缺陷转化为分布在该第一数据空间的点集。
38.步骤103，接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第一类边界线，将第一数据空间划分为多个区域。
39.在该步骤中，接收用户的第三操作指令，该第三操作指令用于在坐标空间编辑区编辑数值刻度。响应于该第三操作指令，根据用户在坐标空间编辑区编辑的数值刻度生成第一类边界线，并基于第一类边界线将第一数据空间划分为多个区域。
40.步骤104，接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令，
确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征和多个区域，构建第二数据空间。
41.在该步骤中，接收用户的第四操作指令，该第四操作指令用于在特征量池中选择特征量标识。响应于该第四操作指令，根据用户在特征量池中所选的特征量标识指示的关键特征构建第二数据空间。
42.步骤105，接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第二类边界线，将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间。
43.在该步骤中，接收用户的第五操作指令，该第五操作指令用于在坐标空间编辑区编辑数值刻度。响应于该第五操作指令，根据用户在坐标空间编辑区编辑的数值刻度生成第二类边界线，并基于第二类边界线将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间。
44.步骤106，接收用户的第六操作指令，为每个子空间，分别添加约束特征的约束条件，添加约束条件后的子空间用于对待筛选缺陷进行分类筛选。
45.在该步骤中，接收用户的第六操作指令，该第六操作指令用于在特征量池中选择特征量标识以及在坐标空间编辑区编辑约束条件。响应于该第六操作指令，确定用户在特征量池中为每一个子空间所选的特征量标识指示的约束特征，以及确定用户在坐标空间编辑区对约束特征编辑的约束条件，从而能够在子空间中对待筛选缺陷进行缺陷和非缺陷的分类筛选。具体地，落入该子空间中的待筛选缺陷，若满足该子空间所有约束条件，则被判为真缺陷，否则为假缺陷。
46.本技术实施例中，为了判断从产品外观检测出来的待筛选缺陷是否为缺陷，提出一种基于图形化框架搭建缺陷分布空间的方法。该图形化框架可以通过图形化操作构建及划分数据空间，并可视化缺陷的分布，从而有利于将待筛选缺陷细分到多个子空间中进行筛选，从而筛选出真缺陷。
47.具体地，本技术实施例，确定了如何选择特征量、如何设置约束条件，简化了缺陷与非缺陷区分的条件设置，统一了缺陷筛选的方法和思路，从而降低了缺陷与非缺陷的区分难度，可大大提高工程部署的速度和能力。
48.并且，通过将结构化调参的思维框架设计成具有可操作性的图形化界面，增加对缺陷分布空间调参的易操作性，可以大大增加缺陷筛选这一环节的用户友好性。
49.需要说明的是，本技术实施例能够更改坐标轴所代表的特征量，具体的实现方式包括但不限于从特征量池中拖拽某一特征量标识到坐标轴或坐标轴附近，则此坐标轴即为代表该特征量标识指示的特征量的数轴，数轴的刻度范围可由用户手动设置。
50.在编辑数值刻度时，坐标空间编辑区可以为坐标轴，也可以为坐标轴附近区域，通过用户点击操作坐标空间编辑区，可以确定所选数值刻度。
51.还能够图形化添加约束特征和约束条件，具体的实现方式包括但不限于从特征量池拖拽某一特征量标识进入特征排列区作为子空间的约束特征，需要说明的是，特征排列区可以为图形化界面上的一个位置区域，也可以为子空间。在编辑约束条件时，坐标空间编辑区为图形化界面上的一个位置区域，用户可在此编辑约束条件。
52.在本技术的一个实施例中，关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值以及对比度；构建第一数据空间的方式，包括：接收用户从特征量池中拖拽第一特征量标识至第一坐
标轴的指令，确定用户所选的第一特征量标识所指示的关键特征为长度，接收用户从特征量池中拖拽第二特征量标识至第二坐标轴的指令，确定用户所选的第二特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以长度为第一坐标轴、宽度为第二坐标轴，建立二维坐标系数据空间，其中二维坐标系数据空间为第一数据空间；将第一数据空间划分为多个区域的方式，包括：接收用户在坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令，确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在二维坐标系数据空间中，添加多个不同长度值的边界线、多个不同长宽比的边界线以及多个不同长宽均值的边界线，以将二维坐标系数据空间划分为多个区域；构建第二数据空间的方式，包括：接收用户从特征量池中拖拽第三特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户所选的第三特征量标识所指示的关键特征为对比度，以对比度为第三坐标轴，将多个区域转换为三维坐标系数据空间，其中三维坐标系数据空间为第二数据空间；将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间的方式，包括：接收用户在坐标空间编辑区编辑对比度的数值刻度的第五操作指令，确定多个不同对比度数值，以及在三维坐标系数据空间中，添加多个不同对比度数值的边界线，以将三维坐标系数据空间划分为多个相互独立的子空间。
53.在该实施例中，用户选择关键特征，包括长l、宽w以及由长、宽坐标系下衍生出来的长宽比k、长宽均值n以及对比度a，从而通过用户选择的上述关键特征建立三维坐标系数据空间，其中，长宽均值n＝(l+w)/2。
54.具体地，如图2所示，首先，以长度l为y轴(也即第一坐标轴)、宽度w为x轴(也即第二坐标轴)，建立二维坐标系数据空间。再确定用户设定的多个不同长度值(包括41、80、90、150、180)、多个不同长宽比(包括1、2、4.5)以及多个不同长宽均值(包括8、25、50)，从而在二维坐标系数据空间中添加不同长度值的边界线、不同长宽比的边界线、不同长宽均值的边界线，由此将二维坐标系数据空间划分为多个区域。
55.如图2所示，实现通过图形化操作功能调整分界线将坐标系斜率大于1的部分划分为10个区域。因为长宽比即对应图形化坐标系中的斜率，其一定大于1，即所有缺陷都会分布在斜率大于1的上半部分的10个区域中，并且还可以在图形化坐标系中选中每个区域对其进行编号、命名。示例性地，以表1中的具体数据划分成10个区域，每一区域对应建立一个缺陷父类，例如，1区命名为：1.0线状缺陷。
56.表1
57.区域长(单位：像素)宽(单位：像素)长宽比长宽均值(单位：像素)10区[6,41][5,20.5][2,+∞]-1区[41,90][5,20]
‑‑‑
2区[41,80]
‑‑‑‑‑
3区
‑‑‑‑
[1,2][8,25]4区[90,180][5,90][2,+∞]-5区[80,150]
‑‑
[2,4.5]-6区
‑‑‑‑
[1,2][25,50]7区[180,+∞][6,+∞][2,+∞]-8区[150,+∞]
‑‑
[2,4.5]-9区
‑‑‑‑
[1,2][50,+∞]
[0058]
然后，将数据空间从二维上升到三维。具体地，将二维坐标系数据空间进一步添加一维关键特征：对比度，也就是说，以对比度为z轴(也即第三坐标轴)，从而转化为三维坐标系数据空间。在如图3所示的三维坐标系数据空间中，可以选中对比度a添加数值刻度30、60，则图2中的2区对应得到子空间b。将子空间b作为一个子类，命名为：2.1中度块状缺陷。
[0059]
在划分为多个独立的子空间后，可以为每个子空间，分别添加约束特征的约束条件，以实现对待筛选缺陷的分类筛选。例如，在该子空间b中，根据分布在该子空间的缺陷与非缺陷的特点选择有代表性的特征量作为约束特征对其进行区分。本技术实施例中对于子空间b，所选择的约束特征的约束条件为：面积＞50、缺陷与其最小外接矩形占比＞0.3、高梯度像素个数》10，其中，缺陷是不规则区域，这个区域的面积除以它的最小外接矩形即为最小外接矩形比例。对于子空间b中满足该约束条件的待筛选缺陷，即为缺陷，不满足约束条件的待筛选缺陷，即为非缺陷。
[0060]
需要说明的是，对于不同的子空间，所需要选择的约束特征需要根据实际筛选情况而定，本技术实施例对此不作限定。
[0061]
本技术实施例，通过建立数据空间并划分子空间，实现在子空间中对缺陷和非缺陷进行分类筛选。
[0062]
另外，能够通过调参图形化的方式，增加调参的易操作性。
[0063]
在本技术的一个实施例中，关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值、对比度以及面积；构建第一数据空间的方式，包括：接收用户从特征量池中拖拽第四特征量标识至第一坐标轴的指令，确定用户所选的第四特征量标识所指示的关键特征为长度，接收用户从特征量池中拖拽第五特征量标识至第二坐标轴的指令，确定用户所选的第五特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以长度为第一坐标轴、宽度为第二坐标轴，建立一级二维坐标系数据空间，其中一级二维坐标系数据空间为第一数据空间；将第一数据空间划分为多个区域的方式，包括：接收用户在坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令，确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在一级二维坐标系数据空间中，添加多个不同长度值的边界线、多个不同长宽比的边界线以及多个不同长宽均值的边界线，以将一级二维坐标系数据空间划分为多个区域；构建第二数据空间的方式，包括：接收用户从特征量池中拖拽第六特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户所选的第六特征量标识所指示的关键特征为对比度，接收用户从特征量池中拖拽第七特征量标识至特征排列区的指令，确定用户所选的第七特征量标识所指示的关键特征为面积，以对比度为第一坐标轴、面积为第二坐标轴，将多个区域转换为次级二维坐标系数据空间，其中次级二维坐标系数据空间为第二数据空间；将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间的方式，包括：接收用户在坐标空间编辑区编辑对比度、面积的数值刻度的指令，确定多个不同对比度数值、多个不同面积值，以及在次级二维坐标系数据空间中，添加多个不同对比度数值的边界线、多个不同面积值的边界线，以将次级二维坐标系数据空间划分为多个相互独立的子空间。
[0064]
在该实施例中，用户选择关键特征，包括长l、宽w以及由长、宽坐标系下衍生出来的长宽比k、长宽均值n、对比度a以及面积s，从而通过用户选择的上述关键特征建立二维坐标系数据空间，其中，长宽均值n＝(l+w)/2。
[0065]
具体地，如图2所示，首先，以长度l为y轴(也即第一坐标轴)、宽度w为x轴(也即第
二坐标轴)，建立一级二维坐标系数据空间。再确定用户设定的多个不同长度值(包括41、80、90、150、180)、多个不同长宽比(包括1、2、4.5)以及多个不同长宽均值(包括8、25、50)，从而在一级二维坐标系数据空间中添加不同长度值的边界线、不同长宽比的边界线、不同长宽均值的边界线，由此将一级二维坐标系数据空间划分为多个区域。
[0066]
如图2所示，实现通过图形化操作功能调整分界线将坐标系斜率大于1的部分划分为10个区域。因为长宽比即对应图形化坐标系中的斜率，其一定大于1，即所有缺陷都会分布在斜率大于1的上半部分的10个区域中，并且还可以在图形化坐标系中选中每个区域对其进行编号、命名。
[0067]
然后，如图4所示，再分别在各个区域中选取对比度a和面积s，以对比度a为y轴(也即第一坐标轴)、面积s为x轴(也即第二坐标轴)，构建次级二维坐标系数据空间，在次级二维坐标系数据空间中添加不同对比度数值的边界线、不同面积值的边界线，得到多个子空间，将不同子空间作为一个子类，例如，图2中的2区对应得到子空间c。
[0068]
在划分为多个独立的子空间后，可以为每个子空间，分别添加约束特征的约束条件，以实现对待筛选缺陷的分类筛选。例如，在子空间c中，根据分布在该子空间的缺陷与非缺陷的特点选择有代表性的特征量作为约束特征对其进行区分。本技术实施例中将子空间c命名为：2.1块状划伤，所选择的约束特征的约束条件包括但不限于：缺陷的最小外接矩形比例》0.5、独立区域个数《3，其中，缺陷是不规则区域，这个区域的面积除以它的最小外接矩形即为最小外接矩形比例；没有连在一起的多个区域融合称之为一个缺陷时，这个缺陷没有连在一起的区域的个数称之为独立区域个数。对于子空间c中满足该约束条件的待筛选缺陷，即为缺陷，不满足约束条件的待筛选缺陷，即为非缺陷。
[0069]
需要说明的是，对于不同的子空间，所需要选择的约束特征需要根据实际筛选情况而定，本技术实施例对此不作限定。
[0070]
本技术实施例，通过建立数据空间并划分子空间，实现在子空间中对缺陷和非缺陷进行分类筛选。
[0071]
另外，能够通过调参图形化的方式，增加调参的易操作性。
[0072]
在本技术的一个实施例中，在将第一数据空间划分为多个区域之后，还可以对区域进行大小调整、合并或划分的操作。具体地，接收用户对第一类边界线的至少一部分线段的移动指令，移动至少一部分线段，以调整至少一部分线段两边的区域的大小；和/或，接收用户对第一类边界线的至少一部分线段的删除指令，删除至少一部分线段，以合并至少一部分线段两边的区域；和/或，接收用户对第一类边界线增加第一目标线的增加指令，在多个区域中的目标区域内增加第一目标线，以根据第一目标线将目标区域划分为两个区域。
[0073]
在该实施例中，在划分区域之后，还可以对区域进行编辑与修改，包括但不限于添加、删除、移动划分区域的分界线来调整各个区域的大小。
[0074]
另外，各个区域可以被选中，且可以对选中的区域进行命名操作或在区域中添加子区域操作。
[0075]
通过上述方式，实现通过图形化操作调整区域，方便用户操作，提高缺陷筛选的效率。
[0076]
在本技术的一个实施例中，在第二数据空间划分为多个相互独立的子空间之后，还可以对子空间进行大小调整、合并或划分的操作。具体地，接收用户对第二类边界线的至
少一部分线段的移动指令，移动至少一部分线段，以调整至少一部分线段两边的子空间的大小；和/或，接收用户对第二类边界线的至少一部分线段的删除指令，删除至少一部分线段，以合并至少一部分线段两边的子空间；和/或，接收用户对第二类边界线增加第二目标线的增加指令，在多个子空间中的第一目标子空间内增加第二目标线，以根据第二目标线对应的平面将第一目标子空间划分为两个子空间。
[0077]
在该实施例中，在划分子空间之后，还可以对子空间进行编辑与修改，包括但不限于添加、删除、移动划分区域的分界线来调整各个子空间的大小。
[0078]
另外，各个子空间可以被选中，且可以对选中的子空间进行命名操作或在子空间中添加子分类操作。
[0079]
通过上述方式，实现通过图形化操作调整子空间，方便用户操作，提高缺陷筛选的效率。
[0080]
本技术实施例提供了一种缺陷筛选方法，如图5所示，该方法包括：
[0081]
步骤501，获取多个待筛选缺陷；
[0082]
步骤502，基于多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将数据空间划分为多个相互独立的子空间，其中，多个待筛选缺陷为数据空间中的点集；
[0083]
步骤503，在子空间中对待筛选缺陷进行分类筛选，以确定待筛选缺陷为缺陷或非缺陷。
[0084]
在该实施例中，获取多个待筛选缺陷，该待筛选缺陷可以为在需要进行质量检测的工业产品的产品图像上分割出来的待筛选缺陷，也可以为样本缺陷。根据多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，从而将待筛选缺陷转化为分布在该数据空间的点集，并将该数据空间划分为多个相互独立的子空间，在子空间中对待筛选缺陷进行缺陷和非缺陷的分类筛选。
[0085]
具体地，计算每一个待筛选缺陷的特征量，记待筛选缺陷为d，每个待筛选缺陷包含n个特征量x1，x2，......，xn，则m个样本d1，d2，......，dm构成一个集合d。在此基础上转化一下概念，把集合d看作是分布在由x1，x2，......，xn这n维特征所构成的高维数据空间中的点集，则缺陷分类筛选的目标就是找到一个或者多个边界将分布在该数据空间的点集准确的划分为缺陷集d
t
和非缺陷集df。
[0086]
选择关键特征，构建数据空间，并以检规要求和筛选经验为基础设置数值刻度将数据空间划分为多个子空间，即对应多个子类，进而待筛选缺陷会根据其关键特征的值落入对应的子空间中。进一步地，在每个子空间中，分别添加约束特征的约束条件，用于筛选区分缺陷和非缺陷。
[0087]
并且，需要说明的是，本技术实施例中，是利用基于图形化框架搭建缺陷分布空间的方式，实现了判断从产品外观检测出来的待筛选缺陷是否为缺陷。该图形化框架可以通过图形化操作构建及划分数据空间，并可视化缺陷的分布，从而有利于将待筛选缺陷细分到多个子空间中进行筛选，从而筛选出真缺陷。本技术通过将结构化调参的思维框架设计成具有可操作性的图形化界面，增加对缺陷分布空间调参的易操作性，可以大大增加缺陷筛选这一环节的用户友好性。
[0088]
本技术的技术方案，能够准确地区分出待筛选缺陷是缺陷还是非缺陷，从而能够降低工业产品的漏检率和过检率，提高工业产品的质量检测效果。
[0089]
在本技术的一个实施例中，在子空间中对待筛选缺陷进行分类筛选，以确定待筛选缺陷为缺陷或非缺陷，包括：对于多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷，根据目标待筛选缺陷的目标关键特征，将目标待筛选缺陷划分至目标关键特征对应的第二目标子空间中；若目标待筛选缺陷的约束特征满足第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定目标待筛选缺陷为缺陷；若目标待筛选缺陷的约束特征不满足第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定目标待筛选缺陷为非缺陷。
[0090]
在该实施例中，对于多个待筛选缺陷中的任一待筛选缺陷(也即目标待筛选缺陷)，根据目标待筛选缺陷的目标关键特征的数值，将目标待筛选缺陷划分至目标关键特征对应的第二目标子空间中，进而根据目标待筛选缺陷的约束特征是否满足第二目标子空间中的约束条件来确定目标待筛选缺陷是否为真缺陷。例如，目标待筛选缺陷的长、宽满足图3中的子空间b对应的长、宽数值，则该目标待筛选缺陷划分至子空间b。若该目标待筛选缺陷的约束特征(也即对比度)的数值还满足子空间b对应的约束条件，则确定该目标待筛选缺陷的确为缺陷；若该目标待筛选缺陷的约束特征的数值不满足子空间b对应的约束条件，则确定该目标待筛选缺陷为非缺陷。
[0091]
通过上述方式，能够准确地对待筛选缺陷是否为真缺陷进行分类筛选。
[0092]
在本技术的一个实施例中，在将第一数据空间划分为多个区域之后，还包括：确定待筛选缺陷的关键特征所处的目标区域，将目标区域对应的分类标签作为待筛选缺陷的类型。
[0093]
在该实施例中，用户可以对每个区域添加其对应的分类标签，该分类标签与区域的关键特征相关，实现对每个区域进行命名。例如，图2中的1区可以命名为1.0线状缺陷。如果确定一个待筛选缺陷落入到一个区域内，则可以根据该区域的命名确定待筛选缺陷的类型。例如，待筛选缺陷的长、宽满足图2中的1区对应的长、宽数值，则该待筛选缺陷划分至1区，也即，该待筛选缺陷可能为线状缺陷。
[0094]
通过上述方式，实现对待筛选缺陷的具体类型的确定。
[0095]
在本技术的一个实施例中，在将目标待筛选缺陷划分至目标关键特征对应的第二目标子空间中之后，还包括：将第二目标子空间对应的分类标签作为目标待筛选缺陷的类型。
[0096]
在该实施例中，用户可以对每个子空间添加其对应的分类标签，该分类标签与子空间的特征量相关，实现对每个子空间进行命名。例如，图3中的子空间b命名可以命名为2.1中度块状缺陷。如果确定一个待筛选缺陷落入到一个子空间内，则可以根据该子空间的命名确定待筛选缺陷的类型。例如，目标待筛选缺陷的长、宽、对比度满足图3中的子空间b对应的长、宽、对比度数值，则该目标待筛选缺陷划分至子空间b，也即，该目标待筛选缺陷可能为中度块状缺陷。
[0097]
通过上述方式，实现对待筛选缺陷的具体类型的确定。
[0098]
在本技术的一个实施例中，根据用户的第五操作指令编辑的数值刻度大于预设阈值；方法还包括：将关键特征处于子空间内的待筛选缺陷确定为规格外缺陷。
[0099]
在该实施例中，用户可以设定其第五操作指令编辑的数值刻度，使其大于预设阈值，该预设阈值即为一个划分值，能够划分出规格内缺陷和规格外缺陷，具体地，关键特征小于该预设阈值的待筛选缺陷均被排出在子空间外，而处于子空间内的待筛选缺陷即为规
格外缺陷。
[0100]
通过上述方式，实现对规格外缺陷的确定。
[0101]
本技术实施例提供了一种产品分类方法，如图6所示，该方法包括：
[0102]
步骤601，获取产品的多个产品图像，并从多个产品图像中分割出待筛选缺陷；
[0103]
步骤602，确定待筛选缺陷是否为缺陷，若待筛选缺陷为缺陷，则确定待筛选缺陷的缺陷等级，并统计不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量；
[0104]
步骤603，根据为缺陷的待筛选缺陷的缺陷等级和不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量，确定产品的分类。
[0105]
在该实施例中，首先，获取产品在不同相机和光源角度的组合下拍摄的多幅产品图像，称之为多个图像通道。然后，选择缺陷成像清晰的图像通道对缺陷进行分割，得到缺陷蒙版(也即，待筛选缺陷)。进而计算待筛选缺陷处对应产品图像上的特征量，其中特征量包括关键特征和约束特征，选择其中的关键特征构建数据空间，并按照检规要求和筛选经验将数据空间划分为多个相互独立的子空间，在每个子空间中添加约束特征的约束条件，从而根据任一待筛选缺陷的约束特征是否满足其所在的子空间对应的约束条件，判断该待筛选缺陷是否为真缺陷。以及，在判定其为真缺陷的情况下，再确定该待筛选缺陷的缺陷等级。
[0106]
通过上述方式，对分割出的多个待筛选缺陷，均进行真假缺陷的判断以及确定其中的真缺陷的缺陷等级，从而统计出不同缺陷等级的待筛选缺陷。通过统计一个产品中存在的真缺陷的等级和数量，确定该产品的分类是ok、ng或者qualityb。
[0107]
示例性地，缺陷等级分为1级至5级，且缺陷程度依次增大。若产品被检测出1个或0个1级缺陷，且没有更高等级的缺陷，则判定该产品为ok；若产品被检测出2个及以上1级缺陷，且没有更高等级的缺陷，则判定该产品为qualityb；若产品被检出1个或更多个2级及以上等级的缺陷，则判定该产品为ng。
[0108]
本技术实施例，能够准确地确定产品质量，降低对产品外观质量检测的过检率和漏检率，提高产品的质量检测效果。
[0109]
在本技术的一个实施例中，确定待筛选缺陷的缺陷等级，包括：判断待筛选缺陷的特征量中的特定特征所处的数值范围；将特定特征所处的数值范围对应的缺陷等级，作为待筛选缺陷的缺陷等级。
[0110]
在该实施例中，在特征量中选择特定特征，对真缺陷进行缺陷等级的划分，其中，特定特征为关键特征或约束特征中的一种，且所选取的特定特征的数值越小，缺陷等级越低。
[0111]
具体地，根据特定特征所处的数值范围，对应确定缺陷等级。示例性地，选择面积作为缺陷等级划分的特定特征，面积区间为50至100的划分为1级，面积区间为100至200的划分为2级，面积区间为200至350的划分为3级，面积区间为350至500的划分为4级，面积区间为500至无穷的划分为5级。
[0112]
通过上述方式，实现对缺陷等级的精准划分，为产品质量检测提供判断依据。
[0113]
作为上述缺陷分布空间编辑方法的具体实现，本技术实施例提供了一种缺陷分布空间编辑装置。如图7所示，该缺陷分布空间编辑装置700包括：接收模块701、显示模块702、构建模块703、划分模块704以及添加模块705。
[0114]
其中，接收模块701，用于接收用户的第一操作指令；显示模块702，用于响应于第一操作指令，显示图形化界面，图形化界面中包括特征量池和坐标空间编辑区，特征量池中包括多个特征量标识，特征量标识用于指示待筛选缺陷的特征量，特征量包括关键特征和约束特征；接收模块701，还用于接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令；构建模块703，用于响应于第二操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间；接收模块701，还用于接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令；划分模块704，用于响应于第三操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第一类边界线，将第一数据空间划分为多个区域；接收模块701，还用于接收用户从特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令；构建模块703，还用于响应于第四操作指令，确定用户在特征量池中所选的特征量标识，并根据特征量标识指示的关键特征和多个区域，构建第二数据空间；接收模块701，还用于接收用户在坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令；划分模块704，还用于响应于第五操作指令，确定用户在坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据数值刻度生成的第二类边界线，将第二数据空间划分为多个相互独立的子空间；接收模块701，还用于接收用户的第六操作指令；添加模块705，用于响应于第六操作指令，为每个子空间，分别添加约束特征的约束条件，添加约束条件后的子空间用于对待筛选缺陷进行分类筛选。
[0115]
在该实施例中，提供图形化界面，其中显示有坐标空间编辑区和包括多个特征量标识的特征量池，每一个特征量标识指示待筛选缺陷的一个特征量，特征量标识能够被用户进行操作，以实现对其指示的特征量的选择。接收用户的操作指令，根据用户在特征量池中所选的特征量标识指示的关键特征构建数据空间，从而将待筛选缺陷转化为分布在该数据空间的点集，以及根据用户在坐标空间编辑区编辑的数值刻度生成边界线，并基于边界线将数据空间划分为多个相互独立的子空间。进一步地，接收用户的操作指令，确定用户在特征量池中为每一个子空间所选的特征量标识指示的约束特征，以及确定用户在坐标空间编辑区对约束特征编辑的约束条件，从而能够在子空间中对待筛选缺陷进行缺陷和非缺陷的分类筛选。具体地，落入该子空间中的待筛选缺陷，满足该子空间所有约束条件则被判为真缺陷，否则为假缺陷。
[0116]
本技术实施例中，为了判断从产品外观检测出来的待筛选缺陷是否为缺陷，提出一种基于图形化框架搭建缺陷分布空间的方法。该图形化框架可以通过图形化操作构建及划分数据空间，并可视化缺陷的分布，从而有利于将待筛选缺陷细分到多个子空间中进行筛选，从而筛选出真缺陷。并且，通过将结构化调参的思维框架设计成具有可操作性的图形化界面，增加对缺陷分布空间调参的易操作性，可以大大增加缺陷筛选这一环节的用户友好性。
[0117]
进一步地，关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值以及对比度；接收模块701，具体用于接收用户从特征量池中拖拽第一特征量标识至第一坐标轴的指令，以及接收用户从特征量池中拖拽第二特征量标识至第二坐标轴的指令；构建模块703，具体用于确定用户所选的第一特征量标识所指示的关键特征为长度，确定用户所选的第二特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以长度为第一坐标轴、宽度为第二坐标轴，建立二维坐标系数据空间，其中二维坐标系数据空间为第一数据空间；接收模块701，具体用于接收用户在坐标
空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令；划分模块704，具体用于确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在二维坐标系数据空间中，添加多个不同长度值的边界线、多个不同长宽比的边界线以及多个不同长宽均值的边界线，以将二维坐标系数据空间划分为多个区域；接收模块701，具体用于接收用户从特征量池中拖拽第三特征量标识至特征排列区的第四操作指令；构建模块703，具体用于确定用户所选的第三特征量标识所指示的关键特征为对比度，以对比度为第三坐标轴，将多个区域转换为三维坐标系数据空间，其中三维坐标系数据空间为第二数据空间；接收模块701，具体用于接收用户在坐标空间编辑区编辑对比度的数值刻度的第五操作指令；划分模块704，具体用于确定多个不同对比度数值，以及在三维坐标系数据空间中，添加多个不同对比度数值的边界线，以将三维坐标系数据空间划分为多个相互独立的子空间。
[0118]
进一步地，关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值、对比度以及面积；接收模块701，具体用于接收用户从特征量池中拖拽第四特征量标识至第一坐标轴的指令，以及接收用户从特征量池中拖拽第五特征量标识至第二坐标轴的指令；构建模块703，具体用于确定用户所选的第四特征量标识所指示的关键特征为长度，确定用户所选的第五特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以长度为第一坐标轴、宽度为第二坐标轴，建立一级二维坐标系数据空间，其中一级二维坐标系数据空间为第一数据空间；接收模块701，具体用于接收用户在坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令；划分模块704，具体用于确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在一级二维坐标系数据空间中，添加多个不同长度值的边界线、多个不同长宽比的边界线以及多个不同长宽均值的边界线，以将一级二维坐标系数据空间划分为多个区域；接收模块701，具体用于接收用户从特征量池中拖拽第六特征量标识至特征排列区的第四操作指令，以及接收用户从特征量池中拖拽第七特征量标识至特征排列区的指令；构建模块703，具体用于确定用户所选的第六特征量标识所指示的关键特征为对比度，确定用户所选的第七特征量标识所指示的关键特征为面积，以对比度为第一坐标轴、面积为第二坐标轴，将多个区域转换为次级二维坐标系数据空间，其中次级二维坐标系数据空间为第二数据空间；接收模块701，具体用于接收用户在坐标空间编辑区编辑对比度、面积的数值刻度的指令；划分模块704，具体用于确定多个不同对比度数值、多个不同面积值，以及在次级二维坐标系数据空间中，添加多个不同对比度数值的边界线、多个不同面积值的边界线，以将次级二维坐标系数据空间划分为多个相互独立的子空间。
[0119]
进一步地，接收模块701，还用于接收用户对第一类边界线的至少一部分线段的移动指令；划分模块704，还用于移动至少一部分线段，以调整至少一部分线段两边的区域的大小；和/或，接收模块701，还用于接收用户对第一类边界线的至少一部分线段的删除指令，划分模块704，还用于删除至少一部分线段，以合并至少一部分线段两边的区域；和/或，接收模块701，还用于接收用户对第一类边界线增加第一目标线的增加指令，划分模块704，还用于在多个区域中的目标区域内增加第一目标线，以根据第一目标线将目标区域划分为两个区域。
[0120]
进一步地，接收模块701，还用于接收用户对第二类边界线的至少一部分线段的移动指令，划分模块704，还用于移动至少一部分线段，以调整至少一部分线段两边的子空间的大小；和/或，接收模块701，还用于接收用户对第二类边界线的至少一部分线段的删除指
令，划分模块704，还用于删除至少一部分线段，以合并至少一部分线段两边的子空间；和/或，接收模块701，还用于接收用户对第二类边界线增加第二目标线的增加指令，划分模块704，还用于在多个子空间中的第一目标子空间内增加第二目标线，以根据第二目标线对应的平面将第一目标子空间划分为两个子空间。
[0121]
作为上述缺陷筛选方法的具体实现，本技术实施例提供了一种缺陷筛选装置。如图8所示，该缺陷筛选装置800包括：获取模块801、处理模块802以及筛选模块803。
[0122]
其中，获取模块801，用于获取多个待筛选缺陷；处理模块802，用于根据缺陷分布空间编辑装置，基于多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将数据空间划分为多个相互独立的子空间，其中，多个待筛选缺陷为数据空间中的点集；筛选模块803，用于在子空间中对待筛选缺陷进行分类筛选，以确定待筛选缺陷为缺陷或非缺陷。
[0123]
在该实施例中，获取多个待筛选缺陷，该待筛选缺陷可以为在需要进行质量检测的工业产品的产品图像上分割出来的待筛选缺陷，也可以为样本图像。根据多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，从而将待筛选缺陷转化为分布在该数据空间的点集，并将该数据空间划分为多个相互独立的子空间，在子空间中对待筛选缺陷进行缺陷和非缺陷的分类筛选。
[0124]
本技术实施例中，是利用基于图形化框架搭建缺陷分布空间的方式，实现了判断从产品外观检测出来的待筛选缺陷是否为缺陷。该图形化框架可以通过图形化操作构建及划分数据空间，并可视化缺陷的分布，从而有利于将待筛选缺陷细分到多个子空间中进行筛选，从而筛选出真缺陷。本技术通过将结构化调参的思维框架设计成具有可操作性的图形化界面，增加对缺陷分布空间调参的易操作性，可以大大增加缺陷筛选这一环节的用户友好性。
[0125]
本技术的技术方案，能够准确地区分出待筛选缺陷是缺陷还是非缺陷，从而能够降低工业产品的漏检率和过检率，提高工业产品的质量检测效果。
[0126]
进一步地，筛选模块803，具体用于：对于多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷，根据目标待筛选缺陷的目标关键特征，将目标待筛选缺陷划分至目标关键特征对应的第二目标子空间中；若目标待筛选缺陷的约束特征满足第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定目标待筛选缺陷为缺陷；若目标待筛选缺陷的约束特征不满足第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定目标待筛选缺陷为非缺陷。
[0127]
进一步地，筛选模块803，还用于将第二目标子空间对应的分类标签作为目标待筛选缺陷的类型。
[0128]
进一步地，根据用户的第五操作指令编辑的数值刻度大于预设阈值；筛选模块803，还用于将关键特征处于子空间内的待筛选缺陷确定为规格外缺陷。
[0129]
作为上述产品分类方法的具体实现，本技术实施例提供了一种产品分类装置。如图9所示，该产品分类装置900包括：获取模块901、判断模块902、确定模块903以及分类模块904。
[0130]
其中，获取模块901，用于获取产品的多个产品图像，并从多个产品图像中分割出待筛选缺陷；判断模块902，用于根据缺陷筛选装置，确定待筛选缺陷是否为缺陷；确定模块903，用于若待筛选缺陷为缺陷，则确定待筛选缺陷的缺陷等级，并统计不同缺陷等级的待筛选缺陷的数量；分类模块904，用于根据为缺陷的待筛选缺陷的缺陷等级和不同缺陷等级
的待筛选缺陷的数量，确定产品的分类。
[0131]
在该实施例中，首先，获取产品在不同相机和光源角度的组合下拍摄的多幅产品图像，称之为多个图像通道。然后，选择缺陷成像清晰的图像通道对缺陷进行分割，得到缺陷蒙版(也即，待筛选缺陷)。进而计算待筛选缺陷处对应产品图像上的特征量，其中特征量包括关键特征和约束特征，选择其中的关键特征构建数据空间，并按照检规要求和筛选经验将数据空间划分为多个相互独立的子空间，在每个子空间中添加约束特征的约束条件，从而根据任一待筛选缺陷的约束特征是否满足其所在的子空间对应的约束条件，判断该待筛选缺陷是否为真缺陷。以及，在判定其为真缺陷的情况下，再确定该待筛选缺陷的缺陷等级。
[0132]
通过上述方式，对分割出的多个待筛选缺陷，均进行真假缺陷的判断以及确定其中的真缺陷的缺陷等级，从而统计出不同缺陷等级的待筛选缺陷。通过统计一个产品中存在的真缺陷的等级和数量，确定该产品的分类是ok、ng或者qualityb。
[0133]
本技术实施例，能够准确地确定产品质量，降低对产品外观质量检测的过检率和漏检率，提高产品的质量检测效果。
[0134]
进一步地，确定模块903，具体用于判断待筛选缺陷的特征量中的特定特征所处的数值范围，并将特定特征所处的数值范围对应的缺陷等级，作为待筛选缺陷的缺陷等级。
[0135]
本技术实施例中的上述装置可以是计算机设备，也可以是计算机设备中的部件，例如集成电路或芯片，而该计算机设备可以是aoi设备。
[0136]
本技术实施例提供的上述装置能够实现图1、图5或图6的方法实施例实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。
[0137]
本技术实施例还提供一种计算机设备，如图10所示，该计算机设备1000包括处理器1001和存储器1002，存储器1002上存储有可在处理器1001上运行的程序或指令，该程序或指令被处理器1001执行时实现上述缺陷分布空间编辑方法实施例或缺陷筛选方法实施例或产品分类方法实施例的各个步骤，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
[0138]
需要说明的是，本技术实施例中的计算机设备包括上述的移动计算机设备和非移动计算机设备。
[0139]
存储器1002可用于存储软件程序以及各种数据。存储器1002可主要包括存储程序或指令的第一存储区和存储数据的第二存储区，其中，第一存储区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序或指令(比如声音播放功能、图像播放功能等)等。此外，存储器1002可以包括易失性存储器或非易失性存储器，或者，存储器1002可以包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(read-only memory，rom)、可编程只读存储器(programmable rom，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasable prom，eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electrically eprom，eeprom)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random access memory，ram)，静态随机存取存储器(static ram，sram)、动态随机存取存储器(dynamic ram，dram)、同步动态随机存取存储器(synchronous dram，sdram)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rate sdram，ddrsdram)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced sdram，esdram)、同步连接动态随机存取存储器(synch link dram，sldram)和直接内存总线随机存取存储器(direct rambus ram，
drram)。本技术实施例中的存储器1002包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
[0140]
处理器1001可包括一个或多个处理单元；可选的，处理器1001集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理涉及操作系统、用户界面和应用程序等的操作，调制解调处理器主要处理无线通信信号，如基带处理器。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器1001中。
[0141]
在本技术的一个实施例中，以用于手机玻璃盖板外观检测的aoi设备为例，其包括：
[0142]
光学成像装置，一个检测工位中配置上下两个线阵相机，上下多组不同角度的光源。通过相机和光源不同组合拍摄，实现多视角下的缺陷成像。
[0143]
优选的，光学成像装置具体用于：组合出投射明场、投射暗场、反射明场、反射暗场实现对产品外形轮廓的清晰成像和对缺陷的成像。产品外形轮廓的成像便于对图像中的检测区域进行定位，对缺陷的清晰成像便于对缺陷的检测和分割。
[0144]
检测平台软件，用于整合图像的输入、输出、裁剪、存储，检测算子流程的搭建、缺陷分类筛选器的搭建。
[0145]
缺陷检测模块，用于搭建缺陷检测的算子流程，实现对缺陷区域的检测、缺陷特征量的计算。检测流程可以分为五大步骤：建立坐标系、数据格式转化、轮廓区域获取、缺陷检测以及缺陷特征量计算。
[0146]
缺陷分类筛选模块，用于区分筛选真缺陷，对缺陷进行分类，例如分为划伤、压伤等，以及将缺陷划分为5个等级，进而实现产品归类。
[0147]
本技术实施例还提供一种可读存储介质，可读存储介质上存储有程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现上述缺陷分布空间编辑方法实施例或缺陷筛选方法实施例或产品分类方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
[0148]
本技术实施例还提供了一种芯片，芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现上述缺陷分布空间编辑方法实施例或缺陷筛选方法实施例或产品分类方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
[0149]
应理解，本技术实施例提到的芯片还可以称为系统级芯片、系统芯片、芯片系统或片上系统芯片等。
[0150]
本技术实施例还提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如上述缺陷分布空间编辑方法实施例或缺陷筛选方法实施例或产品分类方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
[0151]
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本技术实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及
的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
[0152]
上面结合附图对本技术的实施例进行了描述，但是本技术并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本技术的启示下，在不脱离本技术宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本技术的保护之内。

技术特征：
1.一种缺陷分布空间编辑方法，其特征在于，包括：接收用户的第一操作指令，显示图形化界面，所述图形化界面中包括特征量池和坐标空间编辑区，所述特征量池中包括多个特征量标识，所述特征量标识用于指示待筛选缺陷的特征量，所述特征量包括关键特征和约束特征；接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间；接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第一类边界线，将所述第一数据空间划分为多个区域；接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征和所述多个区域，构建第二数据空间；接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第二类边界线，将所述第二数据空间划分为多个相互独立的子空间；接收用户的第六操作指令，为每个所述子空间，分别添加所述约束特征的约束条件，添加所述约束条件后的所述子空间用于对所述待筛选缺陷进行分类筛选。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值以及对比度；所述接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间，包括：接收用户从所述特征量池中拖拽第一特征量标识至第一坐标轴的指令，确定用户所选的所述第一特征量标识所指示的关键特征为长度，接收用户从所述特征量池中拖拽第二特征量标识至第二坐标轴的指令，确定用户所选的所述第二特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以所述长度为第一坐标轴、所述宽度为第二坐标轴，建立二维坐标系数据空间，其中所述二维坐标系数据空间为所述第一数据空间；所述接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第一类边界线，将所述第一数据空间划分为多个区域，包括：接收用户在所述坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令，确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在所述二维坐标系数据空间中，添加所述多个不同长度值的边界线、所述多个不同长宽比的边界线以及所述多个不同长宽均值的边界线，以将所述二维坐标系数据空间划分为多个区域；所述接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征和所述多个区域，构建第二数据空间，包括：接收用户从所述特征量池中拖拽第三特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定
用户所选的所述第三特征量标识所指示的关键特征为对比度，以所述对比度为第三坐标轴，将所述多个区域转换为三维坐标系数据空间，其中所述三维坐标系数据空间为所述第二数据空间；所述接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第二类边界线，将所述第二数据空间划分为多个相互独立的子空间，包括：接收用户在所述坐标空间编辑区编辑对比度的数值刻度的第五操作指令，确定多个不同对比度数值，以及在所述三维坐标系数据空间中，添加所述多个不同对比度数值的边界线，以将所述三维坐标系数据空间划分为多个相互独立的所述子空间。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值、对比度以及面积；所述接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间，包括：接收用户从所述特征量池中拖拽第四特征量标识至第一坐标轴的指令，确定用户所选的所述第四特征量标识所指示的关键特征为长度，接收用户从所述特征量池中拖拽第五特征量标识至第二坐标轴的指令，确定用户所选的所述第五特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以所述长度为第一坐标轴、所述宽度为第二坐标轴，建立一级二维坐标系数据空间，其中所述一级二维坐标系数据空间为所述第一数据空间；所述接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第一类边界线，将所述第一数据空间划分为多个区域，包括：接收用户在所述坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令，确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在所述一级二维坐标系数据空间中，添加所述多个不同长度值的边界线、所述多个不同长宽比的边界线以及所述多个不同长宽均值的边界线，以将所述一级二维坐标系数据空间划分为多个区域；所述接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征和所述多个区域，构建第二数据空间，包括：接收用户从所述特征量池中拖拽第六特征量标识至特征排列区的第四操作指令，确定用户所选的所述第六特征量标识所指示的关键特征为对比度，接收用户从所述特征量池中拖拽第七特征量标识至特征排列区的指令，确定用户所选的所述第七特征量标识所指示的关键特征为面积，以所述对比度为第一坐标轴、所述面积为第二坐标轴，将所述多个区域转换为次级二维坐标系数据空间，其中所述次级二维坐标系数据空间为所述第二数据空间；所述接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第二类边界线，将所述第二数据空间划分为多个相互独立的子空间，包括：接收用户在所述坐标空间编辑区编辑对比度、面积的数值刻度的指令，确定多个不同
对比度数值、多个不同面积值，以及在所述次级二维坐标系数据空间中，添加所述多个不同对比度数值的边界线、多个不同面积值的边界线，以将所述次级二维坐标系数据空间划分为多个相互独立的所述子空间。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述将所述第一数据空间划分为多个区域之后，还包括：接收用户对所述第一类边界线的至少一部分线段的移动指令，移动所述至少一部分线段，以调整所述至少一部分线段两边的区域的大小；和/或，接收用户对所述第一类边界线的至少一部分线段的删除指令，删除所述至少一部分线段，以合并所述至少一部分线段两边的区域；和/或，接收用户对所述第一类边界线增加第一目标线的增加指令，在所述多个区域中的目标区域内增加所述第一目标线，以根据所述第一目标线将所述目标区域划分为两个区域。5.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述将所述第二数据空间划分为多个相互独立的子空间之后，还包括：接收用户对所述第二类边界线的至少一部分线段的移动指令，移动所述至少一部分线段，以调整所述至少一部分线段两边的子空间的大小；和/或，接收用户对所述第二类边界线的至少一部分线段的删除指令，删除所述至少一部分线段，以合并所述至少一部分线段两边的子空间；和/或，接收用户对所述第二类边界线增加第二目标线的增加指令，在所述多个子空间中的第一目标子空间内增加所述第二目标线，以根据所述第二目标线对应的平面将所述第一目标子空间划分为两个子空间。6.一种缺陷筛选方法，其特征在于，包括：获取多个待筛选缺陷；根据如权利要求1至5中任一项所述的缺陷分布空间编辑方法，基于多个所述待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将所述数据空间划分为多个相互独立的子空间，其中，多个所述待筛选缺陷为所述数据空间中的点集；在所述子空间中对所述待筛选缺陷进行分类筛选，以确定所述待筛选缺陷为缺陷或非缺陷。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述在所述子空间中对所述待筛选缺陷进行分类筛选，以确定所述待筛选缺陷为缺陷或非缺陷，包括：对于所述多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷，根据所述目标待筛选缺陷的目标关键特征，将所述目标待筛选缺陷划分至所述目标关键特征对应的第二目标子空间中；若所述目标待筛选缺陷的约束特征满足所述第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定所述目标待筛选缺陷为缺陷；若所述目标待筛选缺陷的约束特征不满足所述第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定所述目标待筛选缺陷为非缺陷。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述将所述目标待筛选缺陷划分至所述目标关键特征对应的第二目标子空间中之后，还包括：将所述第二目标子空间对应的分类标签作为所述目标待筛选缺陷的类型。9.根据权利要求6至8中任一项所述的方法，其特征在于，根据用户的第五操作指令编
辑的数值刻度大于预设阈值；所述方法还包括：将关键特征处于所述子空间内的待筛选缺陷确定为规格外缺陷。10.一种产品分类方法，其特征在于，包括：获取产品的多个产品图像，并从所述多个产品图像中分割出待筛选缺陷；根据如权利要求6至9中任一项所述的缺陷筛选方法，确定所述待筛选缺陷是否为缺陷；若所述待筛选缺陷为所述缺陷，则确定所述待筛选缺陷的缺陷等级，并统计不同缺陷等级的所述待筛选缺陷的数量；根据为所述缺陷的待筛选缺陷的缺陷等级和不同缺陷等级的所述待筛选缺陷的数量，确定所述产品的分类。11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述确定所述待筛选缺陷的缺陷等级，包括：判断所述待筛选缺陷的特征量中的特定特征所处的数值范围；将所述特定特征所处的数值范围对应的缺陷等级，作为所述待筛选缺陷的缺陷等级。12.一种缺陷分布空间编辑装置，其特征在于，包括：接收模块，用于接收用户的第一操作指令；显示模块，用于响应于所述第一操作指令，显示图形化界面，所述图形化界面中包括特征量池和坐标空间编辑区，所述特征量池中包括多个特征量标识，所述特征量标识用于指示待筛选缺陷的特征量，所述特征量包括关键特征和约束特征；所述接收模块，还用于接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至坐标轴的第二操作指令；构建模块，用于响应于所述第二操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征构建第一数据空间；所述接收模块，还用于接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第三操作指令；划分模块，用于响应于所述第三操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第一类边界线，将所述第一数据空间划分为多个区域；所述接收模块，还用于接收用户从所述特征量池中拖拽特征量标识至特征排列区的第四操作指令；所述构建模块，还用于响应于所述第四操作指令，确定用户在所述特征量池中所选的特征量标识，并根据所述特征量标识指示的关键特征和所述多个区域，构建第二数据空间；所述接收模块，还用于接收用户在所述坐标空间编辑区编辑数值刻度的第五操作指令；所述划分模块，还用于响应于所述第五操作指令，确定用户在所述坐标空间编辑区所选的数值刻度，并根据所述数值刻度生成的第二类边界线，将所述第二数据空间划分为多个相互独立的子空间；所述接收模块，还用于接收用户的第六操作指令；添加模块，用于响应于所述第六操作指令，为每个所述子空间，分别添加所述约束特征的约束条件，添加所述约束条件后的所述子空间用于对所述待筛选缺陷进行分类筛选。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值以及对比度；所述接收模块，具体用于接收用户从所述特征量池中拖拽第一特征量标识至第一坐标轴的指令，以及接收用户从所述特征量池中拖拽第二特征量标识至第二坐标轴的指令；所述构建模块，具体用于确定用户所选的所述第一特征量标识所指示的关键特征为长度，确定用户所选的所述第二特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以所述长度为第一坐标轴、所述宽度为第二坐标轴，建立二维坐标系数据空间，其中所述二维坐标系数据空间为所述第一数据空间；所述接收模块，具体用于接收用户在所述坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令；所述划分模块，具体用于确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在所述二维坐标系数据空间中，添加所述多个不同长度值的边界线、所述多个不同长宽比的边界线以及所述多个不同长宽均值的边界线，以将所述二维坐标系数据空间划分为多个区域；所述接收模块，具体用于接收用户从所述特征量池中拖拽第三特征量标识至特征排列区的第四操作指令；所述构建模块，具体用于确定用户所选的所述第三特征量标识所指示的关键特征为对比度，以所述对比度为第三坐标轴，将所述多个区域转换为三维坐标系数据空间，其中所述三维坐标系数据空间为所述第二数据空间；所述接收模块，具体用于接收用户在所述坐标空间编辑区编辑对比度的数值刻度的第五操作指令；所述划分模块，具体用于确定多个不同对比度数值，以及在所述三维坐标系数据空间中，添加所述多个不同对比度数值的边界线，以将所述三维坐标系数据空间划分为多个相互独立的所述子空间。14.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述关键特征包括：长度、宽度、长宽比、长宽均值、对比度以及面积；所述接收模块，具体用于接收用户从所述特征量池中拖拽第四特征量标识至第一坐标轴的指令，以及接收用户从所述特征量池中拖拽第五特征量标识至第二坐标轴的指令；所述构建模块，具体用于确定用户所选的所述第四特征量标识所指示的关键特征为长度，确定用户所选的所述第五特征量标识所指示的关键特征为宽度，并以所述长度为第一坐标轴、所述宽度为第二坐标轴，建立一级二维坐标系数据空间，其中所述一级二维坐标系数据空间为所述第一数据空间；所述接收模块，具体用于接收用户在所述坐标空间编辑区编辑长度值、长宽比以及长宽均值的数值刻度的第三操作指令；所述划分模块，具体用于确定多个不同长度值、多个不同长宽比以及多个不同长宽均值，并在所述一级二维坐标系数据空间中，添加所述多个不同长度值的边界线、所述多个不同长宽比的边界线以及所述多个不同长宽均值的边界线，以将所述一级二维坐标系数据空间划分为多个区域；所述接收模块，具体用于接收用户从所述特征量池中拖拽第六特征量标识至特征排列
区的第四操作指令，以及接收用户从所述特征量池中拖拽第七特征量标识至特征排列区的指令；所述构建模块，具体用于确定用户所选的所述第六特征量标识所指示的关键特征为对比度，确定用户所选的所述第七特征量标识所指示的关键特征为面积，以所述对比度为第一坐标轴、所述面积为第二坐标轴，将所述多个区域转换为次级二维坐标系数据空间，其中所述次级二维坐标系数据空间为所述第二数据空间；所述接收模块，具体用于接收用户在所述坐标空间编辑区编辑对比度、面积的数值刻度的指令；所述划分模块，具体用于确定多个不同对比度数值、多个不同面积值，以及在所述次级二维坐标系数据空间中，添加所述多个不同对比度数值的边界线、多个不同面积值的边界线，以将所述次级二维坐标系数据空间划分为多个相互独立的所述子空间。15.根据权利要求13或14所述的装置，其特征在于，所述接收模块，还用于接收用户对所述第一类边界线的至少一部分线段的移动指令；所述划分模块，还用于移动所述至少一部分线段，以调整所述至少一部分线段两边的区域的大小；和/或，所述接收模块，还用于接收用户对所述第一类边界线的至少一部分线段的删除指令，所述划分模块，还用于删除所述至少一部分线段，以合并所述至少一部分线段两边的区域；和/或，所述接收模块，还用于接收用户对所述第一类边界线增加第一目标线的增加指令，所述划分模块，还用于在所述多个区域中的目标区域内增加所述第一目标线，以根据所述第一目标线将所述目标区域划分为两个区域。16.根据权利要求13或14所述的装置，其特征在于，所述接收模块，还用于接收用户对所述第二类边界线的至少一部分线段的移动指令，所述划分模块，还用于移动所述至少一部分线段，以调整所述至少一部分线段两边的子空间的大小；和/或，所述接收模块，还用于接收用户对所述第二类边界线的至少一部分线段的删除指令，所述划分模块，还用于删除所述至少一部分线段，以合并所述至少一部分线段两边的子空间；和/或，所述接收模块，还用于接收用户对所述第二类边界线增加第二目标线的增加指令，所述划分模块，还用于在所述多个子空间中的第一目标子空间内增加所述第二目标线，以根据所述第二目标线对应的平面将所述第一目标子空间划分为两个子空间。17.一种缺陷筛选装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取多个待筛选缺陷；处理模块，用于根据如权利要求12至16中任一项所述的缺陷分布空间编辑装置，基于多个所述待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将所述数据空间划分为多个相互独立的子空间，其中，多个所述待筛选缺陷为所述数据空间中的点集；筛选模块，用于在所述子空间中对所述待筛选缺陷进行分类筛选，以确定所述待筛选缺陷为缺陷或非缺陷。18.根据权利要求17所述的装置，其特征在于，所述筛选模块，具体用于：
对于所述多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷，根据所述目标待筛选缺陷的目标关键特征，将所述目标待筛选缺陷划分至所述目标关键特征对应的第二目标子空间中；若所述目标待筛选缺陷的约束特征满足所述第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定所述目标待筛选缺陷为缺陷；若所述目标待筛选缺陷的约束特征不满足所述第二目标子空间所对应添加的约束条件，则确定所述目标待筛选缺陷为非缺陷。19.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述筛选模块，还用于将所述第二目标子空间对应的分类标签作为所述待筛选缺陷的类型。20.根据权利要求17至19中任一项所述的装置，其特征在于，根据用户的第五操作指令编辑的数值刻度大于预设阈值；所述筛选模块，还用于将关键特征处于所述子空间内的待筛选缺陷确定为规格外缺陷。21.一种产品分类装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取产品的多个产品图像，并从所述多个产品图像中分割出待筛选缺陷；判断模块，用于根据如权利要求17至20中任一项所述的缺陷筛选装置，确定所述待筛选缺陷是否为缺陷；确定模块，用于若所述待筛选缺陷为所述缺陷，则确定所述待筛选缺陷的缺陷等级，并统计不同缺陷等级的所述待筛选缺陷的数量；分类模块，用于根据为所述缺陷的待筛选缺陷的缺陷等级和不同缺陷等级的所述待筛选缺陷的数量，确定所述产品的分类。22.根据权利要求21所述的装置，其特征在于，所述确定模块，具体用于判断所述待筛选缺陷的特征量中的特定特征所处的数值范围，并将所述特定特征所处的数值范围对应的缺陷等级，作为所述待筛选缺陷的缺陷等级。23.一种计算机设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储有在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的缺陷分布空间编辑方法的步骤，或者如权利要求6至9中任一项所述的缺陷筛选方法的步骤，或者如权利要求10或11所述的产品分类方法的步骤。24.一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，其特征在于，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的缺陷分布空间编辑方法的步骤，或者如权利要求6至9中任一项所述的缺陷筛选方法的步骤，或者如权利要求10或11所述的产品分类方法的步骤。

技术总结
本申请提供了一种分布空间编辑方法、缺陷筛选方法、产品分类方法，该方法包括：提供图形化界面，其中显示有坐标空间编辑区和包括多个特征量标识的特征量池，每一个特征量标识指示待筛选缺陷的一个特征量。接收用户的操作指令，根据用户在特征量池中所选的特征量标识对应的关键特征构建数据空间，以及根据用户在坐标空间编辑区编辑的数值刻度生成边界线，并基于边界线将数据空间划分为多个相互独立的子空间。进一步地，接收用户的操作指令，确定用户在特征量池中为每一个子空间所选的特征量标识对应的约束特征，以及确定用户在坐标空间编辑区对约束特征编辑的约束条件，从而能够在子空间中对待筛选缺陷进行缺陷和非缺陷的分类筛选。筛选。筛选。


技术研发人员：张武杰 胡昌欣
受保护的技术使用者：中科慧远视觉技术（洛阳）有限公司
技术研发日：2022.09.01
技术公布日：2023/1/6