图像变形装置的制造方法
图像变形装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使输入图像变形的图像变形装置。
【背景技术】
[0002]在使用电子照相处理的打印机等图像输出装置中，由于定影和纸传送不均而导致输出图像变形，因此通过使图像数据向与变形方向相反方向变形，从而抑制输出图像的变形。
[0003]如果图像变形处理为图12所示的扩大(或者缩小)和图13所示的旋转等简单的校正的情况下，将旋转角和变倍率等参数提供给变形处理部，则可以采取如下方式:基于该参数，变形处理部通过运算求出每个像素的位置的移位量，从而使图像变形的方式。
[0004]但是，实际的图像输出装置中发生的输出图像的变形(失真)由于多个原因而变得复杂，所以对其进行校正需要如图14所示的复杂的变形处理。因此，能够通过上述这样的运算应对的旋转、扩大、缩小等简单的校正的话无法完全消除输出图像的失真。
[0005]因此，若根据输出图像的失真的实测值预先求出用于消除该失真的每个像素位置的位置校正量(向垂直方向的移位量、向水平方向的移位量)而存储在存储器中，并能够从该存储器读出每个像素的位置校正量从而进行各像素的位置校正，能够应对所有的图像变形，而且能够提高位置校正的精度(参照图15)。不过，在该方式的情况下，由于位置校正量以像素为单位保持，所以为存储该位置校正量而需要庞大的存储器。
[0006]在一般的打印机中，I页的像素数在600dpi下有时达到80M像素的程度，若假设每I个像素作为4色量的位置校正量而保持16比特的数据，则为保持I页量的位置校正量而需要IG比特的容量。
[0007]用于抵消输出图像的失真的图像变形处理通常在图像的输出中实时地进行，通过能够进行高速处理的图像处理LSI (Large Scale Integrat1n，大规模集成电路)进行。若将上述每个像素的位置校正量的数据存储在图像处理LSI内的校正部所参照的该图像处理LSI内部的SRAM中，则SRAM所需的容量增大，从而图像处理LSI大型化，变得非常昂贵，或者在图像处理LSI的内部设置实际上不可能。
[0008]作为用于削减在图像处理LSI的内部保持的位置校正量的数据量的技术，例如，在下述专利文献I中公开了一种图像处理控制器，其仅对间隔剔除(間引? )后的分散的像素位置保持位置校正量的数据，并基于此，通过运算求出被间隔剔除后的像素位置的位置校正量，并对显示器中显示的图像进行变形。
[0009]现有技术文献
[0010]专利文献
[0011]专利文献1:(日本)特开2009 — 122763号公报
[0012]打印机等图像输出装置比显示器分辨率高，像素数非常多，因此即使应用专利文献I的技术的情况下，也需要大幅度的间隔剔除，位置校正精度显著降低。
【发明内容】
[0013]本发明要解决上述问题，其目的在于提供一种图像变形装置，其能够将存储了校正部所参照的每个像素的位置校正量的存储器的容量抑制得较少且高精度地应对复杂的变形。
[0014]用于达到该目的的本发明的主旨在于如下各项发明。
[0015][I] 一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括:
[0016]—次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据；
[0017]参照存储器，存储区域比所述一次存储器小；
[0018]传送部，将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及
[0019]位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，
[0020]所述传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，与该像素对应的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中。
[0021]在上述发明中，将对于输入图像整体的不同像素位置的位置校正量数据预先保持在一次存储器中，并配合位置校正部中的处理的顺序以及进展，将该位置校正量数据从一次存储器分多次依次向参照存储器传送。
[0022][2]如[I]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0023]所述输入图像的像素被排列在第I方向以及与其正交的第2方向上，
[0024]所述规定的顺序是将对于所述第I方向的I行(X > )的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序，
[0025]所述传送部将与所述第I方向的I行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述传送。
[0026]上述发明中，传送部将第I方向的I行的位置校正量数据作为传送单位，从一次存储器向参照存储器传送位置校正量数据。
[0027][3]如[I]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0028]所述一次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。
[0029][4]如[I]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0030]所述参照存储器包括第I参照存储器和第2参照存储器，
[0031]所述位置校正部在每次校正规定量的像素时，将所述位置校正量数据的参照目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器，
[0032]所述传送部将与所述规定量的像素对应的位置校正数据作为传送单位，并且将传送目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器，从而进行所述传送。
[0033]上述发明中，通过将第I参照存储器和第2参照存储器交替切换使用，从而在位置校正部参照第I参照存储器而执行位置校正处理的期间，从一次存储器向第2参照存储器传送下一个位置校正量数据，在位置校正部参照第2参照存储器而执行位置校正处理的期间，从一次存储器向第1参照存储器传送下一个位置校正量数据。
[0034][5] 一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括:
[0035]—次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据；
[0036]二次存储器，存储区域比所述一次存储器小；
[0037]参照存储器，记录区域比所述二次存储器小；
[0038]第1传送部，执行第1传送，该第1传送将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述二次存储器；
[0039]第2传送部，执行第2传送，该第2传送将所述二次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及
[0040]位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，
[0041]所述第2传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第2传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，对于该像素的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中，
[0042]所述第1传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第1传送，使得在所述第2传送部向所述参照存储器传送对于一个像素的所述位置校正量数据时，该位置校正量数据已经存储在所述二次存储器中。
[0043]上述发明中，将对于输入图像整体的不同像素位置的位置校正量数据预先保持在一次存储器中，并配合位置校正部中的处理的顺序以及进展，将该位置校正量数据从一次存储器传送到二次存储器，进而从二次存储器向参照存储器分多次依次传送。
[0044][6]如[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0045]所述输入图像的像素被排列在第1方向以及与其正交的第2方向上，
[0046]所述规定的顺序是将对于所述第1方向的1行的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序，
[0047]所述第2传送部将与所述第1方向的1行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述第2传送。
[0048]上述发明中，第2传送部将第1方向的1行的位置校正量数据作为传送单位，从二次存储器向参照存储器传送位置校正量数据。
[0049][7]如[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0050]所述二次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。
[0051] [8]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0052]所述位置校正量数据表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。
[0053]上述发明中，位置校正量数据表示移位量的绝对值。
[0054][9]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0055]所述位置校正量数据通过对于相邻的像素的所述移位量的差量来表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。
[0056]上述发明中，位置校正量数据表示相对于邻接像素的移位量的差量。
[0057][10]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0058]所述位置校正量数据对应于间隔剔除后的像素位置，
[0059]所述位置校正部通过对于所述位置校正量数据的插补处理来求对于所述输入像素的各像素的位置校正量，从而进行所述位置校正处理。
[0060][11]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0061 ] 所述参照存储器以及所述位置校正部被组装在同一集成电路中，所述一次存储器被设置在所述集成电路的外部。
[0062]上述发明中，参照存储器被设置在集成电路的内部。
[0063]根据本发明的图像变形装置，能够将存储了校正部参照的每个像素的位置校正量的存储器的容量抑制得少，且高精度地应对复杂的变形。
【附图说明】
[0064]图1是表示本发明的第1实施方式的图像变形装置的概略结构的方框图。
[0065]图2是表示第1实施方式的图像变形装置的动作的时序图。
[0066]图3是表示垂直位置信息的增加计数(力夕 > 卜7、y 7° )定时的一例的图。
[0067]图4是表示先发出最初的传送请求的情况的输出定时以及垂直位置信息的增加计数定时的一例的图。
[0068]图5是表示第2实施方式的图像变形装置的结构的方框图。
[0069]图6是表示第2实施方式的图像变形装置的动作的时序图。
[0070]图7是表示第3实施方式的图像变形装置的概略结构的方框图。
[0071]图8是表示在二次存储器中设置的第1带(八' > 卜'' )数据存储区域和第2带数据存储区域的图。
[0072]图9是表示第3实施方式的图像变形装置的动作的时序图。
[0073]图10是表示第4实施方式的图像变形装置的概略结构的方框图。
[0074]图11是表示从位置校正量数据生成差量数据，将差量数据解码为原来的位置校正数据从而进行校正的情况的数据的变化的一例的图。
[0075]图12是表示对原来的图像进行扩大的图像变形的例的图。
[0076]图13是表示使原来的图像旋转的图像变形的例的图。
[0077]图14是使原来的图像复杂地变形的例的图。
[0078]图15是表示基于每个像素的位置校正量使各像素的像素位置移位的图像变形例的图。
【具体实施方式】
[0079]以下，基于【附图说明】本发明的各种实施方式。
[0080]〈第1实施方式〉
[0081]图1是表示本发明的第1实施方式的图像变形装置10的概略结构的方框图。图像变形装置10实现以下功能:生成将输入图像的各像素的像素位置分别变换为所希望的像素位置的输出图像。
[0082]处理对象的输入图像是像素被排列在第1方向以及与其正交的第2方向上的点矩阵形式的图像。而且，输出图像也是像素被排列在第1方向以及与其正交的第2方向的点矩阵形式的图像。这里，将第1方向设为水平方向，将第2方向设为垂直方向。
[0083]图像变形装置10例如设置在激光打印机的激光单元的前级等。图像信号经由该图像变形装置10而被输出到激光单元的激光二极管。图像变形装置10中，按照对激光单元的输出顺序依次输入各像素的图像数据，在激光单元中形成图像时，与其并行而实时地实施图像的变形处理。具体来说，对于图像变形装置10，水平方向1行的图像数据从1页的前端(垂直方向的前端的行)向末尾被依次输入。在各水平方向1行中，按照从该行的前端像素向末尾的顺序，依次输入各像素的图像数据。
[0084]图像变形装置10包括一次存储器11、图像处理电路12、传送控制部13而构成。图像处理电路12在内部包括参照存储器15和位置校正部16。图像处理电路12被构成为ASIC (Applicat1n Specific Integrated Circuit，应用型专用集成电路)等集成电路。
[0085]一次存储器11是设置在图像处理电路12外部的存储器。这里，一次存储器11是DRAM (Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)。一次存储器11中保存位置校正量数据。位置校正量数据是表示校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量的数据。一次存储器11中，关于1页量的图像的各像素位置存储有位置校正量数据。另夕卜，一次存储器11中也可以保持多个页量的位置校正量数据。
[0086]参照存储器15是设置在图像处理电路12内部的SRAM(Static Random AccessMemory，静态随机存取存储器)。参照存储器15将每个像素位置的位置校正量数据保持水平方向的1行的量。另外，参照存储器15也可以保持多行的量的位置校正量数据。
[0087]传送控制部13作为传送部，将在一次存储器11中存储的位置校正量数据分多次传送到参照存储器15。
[0088]位置校正部16执行位置校正处理，该位置校正处理将按照前述顺序依次输入的输入图像的各像素的像素位置，基于参照存储器15中存储的位置校正量数据依次进行校正。校正后的图像作为输出图像被输出。
[0089]具体来说，垂直有效信号、水平有效信号与输入图像一同被输入位置校正部16。垂直有效信号、水平有效信号是在进行印刷时从图像输出装置(打印机引擎部)被输出的信号。垂直有效信号是在印刷1页的图像时、从开始该1页的前端行的印刷的稍微之前到末尾行的印刷完成为止被设为开(高)的信号。水平有效信号是按水平方向的每1行输出的信号，是从开始行的前端像素的印刷的稍微之前到末尾像素的印刷完成为止被设为开的信号。
[0090]位置校正部16在垂直有效信号为开且水平有效信号为开时判断为输入了有效的输入图像，并对此时输入的输入图像进行位置校正处理。
[0091]这里，传送控制部13与前述输入图像的各像素被输入图像处理电路12的顺序以及位置校正部16中的位置校正处理的进展配合而进行位置校正量数据的传送，以使在位置校正部16进行对于一个像素的位置校正时，与该像素对应的位置校正量数据已经被存储在参照存储器15中。
[0092]传送控制部13中也被输入垂直有效信号、水平有效信号。传送控制部13基于垂直有效信号以及水平有效信号来识别位置校正部16接着进行位置校正处理的行。然后，在位置校正部16即将执行对于该行的位置校正处理之前，将与位置校正部16接着进行位置校正处理的行对应的1行的位置校正量数据传送到参照存储器15。
[0093]具体来说，传送控制部13根据垂直有效信号以及水平有效信号生成表示接着由位置校正部16处理的行的垂直位置的垂直位置信息，将其作为读出地址而输出到一次存储器11。接受该输出，一次存储器11将对于读出地址的1行的位置校正量数据连续输出。图像处理电路12依次取得从一次存储器11输出的1行的位置校正量数据，并存储在参照存储器15中。
[0094]图2是表示图像变形装置10的动作的时序图。在1页的处理开始时，垂直有效信号成为开，然后，垂直有效信号在该页结束之前持续开，并在该页结束后成为关。水平有效信号在输入水平方向的1行的输入图像的期间为开，从该行结束至下一行即将开始之前为关。位置校正部16对于在水平有效信号为开的期间输入的1行的图像实时地执行位置校正处理。与第1行对应的水平有效信号在垂直有效信号成为开之后，不久后成为开。
[0095]这样，图像处理以行为单位进行，在行之间存在水平有效信号为关的无效区域(有效图像没有流动的时间)。因此，将与接着进行位置校正处理的行对应的1行的位置校正量数据，在该行紧跟前的无效区域中从一次存储器11传送到参照存储器15。
[0096]图2中，包含位置校正部16当前处理中的像素的行为第3行。传送控制部13在检测出第2行的处理结束(第2行的水平有效信号为关)时(时刻T1)，将传送请求与表示第3行的垂直位置信息输出到一次存储器11。相应于此， 一次存储器11将第3行的位置校正量数据(1行的位置校正量数据)作为读(y —卜'' )数据进行突发(A—只卜)输出。图像处理电路12获取该读数据，存储在参照存储器15中。这样，在位置校正部16对第3行的输入图像开始位置校正处理之前，与第3行对应的位置校正量数据从一次存储器11被传送到参照存储器15。
[0097]图3示出垂直位置信息的增加计数定时的一例。在图3的情况下，传送控制部13检测垂直有效信号的上升沿，以此作为触发，输出前端行的垂直位置信息(读地址“0”)和传送请求。以后，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，将垂直位置信息增加计数，并将该增加计数了的垂直位置信息和传送请求输出到一次存储器11。在图3的情况下，在从垂直有效信号的上升时刻至最初的水平有效信号的上升时刻为止的期间，前端行用的1行的位置校正量数据的传送完成。
[0098]图4表示从垂直有效信号的上升到最初的水平有效信号上升为止的时间短、且在该期间无法传送前端行用的1行的位置校正量数据的情况下对应的传送请求的输出定时的一例。在该例中，在前页结束时(检测出前页的垂直有效信号的下降沿时)，输出前端行的垂直位置信息(读地址“0”)和传送请求。以后，与图3同样，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，对垂直位置信息增加计数，并输出该增加计数了的垂直位置信息和传送请求。
[0099]另外，对于第1页无法通过上述方法应对。因此，为了在第1页的最初的水平有效信号上升之前，从一次存储器11向参照存储器15的1行的位置校正量数据的传送完成，在打印引擎部中开始实际的印刷之前，在印刷开始时从上位的处理对传送控制部13输出传送开始指示，在接受了该传送开始指示时，传送控制部13将前端行的垂直位置信息(读地址“0”)和传送请求输出到一次存储器11即可。
[0100]这样，在第1实施方式的图像变形装置10中，将1页或多页的位置校正量数据预先保持在图像处理电路12外部的一次存储器ll(DRAM)中，配合位置校正部中的处理顺序和进展，从一次存储器11向参照存储器15依次传送位置校正量数据，所以可以将在图像处理电路12内部具有的参照存储器15的容量抑制得很少。
[0101]特别地，由于在行间水平有效信号为关的无效区域中，将与下一行对应的位置校正量数据从一次存储器11传送给参照存储器15，因此参照存储器15仅保持1行的位置校正量数据即可，可以将图像处理电路12内部设置的参照存储器15的容量抑制得少，能够进行使用了每个像素的位置校正量数据的高精度的图像变形。
[0102]<第2实施方式>
[0103]第1实施方式中，在对于各行的位置校正处理刚开始之前的定时(无效区域)，从一次存储器11对参照存储器15传送位置校正量数据，从而更新了在参照存储器15中保持的位置校正量数据。但是，在一行的有效区域(水平有效信号为有效的期间)到下一行的有效区域为止的间隔(无效区域)非常短的情况下，或从DRAM的传送速度不够的情况下，在此期间无法传送完1行所有的位置校正量数据，不能正常地执行位置校正处理。第2实施方式是用于解决该问题的结构。
[0104]图5示出第2实施方式的图像变形装置20的结构。图像变形装置20包括一次存储器21、图像处理电路22、传送控制部23而构成。图像处理电路22在内部包括传送目的地切换部25、第1参照存储器26、第2参照存储器27、选择器28、位置校正部29。图像处理电路22与图像处理电路12同样被构成为ASIC等集成电路。
[0105]—次存储器21与第1实施方式中的一次存储器11相同。
[0106]图像变形装置20作为相当于第1实施方式中的参照存储器15的存储器，包括第1参照存储器26和第2参照存储器27。第1参照存储器26、第2参照存储器27分别是设置在图像处理电路12内部的SRAM，分别将每个像素位置的位置校正量数据保持水平方向的1行的量。
[0107]传送目的地切换部25将从一次存储器21输出的位置校正量数据的传送目的地交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27。
[0108]选择器28将位置校正部29参照位置校正量数据时的参照目的地交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27。
[0109]传送控制部23作为传送部，将一次存储器11中存储的位置校正量数据分多次交替传送到第1参照存储器26和第2参照存储器27。传送控制部23对传送目的地切换部25输出传送目的地选择信号，该传送目的地选择信号表示将从一次存储器11输出的位置校正量数据传送到第1参照存储器26，还是传送到第2参照存储器27。传送目的地切换部25按照从传送控制部23输入的传送目的地选择信号，切换传送目的地。
[0110]此外，传送控制部23对选择器28输出参照存储器选择信号，该参照存储器选择信号表示将位置校正部29参照位置校正量数据时的参照目的地设为第1参照存储器26还是设为第2参照存储器27。选择器28根据从传送控制部23输入的参照存储器选择信号，切换位置校正部29参照位置校正量数据时的参照目的地。
[0111]位置校正部29参照从选择器28输出的位置校正量数据，进行与图像变形装置10的位置校正部16同样的位置校正处理。
[0112]详细地说，传送控制部23对于第0行(前端行)的位置校正量数据以第1参照存储器26作为传送目的地进行传送，对于第1行的位置校正量数据以第2参照存储器27作为传送目的地进行传送，对于第2行的位置校正量数据以第1参照存储器26作为传送目的地进行传送，对于第3行的位置校正量数据以第2参照存储器27作为传送目的地进行传送……像这样，按照位置校正量数据的传送目的地对每1行交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27的方式，输出传送目的地选择信号。
[0113]同样，传送控制部231按照位置校正量数据的参照目的地对每1行交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27的方式，输出参照存储器选择信号，使得在位置校正部29对第0行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第1参照存储器26，在位置校正部29对第1行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第2参照存储器27，在位置校正部29对第2行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第1参照存储器26，在位置校正部29对第3行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第2参照存储器27……。
[0114]传送控制部23在位置校正部29没有参照传送目的地的参照存储器时进行从一次存储器21对第1参照存储器26或第2参照存储器27的位置校正量数据的传送。例如，在位置校正部29参照第1参照存储器26进行位置校正处理的期间，对第2参照存储器27传送与下一行对应的位置校正量数据，在位置校正部29参照第2参照存储器27进行位置校正处理的期间，对第1参照存储器26传送与下一行对应的位置校正量数据。
[0115]图6是表示图像变形装置20的动作的时序图。首先，在垂直有效信号成为开之前，将与前端行(第0行)对应的位置校正量数据从一次存储器21传送给第1参照存储器26 (时刻T21?T22)。接着，在垂直有效信号成为开的定时，将下一行(第1行)的位置校正量数据从一次存储器21传送给第2参照存储器27 (时刻T23?T24)。在第1行的位置校正量数据的传送中，已经输入了第0行的图像数据，位置校正部29参照第1参照存储器26对第0行的各像素进行位置校正处理。
[0116]接着，若第0行的图像处理完成且水平有效信号成为关(时刻T25)，则位置校正部29对第1参照存储器26的参照结束，所以传送控制部23将第2行的位置校正量数据从一次存储器21传送给第1参照存储器26 (时刻T25?T26)。在该传送中输入第1行的图像，位置校正部29参照第2参照存储器27进行位置校正处理。
[0117]这样，具有第1参照存储器26和第2参照存储器27的2个参照存储器，位置校正部29对其交替进行参照，传送控制部23对位置校正部29没有参照的参照存储器传送下一行的位置校正量数据，所以即使在行间的无效区域短的情况下，也能够正常地传送位置校正量数据。
[0118]<第3实施方式>
[0119]第2实施方式中，将1页或者多页的位置校正量数据存储在作为DRAM的一次存储器11、21中。但是，作为一次存储器，DRAM中能够使用的容量有限，有时不能存储1页的位置校正量数据。因此，在第3实施方式中，作为一次存储器，使用能够确保大容量的区域的主存储器和硬盘装置。
[0120]与DRAM相比，硬盘装 置存在数据的读出延迟的情况，所以在从硬盘装置向图像处理电路12内的参照存储器15直接传送位置校正量数据的方式中，来不及传送。如第2实施方式中所示，即使在采用了交替使用第1参照存储器26和第2参照存储器27的结构的情况下，在从硬盘装置向参照存储器26、27直接传送位置校正量数据的方式中，若在从硬盘装置的读出花费很长时间，则产生来不及传送的情况。
[0121]因此，在第3实施方式中，将传送设为2阶段，从硬盘装置向DRAM传送位置校正量数据，并从该DRAM进一步对图像处理电路33内部的SRAM传送位置校正量数据。
[0122]图7表示第3实施方式的图像变形装置30的概略结构。第3实施方式的图像变形装置30包括一次存储器31、二次存储器32、图像处理电路33、传送控制部34而构成。图像处理电路33在内部包括参照存储器36、位置校正部37。图像处理电路33作为ASIC等集成电路而构成。
[0123]一次存储器31是设置在图像处理电路33外部的硬盘装置等大容量存储装置。一次存储器31中存储有1页或者多页的位置校正量数据。
[0124]二次存储器32是设置在图像处理电路33外部的存储器。二次存储器32是DRAM。如图8所示，二次存储器32中设有第1带数据存储区域38和第2带数据存储区域39。第1带数据存储区域38、第2带数据存储区域39分别存储1行?多行的位置校正量数据。这里，第1带数据存储区域38、第2带数据存储区域39分别存储4行的位置校正量数据。另夕卜，在本例中，设置了 2个带数据存储区域38、39，带数据存储区域最低有2个即可，也可以是3个以上。
[0125]参照存储器36是设置在图像处理电路33内部的SRAM。参照存储器36将每个像素位置的位置校正量数据保持水平方向的1行的量。参照存储器36相当于图像变形装置10中的参照存储器15。另外，也可以将参照存储器36与图5所示的图像处理电路22同样设置2个，进而在图像处理电路33中设置传送目的地切换部25和选择器28，与第2实施方式同样，构成为交替使用2个参照存储器。
[0126]传送控制部34作为第1传送部，将一次存储器31中存储的位置校正量数据分多次传送到二次存储器32。传送控制部34以1个带数据存储区域中存储的行数为单位进行从一次存储器31向二次存储器32的传送。在本例中，以4行为单位进行。此时，传送控制部34将从一次存储器31输出的位置校正量数据的传送目的地以4行为单位交替切换为第1带数据存储区域38和第2带数据存储区域39。
[0127]此外，传送控制部34作为第2传送部，将二次存储器32中存储的位置校正量数据分多次传送到参照存储器36。该传送以1行的位置校正量数据为单位进行。此外，传送控制部34将位置校正量数据的读出源的带数据存储区域以1个带数据存储区域中存储的行数为单位进行切换。在本例中，在每传送4行的位置校正量数据时，将位置校正量数据的读出源交替切换为第1带数据存储区域38和第2带数据存储区域39。
[0128]S卩，传送控制部34将第1带数据存储区域38中存储的4行的位置校正量数据配合位置校正处理的进展，分4次依次传送到参照存储器36，并且在此期间，将接下来的4行的位置校正量数据从一次存储器31传送到第2带数据存储区域39。接着，传送控制部34在第1带数据存储区域38中存储的4行的位置校正量数据对参照存储器36的传送完成后，将传送源切换为第2带数据存储区域39。然后，将第2带数据存储区域39中存储的4行的位置校正量数据配合位置校正处理的进展，分4次依次传送到参照存储器36，并且在此期间，将接下来的4行的位置校正量数据从一次存储器31传送给第1带数据存储区域38。传送控制部34重复进行以上这样的动作。
[0129]图9是表示图像变形装置30的动作的时序图。首先，在垂直有效信号成为开之前，从页的前端起，将1个带数据存储区域的位置校正量数据(在本例中第0?3行的4行的位置校正量数据)从一次存储器31传送给二次存储器32的第1带数据存储区域38 (时刻T31 ?T32)。
[0130]接着，在垂直有效信号成为开时(时刻T33)，从二次存储器32的第1带数据存储区域38向参照存储器36传送与第0行对应的1行的位置校正量数据。位置校正部37在水平有效信号为开的期间参照参照存储器36中存储的位置校正量数据，校正此时输入的1行的图像的各像素的像素位置。
[0131]在检测出第0行的水平有效信号的下降沿时(时刻T34)，将与第1行对应的1行的位置校正量数据从第1带数据存储区域38传送到参照存储器36。然后，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，按照第2行、第3行这样一边推进，一边将位置校正量数据按每1行传送到参照存储器36。
[0132]这样，在将第1带数据存储区域38中存储的4行的位置校正量数据传送到参照存储器36的期间，传送控制部34将接下来的4行的位置校正量数据从一次存储器31传送到二次存储器32的第2带数据存储区域39。在图9的例子中，从第2行的水平有效信号的下降时刻(时刻T35)开始传送，在第3行的水平有效信号的下降前结束4行的传送。另外，在4行的传送需要长时间的情况下，将传送的开始时刻设为更早的定时即可。
[0133]在检测出第3行的水平有效信号的下降沿时(时刻T36)，将与第4行对应的1行的位置校正量数据从第2带数据存储区域39传送到参照存储器36。然后，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，按照第5行、第6行、第7行这样一边推进，一边将位置校正量数据按每1行传送到参照存储器36。在此期间，与第8行到第11行对应的位置校正量数据从一次存储器31被传送到二次存储器32的第1带数据存储区域38。
[0134]通过重复以上这样的动作，从一次存储器11经由二次存储器32向参照存储器36依次传送位置校正量数据。然后，位置校正部37在水平有效信号成为开的期间，参照参照存储器36中存储的位置校正量数据来校正在该期间输入的1行的图像的各像素的像素位置。
[0135]在第3实施方式的图像变形装置30中，能够将作为二次存储器32使用的DRAM的容量抑制得很少。
[0136]<第4实施方式>
[0137]位置校正量数据若对每1个像素以绝对值保持，则会变成非常大的数据尺寸。即使在图像处理电路12等的内部仅保持1行的情况下，其容量也很大。因此，在第4实施方式中，将位置校正量数据预先压缩后存储，在即将进行位置校正处理之前对其扩展进行使用，从而削减为保持位置校正量数据而在图像处理电路12等内部设置的SRAM的容量。
[0138]这里，代替位置校正量数据而保持邻接像素的差量数据。即，差量数据是将某一像素校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量(位置校正量)以相对于相邻的像素的位置校正量的差量来表示的数据。由于邻接像素间的位置校正量之差微小，因此对每1像素的位置校正量应分配的比特数减少，数据量被削减。
[0139]图10是表示第4实施方式的图像变形装置40的概略结构的方框图。对与图1所示的图像变形装置10相同部分赋予同一符号，并适当省略它们的说明。
[0140]在图像变形装置40中，在图像处理电路12B内部，在参照存储器15和位置校正部16之间包括校正量解码部41。校正量解码部41将从参照存储器15读出的差量数据解码为以绝对值表示位置校正量的位置校正量数据。位置校正部16代替参照参照存储器15，使用从校正量解码部41输出的解码后的位置校正量数据进行位置校正处理。
[0141]在第4实施方式的图像变形装置40中，从一次存储器11向参照存储器15传送1行的差量数据。从参照存储器15读出的差量数据由校正量解码部41恢复为原来的位置校正量数据，并对位置校正部16输出。另外，在第4实施方式的图像变形装置40中，由于在一次存储器11和参照存储器15中保持将数据量压缩的差量数据，一次存储器11和参照存储器15所需的存储容量比第1实施方式的情况少。
[0142]图11表示从位置校正量数据生成差量数据，将该差量数据解码为原来的位置校正数据后进行校正的情况的数据变化的一例。图11(a)是原来的位置校正量数据，对输入图像的每个像素表示位置校正量的绝对值。例如，图中的“+2/+1”，表示水平方向的移位量为+2像素，垂直方向的移位量为+1像素。
[0143]图11 (b)表示从以图11 (a)的绝对值表示的位置校正量数据生成的差量数据。在本例中，将左上角的像素(图中，黑点所示的像素)作为基准像素。图11(b)中的箭头表示参照方向。关于在左侧存在邻接像素的像素，该像素的位置校正量数据被变 换为与左侧邻接的像素的位置校正量数据的差量。关于左端的像素，变换为与上侧邻接的像素的差量。一次存储器11中预先存储图11(b)所示的差量数据。
[0144]图11 (c)表示将图11 (b)的差量数据通过校正量解码部41解码为绝对值的位置校正量数据后的状态。图11(d)示意地表示位置校正部16基于解码后的位置校正量数据而使各像素的位置移位后进行了校正的状态。图11(d)中白点表示校正前的像素位置，灰点表示校正后的像素位置。
[0145]根据本发明的第1?第4实施方式，能够抑制图像处理电路12等内部所需的存储器容量，并通过基于每个像素的位置校正量数据的校正而高精度地应对复杂的变形。
[0146]以上，通过【附图说明】了本发明的实施方式，具体的结构不限于实施方式所示的结构，即使由不脱离本发明主旨的范围内的变更和追加，也包含在本发明中。
[0147]实施方式中，对每个像素保持了位置校正量数据，但也可以将位置校正量数据设为对应于间隔剔除后的像素位置的数据，通过位置校正部进行对于间隔剔除后的位置校正量数据的插补处理，求与输入像素的各像素的像素位置对应的位置校正量而进行位置校正处理。例如，若将位置校正数据每隔1像素而进行间隔剔除，则能够将数据量减半。
[0148]实施方式中，将传送单位设为1行的位置校正量数据，但传送单位不限于此，适当设定即可。例如，只要在1次的无效区域中能够传送2行的位置校正量数据，则也可以将2行的位置校正量数据作为传送单位。另一方面，只要是将参照存储器分开构成为第1参照存储器26和第2参照存储器27，并将他们交替切换第2实施方式所示的结构，则也可以将1行分多次传送。
[0149]第3实施方式中的二次存储器32例如可以构成为能够保持16行等的位置校正量数据的环形缓冲器。
[0150]符号说明
[0151]10…图像变形装置
[0152]11----次存储器
[0153]12、12B…图像处理电路
[0154]13…传送控制部
[0155]15…参照存储器
[0156]16…位置校正部
[0157]20…图像变形装置
[0158]21----次存储器
[0159]22…图像处理电路
[0160]23…传送控制部
[0161]25…传送目的地切换部
[0162]26…第1参照存储器
[0163]27…第2参照存储器
[0164]28…选择器
[0165]29…位置校正部
[0166]30…图像变形装置
[0167]31----次存储器
[0168]32…二次存储器
[0169]33…图像处理电路
[0170]34…传送控制部
[0171]36…参照存储器
[0172]37…位置校正部
[0173]38…第1带数据存储区域
[0174]39…第2带数据存储区域
[0175]40…图像变形装置
[0176]41…校正量解码部
【主权项】
1.一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括: 一次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据； 参照存储器，存储区域比所述一次存储器小； 传送部，将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及 位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，所述传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，与该像素对应的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中。2.如权利要求1所述的图像变形装置，其特征在于， 所述输入图像的像素被排列在第I方向以及与其正交的第2方向上， 所述规定的顺序是将对于所述第I方向的I行的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序， 所述传送部将与所述第I方向的I行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述传送。3.如权利要求1所述的图像变形装置，其特征在于， 所述一次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。4.如权利要求1所述的图像变形装置，其特征在于， 所述参照存储器包括第I参照存储器和第2参照存储器， 所述位置校正部在每次校正规定量的像素时，将所述位置校正量数据的参照目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器， 所述传送部将与所述规定量的像素对应的位置校正数据作为传送单位，并且将传送目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器，从而进行所述传送。5.一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括: 一次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据； 二次存储器，存储区域比所述一次存储器小； 参照存储器，记录区域比所述二次存储器小； 第I传送部，执行第I传送，该第I传送将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述二次存储器； 第2传送部，执行第2传送，该第2传送将所述二次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及 位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，所述第2传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第2传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，对于该像素的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中， 所述第I传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第I传送，使得在所述第2传送部向所述参照存储器传送对于一个像素的所述位置校正量数据时，该位置校正量数据已经存储在所述二次存储器中。6.如权利要求5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述输入图像的像素被排列在第I方向以及与其正交的第2方向上， 所述规定的顺序是将对于所述第I方向的I行的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序， 所述第2传送部将与所述第I方向的I行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述第2传送。7.如权利要求5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述二次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。8.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述位置校正量数据表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。9.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述位置校正量数据通过对于相邻的像素的所述移位量的差量来表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。10.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述位置校正量数据对应于间隔剔除后的像素位置， 所述位置校正部通过对于所述位置校正量数据的插补处理来求对于所述输入像素的各像素的位置校正量，从而进行所述位置校正处理。11.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述参照存储器以及所述位置校正部被组装在同一集成电路中，所述一次存储器被设置在所述集成电路的外部。
【专利摘要】一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，包括：一次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据；参照存储器，存储区域比所述一次存储器小；传送部，将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，所述传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，与该像素对应的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中。
【IPC分类】H04N1/21, H04N1/387
【公开号】CN105491266
【申请号】CN201510642453
【发明人】栗形悠平
【申请人】柯尼卡美能达株式会社
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年9月30日
【公告号】US9319560, US20160100078
【技术领域】
[0001]本发明涉及对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使输入图像变形的图像变形装置。
【背景技术】
[0002]在使用电子照相处理的打印机等图像输出装置中，由于定影和纸传送不均而导致输出图像变形，因此通过使图像数据向与变形方向相反方向变形，从而抑制输出图像的变形。
[0003]如果图像变形处理为图12所示的扩大(或者缩小)和图13所示的旋转等简单的校正的情况下，将旋转角和变倍率等参数提供给变形处理部，则可以采取如下方式:基于该参数，变形处理部通过运算求出每个像素的位置的移位量，从而使图像变形的方式。
[0004]但是，实际的图像输出装置中发生的输出图像的变形(失真)由于多个原因而变得复杂，所以对其进行校正需要如图14所示的复杂的变形处理。因此，能够通过上述这样的运算应对的旋转、扩大、缩小等简单的校正的话无法完全消除输出图像的失真。
[0005]因此，若根据输出图像的失真的实测值预先求出用于消除该失真的每个像素位置的位置校正量(向垂直方向的移位量、向水平方向的移位量)而存储在存储器中，并能够从该存储器读出每个像素的位置校正量从而进行各像素的位置校正，能够应对所有的图像变形，而且能够提高位置校正的精度(参照图15)。不过，在该方式的情况下，由于位置校正量以像素为单位保持，所以为存储该位置校正量而需要庞大的存储器。
[0006]在一般的打印机中，I页的像素数在600dpi下有时达到80M像素的程度，若假设每I个像素作为4色量的位置校正量而保持16比特的数据，则为保持I页量的位置校正量而需要IG比特的容量。
[0007]用于抵消输出图像的失真的图像变形处理通常在图像的输出中实时地进行，通过能够进行高速处理的图像处理LSI (Large Scale Integrat1n，大规模集成电路)进行。若将上述每个像素的位置校正量的数据存储在图像处理LSI内的校正部所参照的该图像处理LSI内部的SRAM中，则SRAM所需的容量增大，从而图像处理LSI大型化，变得非常昂贵，或者在图像处理LSI的内部设置实际上不可能。
[0008]作为用于削减在图像处理LSI的内部保持的位置校正量的数据量的技术，例如，在下述专利文献I中公开了一种图像处理控制器，其仅对间隔剔除(間引? )后的分散的像素位置保持位置校正量的数据，并基于此，通过运算求出被间隔剔除后的像素位置的位置校正量，并对显示器中显示的图像进行变形。
[0009]现有技术文献
[0010]专利文献
[0011]专利文献1:(日本)特开2009 — 122763号公报
[0012]打印机等图像输出装置比显示器分辨率高，像素数非常多，因此即使应用专利文献I的技术的情况下，也需要大幅度的间隔剔除，位置校正精度显著降低。
【发明内容】
[0013]本发明要解决上述问题，其目的在于提供一种图像变形装置，其能够将存储了校正部所参照的每个像素的位置校正量的存储器的容量抑制得较少且高精度地应对复杂的变形。
[0014]用于达到该目的的本发明的主旨在于如下各项发明。
[0015][I] 一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括:
[0016]—次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据；
[0017]参照存储器，存储区域比所述一次存储器小；
[0018]传送部，将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及
[0019]位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，
[0020]所述传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，与该像素对应的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中。
[0021]在上述发明中，将对于输入图像整体的不同像素位置的位置校正量数据预先保持在一次存储器中，并配合位置校正部中的处理的顺序以及进展，将该位置校正量数据从一次存储器分多次依次向参照存储器传送。
[0022][2]如[I]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0023]所述输入图像的像素被排列在第I方向以及与其正交的第2方向上，
[0024]所述规定的顺序是将对于所述第I方向的I行(X > )的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序，
[0025]所述传送部将与所述第I方向的I行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述传送。
[0026]上述发明中，传送部将第I方向的I行的位置校正量数据作为传送单位，从一次存储器向参照存储器传送位置校正量数据。
[0027][3]如[I]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0028]所述一次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。
[0029][4]如[I]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0030]所述参照存储器包括第I参照存储器和第2参照存储器，
[0031]所述位置校正部在每次校正规定量的像素时，将所述位置校正量数据的参照目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器，
[0032]所述传送部将与所述规定量的像素对应的位置校正数据作为传送单位，并且将传送目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器，从而进行所述传送。
[0033]上述发明中，通过将第I参照存储器和第2参照存储器交替切换使用，从而在位置校正部参照第I参照存储器而执行位置校正处理的期间，从一次存储器向第2参照存储器传送下一个位置校正量数据，在位置校正部参照第2参照存储器而执行位置校正处理的期间，从一次存储器向第1参照存储器传送下一个位置校正量数据。
[0034][5] 一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括:
[0035]—次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据；
[0036]二次存储器，存储区域比所述一次存储器小；
[0037]参照存储器，记录区域比所述二次存储器小；
[0038]第1传送部，执行第1传送，该第1传送将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述二次存储器；
[0039]第2传送部，执行第2传送，该第2传送将所述二次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及
[0040]位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，
[0041]所述第2传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第2传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，对于该像素的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中，
[0042]所述第1传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第1传送，使得在所述第2传送部向所述参照存储器传送对于一个像素的所述位置校正量数据时，该位置校正量数据已经存储在所述二次存储器中。
[0043]上述发明中，将对于输入图像整体的不同像素位置的位置校正量数据预先保持在一次存储器中，并配合位置校正部中的处理的顺序以及进展，将该位置校正量数据从一次存储器传送到二次存储器，进而从二次存储器向参照存储器分多次依次传送。
[0044][6]如[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0045]所述输入图像的像素被排列在第1方向以及与其正交的第2方向上，
[0046]所述规定的顺序是将对于所述第1方向的1行的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序，
[0047]所述第2传送部将与所述第1方向的1行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述第2传送。
[0048]上述发明中，第2传送部将第1方向的1行的位置校正量数据作为传送单位，从二次存储器向参照存储器传送位置校正量数据。
[0049][7]如[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0050]所述二次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。
[0051] [8]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0052]所述位置校正量数据表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。
[0053]上述发明中，位置校正量数据表示移位量的绝对值。
[0054][9]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0055]所述位置校正量数据通过对于相邻的像素的所述移位量的差量来表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。
[0056]上述发明中，位置校正量数据表示相对于邻接像素的移位量的差量。
[0057][10]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0058]所述位置校正量数据对应于间隔剔除后的像素位置，
[0059]所述位置校正部通过对于所述位置校正量数据的插补处理来求对于所述输入像素的各像素的位置校正量，从而进行所述位置校正处理。
[0060][11]如[1]或[5]所述的图像变形装置，其特征在于，
[0061 ] 所述参照存储器以及所述位置校正部被组装在同一集成电路中，所述一次存储器被设置在所述集成电路的外部。
[0062]上述发明中，参照存储器被设置在集成电路的内部。
[0063]根据本发明的图像变形装置，能够将存储了校正部参照的每个像素的位置校正量的存储器的容量抑制得少，且高精度地应对复杂的变形。
【附图说明】
[0064]图1是表示本发明的第1实施方式的图像变形装置的概略结构的方框图。
[0065]图2是表示第1实施方式的图像变形装置的动作的时序图。
[0066]图3是表示垂直位置信息的增加计数(力夕 > 卜7、y 7° )定时的一例的图。
[0067]图4是表示先发出最初的传送请求的情况的输出定时以及垂直位置信息的增加计数定时的一例的图。
[0068]图5是表示第2实施方式的图像变形装置的结构的方框图。
[0069]图6是表示第2实施方式的图像变形装置的动作的时序图。
[0070]图7是表示第3实施方式的图像变形装置的概略结构的方框图。
[0071]图8是表示在二次存储器中设置的第1带(八' > 卜'' )数据存储区域和第2带数据存储区域的图。
[0072]图9是表示第3实施方式的图像变形装置的动作的时序图。
[0073]图10是表示第4实施方式的图像变形装置的概略结构的方框图。
[0074]图11是表示从位置校正量数据生成差量数据，将差量数据解码为原来的位置校正数据从而进行校正的情况的数据的变化的一例的图。
[0075]图12是表示对原来的图像进行扩大的图像变形的例的图。
[0076]图13是表示使原来的图像旋转的图像变形的例的图。
[0077]图14是使原来的图像复杂地变形的例的图。
[0078]图15是表示基于每个像素的位置校正量使各像素的像素位置移位的图像变形例的图。
【具体实施方式】
[0079]以下，基于【附图说明】本发明的各种实施方式。
[0080]〈第1实施方式〉
[0081]图1是表示本发明的第1实施方式的图像变形装置10的概略结构的方框图。图像变形装置10实现以下功能:生成将输入图像的各像素的像素位置分别变换为所希望的像素位置的输出图像。
[0082]处理对象的输入图像是像素被排列在第1方向以及与其正交的第2方向上的点矩阵形式的图像。而且，输出图像也是像素被排列在第1方向以及与其正交的第2方向的点矩阵形式的图像。这里，将第1方向设为水平方向，将第2方向设为垂直方向。
[0083]图像变形装置10例如设置在激光打印机的激光单元的前级等。图像信号经由该图像变形装置10而被输出到激光单元的激光二极管。图像变形装置10中，按照对激光单元的输出顺序依次输入各像素的图像数据，在激光单元中形成图像时，与其并行而实时地实施图像的变形处理。具体来说，对于图像变形装置10，水平方向1行的图像数据从1页的前端(垂直方向的前端的行)向末尾被依次输入。在各水平方向1行中，按照从该行的前端像素向末尾的顺序，依次输入各像素的图像数据。
[0084]图像变形装置10包括一次存储器11、图像处理电路12、传送控制部13而构成。图像处理电路12在内部包括参照存储器15和位置校正部16。图像处理电路12被构成为ASIC (Applicat1n Specific Integrated Circuit，应用型专用集成电路)等集成电路。
[0085]一次存储器11是设置在图像处理电路12外部的存储器。这里，一次存储器11是DRAM (Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)。一次存储器11中保存位置校正量数据。位置校正量数据是表示校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量的数据。一次存储器11中，关于1页量的图像的各像素位置存储有位置校正量数据。另夕卜，一次存储器11中也可以保持多个页量的位置校正量数据。
[0086]参照存储器15是设置在图像处理电路12内部的SRAM(Static Random AccessMemory，静态随机存取存储器)。参照存储器15将每个像素位置的位置校正量数据保持水平方向的1行的量。另外，参照存储器15也可以保持多行的量的位置校正量数据。
[0087]传送控制部13作为传送部，将在一次存储器11中存储的位置校正量数据分多次传送到参照存储器15。
[0088]位置校正部16执行位置校正处理，该位置校正处理将按照前述顺序依次输入的输入图像的各像素的像素位置，基于参照存储器15中存储的位置校正量数据依次进行校正。校正后的图像作为输出图像被输出。
[0089]具体来说，垂直有效信号、水平有效信号与输入图像一同被输入位置校正部16。垂直有效信号、水平有效信号是在进行印刷时从图像输出装置(打印机引擎部)被输出的信号。垂直有效信号是在印刷1页的图像时、从开始该1页的前端行的印刷的稍微之前到末尾行的印刷完成为止被设为开(高)的信号。水平有效信号是按水平方向的每1行输出的信号，是从开始行的前端像素的印刷的稍微之前到末尾像素的印刷完成为止被设为开的信号。
[0090]位置校正部16在垂直有效信号为开且水平有效信号为开时判断为输入了有效的输入图像，并对此时输入的输入图像进行位置校正处理。
[0091]这里，传送控制部13与前述输入图像的各像素被输入图像处理电路12的顺序以及位置校正部16中的位置校正处理的进展配合而进行位置校正量数据的传送，以使在位置校正部16进行对于一个像素的位置校正时，与该像素对应的位置校正量数据已经被存储在参照存储器15中。
[0092]传送控制部13中也被输入垂直有效信号、水平有效信号。传送控制部13基于垂直有效信号以及水平有效信号来识别位置校正部16接着进行位置校正处理的行。然后，在位置校正部16即将执行对于该行的位置校正处理之前，将与位置校正部16接着进行位置校正处理的行对应的1行的位置校正量数据传送到参照存储器15。
[0093]具体来说，传送控制部13根据垂直有效信号以及水平有效信号生成表示接着由位置校正部16处理的行的垂直位置的垂直位置信息，将其作为读出地址而输出到一次存储器11。接受该输出，一次存储器11将对于读出地址的1行的位置校正量数据连续输出。图像处理电路12依次取得从一次存储器11输出的1行的位置校正量数据，并存储在参照存储器15中。
[0094]图2是表示图像变形装置10的动作的时序图。在1页的处理开始时，垂直有效信号成为开，然后，垂直有效信号在该页结束之前持续开，并在该页结束后成为关。水平有效信号在输入水平方向的1行的输入图像的期间为开，从该行结束至下一行即将开始之前为关。位置校正部16对于在水平有效信号为开的期间输入的1行的图像实时地执行位置校正处理。与第1行对应的水平有效信号在垂直有效信号成为开之后，不久后成为开。
[0095]这样，图像处理以行为单位进行，在行之间存在水平有效信号为关的无效区域(有效图像没有流动的时间)。因此，将与接着进行位置校正处理的行对应的1行的位置校正量数据，在该行紧跟前的无效区域中从一次存储器11传送到参照存储器15。
[0096]图2中，包含位置校正部16当前处理中的像素的行为第3行。传送控制部13在检测出第2行的处理结束(第2行的水平有效信号为关)时(时刻T1)，将传送请求与表示第3行的垂直位置信息输出到一次存储器11。相应于此， 一次存储器11将第3行的位置校正量数据(1行的位置校正量数据)作为读(y —卜'' )数据进行突发(A—只卜)输出。图像处理电路12获取该读数据，存储在参照存储器15中。这样，在位置校正部16对第3行的输入图像开始位置校正处理之前，与第3行对应的位置校正量数据从一次存储器11被传送到参照存储器15。
[0097]图3示出垂直位置信息的增加计数定时的一例。在图3的情况下，传送控制部13检测垂直有效信号的上升沿，以此作为触发，输出前端行的垂直位置信息(读地址“0”)和传送请求。以后，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，将垂直位置信息增加计数，并将该增加计数了的垂直位置信息和传送请求输出到一次存储器11。在图3的情况下，在从垂直有效信号的上升时刻至最初的水平有效信号的上升时刻为止的期间，前端行用的1行的位置校正量数据的传送完成。
[0098]图4表示从垂直有效信号的上升到最初的水平有效信号上升为止的时间短、且在该期间无法传送前端行用的1行的位置校正量数据的情况下对应的传送请求的输出定时的一例。在该例中，在前页结束时(检测出前页的垂直有效信号的下降沿时)，输出前端行的垂直位置信息(读地址“0”)和传送请求。以后，与图3同样，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，对垂直位置信息增加计数，并输出该增加计数了的垂直位置信息和传送请求。
[0099]另外，对于第1页无法通过上述方法应对。因此，为了在第1页的最初的水平有效信号上升之前，从一次存储器11向参照存储器15的1行的位置校正量数据的传送完成，在打印引擎部中开始实际的印刷之前，在印刷开始时从上位的处理对传送控制部13输出传送开始指示，在接受了该传送开始指示时，传送控制部13将前端行的垂直位置信息(读地址“0”)和传送请求输出到一次存储器11即可。
[0100]这样，在第1实施方式的图像变形装置10中，将1页或多页的位置校正量数据预先保持在图像处理电路12外部的一次存储器ll(DRAM)中，配合位置校正部中的处理顺序和进展，从一次存储器11向参照存储器15依次传送位置校正量数据，所以可以将在图像处理电路12内部具有的参照存储器15的容量抑制得很少。
[0101]特别地，由于在行间水平有效信号为关的无效区域中，将与下一行对应的位置校正量数据从一次存储器11传送给参照存储器15，因此参照存储器15仅保持1行的位置校正量数据即可，可以将图像处理电路12内部设置的参照存储器15的容量抑制得少，能够进行使用了每个像素的位置校正量数据的高精度的图像变形。
[0102]<第2实施方式>
[0103]第1实施方式中，在对于各行的位置校正处理刚开始之前的定时(无效区域)，从一次存储器11对参照存储器15传送位置校正量数据，从而更新了在参照存储器15中保持的位置校正量数据。但是，在一行的有效区域(水平有效信号为有效的期间)到下一行的有效区域为止的间隔(无效区域)非常短的情况下，或从DRAM的传送速度不够的情况下，在此期间无法传送完1行所有的位置校正量数据，不能正常地执行位置校正处理。第2实施方式是用于解决该问题的结构。
[0104]图5示出第2实施方式的图像变形装置20的结构。图像变形装置20包括一次存储器21、图像处理电路22、传送控制部23而构成。图像处理电路22在内部包括传送目的地切换部25、第1参照存储器26、第2参照存储器27、选择器28、位置校正部29。图像处理电路22与图像处理电路12同样被构成为ASIC等集成电路。
[0105]—次存储器21与第1实施方式中的一次存储器11相同。
[0106]图像变形装置20作为相当于第1实施方式中的参照存储器15的存储器，包括第1参照存储器26和第2参照存储器27。第1参照存储器26、第2参照存储器27分别是设置在图像处理电路12内部的SRAM，分别将每个像素位置的位置校正量数据保持水平方向的1行的量。
[0107]传送目的地切换部25将从一次存储器21输出的位置校正量数据的传送目的地交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27。
[0108]选择器28将位置校正部29参照位置校正量数据时的参照目的地交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27。
[0109]传送控制部23作为传送部，将一次存储器11中存储的位置校正量数据分多次交替传送到第1参照存储器26和第2参照存储器27。传送控制部23对传送目的地切换部25输出传送目的地选择信号，该传送目的地选择信号表示将从一次存储器11输出的位置校正量数据传送到第1参照存储器26，还是传送到第2参照存储器27。传送目的地切换部25按照从传送控制部23输入的传送目的地选择信号，切换传送目的地。
[0110]此外，传送控制部23对选择器28输出参照存储器选择信号，该参照存储器选择信号表示将位置校正部29参照位置校正量数据时的参照目的地设为第1参照存储器26还是设为第2参照存储器27。选择器28根据从传送控制部23输入的参照存储器选择信号，切换位置校正部29参照位置校正量数据时的参照目的地。
[0111]位置校正部29参照从选择器28输出的位置校正量数据，进行与图像变形装置10的位置校正部16同样的位置校正处理。
[0112]详细地说，传送控制部23对于第0行(前端行)的位置校正量数据以第1参照存储器26作为传送目的地进行传送，对于第1行的位置校正量数据以第2参照存储器27作为传送目的地进行传送，对于第2行的位置校正量数据以第1参照存储器26作为传送目的地进行传送，对于第3行的位置校正量数据以第2参照存储器27作为传送目的地进行传送……像这样，按照位置校正量数据的传送目的地对每1行交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27的方式，输出传送目的地选择信号。
[0113]同样，传送控制部231按照位置校正量数据的参照目的地对每1行交替切换为第1参照存储器26和第2参照存储器27的方式，输出参照存储器选择信号，使得在位置校正部29对第0行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第1参照存储器26，在位置校正部29对第1行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第2参照存储器27，在位置校正部29对第2行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第1参照存储器26，在位置校正部29对第3行的各像素进行位置校正处理时位置校正量数据的参照目的地成为第2参照存储器27……。
[0114]传送控制部23在位置校正部29没有参照传送目的地的参照存储器时进行从一次存储器21对第1参照存储器26或第2参照存储器27的位置校正量数据的传送。例如，在位置校正部29参照第1参照存储器26进行位置校正处理的期间，对第2参照存储器27传送与下一行对应的位置校正量数据，在位置校正部29参照第2参照存储器27进行位置校正处理的期间，对第1参照存储器26传送与下一行对应的位置校正量数据。
[0115]图6是表示图像变形装置20的动作的时序图。首先，在垂直有效信号成为开之前，将与前端行(第0行)对应的位置校正量数据从一次存储器21传送给第1参照存储器26 (时刻T21?T22)。接着，在垂直有效信号成为开的定时，将下一行(第1行)的位置校正量数据从一次存储器21传送给第2参照存储器27 (时刻T23?T24)。在第1行的位置校正量数据的传送中，已经输入了第0行的图像数据，位置校正部29参照第1参照存储器26对第0行的各像素进行位置校正处理。
[0116]接着，若第0行的图像处理完成且水平有效信号成为关(时刻T25)，则位置校正部29对第1参照存储器26的参照结束，所以传送控制部23将第2行的位置校正量数据从一次存储器21传送给第1参照存储器26 (时刻T25?T26)。在该传送中输入第1行的图像，位置校正部29参照第2参照存储器27进行位置校正处理。
[0117]这样，具有第1参照存储器26和第2参照存储器27的2个参照存储器，位置校正部29对其交替进行参照，传送控制部23对位置校正部29没有参照的参照存储器传送下一行的位置校正量数据，所以即使在行间的无效区域短的情况下，也能够正常地传送位置校正量数据。
[0118]<第3实施方式>
[0119]第2实施方式中，将1页或者多页的位置校正量数据存储在作为DRAM的一次存储器11、21中。但是，作为一次存储器，DRAM中能够使用的容量有限，有时不能存储1页的位置校正量数据。因此，在第3实施方式中，作为一次存储器，使用能够确保大容量的区域的主存储器和硬盘装置。
[0120]与DRAM相比，硬盘装 置存在数据的读出延迟的情况，所以在从硬盘装置向图像处理电路12内的参照存储器15直接传送位置校正量数据的方式中，来不及传送。如第2实施方式中所示，即使在采用了交替使用第1参照存储器26和第2参照存储器27的结构的情况下，在从硬盘装置向参照存储器26、27直接传送位置校正量数据的方式中，若在从硬盘装置的读出花费很长时间，则产生来不及传送的情况。
[0121]因此，在第3实施方式中，将传送设为2阶段，从硬盘装置向DRAM传送位置校正量数据，并从该DRAM进一步对图像处理电路33内部的SRAM传送位置校正量数据。
[0122]图7表示第3实施方式的图像变形装置30的概略结构。第3实施方式的图像变形装置30包括一次存储器31、二次存储器32、图像处理电路33、传送控制部34而构成。图像处理电路33在内部包括参照存储器36、位置校正部37。图像处理电路33作为ASIC等集成电路而构成。
[0123]一次存储器31是设置在图像处理电路33外部的硬盘装置等大容量存储装置。一次存储器31中存储有1页或者多页的位置校正量数据。
[0124]二次存储器32是设置在图像处理电路33外部的存储器。二次存储器32是DRAM。如图8所示，二次存储器32中设有第1带数据存储区域38和第2带数据存储区域39。第1带数据存储区域38、第2带数据存储区域39分别存储1行?多行的位置校正量数据。这里，第1带数据存储区域38、第2带数据存储区域39分别存储4行的位置校正量数据。另夕卜，在本例中，设置了 2个带数据存储区域38、39，带数据存储区域最低有2个即可，也可以是3个以上。
[0125]参照存储器36是设置在图像处理电路33内部的SRAM。参照存储器36将每个像素位置的位置校正量数据保持水平方向的1行的量。参照存储器36相当于图像变形装置10中的参照存储器15。另外，也可以将参照存储器36与图5所示的图像处理电路22同样设置2个，进而在图像处理电路33中设置传送目的地切换部25和选择器28，与第2实施方式同样，构成为交替使用2个参照存储器。
[0126]传送控制部34作为第1传送部，将一次存储器31中存储的位置校正量数据分多次传送到二次存储器32。传送控制部34以1个带数据存储区域中存储的行数为单位进行从一次存储器31向二次存储器32的传送。在本例中，以4行为单位进行。此时，传送控制部34将从一次存储器31输出的位置校正量数据的传送目的地以4行为单位交替切换为第1带数据存储区域38和第2带数据存储区域39。
[0127]此外，传送控制部34作为第2传送部，将二次存储器32中存储的位置校正量数据分多次传送到参照存储器36。该传送以1行的位置校正量数据为单位进行。此外，传送控制部34将位置校正量数据的读出源的带数据存储区域以1个带数据存储区域中存储的行数为单位进行切换。在本例中，在每传送4行的位置校正量数据时，将位置校正量数据的读出源交替切换为第1带数据存储区域38和第2带数据存储区域39。
[0128]S卩，传送控制部34将第1带数据存储区域38中存储的4行的位置校正量数据配合位置校正处理的进展，分4次依次传送到参照存储器36，并且在此期间，将接下来的4行的位置校正量数据从一次存储器31传送到第2带数据存储区域39。接着，传送控制部34在第1带数据存储区域38中存储的4行的位置校正量数据对参照存储器36的传送完成后，将传送源切换为第2带数据存储区域39。然后，将第2带数据存储区域39中存储的4行的位置校正量数据配合位置校正处理的进展，分4次依次传送到参照存储器36，并且在此期间，将接下来的4行的位置校正量数据从一次存储器31传送给第1带数据存储区域38。传送控制部34重复进行以上这样的动作。
[0129]图9是表示图像变形装置30的动作的时序图。首先，在垂直有效信号成为开之前，从页的前端起，将1个带数据存储区域的位置校正量数据(在本例中第0?3行的4行的位置校正量数据)从一次存储器31传送给二次存储器32的第1带数据存储区域38 (时刻T31 ?T32)。
[0130]接着，在垂直有效信号成为开时(时刻T33)，从二次存储器32的第1带数据存储区域38向参照存储器36传送与第0行对应的1行的位置校正量数据。位置校正部37在水平有效信号为开的期间参照参照存储器36中存储的位置校正量数据，校正此时输入的1行的图像的各像素的像素位置。
[0131]在检测出第0行的水平有效信号的下降沿时(时刻T34)，将与第1行对应的1行的位置校正量数据从第1带数据存储区域38传送到参照存储器36。然后，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，按照第2行、第3行这样一边推进，一边将位置校正量数据按每1行传送到参照存储器36。
[0132]这样，在将第1带数据存储区域38中存储的4行的位置校正量数据传送到参照存储器36的期间，传送控制部34将接下来的4行的位置校正量数据从一次存储器31传送到二次存储器32的第2带数据存储区域39。在图9的例子中，从第2行的水平有效信号的下降时刻(时刻T35)开始传送，在第3行的水平有效信号的下降前结束4行的传送。另外，在4行的传送需要长时间的情况下，将传送的开始时刻设为更早的定时即可。
[0133]在检测出第3行的水平有效信号的下降沿时(时刻T36)，将与第4行对应的1行的位置校正量数据从第2带数据存储区域39传送到参照存储器36。然后，在每次检测出水平有效信号的下降沿时，按照第5行、第6行、第7行这样一边推进，一边将位置校正量数据按每1行传送到参照存储器36。在此期间，与第8行到第11行对应的位置校正量数据从一次存储器31被传送到二次存储器32的第1带数据存储区域38。
[0134]通过重复以上这样的动作，从一次存储器11经由二次存储器32向参照存储器36依次传送位置校正量数据。然后，位置校正部37在水平有效信号成为开的期间，参照参照存储器36中存储的位置校正量数据来校正在该期间输入的1行的图像的各像素的像素位置。
[0135]在第3实施方式的图像变形装置30中，能够将作为二次存储器32使用的DRAM的容量抑制得很少。
[0136]<第4实施方式>
[0137]位置校正量数据若对每1个像素以绝对值保持，则会变成非常大的数据尺寸。即使在图像处理电路12等的内部仅保持1行的情况下，其容量也很大。因此，在第4实施方式中，将位置校正量数据预先压缩后存储，在即将进行位置校正处理之前对其扩展进行使用，从而削减为保持位置校正量数据而在图像处理电路12等内部设置的SRAM的容量。
[0138]这里，代替位置校正量数据而保持邻接像素的差量数据。即，差量数据是将某一像素校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量(位置校正量)以相对于相邻的像素的位置校正量的差量来表示的数据。由于邻接像素间的位置校正量之差微小，因此对每1像素的位置校正量应分配的比特数减少，数据量被削减。
[0139]图10是表示第4实施方式的图像变形装置40的概略结构的方框图。对与图1所示的图像变形装置10相同部分赋予同一符号，并适当省略它们的说明。
[0140]在图像变形装置40中，在图像处理电路12B内部，在参照存储器15和位置校正部16之间包括校正量解码部41。校正量解码部41将从参照存储器15读出的差量数据解码为以绝对值表示位置校正量的位置校正量数据。位置校正部16代替参照参照存储器15，使用从校正量解码部41输出的解码后的位置校正量数据进行位置校正处理。
[0141]在第4实施方式的图像变形装置40中，从一次存储器11向参照存储器15传送1行的差量数据。从参照存储器15读出的差量数据由校正量解码部41恢复为原来的位置校正量数据，并对位置校正部16输出。另外，在第4实施方式的图像变形装置40中，由于在一次存储器11和参照存储器15中保持将数据量压缩的差量数据，一次存储器11和参照存储器15所需的存储容量比第1实施方式的情况少。
[0142]图11表示从位置校正量数据生成差量数据，将该差量数据解码为原来的位置校正数据后进行校正的情况的数据变化的一例。图11(a)是原来的位置校正量数据，对输入图像的每个像素表示位置校正量的绝对值。例如，图中的“+2/+1”，表示水平方向的移位量为+2像素，垂直方向的移位量为+1像素。
[0143]图11 (b)表示从以图11 (a)的绝对值表示的位置校正量数据生成的差量数据。在本例中，将左上角的像素(图中，黑点所示的像素)作为基准像素。图11(b)中的箭头表示参照方向。关于在左侧存在邻接像素的像素，该像素的位置校正量数据被变 换为与左侧邻接的像素的位置校正量数据的差量。关于左端的像素，变换为与上侧邻接的像素的差量。一次存储器11中预先存储图11(b)所示的差量数据。
[0144]图11 (c)表示将图11 (b)的差量数据通过校正量解码部41解码为绝对值的位置校正量数据后的状态。图11(d)示意地表示位置校正部16基于解码后的位置校正量数据而使各像素的位置移位后进行了校正的状态。图11(d)中白点表示校正前的像素位置，灰点表示校正后的像素位置。
[0145]根据本发明的第1?第4实施方式，能够抑制图像处理电路12等内部所需的存储器容量，并通过基于每个像素的位置校正量数据的校正而高精度地应对复杂的变形。
[0146]以上，通过【附图说明】了本发明的实施方式，具体的结构不限于实施方式所示的结构，即使由不脱离本发明主旨的范围内的变更和追加，也包含在本发明中。
[0147]实施方式中，对每个像素保持了位置校正量数据，但也可以将位置校正量数据设为对应于间隔剔除后的像素位置的数据，通过位置校正部进行对于间隔剔除后的位置校正量数据的插补处理，求与输入像素的各像素的像素位置对应的位置校正量而进行位置校正处理。例如，若将位置校正数据每隔1像素而进行间隔剔除，则能够将数据量减半。
[0148]实施方式中，将传送单位设为1行的位置校正量数据，但传送单位不限于此，适当设定即可。例如，只要在1次的无效区域中能够传送2行的位置校正量数据，则也可以将2行的位置校正量数据作为传送单位。另一方面，只要是将参照存储器分开构成为第1参照存储器26和第2参照存储器27，并将他们交替切换第2实施方式所示的结构，则也可以将1行分多次传送。
[0149]第3实施方式中的二次存储器32例如可以构成为能够保持16行等的位置校正量数据的环形缓冲器。
[0150]符号说明
[0151]10…图像变形装置
[0152]11----次存储器
[0153]12、12B…图像处理电路
[0154]13…传送控制部
[0155]15…参照存储器
[0156]16…位置校正部
[0157]20…图像变形装置
[0158]21----次存储器
[0159]22…图像处理电路
[0160]23…传送控制部
[0161]25…传送目的地切换部
[0162]26…第1参照存储器
[0163]27…第2参照存储器
[0164]28…选择器
[0165]29…位置校正部
[0166]30…图像变形装置
[0167]31----次存储器
[0168]32…二次存储器
[0169]33…图像处理电路
[0170]34…传送控制部
[0171]36…参照存储器
[0172]37…位置校正部
[0173]38…第1带数据存储区域
[0174]39…第2带数据存储区域
[0175]40…图像变形装置
[0176]41…校正量解码部
【主权项】
1.一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括: 一次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据； 参照存储器，存储区域比所述一次存储器小； 传送部，将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及 位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，所述传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，与该像素对应的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中。2.如权利要求1所述的图像变形装置，其特征在于， 所述输入图像的像素被排列在第I方向以及与其正交的第2方向上， 所述规定的顺序是将对于所述第I方向的I行的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序， 所述传送部将与所述第I方向的I行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述传送。3.如权利要求1所述的图像变形装置，其特征在于， 所述一次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。4.如权利要求1所述的图像变形装置，其特征在于， 所述参照存储器包括第I参照存储器和第2参照存储器， 所述位置校正部在每次校正规定量的像素时，将所述位置校正量数据的参照目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器， 所述传送部将与所述规定量的像素对应的位置校正数据作为传送单位，并且将传送目的地交替切换为所述第I参照存储器和所述第2参照存储器，从而进行所述传送。5.一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，其特征在于，包括: 一次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据； 二次存储器，存储区域比所述一次存储器小； 参照存储器，记录区域比所述二次存储器小； 第I传送部，执行第I传送，该第I传送将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述二次存储器； 第2传送部，执行第2传送，该第2传送将所述二次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及 位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，所述第2传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第2传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，对于该像素的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中， 所述第I传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述第I传送，使得在所述第2传送部向所述参照存储器传送对于一个像素的所述位置校正量数据时，该位置校正量数据已经存储在所述二次存储器中。6.如权利要求5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述输入图像的像素被排列在第I方向以及与其正交的第2方向上， 所述规定的顺序是将对于所述第I方向的I行的像素的校正从第2方向的前端行向末尾行依次进行处理的顺序， 所述第2传送部将与所述第I方向的I行对应的位置校正量数据作为传送单位来进行所述第2传送。7.如权利要求5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述二次存储器是DRAM (动态随机存取存储器)。8.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述位置校正量数据表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。9.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述位置校正量数据通过对于相邻的像素的所述移位量的差量来表示各像素的校正后的像素位置相对于校正前的像素位置的移位量。10.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述位置校正量数据对应于间隔剔除后的像素位置， 所述位置校正部通过对于所述位置校正量数据的插补处理来求对于所述输入像素的各像素的位置校正量，从而进行所述位置校正处理。11.如权利要求1或5所述的图像变形装置，其特征在于， 所述参照存储器以及所述位置校正部被组装在同一集成电路中，所述一次存储器被设置在所述集成电路的外部。
【专利摘要】一种图像变形装置，对输入图像的各像素的像素位置进行校正从而使所述输入图像变形，包括：一次存储器，存储了用于校正像素位置的不同像素位置的位置校正量数据；参照存储器，存储区域比所述一次存储器小；传送部，将所述一次存储器中存储的所述位置校正量数据分多次传送到所述参照存储器；以及位置校正部，执行位置校正处理，该位置校正处理基于所述参照存储器中存储的所述位置校正量数据，将所述输入图像的各像素的像素位置按照规定的顺序依次进行校正，所述传送部配合所述规定的顺序以及所述位置校正部中的所述位置校正处理的进展而进行所述传送，使得在所述位置校正部进行对于一个像素的所述校正时，与该像素对应的所述位置校正量数据已经被存储在所述参照存储器中。
【IPC分类】H04N1/21, H04N1/387
【公开号】CN105491266
【申请号】CN201510642453
【发明人】栗形悠平
【申请人】柯尼卡美能达株式会社
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2015年9月30日
【公告号】US9319560, US20160100078
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