晶片外观挑选台的制作方法
晶片外观挑选台的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种石英晶片外观挑选设备，尤其涉及一种晶片外观挑选台。
【背景技术】
[0002]现有石英晶片在生产出货前需要进行外观上的挑选，意在将晶片外观上存在的一些不良问题进行剔除，如缺角、破损、崩口、刮痕和裂片等。对于比较明显的外观缺陷，一般做法是人工在室内灯光下直接目视或者利用放大镜进行挑选；但当遇到一些如边缘小崩口、轻微刮痕或者细微裂纹的时候，由于这些缺陷很不明显，用肉眼甚至借用放大镜也无法挑选，此时就只能使用显微镜去进行不良品的挑选，这样挑选的效率就会大大降低，也增大了生产的成本，不适应现在社会大批量生产的需求。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题就是克服现有技术的不足，提供一种有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本的晶片外观挑选台。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括箱体以及设置在所述箱体顶端的工作台面，所述箱体内还设置有发光体，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。
[0005]进一步的，所述工作台面包括架板以及玻璃载物台，所述架板固定设置在所述箱体上，且其中间设有通孔，所述玻璃载物台固定设置在所述架板上并盖住所述通孔。
[0006]进一步的，在所述玻璃载物台下方还设置有保护卡纸。
[0007]更进一步的，所述箱体内侧面板上还铺设有一层黑色隔布。
[0008]本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括箱体以及设置在所述箱体顶端的工作台面，所述箱体内还设置有发光体，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。与现有技术相比，本实用新型利用光线透过晶片后，观察光线折射的情况来判断晶片外观的好坏，由于晶片缺损部分的光线会受到缺损部分转折面的折射，使光线异常于正常折射的光线，这样不管晶片外观有多么细微的缺陷，甚至是缺陷出现的位置都能被工作人员准确的观察到，有效保证了挑选工作的速度和成功率；同时本实用新型结构简单，而且并不需要使用显微镜等成本较高的辅助工具。所以，本实用新型有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本。
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]如图1所示，本实用新型包括箱体I以及设置在所述箱体I顶端的工作台面，所述箱体I内还设置有发光体2，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体2的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。所述工作台面包括架板3以及玻璃载物台4，所述架板3固定设置在所述箱体I上，且其中间设有通孔5，所述玻璃载物台4固定设置在所述架板3上并盖住所述通孔5。在所述玻璃载物台4下方还设置有保护卡纸7。所述箱体I内侧面板上还铺设有一层黑色隔布6。
[0011]通过本实用新型，检查晶片的光线是从晶片底部射入检验员眼中，晶片缺损部分的光线受到缺损部分转折面的折射，会异常于正常折射的光线，这样作业员在观察时，就能很明显感觉到缺损部分的光线亮度会有不同，进而确认该晶片是否有不良，因为光线的穿透性不局限于破损的大小，所以轻微的划痕、小崩口或者是小裂纹都能够通过光线折射到作业员的视野中，作业员很容易挑出不良品。
[0012]本实用新型适用于石英晶片质检领域。
【主权项】
1.一种晶片外观挑选台，其特征在于:所述晶片外观挑选台包括箱体(I)以及设置在所述箱体(I)顶端的工作台面，所述箱体(I)内还设置有发光体(2)，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体(2 )的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。2.根据权利要求1所述的晶片外观挑选台，其特征在于:所述工作台面包括架板(3)以及玻璃载物台(4 )，所述架板(3 )固定设置在所述箱体(I)上，且其中间设有通孔(5 )，所述玻璃载物台(4 )固定设置在所述架板(3 )上并盖住所述通孔(5 )。3.根据权利要求2所述的晶片外观挑选台，其特征在于:在所述玻璃载物台(4)下方还设置有保护卡纸(7 )。4.根据权利要求1所述的晶片外观挑选台，其特征在于:所述箱体(I)内侧面板上还铺设有一层黑色隔布(6)。
【专利摘要】本实用新型公开并提供了一种有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本的晶片外观挑选台。本实用新型包括箱体（1）以及设置在所述箱体（1）顶端的工作台面，所述箱体（1）内还设置有发光体（2），所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体（2）的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。本实用新型适用于石英晶片质检领域。
【IPC分类】G01N21/88
【公开号】CN204705593
【申请号】CN201520293867
【发明人】刘兴波
【申请人】珠海东锦石英科技有限公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年5月8日
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种石英晶片外观挑选设备，尤其涉及一种晶片外观挑选台。
【背景技术】
[0002]现有石英晶片在生产出货前需要进行外观上的挑选，意在将晶片外观上存在的一些不良问题进行剔除，如缺角、破损、崩口、刮痕和裂片等。对于比较明显的外观缺陷，一般做法是人工在室内灯光下直接目视或者利用放大镜进行挑选；但当遇到一些如边缘小崩口、轻微刮痕或者细微裂纹的时候，由于这些缺陷很不明显，用肉眼甚至借用放大镜也无法挑选，此时就只能使用显微镜去进行不良品的挑选，这样挑选的效率就会大大降低，也增大了生产的成本，不适应现在社会大批量生产的需求。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题就是克服现有技术的不足，提供一种有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本的晶片外观挑选台。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括箱体以及设置在所述箱体顶端的工作台面，所述箱体内还设置有发光体，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。
[0005]进一步的，所述工作台面包括架板以及玻璃载物台，所述架板固定设置在所述箱体上，且其中间设有通孔，所述玻璃载物台固定设置在所述架板上并盖住所述通孔。
[0006]进一步的，在所述玻璃载物台下方还设置有保护卡纸。
[0007]更进一步的，所述箱体内侧面板上还铺设有一层黑色隔布。
[0008]本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括箱体以及设置在所述箱体顶端的工作台面，所述箱体内还设置有发光体，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。与现有技术相比，本实用新型利用光线透过晶片后，观察光线折射的情况来判断晶片外观的好坏，由于晶片缺损部分的光线会受到缺损部分转折面的折射，使光线异常于正常折射的光线，这样不管晶片外观有多么细微的缺陷，甚至是缺陷出现的位置都能被工作人员准确的观察到，有效保证了挑选工作的速度和成功率；同时本实用新型结构简单，而且并不需要使用显微镜等成本较高的辅助工具。所以，本实用新型有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本。
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]如图1所示，本实用新型包括箱体I以及设置在所述箱体I顶端的工作台面，所述箱体I内还设置有发光体2，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体2的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。所述工作台面包括架板3以及玻璃载物台4，所述架板3固定设置在所述箱体I上，且其中间设有通孔5，所述玻璃载物台4固定设置在所述架板3上并盖住所述通孔5。在所述玻璃载物台4下方还设置有保护卡纸7。所述箱体I内侧面板上还铺设有一层黑色隔布6。
[0011]通过本实用新型，检查晶片的光线是从晶片底部射入检验员眼中，晶片缺损部分的光线受到缺损部分转折面的折射，会异常于正常折射的光线，这样作业员在观察时，就能很明显感觉到缺损部分的光线亮度会有不同，进而确认该晶片是否有不良，因为光线的穿透性不局限于破损的大小，所以轻微的划痕、小崩口或者是小裂纹都能够通过光线折射到作业员的视野中，作业员很容易挑出不良品。
[0012]本实用新型适用于石英晶片质检领域。
【主权项】
1.一种晶片外观挑选台，其特征在于:所述晶片外观挑选台包括箱体(I)以及设置在所述箱体(I)顶端的工作台面，所述箱体(I)内还设置有发光体(2)，所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体(2 )的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。2.根据权利要求1所述的晶片外观挑选台，其特征在于:所述工作台面包括架板(3)以及玻璃载物台(4 )，所述架板(3 )固定设置在所述箱体(I)上，且其中间设有通孔(5 )，所述玻璃载物台(4 )固定设置在所述架板(3 )上并盖住所述通孔(5 )。3.根据权利要求2所述的晶片外观挑选台，其特征在于:在所述玻璃载物台(4)下方还设置有保护卡纸(7 )。4.根据权利要求1所述的晶片外观挑选台，其特征在于:所述箱体(I)内侧面板上还铺设有一层黑色隔布(6)。
【专利摘要】本实用新型公开并提供了一种有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本的晶片外观挑选台。本实用新型包括箱体（1）以及设置在所述箱体（1）顶端的工作台面，所述箱体（1）内还设置有发光体（2），所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体（2）的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。本实用新型适用于石英晶片质检领域。
【IPC分类】G01N21/88
【公开号】CN204705593
【申请号】CN201520293867
【发明人】刘兴波
【申请人】珠海东锦石英科技有限公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年5月8日
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