用于测试信号路径的方法
用于测试信号路径的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于测试信号路径的方法。
【背景技术】
[0002]由 DE 195 39 458 C2 和 DE 10 2005 028 461 A1 以及 DE 10 2004 021 863 A1
已知用于测试单片集成的磁场传感器的方法。
【发明内容】
[0003]由此本发明的任务是，说明一种扩展现有技术的方法。
[0004]所述任务通过具有权利要求1的特征的用于测试信号路径的方法来解决。本发明的有利构型是从属权利要求的主题。
[0005]根据本发明的主题，提供一种用于测试第一 1C的信号路径的方法，其中封装的第一 1C构造一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路并且具有信号输出端和供给电压连接端以及测试运行状态和正常运行状态，其中在正常运行状态中在信号输出端上施加输出信号，其中所述输出信号与在磁场传感器上获取的信号相关，设置封装的第二 1C，其中第二 1C具有控制单元并且借助所述控制单元实施从正常运行状态到测试运行状态的切换，其方式是，在第一步骤中关断第一 1C的电压供给，在第二步骤中将信号输出端与参考电势连接，在第三步骤中接通第一 1C的电压供给，在第四步骤中将信号输出端与参考电势分离，随后在测试运行状态中在第一 1C中实施自测试并且在信号输出端上或者供给电压连接端上施加测试图形(Testmuster)并且由控制单元分析处理所述测试图形以便检查信号路径。
[0006]理解为，第一 1C的供给电压连接端和信号输出端与第二 1C的相应的输入端和输出端连接。此外应当注意，在检查信号路径时起作用的磁场对原理的功能测试几乎不具有影响。与此相反，在确定磁场传感器的偏置电压时给定起作用的磁场的影响。尤其有利的是，磁场传感器构造为霍尔传感器并且特别有利地构造为横向霍尔传感器或者垂直霍尔传感器。此外要注意，参考电势优选构造为地电势或者供给电压电势。
[0007]根据本发明的方法的优点是，借助所述方法能够检查封装的第一 1C的完整的信号路径，其中在此第一 1C与第二 1C连接并且能够同时检查两个1C之间的连接。为此，在供给电压接通的时间期间，借助信号输出线路的端子引起到测试运行状态的切换。避免附加测试连接端的耗费的制造。也可以随时重复所述测试过程，即在没有特别的辅助模块、即特定的外部布线的情况下，其方式是，在控制单元中程序的实现是足够的。节省在第二 1C(也称作“主机”)和第一 IC(也称作“从机”)之间的连接方面的改变。
[0008]在一种扩展方案中，在第三步骤和第四步骤之间由控制单元等待一个预给定的时间和/或检查第一 1C的供给电压是否稳定。借此，给信号路径的测试提供特别简单且成本有利的解决。
[0009]在一种扩展方案中，在测试运行状态中将磁场传感器与测试电流源连接并且优选将测试电流的多个不同的大小馈入到磁场传感器中。通过测试电流来模仿外部磁场的效果。由此，在没有外部磁场的情况下也能够测试第一 1C的行为。
[0010]在一种实施方式中，在信号路径的测试期间第一 1C布置在设备的用于1C最终测试的接收设备中或者在现场应用中与第二 1C连接。后一应用也能够实现在相应的应用中实施所谓的上电自检(Power-On Selbsttest) ο
[0011]在另一种实施方式中，在第一 1C和第二 1C之间构造恰好一个双线连接或者恰好一个三线连接。在车辆领域中，所述连接已知为CAN总线实施或者LIN总线实施。在此，控制单元集成在主机1C或者主1C中。
[0012]在另一种扩展方案中，磁场传感器具有多个连接端，其中在测试运行状态期间测试电流源交替地与磁场传感器的不同连接端连接。研究示出，借助切换以及在磁场传感器上获得的各个信号的求和来抑制起作用的外部磁场的影响。也有利的是，测试电流源在磁场传感器的至少一个连接端上交替地作为电流沉和电流源运行。由此，可以改变信号的磁场相关的分量的符号，而偏置电压的符号保持不变。在另一种实施方式中，在测试运行状态期间借助控制单元优选对于测试电流的不同大小确定磁场传感器的偏置电压值。
[0013]在另一种实施方式中，在没有第二 1C的触发信号的情况下，在经过自检测之后将第一 1C从测试运行状态切换到正常运行状态。
【附图说明】
[0014]以下参考附图详细阐述本发明。在此，相同类型的部件标记有相同的参考标记。所示出的实施方式是强烈示意性的，即间距以及横向的和垂直的延伸没有按比例并且只要没有其它说明，彼此也不具有可推导出的几何关系。附图示出:
[0015]图1:用于实施所述方法的电路装置的视图；
[0016]图2:在图1中所示出的电路装置的时间上的电压变化的视图。
【具体实施方式】
[0017]图1的示图示出用于实施所述方法的电路装置的视图，所述电路装置具有封装的第一 IC S1和封装的第二 IC S2。第一 IC S1具有一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路，没有示出它们。此外，第一 ic S1包括信号输出端0UT、供给电压连接端VA和地连接端GND。信号输出端OUT的任务是输出输出信号，所述输出信号与在磁场传感器上获得的信号相关。
[0018]第二 IC S2包括用于提供供给电压VS的连接端VP、双向的信号连接端I/O和地连接端GND。第二 IC S2包括没有示出的控制单元。理解为，控制单元优选包括处理单元。在此，供给电压连接端VA与用于提供供给电压VP的连接端连接。此外，信号输出端OUT与信号连接端1/0连接，其中信号输出端可以借助信号连接端1/0与参考电势连接。参考电势优选可以构造为地电势GND或者构造为供给电压VA，分别以虚线示出。
[0019]图2的示图示出具有在图1中所示出的电路装置的时间上的电压变化的示图，以便在第一 IC S1中实施从正常运行状态到测试运行状态的切换。在此，示出两个IC S1、S2的连接端关于时间t的电压值Vx。
[0020]为了实施切换，在第一步骤中借助控制单元关断第一 IC S1的供给电压连接端VA上的电压供给，在第二步骤中将信号输出端OUT与地电势GND连接。在第三步骤中，在时刻TV0接通第一 IC S1的电压供给并且使供给电压连接端VA上的电压达到预确定的值。在时亥IJTSA的第四步骤中，将信号输出端OUT与地电势GND分离。由此，实现在第一 IC S1中到测试运行状态的切换。理解为，当供给电压连接端VA上的电压具有稳定的状态时才实现电压输出端OUT的分离。
[0021]随后，在第一 IC S1中直至时刻TSE地实施自测试并且在信号输出端OUT上施加测试图形TS。所述测试图形由控制单元分析处理，以便检查信号路径。
【主权项】
1.一种用于测试第一 1C的信号路径的方法，其中，封装的所述第一 IC(S1)构造一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路并且具有信号输出端和供给电压连接端(VA)以及测试运行状态和正常运行状态，其中，在所述正常运行状态中在所述信号输出端(OUT)上施加输出信号，其中，所述输出信号与在所述磁场传感器上获得的信号相关，设置封装的第二 IC(S2)，其中，所述第二 1C构造为控制单元并且借助所述控制单元实施从所述正常运行状态到所述测试运行状态的切换，其方式是: 在第一步骤中，关断所述第一 IC(S1)的电压供给； 在第二步骤中，将所述信号输出端(OUT)与参考电势连接； 在第三步骤中，接通所述第一 IC(S1)的电压供给； 在第四步骤中，将所述信号输出端(OUT)与所述参考电势分离， 随后在测试运行状态中在所述第一 IC(S1)中实施自测试，在所述信号输出端(OUT)上或者在所述供给电压连接端(VA)上施加测试图形并且由所述控制单元分析处理所述测试图形以便检查所述信号路径。2.根据权利要求1所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在所述第三步骤和所述第四步骤之间由所述控制单元等待一个预给定的时间和/或检查所述第一 IC(S1)的供给电压是否稳定。3.根据权利要求1或权利要求2所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在所述测试运行状态中将所述磁场传感器与测试电流源连接并且将预给定的测试电流馈入到所述磁场传感器中。4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述第一 IC(S1)在所述信号路径的测试期间布置在最终测试器的接收设备中或者在现场应用中与所述第二 IC(S2)连接。5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述第一 IC(S1)和所述第二 IC(S2)构造成恰好一个双线连接或者构造成恰好一个三线连接。6.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述磁场传感器具有多个连接端，在所述测试运行状态期间所述测试电流源交替地与所述磁场传感器的不同连接端连接。7.根据权利要求6所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，借助所述切换来抑制起作用的磁场的影响。8.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在没有所述第二 1C的触发信号的情况下在经过所述自测试之后将所述第一 IC(S1)切换到所述正常运行状态。9.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述测试电流源在所述磁场传感器的至少一个连接端上交替地作为电流沉和作为电流源运行。10.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在所述测试运行状态期间借助所述控制单元确定偏置电压值。11.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述参考电势构造为地电势(GND)或者构造为供给电压电势。12.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述磁场传感器构造为霍尔板。
【专利摘要】用于测试第一IC的信号路径的方法，其中封装的第一IC构造一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路并且具有信号输出端和供给电压连接端以及测试运行状态和正常运行状态，在正常运行状态中在信号输出端上施加输出信号，输出信号与在磁场传感器上获取的信号相关，设置封装的第二IC，第二IC具有控制单元并且借助控制单元实施从正常运行状态到测试运行状态的切换，在第一步骤中关断第一IC的电压供给，在第二步骤中将信号输出端与参考电势连接，在第三步骤中接通第一IC的电压供给，在第四步骤中将信号输出端与参考电势分离，随后在测试运行状态中在第一IC中实施自测试，在信号输出端上施加测试图形，由控制单元分析处理所述测试图形。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105486993
【申请号】CN201510514625
【发明人】D·穆特思, J·里特尔, M·瓦格纳, M·冯埃尔, T·考特尔
【申请人】迈克纳斯公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年8月20日
【公告号】DE102014014309A1, US20160097806
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于测试信号路径的方法。
【背景技术】
[0002]由 DE 195 39 458 C2 和 DE 10 2005 028 461 A1 以及 DE 10 2004 021 863 A1
已知用于测试单片集成的磁场传感器的方法。
【发明内容】
[0003]由此本发明的任务是，说明一种扩展现有技术的方法。
[0004]所述任务通过具有权利要求1的特征的用于测试信号路径的方法来解决。本发明的有利构型是从属权利要求的主题。
[0005]根据本发明的主题，提供一种用于测试第一 1C的信号路径的方法，其中封装的第一 1C构造一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路并且具有信号输出端和供给电压连接端以及测试运行状态和正常运行状态，其中在正常运行状态中在信号输出端上施加输出信号，其中所述输出信号与在磁场传感器上获取的信号相关，设置封装的第二 1C，其中第二 1C具有控制单元并且借助所述控制单元实施从正常运行状态到测试运行状态的切换，其方式是，在第一步骤中关断第一 1C的电压供给，在第二步骤中将信号输出端与参考电势连接，在第三步骤中接通第一 1C的电压供给，在第四步骤中将信号输出端与参考电势分离，随后在测试运行状态中在第一 1C中实施自测试并且在信号输出端上或者供给电压连接端上施加测试图形(Testmuster)并且由控制单元分析处理所述测试图形以便检查信号路径。
[0006]理解为，第一 1C的供给电压连接端和信号输出端与第二 1C的相应的输入端和输出端连接。此外应当注意，在检查信号路径时起作用的磁场对原理的功能测试几乎不具有影响。与此相反，在确定磁场传感器的偏置电压时给定起作用的磁场的影响。尤其有利的是，磁场传感器构造为霍尔传感器并且特别有利地构造为横向霍尔传感器或者垂直霍尔传感器。此外要注意，参考电势优选构造为地电势或者供给电压电势。
[0007]根据本发明的方法的优点是，借助所述方法能够检查封装的第一 1C的完整的信号路径，其中在此第一 1C与第二 1C连接并且能够同时检查两个1C之间的连接。为此，在供给电压接通的时间期间，借助信号输出线路的端子引起到测试运行状态的切换。避免附加测试连接端的耗费的制造。也可以随时重复所述测试过程，即在没有特别的辅助模块、即特定的外部布线的情况下，其方式是，在控制单元中程序的实现是足够的。节省在第二 1C(也称作“主机”)和第一 IC(也称作“从机”)之间的连接方面的改变。
[0008]在一种扩展方案中，在第三步骤和第四步骤之间由控制单元等待一个预给定的时间和/或检查第一 1C的供给电压是否稳定。借此，给信号路径的测试提供特别简单且成本有利的解决。
[0009]在一种扩展方案中，在测试运行状态中将磁场传感器与测试电流源连接并且优选将测试电流的多个不同的大小馈入到磁场传感器中。通过测试电流来模仿外部磁场的效果。由此，在没有外部磁场的情况下也能够测试第一 1C的行为。
[0010]在一种实施方式中，在信号路径的测试期间第一 1C布置在设备的用于1C最终测试的接收设备中或者在现场应用中与第二 1C连接。后一应用也能够实现在相应的应用中实施所谓的上电自检(Power-On Selbsttest) ο
[0011]在另一种实施方式中，在第一 1C和第二 1C之间构造恰好一个双线连接或者恰好一个三线连接。在车辆领域中，所述连接已知为CAN总线实施或者LIN总线实施。在此，控制单元集成在主机1C或者主1C中。
[0012]在另一种扩展方案中，磁场传感器具有多个连接端，其中在测试运行状态期间测试电流源交替地与磁场传感器的不同连接端连接。研究示出，借助切换以及在磁场传感器上获得的各个信号的求和来抑制起作用的外部磁场的影响。也有利的是，测试电流源在磁场传感器的至少一个连接端上交替地作为电流沉和电流源运行。由此，可以改变信号的磁场相关的分量的符号，而偏置电压的符号保持不变。在另一种实施方式中，在测试运行状态期间借助控制单元优选对于测试电流的不同大小确定磁场传感器的偏置电压值。
[0013]在另一种实施方式中，在没有第二 1C的触发信号的情况下，在经过自检测之后将第一 1C从测试运行状态切换到正常运行状态。
【附图说明】
[0014]以下参考附图详细阐述本发明。在此，相同类型的部件标记有相同的参考标记。所示出的实施方式是强烈示意性的，即间距以及横向的和垂直的延伸没有按比例并且只要没有其它说明，彼此也不具有可推导出的几何关系。附图示出:
[0015]图1:用于实施所述方法的电路装置的视图；
[0016]图2:在图1中所示出的电路装置的时间上的电压变化的视图。
【具体实施方式】
[0017]图1的示图示出用于实施所述方法的电路装置的视图，所述电路装置具有封装的第一 IC S1和封装的第二 IC S2。第一 IC S1具有一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路，没有示出它们。此外，第一 ic S1包括信号输出端0UT、供给电压连接端VA和地连接端GND。信号输出端OUT的任务是输出输出信号，所述输出信号与在磁场传感器上获得的信号相关。
[0018]第二 IC S2包括用于提供供给电压VS的连接端VP、双向的信号连接端I/O和地连接端GND。第二 IC S2包括没有示出的控制单元。理解为，控制单元优选包括处理单元。在此，供给电压连接端VA与用于提供供给电压VP的连接端连接。此外，信号输出端OUT与信号连接端1/0连接，其中信号输出端可以借助信号连接端1/0与参考电势连接。参考电势优选可以构造为地电势GND或者构造为供给电压VA，分别以虚线示出。
[0019]图2的示图示出具有在图1中所示出的电路装置的时间上的电压变化的示图，以便在第一 IC S1中实施从正常运行状态到测试运行状态的切换。在此，示出两个IC S1、S2的连接端关于时间t的电压值Vx。
[0020]为了实施切换，在第一步骤中借助控制单元关断第一 IC S1的供给电压连接端VA上的电压供给，在第二步骤中将信号输出端OUT与地电势GND连接。在第三步骤中，在时刻TV0接通第一 IC S1的电压供给并且使供给电压连接端VA上的电压达到预确定的值。在时亥IJTSA的第四步骤中，将信号输出端OUT与地电势GND分离。由此，实现在第一 IC S1中到测试运行状态的切换。理解为，当供给电压连接端VA上的电压具有稳定的状态时才实现电压输出端OUT的分离。
[0021]随后，在第一 IC S1中直至时刻TSE地实施自测试并且在信号输出端OUT上施加测试图形TS。所述测试图形由控制单元分析处理，以便检查信号路径。
【主权项】
1.一种用于测试第一 1C的信号路径的方法，其中，封装的所述第一 IC(S1)构造一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路并且具有信号输出端和供给电压连接端(VA)以及测试运行状态和正常运行状态，其中，在所述正常运行状态中在所述信号输出端(OUT)上施加输出信号，其中，所述输出信号与在所述磁场传感器上获得的信号相关，设置封装的第二 IC(S2)，其中，所述第二 1C构造为控制单元并且借助所述控制单元实施从所述正常运行状态到所述测试运行状态的切换，其方式是: 在第一步骤中，关断所述第一 IC(S1)的电压供给； 在第二步骤中，将所述信号输出端(OUT)与参考电势连接； 在第三步骤中，接通所述第一 IC(S1)的电压供给； 在第四步骤中，将所述信号输出端(OUT)与所述参考电势分离， 随后在测试运行状态中在所述第一 IC(S1)中实施自测试，在所述信号输出端(OUT)上或者在所述供给电压连接端(VA)上施加测试图形并且由所述控制单元分析处理所述测试图形以便检查所述信号路径。2.根据权利要求1所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在所述第三步骤和所述第四步骤之间由所述控制单元等待一个预给定的时间和/或检查所述第一 IC(S1)的供给电压是否稳定。3.根据权利要求1或权利要求2所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在所述测试运行状态中将所述磁场传感器与测试电流源连接并且将预给定的测试电流馈入到所述磁场传感器中。4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述第一 IC(S1)在所述信号路径的测试期间布置在最终测试器的接收设备中或者在现场应用中与所述第二 IC(S2)连接。5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述第一 IC(S1)和所述第二 IC(S2)构造成恰好一个双线连接或者构造成恰好一个三线连接。6.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述磁场传感器具有多个连接端，在所述测试运行状态期间所述测试电流源交替地与所述磁场传感器的不同连接端连接。7.根据权利要求6所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，借助所述切换来抑制起作用的磁场的影响。8.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在没有所述第二 1C的触发信号的情况下在经过所述自测试之后将所述第一 IC(S1)切换到所述正常运行状态。9.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述测试电流源在所述磁场传感器的至少一个连接端上交替地作为电流沉和作为电流源运行。10.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，在所述测试运行状态期间借助所述控制单元确定偏置电压值。11.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述参考电势构造为地电势(GND)或者构造为供给电压电势。12.根据以上权利要求中任一项所述的用于测试信号路径的方法，其特征在于，所述磁场传感器构造为霍尔板。
【专利摘要】用于测试第一IC的信号路径的方法，其中封装的第一IC构造一在半导体上共同与磁场传感器单片集成的电路并且具有信号输出端和供给电压连接端以及测试运行状态和正常运行状态，在正常运行状态中在信号输出端上施加输出信号，输出信号与在磁场传感器上获取的信号相关，设置封装的第二IC，第二IC具有控制单元并且借助控制单元实施从正常运行状态到测试运行状态的切换，在第一步骤中关断第一IC的电压供给，在第二步骤中将信号输出端与参考电势连接，在第三步骤中接通第一IC的电压供给，在第四步骤中将信号输出端与参考电势分离，随后在测试运行状态中在第一IC中实施自测试，在信号输出端上施加测试图形，由控制单元分析处理所述测试图形。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105486993
【申请号】CN201510514625
【发明人】D·穆特思, J·里特尔, M·瓦格纳, M·冯埃尔, T·考特尔
【申请人】迈克纳斯公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年8月20日
【公告号】DE102014014309A1, US20160097806
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