模块化全功能自动检测系统的制作方法
模块化全功能自动检测系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及自动控制技术领域，具体的说，是模块化全功能自动检测系统及方法。
【背景技术】
[0002]控制卡种类多，有不同的接口电平如5V/24V，不同的输出量如差分输入输出、单端数字量、单端模拟量，不同的性能要求如高速10、低速10，不同的接口数量如24输出、48输出等等，为了对这些板卡做检测，通常是有专门的对应的检测卡，然而采用单独的一对一的检测卡进行检测的话，将存在测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供模块化全功能自动检测系统，克服现有检测卡测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端，采用模块化设计方式设计的检测系统能自动识别连接在该检测系统上的待测板卡，并自适应的对连接在该检测系统上的待测板卡检测诸如低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能。
[0004]本实用新型通过下述技术方案实现:模块化全功能自动检测系统，包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口。
[0005]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述接口系统还包括与核心板相连接的以太网接口，所述以太网接口上还连接有PC机。
[0006]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述接口系统内还设置有与核心板相连接的USB接P ο
[0007]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述接口系统内还设置有与核心板连接的串口。
[0008]为更好的实现本实用新型，进一步的，还包括与SPI接口组相连接的测试板系统，所述测试板系统内设置有低速输入测试板，所述低速输入测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输入测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0009]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述测试板系统内还设置有低速输出测试板，所述低速输出测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输出测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0010]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述测试板系统内还设置有高速输出信号测试板，所述高速输出信号测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且高速输出信号测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0011]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述测试板系统内还设置有模拟量测试板，所述模拟量测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且模拟量测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0012]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述SPI接口组的SPI接口为8个。
[0013]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述核心板上设置有采用ARM+FPGA的芯片。
[0014]本实用新型与现有技术相比，具有以下优点及有益效果:
[0015]( I)本实用新型克服现有检测卡测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端，采用模块化设计方式设计的检测系统能自动识别连接在该检测系统上的待测板卡，并自适应的对连接在该检测系统上的待测板卡检测诸如低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能，具有扩展性好，集成度高，自适应强，应用灵活等特性。
[0016](2)本实用新型所述SPI接口组的SPI接口设置至少为一个以满足对不同类型的待测试板进行测试。
[0017](3)本实用新型在使用时，任何待测板卡的输入输出可通过同类测试板连接到检测卡上；通过级联测试板数量增加检测端口数。
[0018](4)本实用新型检测卡设计8个SPI接口，可接入4种不同类型的测试量，可任意口接入，在检测时，检测卡自动识别该口待测量，从而下发测试指令。
[0019](5)本实用新型在使用时，可通过扩展口(SPI接口)检测低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能，并可对各种诸如网口、串口、SPI器件、SD卡等全面检测。
[0020](6)本实用新型在使用时，可对不同种类板卡的接口信号幅度实现自适应，如5V和24V自适应，以提高检测精度。
【附图说明】
[0021]图1为本实用新型结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]下面结合实施例对本实用新型作进一步地详细说明，但本实用新型的实施方式不限于此。
[0023]板卡(控制板卡)的待测量可分为高速输入、高速输出、低速输入、低速输出；可以是数字电平输出，数字电平输入，模拟电平输出，模拟电平输入；可以是脉冲输入、脉冲输出等类型。
[0024]实施例1:
[0025]模块化全功能自动检测系统，如图1、所示，包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口。
[0026]核心板在此起控制测试的作用，负责与待测系统(测试板系统及待测板卡)通信及与PC机交互，及控制SPI接口组，并在其内的配置表中存储有待测板卡的电路形式；SPI接口组设置有至少一个SPI接口用于连接待测板卡，对诸如低速输出，高速输出，低速输入，模拟量等信号的幅值、频率等性能，并可对各种诸如网口、串口、SPI器件、SD卡等全面检测，在进行检测时，由于核心板的配置表中已存储待测板卡的电路形式，当各类待测板卡连接在SPI接口组上后，在核心板的控制测试的作用下控制继电器对不同的模式进行选择，自适应的对板卡的待测量进行测试。
[0027]实施例2:
[0028]本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，为便于将PC机接入到核心板上，并可做诸如核心板参数等信息的设置，如图1所示，特别设置有下述结构:所述接口系统还包括与核心板相连接的以太网接口，所述以太网接口上还连接有PC机，在使用时，可通过PC机对核心板的各类参数进行更改，同时在测试时，所得测试结果亦可在PC机上实时显示。
[0029]实施例3:
[0030]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述接口系统内还设置有与核心板相连接的USB接口，需要通过USB接口与检测卡相连接的设备即可利用USB接口与其连接。
[0031]实施例4:
[0032]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述接口系统内还设置有与核心板连接的串口，在设计时，串口可设计为RS232或RS485串口，在进行检测时，待测板卡可通过RS232或RS485串口线与检测卡连接。
[0033]实施例5:
[0034]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，还包括与SPI接口组相连 接的测试板系统，所述测试板系统内设置有低速输入测试板，所述低速输入测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输入测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与低速输入测试板相连接，通过低速输入测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的低速输入端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0035]实施例6:
[0036]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述测试板系统内还设置有低速输出测试板，所述低速输出测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输出测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与低速输出测试板相连接，通过低速输出测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的低速输出端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0037]实施例7:
[0038]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述测试板系统内还设置有高速输出信号测试板，所述高速输出信号测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且高速输出信号测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与高速输出信号测试板相连接，通过高速输出信号测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的高速输出信号端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0039]实施例8:
[0040]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述测试板系统内还设置有模拟量测试板，所述模拟量测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且模拟量测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与模拟量测试板相连接，通过模拟量测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的模拟量端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0041]实施例9:
[0042]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述SPI接口组的SPI接口为8个。
[0043]实施例10:
[0044]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，所述核心板上设置有采用ARM+FPGA的芯片。
[0045]在检测卡上电之后会以500us的定时周期不停的与下级建立通信，去访问下级的识别码，若有级联下级，则会返回正确的类型码，检测卡端将信息存到内存中，从而判断下级连接的卡类型及数目，从而控制其与待测板卡的连接并检测。
[0046]检测卡作为系统的核心，检测及下发指令都是通过其中的核心板的ARM完成。
[0047]SPI系统内各测试板之间以及检测卡与SPI系统之间的识别过程及数据传递过程由核心板的FPGA完成。
[0048]以高速输出口测试为例:
[0049]首先，选定待测板卡型号，该型号对应不同的输入输出参数，以便测试核心对测试卡底板做配置，切换不同的继电器；
[0050]连接待测板卡的相关信号到对应的SPI系统前N个端口；
[0051]检测卡通过串口将指令发给待测板卡，待测板卡将从输出端口 N输出不同的信号，电平信号，PWM信号；
[0052]SPI系统检测其上端口 1-N的电平值及频率脉宽值，上传给核心板；
[0053]核心板将发给待测板卡的参数与收到测试板的参数对比，将结果发到PC机端显示，由此，完成一轮的高速输出口检测。
[0054]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型做任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.模块化全功能自动检测系统，其特征在于:包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口。2.根据权利要求1所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述接口系统还包括与核心板相连接的以太网接口，所述以太网接口上还连接有PC机。3.根据权利要求1所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述接口系统内还设置有与核心板相连接的USB接口。4.根据权利要求1所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述接口系统内还设置有与核心板连接的串口。5.根据权利要求1或2或3或4所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:还包括与SPI接口组相连接的测试板系统，所述测试板系统内设置有低速输入测试板，所述低速输入测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输入测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。6.根据权利要求5所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述测试板系统内还设置有低速输出测试板，所述低速输出测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输出测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。7.根据权利要求5所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述测试板系统内还设置有高速输出信号测试板，所述高速输出信号测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且高速输出信号测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。8.根据权利要求5所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述测试板系统内还设置有模拟量测试板，所述模拟量测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且模拟量测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。9.根据权利要求1或2或3或4或6或7或8所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述SPI接口组的SPI接口为8个。10.根据权利要求1或2或3或4或6或7或8所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述核心板上设置有采用ARM+FPGA的芯片。
【专利摘要】本实用新型公开了模块化全功能自动检测系统，包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口，克服现有检测卡测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端，采用模块化设计方式设计的检测系统能自动识别连接在该检测系统上的待测板卡，并自适应的对连接在该检测系统上的待测板卡检测诸如低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能，具有扩展性好，集成度高，自适应强，应用灵活等特性。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204649876
【申请号】CN201520397156
【发明人】邹爽, 周莹, 李健, 夏奎
【申请人】成都乐创自动化技术股份有限公司
【公开日】2015年9月16日
【申请日】2015年6月10日
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及自动控制技术领域，具体的说，是模块化全功能自动检测系统及方法。
【背景技术】
[0002]控制卡种类多，有不同的接口电平如5V/24V，不同的输出量如差分输入输出、单端数字量、单端模拟量，不同的性能要求如高速10、低速10，不同的接口数量如24输出、48输出等等，为了对这些板卡做检测，通常是有专门的对应的检测卡，然而采用单独的一对一的检测卡进行检测的话，将存在测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供模块化全功能自动检测系统，克服现有检测卡测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端，采用模块化设计方式设计的检测系统能自动识别连接在该检测系统上的待测板卡，并自适应的对连接在该检测系统上的待测板卡检测诸如低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能。
[0004]本实用新型通过下述技术方案实现:模块化全功能自动检测系统，包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口。
[0005]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述接口系统还包括与核心板相连接的以太网接口，所述以太网接口上还连接有PC机。
[0006]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述接口系统内还设置有与核心板相连接的USB接P ο
[0007]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述接口系统内还设置有与核心板连接的串口。
[0008]为更好的实现本实用新型，进一步的，还包括与SPI接口组相连接的测试板系统，所述测试板系统内设置有低速输入测试板，所述低速输入测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输入测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0009]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述测试板系统内还设置有低速输出测试板，所述低速输出测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输出测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0010]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述测试板系统内还设置有高速输出信号测试板，所述高速输出信号测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且高速输出信号测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0011]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述测试板系统内还设置有模拟量测试板，所述模拟量测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且模拟量测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。
[0012]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述SPI接口组的SPI接口为8个。
[0013]为更好的实现本实用新型，进一步的，所述核心板上设置有采用ARM+FPGA的芯片。
[0014]本实用新型与现有技术相比，具有以下优点及有益效果:
[0015]( I)本实用新型克服现有检测卡测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端，采用模块化设计方式设计的检测系统能自动识别连接在该检测系统上的待测板卡，并自适应的对连接在该检测系统上的待测板卡检测诸如低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能，具有扩展性好，集成度高，自适应强，应用灵活等特性。
[0016](2)本实用新型所述SPI接口组的SPI接口设置至少为一个以满足对不同类型的待测试板进行测试。
[0017](3)本实用新型在使用时，任何待测板卡的输入输出可通过同类测试板连接到检测卡上；通过级联测试板数量增加检测端口数。
[0018](4)本实用新型检测卡设计8个SPI接口，可接入4种不同类型的测试量，可任意口接入，在检测时，检测卡自动识别该口待测量，从而下发测试指令。
[0019](5)本实用新型在使用时，可通过扩展口(SPI接口)检测低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能，并可对各种诸如网口、串口、SPI器件、SD卡等全面检测。
[0020](6)本实用新型在使用时，可对不同种类板卡的接口信号幅度实现自适应，如5V和24V自适应，以提高检测精度。
【附图说明】
[0021]图1为本实用新型结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]下面结合实施例对本实用新型作进一步地详细说明，但本实用新型的实施方式不限于此。
[0023]板卡(控制板卡)的待测量可分为高速输入、高速输出、低速输入、低速输出；可以是数字电平输出，数字电平输入，模拟电平输出，模拟电平输入；可以是脉冲输入、脉冲输出等类型。
[0024]实施例1:
[0025]模块化全功能自动检测系统，如图1、所示，包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口。
[0026]核心板在此起控制测试的作用，负责与待测系统(测试板系统及待测板卡)通信及与PC机交互，及控制SPI接口组，并在其内的配置表中存储有待测板卡的电路形式；SPI接口组设置有至少一个SPI接口用于连接待测板卡，对诸如低速输出，高速输出，低速输入，模拟量等信号的幅值、频率等性能，并可对各种诸如网口、串口、SPI器件、SD卡等全面检测，在进行检测时，由于核心板的配置表中已存储待测板卡的电路形式，当各类待测板卡连接在SPI接口组上后，在核心板的控制测试的作用下控制继电器对不同的模式进行选择，自适应的对板卡的待测量进行测试。
[0027]实施例2:
[0028]本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，为便于将PC机接入到核心板上，并可做诸如核心板参数等信息的设置，如图1所示，特别设置有下述结构:所述接口系统还包括与核心板相连接的以太网接口，所述以太网接口上还连接有PC机，在使用时，可通过PC机对核心板的各类参数进行更改，同时在测试时，所得测试结果亦可在PC机上实时显示。
[0029]实施例3:
[0030]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述接口系统内还设置有与核心板相连接的USB接口，需要通过USB接口与检测卡相连接的设备即可利用USB接口与其连接。
[0031]实施例4:
[0032]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述接口系统内还设置有与核心板连接的串口，在设计时，串口可设计为RS232或RS485串口，在进行检测时，待测板卡可通过RS232或RS485串口线与检测卡连接。
[0033]实施例5:
[0034]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，还包括与SPI接口组相连 接的测试板系统，所述测试板系统内设置有低速输入测试板，所述低速输入测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输入测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与低速输入测试板相连接，通过低速输入测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的低速输入端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0035]实施例6:
[0036]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述测试板系统内还设置有低速输出测试板，所述低速输出测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输出测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与低速输出测试板相连接，通过低速输出测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的低速输出端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0037]实施例7:
[0038]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述测试板系统内还设置有高速输出信号测试板，所述高速输出信号测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且高速输出信号测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与高速输出信号测试板相连接，通过高速输出信号测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的高速输出信号端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0039]实施例8:
[0040]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述测试板系统内还设置有模拟量测试板，所述模拟量测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且模拟量测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接，在检测时，待测板卡通过测试接口与模拟量测试板相连接，通过模拟量测试板将待测板卡接入，可以更加方便的测试待测板卡的模拟量端口的输出信号质量，以及通断路和短路测试。
[0041]实施例9:
[0042]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，如图1所示，所述SPI接口组的SPI接口为8个。
[0043]实施例10:
[0044]本实施例是在上述任一实施例的基础上进一步优化，为更好的实现本实用新型，进一步的，所述核心板上设置有采用ARM+FPGA的芯片。
[0045]在检测卡上电之后会以500us的定时周期不停的与下级建立通信，去访问下级的识别码，若有级联下级，则会返回正确的类型码，检测卡端将信息存到内存中，从而判断下级连接的卡类型及数目，从而控制其与待测板卡的连接并检测。
[0046]检测卡作为系统的核心，检测及下发指令都是通过其中的核心板的ARM完成。
[0047]SPI系统内各测试板之间以及检测卡与SPI系统之间的识别过程及数据传递过程由核心板的FPGA完成。
[0048]以高速输出口测试为例:
[0049]首先，选定待测板卡型号，该型号对应不同的输入输出参数，以便测试核心对测试卡底板做配置，切换不同的继电器；
[0050]连接待测板卡的相关信号到对应的SPI系统前N个端口；
[0051]检测卡通过串口将指令发给待测板卡，待测板卡将从输出端口 N输出不同的信号，电平信号，PWM信号；
[0052]SPI系统检测其上端口 1-N的电平值及频率脉宽值，上传给核心板；
[0053]核心板将发给待测板卡的参数与收到测试板的参数对比，将结果发到PC机端显示，由此，完成一轮的高速输出口检测。
[0054]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型做任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.模块化全功能自动检测系统，其特征在于:包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口。2.根据权利要求1所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述接口系统还包括与核心板相连接的以太网接口，所述以太网接口上还连接有PC机。3.根据权利要求1所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述接口系统内还设置有与核心板相连接的USB接口。4.根据权利要求1所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述接口系统内还设置有与核心板连接的串口。5.根据权利要求1或2或3或4所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:还包括与SPI接口组相连接的测试板系统，所述测试板系统内设置有低速输入测试板，所述低速输入测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输入测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。6.根据权利要求5所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述测试板系统内还设置有低速输出测试板，所述低速输出测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且低速输出测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。7.根据权利要求5所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述测试板系统内还设置有高速输出信号测试板，所述高速输出信号测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且高速输出信号测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。8.根据权利要求5所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述测试板系统内还设置有模拟量测试板，所述模拟量测试板上设置有两个SPI接口及一个测试接口，且模拟量测试板的一个SPI接口与SPI接口组的任意一个SPI接口相连接。9.根据权利要求1或2或3或4或6或7或8所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述SPI接口组的SPI接口为8个。10.根据权利要求1或2或3或4或6或7或8所述的模块化全功能自动检测系统，其特征在于:所述核心板上设置有采用ARM+FPGA的芯片。
【专利摘要】本实用新型公开了模块化全功能自动检测系统，包括检测卡，所述检测卡上设置有测试卡底板，在所述测试卡底板上设置有核心板及与核心板相连接的接口系统，所述接口系统包括SPI接口组，所述核心板连接SPI接口组，所述SPI接口组设置有至少一个SPI接口，克服现有检测卡测试不灵活，兼容性差，适应范围小，管理混乱等弊端，采用模块化设计方式设计的检测系统能自动识别连接在该检测系统上的待测板卡，并自适应的对连接在该检测系统上的待测板卡检测诸如低速输入，低速输出，高速输出，模拟量等信号的幅值、频率等性能，具有扩展性好，集成度高，自适应强，应用灵活等特性。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204649876
【申请号】CN201520397156
【发明人】邹爽, 周莹, 李健, 夏奎
【申请人】成都乐创自动化技术股份有限公司
【公开日】2015年9月16日
【申请日】2015年6月10日
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