一种基表测试装置的制造方法
一种基表测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及基表测试技术领域，特别是指一种基表测试装置。
【背景技术】
[0002]随着超声波技术的成熟，目前热量表和水表都在采用超声波技术测量流量，而测量基表目前普遍采用的是立柱反射式测量方式，这种基表具有测量精度高等优点。但随之对基表生产装配工艺提出更高要求，否则测量将会产生很大偏差。目前常规检验方法只能通过游标卡尺等测量工具进行测量。由于基表的特殊性，有些关键参数根本无法测量，如两个反射镜面与水平面的反射角是否为45度，两个反射镜面的曲面平整度以及与基表管道的同轴度无法准确测量。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提出一种基表测试装置，解决了现有技术中无法测量基表同轴度的问题。
[0004]本实用新型的技术方案是这样实现的:
[0005]一种基表测试装置，包括激光发生器、透明板以及被测基表，其中
[0006]所述被测基表倒置于所述透明板上；
[0007]所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面；
[0008]在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。
[0009]作为优选的技术方案，两个所述通孔内的反射镜面均为45°反射镜面，且对立设置。
[0010]作为优选的技术方案，所述激光发生器的工作面为圆形，且与所述通孔的入口端同心设置。
[0011 ] 作为优选的技术方案，所述透明板为透明玻璃板。
[0012]作为优选的技术方案，所述图像传感器为感光親合元件(charge-coupleddevice, CO))或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器(CMOS Active pixel sensor)。
[0013]作为优选的技术方案，所述图像传感器还连接有显示器。
[0014]—种基表测试方法，包括:
[0015]倒置被测基表至透明板上；
[0016]用固定块将激光发生器与所述被测基表的一侧反射镜面的入口端定位好，保证激光发生器的工作面与反射镜面入口端同心；
[0017]预先设定好测量上限和测量下限；
[0018]接通电源，使激光束经过两个45°反射镜面反射垂直照射到图像传感器上，通过图像传感器转换为电信号成像在显示器上。
[0019]本实用新型的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。
【附图说明】
[0020]为了更清楚地说明本实用新型实施方案或现有技术中的技术方案，下面将对实施方案或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方案，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本实用新型一种基表测试装置的结构示意图；
[0022]图2为本实用新型一种基表测试装置的合格基表的结构示意图；
[0023]图3为本实用新型一种基表测试装置的不合格基表的测量图；
[0024]图4为本实用新型一种基表测试装置的合格基表测量成像图；
[0025]图5为本实用新型一种基表测试装置的不合格基表测量成像图。
[0026]其中:
[0027]1-被测基表、2-反射镜面、3-激光束、4-激光发生器、5-透明板、6_图像传感器、7-测量上限、8-激光光柱投影(实际测量值)、9_测量下限。
【具体实施方式】
[0028]下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0029]参见图1所示，基表测量装置的结构示意图。具体包括激光发生器4、透明板5以及被测基表I。图2为合格基表的结构示意图，其中反射镜面2与水平轴线成45度夹角，且对立设置。被测基表I倒置于透明板5上，被测基表I具有两个通孔(图中未标出)，在通孔内分别设置有固定块(图中未标出)，反射镜面2固定在固定块上。在其中一个通孔的入口端设有激光发生器4，另一个通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器6。本实施例中选取激光发生器的工作面为圆形，且与通孔的入口端同心设置。其中的透明板5的材质可以根据实际要求选择，为了降低成本，本实施例中选择的材质为玻璃。图像传感器6也可以根据价格以及图像清晰度进行选择，一般图像传感器6为感光親合元件(charge-coupleddevice, CO))或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器(CMOS Active pixel sensor),本实施例中选用的图像传感器6为CCD。本实施例的图像传感器6还连接有显示器，以展示图像。
[0030]下面运用上述基表测量装置进行测试，具体步骤为:
[0031]第一步:将被测基表I倒置在透明的玻璃板5上；
[0032]第二步:用固定块将激光发生器4与被测基表I的一侧反射镜面2的入口端定位好，保证激光发生器4的工作面与反射镜面2入口端同心；
[0033]第三部:在显示器上预先设定好测量上限7和测量下限9 ;
[0034]接通电源，使激光束3经过两个45°反射镜面2反射垂直照射到CXD图像传感器6上，通过CXD图像传感器转换为电信号成像在显示器上。平行激光束3在经过被测基表I管道内两次反射镜面2反射后将投影在显示器上一个清晰的光柱8，通过该光柱的椭圆度与设定好测量上限7和测量下限9比较，很直观地检测出被测基表I同轴度的好坏。如果被测基表I符合要求，那么测试原理图如图1所示，激光束3经过两次反射后成像在允许范围内，见图4所示。如果被测基表I不符合要求，那么测试原理图如图3所示，激光束经过两次反射后将产生偏差，成像将向某一方向偏移超出允许范围内，见图5所示。
[0035]本实用新型的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。
[0036]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种基表测试装置，其特征在于，包括激光发生器、透明板以及被测基表，其中 所述被测基表倒置于所述透明板上； 所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面； 在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。2.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，两个所述通孔内的反射镜面均为45°反射镜面，且对立设置。3.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述激光发生器的工作面为圆形，且与所述通孔的入口端同心设置。4.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述透明板为透明玻璃板。5.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述图像传感器为感光耦合元件或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器。6.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述图像传感器还连接有显示器。
【专利摘要】本实用新型提出了一种基表测试装置，其中装置包括激光发生器、透明板以及被测基表，所述被测基表倒置于所述透明板上；所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面；在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。本实用新型的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。
【IPC分类】G01B11/27
【公开号】CN204705329
【申请号】CN201520086641
【发明人】马占林
【申请人】浙江华立能源技术有限公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年2月6日
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及基表测试技术领域，特别是指一种基表测试装置。
【背景技术】
[0002]随着超声波技术的成熟，目前热量表和水表都在采用超声波技术测量流量，而测量基表目前普遍采用的是立柱反射式测量方式，这种基表具有测量精度高等优点。但随之对基表生产装配工艺提出更高要求，否则测量将会产生很大偏差。目前常规检验方法只能通过游标卡尺等测量工具进行测量。由于基表的特殊性，有些关键参数根本无法测量，如两个反射镜面与水平面的反射角是否为45度，两个反射镜面的曲面平整度以及与基表管道的同轴度无法准确测量。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提出一种基表测试装置，解决了现有技术中无法测量基表同轴度的问题。
[0004]本实用新型的技术方案是这样实现的:
[0005]一种基表测试装置，包括激光发生器、透明板以及被测基表，其中
[0006]所述被测基表倒置于所述透明板上；
[0007]所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面；
[0008]在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。
[0009]作为优选的技术方案，两个所述通孔内的反射镜面均为45°反射镜面，且对立设置。
[0010]作为优选的技术方案，所述激光发生器的工作面为圆形，且与所述通孔的入口端同心设置。
[0011 ] 作为优选的技术方案，所述透明板为透明玻璃板。
[0012]作为优选的技术方案，所述图像传感器为感光親合元件(charge-coupleddevice, CO))或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器(CMOS Active pixel sensor)。
[0013]作为优选的技术方案，所述图像传感器还连接有显示器。
[0014]—种基表测试方法，包括:
[0015]倒置被测基表至透明板上；
[0016]用固定块将激光发生器与所述被测基表的一侧反射镜面的入口端定位好，保证激光发生器的工作面与反射镜面入口端同心；
[0017]预先设定好测量上限和测量下限；
[0018]接通电源，使激光束经过两个45°反射镜面反射垂直照射到图像传感器上，通过图像传感器转换为电信号成像在显示器上。
[0019]本实用新型的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。
【附图说明】
[0020]为了更清楚地说明本实用新型实施方案或现有技术中的技术方案，下面将对实施方案或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方案，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本实用新型一种基表测试装置的结构示意图；
[0022]图2为本实用新型一种基表测试装置的合格基表的结构示意图；
[0023]图3为本实用新型一种基表测试装置的不合格基表的测量图；
[0024]图4为本实用新型一种基表测试装置的合格基表测量成像图；
[0025]图5为本实用新型一种基表测试装置的不合格基表测量成像图。
[0026]其中:
[0027]1-被测基表、2-反射镜面、3-激光束、4-激光发生器、5-透明板、6_图像传感器、7-测量上限、8-激光光柱投影(实际测量值)、9_测量下限。
【具体实施方式】
[0028]下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0029]参见图1所示，基表测量装置的结构示意图。具体包括激光发生器4、透明板5以及被测基表I。图2为合格基表的结构示意图，其中反射镜面2与水平轴线成45度夹角，且对立设置。被测基表I倒置于透明板5上，被测基表I具有两个通孔(图中未标出)，在通孔内分别设置有固定块(图中未标出)，反射镜面2固定在固定块上。在其中一个通孔的入口端设有激光发生器4，另一个通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器6。本实施例中选取激光发生器的工作面为圆形，且与通孔的入口端同心设置。其中的透明板5的材质可以根据实际要求选择，为了降低成本，本实施例中选择的材质为玻璃。图像传感器6也可以根据价格以及图像清晰度进行选择，一般图像传感器6为感光親合元件(charge-coupleddevice, CO))或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器(CMOS Active pixel sensor),本实施例中选用的图像传感器6为CCD。本实施例的图像传感器6还连接有显示器，以展示图像。
[0030]下面运用上述基表测量装置进行测试，具体步骤为:
[0031]第一步:将被测基表I倒置在透明的玻璃板5上；
[0032]第二步:用固定块将激光发生器4与被测基表I的一侧反射镜面2的入口端定位好，保证激光发生器4的工作面与反射镜面2入口端同心；
[0033]第三部:在显示器上预先设定好测量上限7和测量下限9 ;
[0034]接通电源，使激光束3经过两个45°反射镜面2反射垂直照射到CXD图像传感器6上，通过CXD图像传感器转换为电信号成像在显示器上。平行激光束3在经过被测基表I管道内两次反射镜面2反射后将投影在显示器上一个清晰的光柱8，通过该光柱的椭圆度与设定好测量上限7和测量下限9比较，很直观地检测出被测基表I同轴度的好坏。如果被测基表I符合要求，那么测试原理图如图1所示，激光束3经过两次反射后成像在允许范围内，见图4所示。如果被测基表I不符合要求，那么测试原理图如图3所示，激光束经过两次反射后将产生偏差，成像将向某一方向偏移超出允许范围内，见图5所示。
[0035]本实用新型的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。
[0036]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种基表测试装置，其特征在于，包括激光发生器、透明板以及被测基表，其中 所述被测基表倒置于所述透明板上； 所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面； 在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。2.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，两个所述通孔内的反射镜面均为45°反射镜面，且对立设置。3.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述激光发生器的工作面为圆形，且与所述通孔的入口端同心设置。4.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述透明板为透明玻璃板。5.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述图像传感器为感光耦合元件或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器。6.根据权利要求1所述的一种基表测试装置，其特征在于，所述图像传感器还连接有显示器。
【专利摘要】本实用新型提出了一种基表测试装置，其中装置包括激光发生器、透明板以及被测基表，所述被测基表倒置于所述透明板上；所述被测基表具有两个通孔，在所述通孔内分别设置有固定块，且在所述固定块上设有反射镜面；在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器，另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。本实用新型的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题，弥补了现有技术的缺陷，而且操作方便，准确，直观；设备投入成本低，利于市场化推广应用。
【IPC分类】G01B11/27
【公开号】CN204705329
【申请号】CN201520086641
【发明人】马占林
【申请人】浙江华立能源技术有限公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年2月6日
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