一种模数电实验台的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种教学设备领域,尤其涉及一种模数电实验台。
【背景技术】
[0002]目前,电工电子类课程的实验教学采用一套实验设备加外置或内置的电压表进行检测,并且每次仅能检测一组数据;若遇到设有若干测试点的复杂电路板,需要同时测量多组数据,则传统的实验台无法实现多组数据同时测量。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种模数电实验台,以满足多路数据测量的技术问题。
[0004]为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种模数电实验台,包括:位于模电实验区和数电实验区之间的电压检测区;所述电压检测区包括:若干测量孔和与之配合测量的一公共接地孔;位于各测量孔内的接线端分别通过调理电路依次与多选一开关模块、AD模块、处理器模块相连,以及所述处理器模块的输出控制端与多选一开关模块的控制端相连;所述处理器模块还与按键和显示模块相连。
[0005]进一步,所述电压检测区还设有与测量孔数量相等的发光二极管,且各发光二极管分别与相应的测量孔内的接线端相连。
[0006]进一步,所述处理器模块还与无线模块相连,以将测量数据上传至教师机。
[0007]本实用新型的有益效果是,本实用新型的模数电实验台通过电压检测区的多测量孔完成多路数据采集,并且通过调理电路、多选一开关模块、AD模块、处理器模块完成各电压的测量,本实用新型能完成多路数据同时测量,极大地提高了对复杂电路的检测效率。
【附图说明】
[0008]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0009]图1是本实用新型的模数电实验台的实验区分布示意图;
[0010]图2是本实用新型的模数电实验台的原理框图。
【具体实施方式】
[0011]现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
[0012]如图1和图2所示,本实用新型的一种模数电实验台,包括:位于模电实验区I和数电实验区2之间的电压检测区3 ;所述电压检测区3包括:若干测量孔301和与之配合测量的一公共接地孔302 ;位于各测量孔内的接线端分别通过调理电路305依次与多选一开关模块、AD模块、处理器模块相连,以及所述处理器模块的输出控制端与多选一开关模块的控制端相连;所述处理器模块还与按键303和显示模块304相连。
[0013]具体的,所述测量孔301的数量为8个或16个;学生在实验时,将导线插入各测量孔301中,将导线作为电压表笔。
[0014]为了满足数电实验的需要,所述电压检测区3还设有与测量孔301数量相等的发光二极管,且各发光二极管分别与相应的测量孔301内的接线端相连。通过发光二极管可以直接检测数电芯片的输出电平(高电平时,发光二极管被电量)。具体的,发光二极管的阳极与测量孔内的接线端相连,阴极接地。
[0015]所述处理器模块还与无线模块相连,以将测量数据上传至教师机,以便于教师机汇总实验数据进行评分;提高实验考核效率。
[0016]以上述依据本实用新型的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
【主权项】
1.一种模数电实验台,其特征在于,包括:位于模电实验区和数电实验区之间的电压检测区; 所述电压检测区包括:若干测量孔和与之配合测量的一公共接地孔;位于各测量孔内的接线端分别通过调理电路依次与多选一开关模块、AD模块、处理器模块相连,以及所述处理器模块的输出控制端与多选一开关模块的控制端相连; 所述处理器模块还与按键和显示模块相连。2.如权利要求1所述的模数电实验台,其特征在于,所述电压检测区还设有与测量孔数量相等的发光二极管,且各发光二极管分别与相应的测量孔内的接线端相连。3.如权利要求2所述的模数电实验台,其特征在于,所述处理器模块还与无线模块相连,以将测量数据上传至教师机。
【专利摘要】本实用新型涉及一种模数电实验台,包括:位于模电实验区和数电实验区之间的电压检测区;所述电压检测区包括:若干测量孔和与之配合测量的一公共接地孔;位于各测量孔内的接线端分别通过调理电路依次与多选一开关模块、AD模块、处理器模块相连,以及所述处理器模块的输出控制端与多选一开关模块的控制端相连;所述处理器模块还与按键和显示模块相连;本实用新型的模数电实验台通过电压检测区的多测量孔完成多路数据采集,并且通过调理电路、多选一开关模块、AD模块、处理器模块完成各电压的测量,本实用新型能完成多路数据同时测量,极大地提高了对复杂电路的检测效率。
【IPC分类】G09B23/18
【公开号】CN204650860
【申请号】CN201520348460
【发明人】缪晓芸
【申请人】常州轻工职业技术学院
【公开日】2015年9月16日
【申请日】2015年5月26日