Dtx检测方法、装置及基站的制作方法
Dtx检测方法、装置及基站的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及通信领域，具体涉及一种DTX(Discontinuous Transmission,不连续 传输）传检测方法、装置及基站。
【背景技术】
[0002] 3GPP TS 36.212协议中定义了上行控制信息11(：1可^在物理上行控制信 道PUCCH(Physical Uplink Control C化nnel，物理上行链路控制信道）上或者在 PUSCH(Physical Uplink Glared Channel,物理上行业务共享信道）上传输，传输模式包括 绑定模式和复用模式。例如，请参见图1所示的化-SCHOJplink化ared化annel，上行共 享信道）和控制信息在PUSCH上传输资源映射图。为了防止数据包的丢失，协议中定义了 HARQ(Hybrid Automatic Repeat Request,混合自动重传）重传机制，HARQ重传的触发指 令与指定的数据包存在一定的间隔，对于抑D((化equen巧Division Duplex,频分双工）来 说该值为固定值，而对于TDD (Time Division Duplex,时分双工）来说，该值与上下行配置 有关，具体在3GPP TS 36. 213协议中作了定义。触发指令指的是终端接收到一个数据包，所 作的响应反馈信号，如果正确接收到该包，则终端在指定的子顿上发射确认信号，即ACK信 号，如果没有正确接收数据包，终端同样会在指定的子顿上反馈非确认信号，即NACK信号。 另外，终端也有可能没有检测到来自基站的反馈信号，在送种情况下，终端不能接收到相应 的数据包，则终端会进行DTX (Discontinuous化ansmission)传输。也就是说，基站在对反 馈信号进行检测的时候，检测的结果可能是ACK，NACK或者DTX。
[0003] 由于下行DCI0值CI值ownlinkControlInformation,下行控制信息，其格式0,简 称DCI0)存在一定概率的丢失事件，因此需要通过一定的检测方式来判断此次PUSCH传输 是否有效，W决定MAC是否需要重发新的DCI0, W减少HARQ失败次数。但在此判断过程中， 会有较大的漏检概率。因此，可W通过UCI DTX检测来进一步提升PUSCH激活判断的准确 性。
[0004] DTX情况涉及发送特定肥的化值ownlink)资源分配许可的失败。当化资源分 配失败时，从给定的ULOJplink)子顿遗漏与PDCCH/PDSCH相关的HARQ-ACK(从ACK/NACK 角度，送是DTX)，因为肥已出于无论什么原因遗漏了化分配，并且因此没有理由发送 HARQ-ACK或者将其包括在化子顿中。然而，基站不能知道HARQ-ACK不存在，结果，不正确 地解释来自肥的接收。其中DTX检测过程中，存在着两种误差，第一种误差称为误检，也 就是把DTX错误的检测为HARQ-ACK。第二种误差类型称为漏检，就是把HARQ-ACK检测为 DTX。无论哪种误差概率，其性能目标值要小于1%。因此，为了提高DTX检测性能，降低检 测误差概率，出现了各种的检测方法，主要包括恒定误警率检测方法和动态阀值检测方法 两大类。恒定误警率检测方法主要指的是在发DTX情况下，允许存在一定的错误检测概率； 动态阀值检测方法主要思想是使用反映在被估计的信号幅度瞬时传输信道状态信息，调整 HARQ-ACK的发生功率，降低HARQ-ACK信号对其它信号的干扰。动态阀值检测方法中的阀值 是信号幅度估计值与一个常量的乘积，而送个常量值与信道、终端移动速度、天线分集W及 功率偏移值有关。恒定误警率检测方法是目前采用的主要方法，常见的有利用噪声功率和 信号功率的比值或者SINR与阀值比较进行DTX判决，但是该方法阀值波动性比较大且误差 精度也相对比较低，尤其是在小TBSizeCTransport Block Size,传输块大小）条件下。
【发明内容】
[0005] 本发明要解决的主要技术问题是，提供一种DTX检测方法、装置及基站，解决现有 DTX检测精度低的问题。
[0006] 为解决上述技术问题，本发明提供一种DTX检测方法，包括：
[0007] 接收上行终端发送的反馈信号；
[0008] 提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[0009] 将提取的信息比特进行分极性处理；
[0010] 根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0011] 将所述DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行 终端是否处于DTX状态。
[001引在本发明的一种实施例中，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于 等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反馈信号中HARQ-ACK信息比 特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和 占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，所述用于进行 DTX检测的信息比特包括编码比特。
[0013] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，或包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极 性的信息比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0014] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述 DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测 值，W及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阔值包 括第一 DTX检测阔值和第二DTX检测阔值；
[0015] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所 述编码比特不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第Η DTX 检测阔值。
[0016] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，将所述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终 端是否处于DTX状态包括；将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较，如小 于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0017] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，将所 述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX 状态包括；将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阔值进行比较，如小于所述第二DTX 检测阔值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较，如小于所述第一 DTX 检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0018] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，将所述DTX检测值与所述DTX 检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行比较，如小于所述第Η DTX检测阔值，判定所述上 行终端处于DTX状态。
[0019] 在本发明的一种实施例中，所述第一 DTX检测值为；所述原始比特和校验比特的 正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原始比特和校验比 特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值的比值，或为所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的总比 特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阔值为第一 DTX能量检测阔值、第一 DTX幅值检 测阔值或第一 DTX权重检测阔值；
[0020] 所述第二DTX检测值为；所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阔值为第二DTX能量检 测阔值、第二DTX幅值检测阔值或第二DTX权重检测阔值；
[0021] 所述第Η DTX检测值为；所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检 测阔值、第Η DTX幅值检测阔值或第Η DTX权重检测阔值。
[002引在本发明的一种实施例中，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为1比特 时，所述原始比特为off比特，所述校验比特为y比特，所述占位比特为X比特；当所述反馈 信号中包含的HARQ-ACK信息比特为2比特时，所述原始比特为0严,所述校验比特 为ofS off = (ofK+巧仰-)mod2，所述占位比特为X比特。
[0023] 在本发明的一种实施例中，在提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特之 前，还包括；
[0024] 判断当前是否满足采用极性判断方法检测DTX的条件；所述条件为判断信噪比是 否大于信噪比阔值M，和/或传输块大小是否小于传输块大小阔值N。
[002引为了解决上述问题，本发明还提供了一种DTX检测装置，包括信号接收模块、比特 提取模块、分极处理模块、计算模块W及判断模块；
[0026] 所述信号接收模块用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0027] 所述比特提取模块用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[0028] 所述分极处理模块用于将提取的信息比特进行分极性处理；
[0029] 所述计算模块用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0030] 所述判断模块用于将所述DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较 结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
[0031] 在本发明的一种实施例中，所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比 特提取子模块；或包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子模 块；或包括编码比特提取子模块；
[0032] 所述原始比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小 于等于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特；
[003引所述校验比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小 于等于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的校验比特；
[0034] 所述占位比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小 于等于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的占位比特；
[003引所述编码比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。
[0036] 在本发明的一种实施例中，所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比 特提取子模块时，所述计算模块包括第一检测值计算子模块；所述比特提取模块包括原始 比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子模块时，所述计算模块包括第一 检测值计算子模块和第二检测值计算子模块；所述比特提取模块包括编码比特提取子模块 时，所述计算模块包括第Η检测值计算子模块；
[0037] 所述第一检测值计算子模块用于根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息 比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0038] 所述第二检测值计算子模块用于根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的 第二检测值，所述DTX检测阔值还包括第二DTX检测阔值；
[0039] 所述第Η检测值计算子模块用于根据所述编码比特不同极性的信息比特得到的 第Η DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第Η DTX检测阔值。
[0040] 在本发明的一种实施例中，所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比 特提取子模块时，所述判断模块包括第一判断子模块，用于将所述第 一 DTX检测值与所述 第一 DTX检测阔值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状 态；
[0041] 所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提 取子模块时，所述判断模块包括第一判断子模块和第二判断子模块；所述第二判断子模块 用于将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阔值进行比较，如小于所述第二DTX检测 阔值，通知所述第一判断子模块将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较， 如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0042] 所述比特提取模块包括编码比特提取子模块时，所述判断模块包括第Η判断子模 块，用于将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行比较，如小于所述第Η DTX检 测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态。
[0043] 在本发明的一种实施例中，所述第一 DTX检测值为；所述原始比特和校验比特的 正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原始比特和校验比 特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值的比值，或为所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的总比 特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阔值为第一 DTX能量检测阔值、第一 DTX幅值检 测阔值或第一 DTX权重检测阔值；
[0044] 所述第二DTX检测值为；所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阔值为第二DTX能量检 测阔值、第二DTX幅值检测阔值或第二DTX权重检测阔值；
[0045] 所述第Η DTX检测值为；所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检 测阔值、第Η DTX幅值检测阔值或第Η DTX权重检测阔值。
[0046] 为了解决上述问题，本发明还提供了一种基站，包括信号接收器、极性选择器W 及处理器；所述信号接收器用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0047] 所述极性选择器用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特，将提取 的信息比特进行分极性处理；
[0048] 所述处理器用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值，将所述DTX检测值与 预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
[0049] 在本发明的一种实施例中，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于 等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反馈信号中HARQ-ACK信息比 特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和 占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，所述用于进行 DTX检测的信息比特包括编码比特。
[0050] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的 第一 DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0051] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述 DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测 值，W及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阔值包 括第一 DTX检测阔值和第二DTX检测阔值；
[0052] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所 述编码比特不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第Η DTX 检测阔值。
[0053] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，所述处理器将所述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定 所述上行终端是否处于DTX状态包括；将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进 行比较，如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0054] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述 处理器将所述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端 是否处于DTX状态包括；将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阔值进行比较，如小于 所述第二DTX检测阔值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较，如小于 所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[00巧]所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述处理器将所述DTX检测 值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括： 将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行比较，如小于所述第Η DTX检测阔值， 判定所述上行终端处于DTX状态。
[0056] 在本发明的一种实施例中，所述第一 DTX检测值为；所述原始比特和校验比特的 正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原始比特和校验比 特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值的比值，或为所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的总比 特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阔值为第一 DTX能量检测阔值、第一 DTX幅值检 测阔值或第一 DTX权重检测阔值；
[0057] 所述第二DTX检测值为；所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阔值为第二DTX能量检 测阔值、第二DTX幅值检测阔值或第二DTX权重检测阔值；
[0058] 所述第Η DTX检测值为；所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检 测阔值、第Η DTX幅值检测阔值或第Η DTX权重检测阔值。
[0059] 本发明的有益效果是：
[0060] 本发明提供的DTX检测方法、装置及基站，从上行终端发送的反馈信号中提取用 于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息比特进行分极性处理；进而根据不同极性的信 息比特得到DTX检测值；将该DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确 定上行终端是否处于DTX状态。也即，本发明提供的方案可利用信息比特的极性特点完成 DTX检测，因此可大大降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize 条件下。
【附图说明】
[0061] 图1为现有PUSCH上传输的资源映射图；
[0062] 图2为本发明实施例一中提供的DTX检测方法流程示意图；
[0063] 图3为本发明实施例二中提供的DTX检测装置结构示意图；
[0064] 图4为本发明实施例二中提供的另一 DTX检测装置结构示意图；
[0065] 图5为本发明实施例Η中提供的基站结构示意图；
[0066] 图6为本发明实施例四中提供的复用1比特的HARQ-ACK检测流程示意图；
[0067] 图7为本发明实施例四中提供的复用2比特的HARQ-ACK检测流程示意图；
[006引图8为本发明实施例五中提供的绑定1比特的HARQ-ACK检测流程示意图；
[0069] 图9为本发明实施例五中提供的绑定2比特的HARQ-ACK检测流程示意图。
【具体实施方式】
[0070] 下面通过【具体实施方式】结合附图对本发明作进一步详细说明。
[007 U 实施例一：
[007引请参见图2所示，本实施例提供的DTX检测方法包括W下步骤：
[0073] 步骤201 ;接收上行终端发送的反馈信号；
[0074] 步骤202 ;提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[00巧]步骤203 ;将提取的信息比特进行分极性处理；
[007引步骤204 ;根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0077] 步骤205 ;将得到的DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确 定该上行终端是否处于DTX状态；也即确定该上行终端是否传输了 HARQ-ACK信息。
[0078] 在本实施例中，上述步骤202中提取反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特可 W采用的不同的方案，下面仅种提取方案作为示例行的说明：
[007引方案一；当反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等于2比特时，提取用于 进行DTX检测的信息比特包括：提取该反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比 特；
[0080] 此时的DTX检测值包括根据提取的原始比特和校验比特的不同极性的信息比特 得到的第一 DTX检测值，DTX检测阔值包括与该第一 DTX检测值对应的第一 DTX检测阔值； 此时将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状 态包括：将得到的第一 DTX检测值与预设的第一 DTX检测阔值进行比较，如小于第一 DTX检 测阔值，则判定该上行终端处于DTX状态；如果第一 DTX检测值大于预设的第一 DTX检测阔 值，则判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端处于非DTX状态。 [00引]方案二：当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等于2比特时，提取 该反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和占位比特。此时DTX检测值包括 根据提取的原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，W及根据提 取的占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，DTX检测阔值包括分别与第一 DTX 检测值和第二DTX检测值对应的第一 DTX检测阔值和第二DTX检测阔值。此时将DTX检 测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态的过程包括： 先将第二DTX检测值与第二DTX检测阔值进行比较，如第二DTX检测值大于第二DTX检测 阔值，则表明上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端处于非DTX状态； 如第二DTX检测值小于第二DTX检测阔值，则再将第一 DTX检测值与第一 DTX检测阔值进 行比较，如第一 DTX检测值小于第一 DTX检测阔值，则判定上行终端处于DTX状态；否则，判 定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[008引方案S ;当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，提取用于 进行DTX检测的信息比特包括：提取该反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特；
[0083] 此时的DTX检测值包括根据提取的编码比特的不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，DTX检测阔值包括与该第Η DTX检测值对应的第Η DTX检测阔值；此时将DTX 检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态包括；将得 到的第Η DTX检测值与预设的第Η DTX检测阔值进行比较，如小于第Η DTX检测阔值，则判 定该上行终端处于DTX状态；如果第Η DTX检测值大于预设的第Η DTX检测阔值，则判定该 上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端处于非DTX状态。
[0084] 本实施例中，第一 DTX检测值可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0085] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能 量和的比值（A1);
[0086] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比 特的总幅值绝对值的比值（A2);
[0087] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息 比特包含的总比特个数的比值（A3);
[0088] 对应的，第一 DTX检测阔值分别对应为第一 DTX能量检测阔值（All)、第一 DTX幅 值检测阔值（A22)或第一 DTX权重检测阔值（A33)。
[0089] 本实施例中，第二DTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0090] 提取的占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 度1);
[0091] 提取的占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值度2);
[0092] 提取的占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值度3);
[0093] 对应的，第二DTX检测阔值为第二DTX能量检测阔值度11)、第二DTX幅值检测阔 值度22)或第二DTX权重检测阔值度33)。
[0094] 本实施例中，第HDTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0095] 提取的编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 (C1)；
[0096] 提取的编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值（C2);
[0097] 提取的编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值（C3);
[0098] 对应的，第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检测阔值（C11)、第Η DTX幅值检测阔 值（C22)或第HDTX权重检测阔值（C33)。
[0099] 应当理解的是，当DTX检测过程涉及到第二DTX检测值和第二DTX检测阔值的比 较和第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值的比较时，具体可W采用上述不同类型的检测值 和检测阔值的任意组合。例如：第二DTX检测值和第二DTX检测阔值可W分别采用Β1和 Β11，或Β2和Β22,或Β3和Β33,第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值可W分别采用Α1和 Α11，或 Α2 和 Α22，或 A3 和 Α33。
[0100] 下面对信息比特的具体提取过程结合具体的编码方式进行示例性的说明。但应当 理解的是，不管编码方式如何变化，只要其提取过程遵循本方案的规则都在本方案的保护 范围之内。
[010。 HARQ-ACK信息比特在发送的时候，3GPP协议定义了小于3(即小于等于2比特） 比特和大于2比特（即大于等于3比特）的HARQ-ACK的不同的编码方式，小于3比特时， 按照不同的调制方式定义了 1比特和2比特的编码方式，具体请分别参照如下表1和表2， 然后利用循环接连的方式构造出定义长度的比特序列。
[0102] 表一
[0103]
[0106] 对于表一中的ofi'比特和表二中的讀? of'K比特称为原始比特；对于表一中的 y比特和表二中的off比特称为校验比特，其中，cfK =C0fK+ 々f?)mod2 ;表一中的X 比特和表二中的X比特称为占位比特。对应的，对于大于2比特所采用的编码方式中对应 的各比特也可按照上述对应关系划分成原始比特、校验比特和占位比特。而对于大于2比 特的HARQ-ACK采用RM编码方式，首先RM编码生成长度为32的比特信息，然后再利用循环 接连的方式生成定义长度的信息比特。发送端利用构造好的HARQ-ACK信息比特映射到相 应的资源位置上。如果是绑定模式下需要先对构造的信息比特进行Walsh (沃尔什序列） 序列加扰，然后再映射到相应的资源位置发送。
[0107] 基于上述编码规则可知，当反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为1比 特时，原始比特为ofK比特，校验比特为y比特，占位比特为X比特；当反馈信号中 包含的HARQ-ACK信息比特为2比特时，原始比特为ofi 〇严，校验比特为off， 0严=物严+ 0严):做，占位比特为X比特。当反馈信号中包含的hArq-acK信息比特 为3比特时，一般采用RM编码获得指定长度的编码序列，可从该序列中获取到对应的编码 比特。
[010引上述方案一和方案二中对提取的信息比特进行分极性处理的过程包括：
[0109]将提取的信息比特输入极性选择模块进行分极，然后分别将得到的正、负极信息 比特分别输入对应的正极性端和负极性端。值得注意的是，对于上述方案二，提取的为原始 比特、校验比特和占位比特时，可W针对占位比特专口设置一路极性选择模块和对应的正、 负极性端，W专口对占位比特进行分极处理。当然，根据实际需要，也可与原始比特和校验 比特共用一路极性选择模块和正、负极性端。对信息比特的分极处理时，分1比特和2比特 (或者大于2比特）两种情况。如果是1比特的HARQ-ACK，可直接利用提取的信息比特进行 极性选择，然后分别输入到正极性端和负极性端或者占位比特的极性选择器；如果是2 (或 者大于2比特）比特齡1?9-40(时，利用上述表格二中如化〇1脚〇^&-^个比特关系，通过 最大似然的方式获取Η个比特所对应的信息比特。可W采用遍历Η个比特的8种可能性， 由于在发HARQ-ACK时检测错误的概率很小，为了实现的简单性，在进行对应比特选择的时 候只要遍历四种可能性进行最大似然选择，所谓的四种可能性及Η种信息比特满足Η者之 间关系的四种组合，分别表示为&^>和&32 D然后利用所检测的比特信息与提取出的对 应比特进行相乘，然后对相乘后的信息比特进行极性选择。
[0110] 上述方案Η中，对提取的信息比特进行分极性处理具体可根据不同的编码序列长 度进行选定。下面进行示例性的说明：
[0111] 从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特后，3比特或 者说大于2比特的情况下，由于HARQ-ACK采用的是RM编码，编码后的比特序列长度为32， 然后进行循环复制的方式衔接为编码要求的长度的比特序列。由于，采用Μ编码后，比特 序列的极性特点不像1比特和2比特的情况下满足一定的规律，单纯的对解扰后的比特信 息进行极性判断来进行DTX检测会出现误检的现象。由于RM编码的特点，在进行RM译码 之前的提取出来的比特信息的极性与Μ编码采用的基序列是有关的，因此，按照利用单极 性特点来判断是否为DTX存在一定的误检现象。所W优选的，针对3比特的极性判断，本实 施例可W采用如下思路进行判断：
[0112] 如果编码比特长度大于32,优选大于64时，利用32长度的RM编码比特信息的极 性与对应的复制比特信息的极性相同的特点进行DTX判断；具体操作可W采用针对32比特 长度的编码比特与其所有对应的所有复制比特信息进行极性判断，如果极性相同则存储判 断结果为1，否则存储判断结果为0。如此，对32个比特与其所有复制比特进行对比，然后 一一存储判断结果。最后，进行统计所有判断结果中判断1的个数与判断为0的个数之比 (应当理解的是也可W转换成判断为1的个数与总判断个数之比），或者统计判读为1的 所有对应的比特信息的能量总和与总能量之比得到第Η DTX检测值，然后用比值与对应的 第Η DTX检测阔值进行比较，如果大于第Η DTX检测阔值则认为非DTX，否则为DTX。
[0113] 如果编码比特长度小于32,则不能采用上述的方法进行极性判断，即便大于32且 小于64时，虽然也可W采用上述的方法进行DTX检测，但是由于样点较少，检测准确率会有 所降低，增加误检和漏检概率。所W，本实施例还提供了一种受编码长度限制的另一方法， 该方法在编码比特个数大于64的时候同样适用，具体如下；首先，对上述提取的解扰后的 比特信息进行重新排列，如果编码比特序列长度不满足32的整数倍，则在比特序列尾部补 零，且满足总长度为32的整数倍，即从第一个比特开始，连续32个比特为一列，依次按照 连续32个比特为一列进行排序；然后，所有列的每个比特信息和对应行的比特信息进行求 和，也就是编码后的32比特和所有对应的复制比特信息进行求和处理，当然可W不做求和 处理，按照其中的不存在补零的一列的比特信息进行下面的操作，优选进行求和处理；再然 后进行Μ译码处理，可W选择利用哈达马矩阵进行译码处理，选择其中绝对值最大的所对 应的译码过程得到的长度为32的序列作为最终提取出的用于进行DTX检测的编码比特；最 后，把如上32比特的序列输入到极性选择器，进行极性选择，按照两种极性的个数之比 或者幅值之比与对应的Π 限值进行判断，从判断得到是否为DTX。
[0114] 上述步骤205中，当判定上行终端传输了 HARQ-ACK信息是，本实施例中还可进一 步根据比特幅值和方向确定该上行终端具体是传输的是ACK还是NACK。
[0115] 另外，本实施例还可采用两种或者多种检测方法结合起来进行DTX检测，W综合 利用各方案的优点，规避各个方案各自的缺点所带来的影响，提高DTX的检测性能，降低漏 检和误检概率。此时在上述步骤202之前，还包括：
[0116] 判断当前是否满足采用极性判断方法检测DTX的条件，例如该可条件为判断 SNR(Si即al to Noise Ratio,信噪比）是否大于信噪比阔值Μ化，和/或TBsize是否小 于传输块大小阔值N，优选N = 144 ;如满足，再进行后续的步骤120,否则，可根据实际情况 选择其他的检测方法，例如，当SNR< = Μ地时，采用"SNR判决方法"或者其他检测方法进 行DTX检测。本实施例中也可W发送HARQ-ACK比特信息长度值等作为各种方法的激活判 决依据。
[0117] 实施例二：
[011引本实施例公开了一种DTX检测装置，请参见图3所示，包括信号接收模块、比特提 取模块、分极处理模块、计算模块W及判断模块，其中：
[0119] 信号接收模块用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0120] 比特提取模块用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[0121] 分极处理模块用于将提取的信息比特进行分极性处理；
[0122] 计算模块用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0123] 判断模块用于将得到的DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结 果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
[0124] 实施例中的比特提取模块根据其具体提取的比特信息的不同可W包含不同的子 模块。例如，对应上述实施例一中的方案一时，其具体包括原始比特提取子模块、校验比特 提取子模块；对应上述实施例一中的方案二时，其具体包括原始比特提取子模块、校验比特 提取子模块和占位比特提取子模块；对应上述实施例一中的方案Η时，其具体包括编码比 特提取子模块。具体的，各子模块的作用如下：
[01巧]原始比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特；
[0126] 校验比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的校验比特；
[0127] 占位比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的占位比特；
[0128] 编码比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。
[0129] 对应上述实施例一中的方案一时，即比特提取模块包括原始比特提取子模块、校 验比特提取子模块时，计算模块包括第一检测值计算子模块；对应上述实施例一中的方案 二时，即比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子 模块时，计算模块包括第一检测值计算子模块和第二检测值计算子模块；对应上述实施例 一中的方案Η时，即比特提取模块包括编码比特提取子模块时，计算模块包括第Η检测值 计算子模块；
[0130] 第一检测值计算子模块用于根据原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到 的第一 DTX检测值，DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0131] 第二检测值计算子模块用于根据占位比特不同 极性的信息比特得到的第二检测 值，DTX检测阔值还包括第二DTX检测阔值；
[0132] 第Η检测值计算子模块用于根据编码比特不同极性的信息比特得到的第Η DTX 检测值，DTX检测阔值包括第Η DTX检测阔值；
[0133] 对应上述实施例一中的方案一时，即比特提取模块包括原始比特提取子模块、校 验比特提取子模块时，判断模块包括第一判断子模块，用于将所述第一 DTX检测值与所述 第一 DTX检测阔值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状 态；否则，判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0134] 对应上述实施例一中的方案二时，也即比特提取模块包括原始比特提取子模块、 校验比特提取子模块和占位比特提取子模块时，判断模块包括第一判断子模块和第二判断 子模块；第二判断子模块用于将第二DTX检测值与第二DTX检测阔值进行比较，如第二DTX 检测值大于第二DTX检测阔值，则表明上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即 上行终端处于非DTX状态；如第二DTX检测值小于第二DTX检测阔值，通知第一判断子模块 将第一 DTX检测值与第一 DTX检测阔值进行比较，如小于第一 DTX检测阔值，判定上行终端 处于DTX状态；否则，判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0135] 对应上述实施例一中的方案Η时，即比特提取模块包括编码比特提取子模块时， 判断模块包括第Η判断子模块，用于将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行 比较，如小于所述第HDTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；否则，判定该上行终 端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0136] 请参见图4所示，本实施例提供的DTX检测装置还可进一步包括策略选择模块， 用于在比特提取模块从反馈信号中提取信息比特之前，判断当前是否满足采用极性判断方 法检测DTX的条件，例如该可条件为判断SNR是否大于Μ化，和/或TBsize是否小于144 ; 如满足，再通知比特提取模块进行后续的步骤，否则，可根据预设的规则选择其他的检测方 法，例如，当SNR< = Μ地时，采用"SNR判决方法"或者其他检测方法进行DTX检巧IJ。本实施 例中也可W发送HARQ-ACK比特信息长度值等作为各种方法的激活判决依据。送样可采用 两种或者多种检测方法结合起来进行DTX检测，W综合利用各方案的优点，规避各个方案 各自的缺点所带来的影响，提高DTX的检测性能，降低漏检和误检概率。
[0137] 实施例H:
[0138] 本实施例提供了一种基站，请参见图5所示，包括信号接收器、极性选择器W及处 理器，其中：
[0139] 信号接收器用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0140] 极性选择器用于提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息 比特进行分极性处理；
[0141] 处理器用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值，将DTX检测值与预设的DTX 检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态。
[0142] 本实施例中，提取的用于进行DTX检测的信息比特包括：反馈信号中HARQ-ACK信 息比特的原始比特、校验比特，或反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和 占位比特，或反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。也即也可采用实施例一中的方案 一或方案二或方案H。
[0143] 当提取的信息比特包括原始比特和校验比特时，DTX检测值包括根据原始比特和 校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，对应的DTX检测阔值包括第一 DTX 检测阔值；此时处理器将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端 是否处于DTX状态包括；将得到的第一 DTX检测值与预设的第一 DTX检测阔值进行比较，女口 小于第一 DTX检测阔值，则判定该上行终端处于DTX状态；如果第一 DTX检测值大于预设的 第一 DTX检测阔值，则判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端 处于非DTX状态。
[0144] 当提取的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，DTX检测值包括根据所 述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，W及根据占位比特不 同极性的信息比特得到的第二检测值，对应的，DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值和第二 DTX检测阔值。此时处理器将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行 终端是否处于DTX状态的过程包括：先将第二DTX检测值与第二DTX检测阔值进行比较，女口 第二DTX检测值大于第二DTX检测阔值，则表明上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX =0,也即上行终端处于非DTX状态；如第二DTX检测值小于第二DTX检测阔值，则再将第 一 DTX检测值与第一 DTX检测阔值进行比较，如第一 DTX检测值小于第一 DTX检测阔值，贝U 判定上行终端处于DTX状态；否则，判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0145] 当提取的信息比特的编码比特时，此时的DTX检测值包括根据提取的编码比特的 不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，DTX检测阔值包括与该第Η DTX检测值对应 的第Η DTX检测阔值；此时将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行 终端是否处于DTX状态包括；将得到的第Η DTX检测值与预设的第Η DTX检测阔值进行比 较，如小于第Η DTX检测阔值，则判定该上行终端处于DTX状态；如果第Η DTX检测值大于 预设的第Η DTX检测阔值，则判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上 行终端处于非DTX状态。
[0146] 本实施例中，第一 DTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0147] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能 量和的比值（A1);
[014引提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比 特的总幅值绝对值的比值（A2);
[0149] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息 比特包含的总比特个数的比值（A3);
[0150] 对应的，第一 DTX检测阔值分别对应为第一 DTX能量检测阔值（All)、第一 DTX幅 值检测阔值（A22)或第一 DTX权重检测阔值（A33)。
[0151] 本实施例中，第二DTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0152] 提取的占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 度1);
[0153] 提取的占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值度2);
[0154] 提取的占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值度3);
[0155] 对应的，第二DTX检测阔值为第二DTX能量检测阔值度11)、第二DTX幅值检测阔 值度22)或第二DTX权重检测阔值度33)。
[0156] 本实施例中，第HDTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0157] 提取的编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 (C1)；
[015引提取的编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值（C2);
[0159] 提取的编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值（C3);
[0160] 对应的，第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检测阔值（C11)、第Η DTX幅值检测阔 值（C22)或第HDTX权重检测阔值（C33)。
[0161] 应当理解的是，当DTX检测过程涉及到第二DTX检测值和第二DTX检测阔值的比 较和第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值的比较时，具体可W采用上述不同类型的检测值 和检测阔值的任意组合。例如：第二DTX检测值和第二DTX检测阔值可W分别采用Β1和 Β11，或Β2和Β22,或Β3和Β33,第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值可W分别采用Α1和 Α11，或 Α2 和 Α22，或 A3 和 Α33。
[0162] 本实施例中，处理器还可用于在信号接收器接收到反馈信号后，极性选择器用于 提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特之前，判断当前是否满足采用极性判断方 法检测DTX的条件，例如该可条件为判断SNR是否大于Μ化，和/或TBsize是否小于144 ; 如满足，再通知比特提取模块进行后续的步骤，否则，可根据预设的规则选择其他的检测 方法，例如，当SNR< = Μ地时，采用"SNR判决方法"或者其他检测方法进行DTX检测。本实 施例中也可W发送HARQ-ACK比特信息长度值等作为各种方法的激活判决依据。送样可采 用两种或者多种检测方法结合起来进行DTX检测，W综合利用各方案的优点，规避各个方 案各自的缺点所带来的影响，提高DTX的检测性能，降低漏检和误检概率。
[0163] 实施例四：
[0164] 本实施例W HARQ-ACK复用在PUSCH上传输时，1比特和2比特的HARQ-ACK传输时 的DTX检测过程对本发明进行进一步的示例性说明。对于大于2比特的HARQ-ACK传输时， 其DTX检测过程与2比特的HARQ-ACK传输时的过程类似，在此不再赏述。具体实现步骤如 下：
[0165] 请参见图6所示，该图所示为复用1比特的HARQ-ACK检测流程示意图，具体包括：
[0166] 步骤601 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特，1 比特包括比特、y比特或比特、y比特、X比特两种方案；对于X比特主要是在16QAM 和64QAM调制方式下加入的占位符。因此，在此步骤操作的过程中，如果需要利用X比特， 按照其对应位置分别提取出off比特、y比特和X比特；如果不需要利用X比特信息，则按 照对应位置分别只提取出off比特、y比特。在本实施例的中不考虑采用X比特进行DTX 判决，假设提取出来的所有比特、y比特分别表示为;
[0167] 步骤602 ;把提取出来的信息原始比特（efK比特）和y比特极性选择器进行极 性选择；
[016引步骤603 ;把极性为正和极性为负的信息比特分别输入到对应的正负极性端；对 于1比特的HARQ-ACK，可直接利用提取的信息比特进行极性选择，然后分别输入到正极性 端和负极性端。
[0169] 步骤604;获取第一 DTX检测值，本实施例可W分别获取正、负极性信息比特的幅 值总和，然后计算两个之间的比值大小，选取两个值中的最大值作为第一 DTX检测值。对于 送一步骤也可W采用正、负极性的信息比特个数总和之比，并获取两个值中的最大值作为 第一 DTX检测值；
[0170] 步骤605 ;判断第一 DTX检测值是否大于对应的第一 DTX检测阔值，如是，转至步 骤606 ;否则，转至步骤607 ;
[017。 步骤606 ;判定发送了 HARQ-ACK，DTX = 0。此时还可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[0172] 步骤 607 ;判定没有发送 HARQ-ACK，DTX = 1。
[0173] 请参见图7所示，该图所示为复用2比特的HARQ-ACK检测流程示意图，具体包括：
[0174] 步骤701 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特， 2比特包括.Ofi 4α ofA'或者OqiCA 〇严：和X比特两种方案，对于X比特主要是在 16QAM和64QAM调制方式下加入的占位符。因此，在此步骤操作的过程中，如果需要利用X比 特，按照其对应位置分别提取出of*- Oi-wf off和X比特；如果不需要利用X比特信息，贝U 按照对应位置分别只提取出off o/fK off。在本实施例的中不考虑采用X比特进行DTX 判决，假设提取出来的所有分别表示为讀^和讀f ；
[0175] 步骤702 ;获取Η比特的对应比特；由于2比特的条件下，可能其中一流发ACK，也 就是发'1'，另外一流可能发NACK，也就是发'0'，或者两流都发ACK或者NACK，针对该 问题，需要进行对所提取的Η个比特的软信息进行检测。在进行检测的时候由于Η个信息 比特的组合有23种组合，但是满足off off off Η个信息比特关系的组合只有四种。在 进行信息比特的检测的时候可W采用最大似然的方法遍历23组合或者满足Η比特关系的 四种组合，考虑到实现的复杂度，另外在漏检时，能够正确检对的概率非常高，因此在进行 此操作的过程中，本实施例优先选择采用满足Η比特关系的四种组合进行检测，获取相关 性最高的组合，分别表示为義^;、爲.和％;
[0176] 步骤7〇3 ;对得到的〇。心。严Κ 〇2心'和續、為郝矣相乘并进行极性选择，為。、4 和与如表四所示，
[0177] 表四 [017 引
[0179] 所获取的為、為和秦分别有四种组合，考虑到利用获取的信息比特与对应的软信 息相乘的过程，如果获取的信息比特为"-1"，进行相乘后的操作后，所获取的比特的软信息 的极性发生改变，也就是原来时正极性的变为负极性，原来负极性的变为正极性；如果获取 的信息比特为"1"时，相乘后不改变原来软信息的极性。因此，利用送特点，如果所获取的 或比特为"1"时，则对应的软信息进行极性选择，把选择的正极性的信息比特输入到正 极端，负极性的信息输入到负极端；如果所获取的馬比特为"-1"时，则对应的软信息Oe'fK 进行极性选择；
[0180] 步骤704 ;把极性为正和极性为负的信息比特分别输入到对应的正负极性端；
[0181] 步骤705;获取第一 DTX检测值，本实施例可W分别获取正、负极性信息比特的幅 值总和，然后计算两个之间的比值大小，选取两个值中的最大值作为第一 DTX检测值。对于 送一步骤也可W采用正、负极性的信息比特个数总和之比，并获取两个值中的最大值作为 第一 DTX检测值；
[0182] 步骤706 ;判断第一 DTX检测值是否大于对应的第一 DTX检测阔值，如是，转至步 骤707 ;否则，转至步骤708 ;
[0183] 步骤707 ;判定发送了 HARQ-ACK，DTX = 0。此时还可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[0184] 步骤 708 ;判定没有发送 HARQ-ACK，DTX = 1。
[0185] 实施例五：
[0186] 本实施例W HARQ-ACK绑定在PUSCH上传输时，1比特和2比特的HARQ-ACK传输时 的DTX检测。对于大于2比特的HARQ-ACK传输时，其DTX检测过程与2比特的HARQ-ACK 传输时的过程类似，在此不再赏述。绑定模式与复用模式不同的是，在发端进行编码的时候 增加 Walsh序列进行加扰的过程，因此在进行解码的时候要增加解Walsh序列的过程。具 体实现步骤如下：
[0187] 请参见图8所示，该图所示为绑定在PUSCH上传输时，1比特的HARQ-ACK检测流程 示意图，具体包括：
[018引步骤801 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特，1 比特包括如α'比特、y比特或如比特、y比特、X比特两种方案；本实施例采用提取off比 特、y比特、X比特送种方案；
[0189] 步骤802 ;进行Walsh序列解扰处理，如果知道Walsh序列号时，直接利用该Walsh 序列对提取的软信息进行解Walsh操作；如果不知道Walsh序列号时，首先要获取Walsh 序列号，目前36. 212协议中定义了 4种Walsh序列，通常采用最大似然的方法获取Walsh 序列号，在此不做详述；假设解Walsh序列后1比特的off比特和y比特W及X比特分别 表示为〇1,、yj,或者Xs;
[0190] 步骤803 ;把解Walsh序列后获取的〇1,、yj,和X,输入到对应的极性选择器中；
[0191] 步骤804 ;把极性为正和和极性为负的信息比特分别输入到对应的极性端；需要 说明的是，在进行极性选择的时候，把X比特极性选择后的正极性和负极性软信息分别输 入到其独立的极性端；
[0192] 步骤805 ;获取第二DTX检测值和第一 DTX检测值；第二DTX检测值为X比特的极 端获取正负极性比特的幅值（功率）总和之比，或者是正负比特的个数总和之比，第一 DTX 检测值为非X比特（即原始比特和校验比特）极端的正负极性比特的幅值（功率）总和之 比或者正负比特的个数总和之比。在此实施例子中，选择第一 DTX检测值和第二DTX检测 值分别获取X比特极端的正负比特的个数总和之比非X比特极端的正负极性比特的幅值总 和之比；
[0193] 步骤806 ;进行DTX判断，具体为；首先将第二DTX检测值与对应的第二DTX检测 阔值进行比较，如果大于第二DTX检测阀值，转至步骤807 ;否则，再将第一 DTX检测值与第 一 DTX检测阔值进行比较，如果小于第一 DTX检测阀值，转至步骤808 ;否则转至步骤807 ;
[0194] 步骤807 ;判定发送了 HARQ-ACK，且DTX = 0 ;此时可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[0195] 步骤808 ;判断为没有发HARQ-ACK，且DTX = 1，也即处于DTX状态。
[0196] 请参见图9所示，该图所示为绑定在PUSCH上传输时，2比特的HARQ-ACK检测流程 示意图，具体包括：
[0197] 步骤901 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特， 2比特包括off off 或者口。却〇严A-和X比特两种方案；本实施例采用提取 泡:Κ 人乂证 ACK in 、Λ*壬山个舍 〇扫 巧 瑪和X该种万柔；
[0198] 步骤902 ;进行Walsh序列解扰处理，如果知道Walsh序列号时，直接利用该Walsh 序列对提取的软信息进行解Walsh操作；如果不知道Walsh序列号时，首先要获取Walsh序 列号，目前36. 212协议中定义了 4种Walsh序列，通常采用最大似然的方法获取Walsh序 列号，在此不做详述；假设2比特的。.wa ^.4? 和X比特分别表示为續^和《if Uj 和Xs。需要说明的是如果在进行DTX检测时不需要利用X比特信息，则不需要对X比特进 行处理；在此实施例描述过程中考虑采用X比特信息进行DTX判决；
[0199] 步骤903 ;获取Η比特的对应比特；由于2比特的条件下，可能其中一流发ACK，也 就是发'1'，另外一流可能发NACK，也就是发'0'，或者两流都发ACK或者NACK，针对该 问题，需要进行对所提取的Η个比特的软信息进行检测。在进行检测的时候由于Η个信息 比特的组合有23种组合，但是满足个信息比特关系的组合只有四种。在 进行信息比特的检测的时候可W采用最大似然的方法遍历23组合或者满足Η比特关系的 四种组合，考虑到实现的复杂度，另外在漏检时，能够正确检对的概率非常高，因此在进行 此操作的过程中，本实施例优先选择采用满足Η比特关系的四种组合进行检测，获取相关 性最高的组合，分别表示为^^郝^， V X .3 矿》、. 泌S
[0200] 步骤904 ;把解Walsh序列后获取的鴻Γ、馬Γ和0；5&《和X,与提取出的对应比特 -去巧 进行相乘，然后对相乘后的信息比特进行极性选择；
[0201] 步骤905 ;把极性为正和和极性为负的信息比特分别输入到对应的极性端；需要 说明的是，在进行极性选择的时候，把X比特极性选择后的正极性和负极性软信息分别输 入到其独立的极性端；
[0202] 步骤906 ;获取第二DTX检测值和第一 DTX检测值；第二DTX检测值为X比特的极 端获取正负极性比特的幅值（功率）总和之比，或者是正负比特的个数总和之比，第一 DTX 检测值为非X比特（即原始比特和校验比特）极端的正负极性比特的幅值（功率）总和之 比或者正负比特的个数总和之比。在此实施例子中，选择第一 DTX检测值和第二DTX检测 值分别获取X比特极端的正负比特的个数总和之比非X比特极端的正负极性比特的幅值总 和之比；
[0203] 步骤907 ;进行DTX判断，具体为；首先将第二DTX检测值与对应的第二DTX检测 阔值进行比较，如果大于第二DTX检测阀值，转至步骤908 ;否则，再将第一 DTX检测值与第 一 DTX检测阔值进行比较，如果小于第一 DTX检测阀值，转至步骤909 ;否则转至步骤908 ;
[0204] 步骤908 ;判定发送了 HARQ-ACK，且DTX = 0 ;此时可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[020引步骤909 ;判断为没有发HARQ-ACK，且DTX = 1，也即处于DTX状态。
[0206] 可见，本发明提供的方案可利用信息比特的极性特点完成DTX检测，因此可大大 降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize条件下。
[0207] W上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发 明的具体实施只局限于送些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱 离本发明构思的前提下，还可W做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护 范围。
【主权项】
1. 一种DTX检测方法，其特征在于，包括： 接收上行终端发送的反馈信号； 提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特； 将提取的信息比特进行分极性处理； 根据不同极性的信息比特得到DTX检测值； 将所述DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端 是否处于DTX状态。2. 如权利要求1所述的DTX检测方法，其特征在于，当所述反馈信号中包含的 HARQ-ACK信息比特为小于等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反 馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特 的原始比特、校验比特和占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2 比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特。3. 如权利要求2所述的DTX检测方法，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比 特包括原始比特和校验比特时，或包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比 特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX 检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述DTX 检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，以 及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值和第二DTX检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述编 码比特不同极性的信息比特得到的第三DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第三DTX检测 阈值。4. 如权利要求3所述的DTX检测方法，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比特 包括原始比特和校验比特时，将所述DTX检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结 果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测 阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，将所述DTX 检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态 包括：将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阈值进行比较，如小于所述第二DTX检测 阈值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测 阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，将所述DTX检测值与所述DTX检 测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第三DTX 检测值与所述第三DT X检测阈值进行比较，如小于所述第三DTX检测阈值，判定所述上行终 端处于DTX状态。5. 如权利要求3或4所述的DTX检测方法，其特征在于，所述第一 DTX检测值为：所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为 所述原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值，或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极 性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阈值为第一 DTX能量检测 阈值、第一 DTX幅值检测阈值或第一 DTX权重检测阈值； 所述第二DTX检测值为：所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阈值为第二DTX能量检测阈 值、第二DTX幅值检测阈值或第二DTX权重检测阈值； 所述第三DTX检测值为：所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第三DTX检测阈值为第三DTX能量检测阈 值、第三DTX幅值检测阈值或第三DTX权重检测阈值。6. 如权利要求2-4任一项所述的DTX检测方法，其特征在于，当所述反馈信号中包含的 HARQ-ACK信息比特为1比特时，所述原始比特为比特，所述校验比特为y比特，所述占 位比特为X比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为2比特时，所述原始比特 为4? ,所述校验比特为所述占位比特为X比特。7. 如权利要求1-4任一项所述的DTX检测方法，其特征在于，在提取该反馈信号中用于 进行DTX检测的信息比特之前,还包括； 判断当前是否满足采用极性判断方法检测DTX的条件；所述条件为判断信噪比是否大 于信噪比阈值M,和/或传输块大小是否小于传输块大小阈值N。8. -种DTX检测装置，其特征在于，包括信号接收模块、比特提取模块、分极处理模块、 计算模块以及判断模块； 所述信号接收模块用于接收上行终端发送的反馈信号； 所述比特提取模块用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特； 所述分极处理模块用于将提取的信息比特进行分极性处理； 所述计算模块用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值； 所述判断模块用于将所述DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果 确定所述上行终端是否处于DTX状态。9. 如权利要求8所述的DTX检测装置，其特征在于，所述比特提取模块包括原始比特提 取子模块、校验比特提取子模块；或包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位 比特提取子模块；或包括编码比特提取子模块； 所述原始比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特； 所述校验比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的校验比特； 所述占位比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的占位比特； 所述编码比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2 比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。10. 如权利要求9所述的DTX检测装置，其特征在于，所述比特提取模块包括原始比特 提取子模块、校验比特提取子模块时，所述计算模块包括第一检测值计算子模块；所述比特 提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子模块时，所述 计算模块包括第一检测值计算子模块和第二检测值计算子模块；所述比特提取模块包括编 码比特提取子模块时，所述计算模块包括第三检测值计算子模块； 所述第一检测值计算子模块用于根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特 得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值； 所述第二检测值计算子模块用于根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二 检测值，所述DTX检测阈值还包括第二DTX检测阈值； 所述第三检测值计算子模块用于根据所述编码比特不同极性的信息比特得到的第三 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第三DTX检测阈值。11. 如权利要求10所述的DTX检测装置，其特征在于，所述比特提取模块包括原始比特 提取子模块、校验比特提取子模块时，所述判断模块包括第一判断子模块，用于将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上 行终端处于DTX状态； 所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子 模块时，所述判断模块包括第一判断子模块和第二判断子模块；所述第二判断子模块用于 将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阈值进行比较，如小于所述第二DTX检测阈值， 通知所述第一判断子模块将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小 于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述比特提取模块包括编码比特提取子模块时，所述判断模块包括第三判断子模块， 用于将所述第三DTX检测值与所述第三DTX检测阈值进行比较，如小于所述第三DTX检测 阈值，判定所述上行终端处于DTX状态。12. 如权利要求10或11所述的DTX检测装置，其特征在于，所述第一 DTX检测值为： 所述原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值， 或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总 幅值绝对值的比值，或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与 负极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阈值为第一 DTX能量 检测阈值、第一 DTX幅值检测阈值或第一 DTX权重检测阈值； 所述第二DTX检测值为：所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阈值为第二DTX能量检测阈 值、第二DTX幅值检测阈值或第二DTX权重检测阈值； 所述第三DTX检测值为：所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第三DTX检测阈值为第三DTX能量检测阈 值、第三DTX幅值检测阈值或第三DTX权重检测阈值。13. -种基站，其特征在于，包括信号接收器、极性选择器以及处理器；所述信号接收 器用于接收上行终端发送的反馈信号； 所述极性选择器用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信 息比特进行分极性处理； 所述处理器用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值，将所述DTX检测值与预设 的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。14. 如权利要求13所述的基站，其特征在于，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信 息比特为小于等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反馈信号中 HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比 特、校验比特和占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，所 述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特。15. 如权利要求14所述的基站，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原 始比特和校验比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息 比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述DTX 检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，以 及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值和第二DTX检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述编 码比特不同极性的信息比特得到的第三DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第三DTX检测 阈值。16. 如权利要求15所述的基站，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原 始比特和校验比特时，所述处理器将所述DTX检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比 较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX 检测阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述处理 器将所述DTX检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否 处于DTX状态包括：将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阈值进行比较，如小于所述 第二DTX检测阈值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小于所述 第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述处理器将所述DTX检测值与 所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所 述第三DTX检测值与所述第三DTX检测阈值进行比较，如小于所述第三DTX检测阈值，判定 所述上行终端处于DTX状态。17. 如权利要求15或16所述的基站，其特征在于，所述第一DTX检测值为：所述原始比 特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原 始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值 的比值，或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息 比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阈值为第一 DTX能量检测阈值、 第一 DTX幅值检测阈值或第一 DTX权重检测阈值； 所述第二DTX检测值为：所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阈值为第二DTX能量检测阈 值、第二DTX幅值检测阈值或第二DTX权重检测阈值； 所述第三DTX检测值为：所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第三DTX检测阈值为第三DTX能量检测阈 值、第三DTX幅值检测阈值或第三DTX权重检测阈值。
【专利摘要】本发明公开了一种DTX检测方法、装置及基站，从上行终端发送的反馈信号中提取用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息比特进行分极性处理；进而根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；将该DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态。也即，本发明提供的方案利用信息比特的极性特点完成DTX检测，可大大降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize条件下。
【IPC分类】H04W24/02, H04L1/18
【公开号】CN105491591
【申请号】CN201410475510
【发明人】魏继东
【申请人】中兴通讯股份有限公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2014年9月17日
【公告号】WO2015154573A1
【技术领域】
[0001] 本发明涉及通信领域，具体涉及一种DTX(Discontinuous Transmission,不连续 传输）传检测方法、装置及基站。
【背景技术】
[0002] 3GPP TS 36.212协议中定义了上行控制信息11(：1可^在物理上行控制信 道PUCCH(Physical Uplink Control C化nnel，物理上行链路控制信道）上或者在 PUSCH(Physical Uplink Glared Channel,物理上行业务共享信道）上传输，传输模式包括 绑定模式和复用模式。例如，请参见图1所示的化-SCHOJplink化ared化annel，上行共 享信道）和控制信息在PUSCH上传输资源映射图。为了防止数据包的丢失，协议中定义了 HARQ(Hybrid Automatic Repeat Request,混合自动重传）重传机制，HARQ重传的触发指 令与指定的数据包存在一定的间隔，对于抑D((化equen巧Division Duplex,频分双工）来 说该值为固定值，而对于TDD (Time Division Duplex,时分双工）来说，该值与上下行配置 有关，具体在3GPP TS 36. 213协议中作了定义。触发指令指的是终端接收到一个数据包，所 作的响应反馈信号，如果正确接收到该包，则终端在指定的子顿上发射确认信号，即ACK信 号，如果没有正确接收数据包，终端同样会在指定的子顿上反馈非确认信号，即NACK信号。 另外，终端也有可能没有检测到来自基站的反馈信号，在送种情况下，终端不能接收到相应 的数据包，则终端会进行DTX (Discontinuous化ansmission)传输。也就是说，基站在对反 馈信号进行检测的时候，检测的结果可能是ACK，NACK或者DTX。
[0003] 由于下行DCI0值CI值ownlinkControlInformation,下行控制信息，其格式0,简 称DCI0)存在一定概率的丢失事件，因此需要通过一定的检测方式来判断此次PUSCH传输 是否有效，W决定MAC是否需要重发新的DCI0, W减少HARQ失败次数。但在此判断过程中， 会有较大的漏检概率。因此，可W通过UCI DTX检测来进一步提升PUSCH激活判断的准确 性。
[0004] DTX情况涉及发送特定肥的化值ownlink)资源分配许可的失败。当化资源分 配失败时，从给定的ULOJplink)子顿遗漏与PDCCH/PDSCH相关的HARQ-ACK(从ACK/NACK 角度，送是DTX)，因为肥已出于无论什么原因遗漏了化分配，并且因此没有理由发送 HARQ-ACK或者将其包括在化子顿中。然而，基站不能知道HARQ-ACK不存在，结果，不正确 地解释来自肥的接收。其中DTX检测过程中，存在着两种误差，第一种误差称为误检，也 就是把DTX错误的检测为HARQ-ACK。第二种误差类型称为漏检，就是把HARQ-ACK检测为 DTX。无论哪种误差概率，其性能目标值要小于1%。因此，为了提高DTX检测性能，降低检 测误差概率，出现了各种的检测方法，主要包括恒定误警率检测方法和动态阀值检测方法 两大类。恒定误警率检测方法主要指的是在发DTX情况下，允许存在一定的错误检测概率； 动态阀值检测方法主要思想是使用反映在被估计的信号幅度瞬时传输信道状态信息，调整 HARQ-ACK的发生功率，降低HARQ-ACK信号对其它信号的干扰。动态阀值检测方法中的阀值 是信号幅度估计值与一个常量的乘积，而送个常量值与信道、终端移动速度、天线分集W及 功率偏移值有关。恒定误警率检测方法是目前采用的主要方法，常见的有利用噪声功率和 信号功率的比值或者SINR与阀值比较进行DTX判决，但是该方法阀值波动性比较大且误差 精度也相对比较低，尤其是在小TBSizeCTransport Block Size,传输块大小）条件下。
【发明内容】
[0005] 本发明要解决的主要技术问题是，提供一种DTX检测方法、装置及基站，解决现有 DTX检测精度低的问题。
[0006] 为解决上述技术问题，本发明提供一种DTX检测方法，包括：
[0007] 接收上行终端发送的反馈信号；
[0008] 提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[0009] 将提取的信息比特进行分极性处理；
[0010] 根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0011] 将所述DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行 终端是否处于DTX状态。
[001引在本发明的一种实施例中，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于 等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反馈信号中HARQ-ACK信息比 特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和 占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，所述用于进行 DTX检测的信息比特包括编码比特。
[0013] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，或包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极 性的信息比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0014] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述 DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测 值，W及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阔值包 括第一 DTX检测阔值和第二DTX检测阔值；
[0015] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所 述编码比特不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第Η DTX 检测阔值。
[0016] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，将所述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终 端是否处于DTX状态包括；将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较，如小 于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0017] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，将所 述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX 状态包括；将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阔值进行比较，如小于所述第二DTX 检测阔值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较，如小于所述第一 DTX 检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0018] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，将所述DTX检测值与所述DTX 检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行比较，如小于所述第Η DTX检测阔值，判定所述上 行终端处于DTX状态。
[0019] 在本发明的一种实施例中，所述第一 DTX检测值为；所述原始比特和校验比特的 正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原始比特和校验比 特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值的比值，或为所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的总比 特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阔值为第一 DTX能量检测阔值、第一 DTX幅值检 测阔值或第一 DTX权重检测阔值；
[0020] 所述第二DTX检测值为；所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阔值为第二DTX能量检 测阔值、第二DTX幅值检测阔值或第二DTX权重检测阔值；
[0021] 所述第Η DTX检测值为；所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检 测阔值、第Η DTX幅值检测阔值或第Η DTX权重检测阔值。
[002引在本发明的一种实施例中，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为1比特 时，所述原始比特为off比特，所述校验比特为y比特，所述占位比特为X比特；当所述反馈 信号中包含的HARQ-ACK信息比特为2比特时，所述原始比特为0严,所述校验比特 为ofS off = (ofK+巧仰-)mod2，所述占位比特为X比特。
[0023] 在本发明的一种实施例中，在提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特之 前，还包括；
[0024] 判断当前是否满足采用极性判断方法检测DTX的条件；所述条件为判断信噪比是 否大于信噪比阔值M，和/或传输块大小是否小于传输块大小阔值N。
[002引为了解决上述问题，本发明还提供了一种DTX检测装置，包括信号接收模块、比特 提取模块、分极处理模块、计算模块W及判断模块；
[0026] 所述信号接收模块用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0027] 所述比特提取模块用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[0028] 所述分极处理模块用于将提取的信息比特进行分极性处理；
[0029] 所述计算模块用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0030] 所述判断模块用于将所述DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较 结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
[0031] 在本发明的一种实施例中，所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比 特提取子模块；或包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子模 块；或包括编码比特提取子模块；
[0032] 所述原始比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小 于等于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特；
[003引所述校验比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小 于等于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的校验比特；
[0034] 所述占位比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小 于等于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的占位比特；
[003引所述编码比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。
[0036] 在本发明的一种实施例中，所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比 特提取子模块时，所述计算模块包括第一检测值计算子模块；所述比特提取模块包括原始 比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子模块时，所述计算模块包括第一 检测值计算子模块和第二检测值计算子模块；所述比特提取模块包括编码比特提取子模块 时，所述计算模块包括第Η检测值计算子模块；
[0037] 所述第一检测值计算子模块用于根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息 比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0038] 所述第二检测值计算子模块用于根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的 第二检测值，所述DTX检测阔值还包括第二DTX检测阔值；
[0039] 所述第Η检测值计算子模块用于根据所述编码比特不同极性的信息比特得到的 第Η DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第Η DTX检测阔值。
[0040] 在本发明的一种实施例中，所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比 特提取子模块时，所述判断模块包括第一判断子模块，用于将所述第 一 DTX检测值与所述 第一 DTX检测阔值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状 态；
[0041] 所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提 取子模块时，所述判断模块包括第一判断子模块和第二判断子模块；所述第二判断子模块 用于将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阔值进行比较，如小于所述第二DTX检测 阔值，通知所述第一判断子模块将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较， 如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0042] 所述比特提取模块包括编码比特提取子模块时，所述判断模块包括第Η判断子模 块，用于将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行比较，如小于所述第Η DTX检 测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态。
[0043] 在本发明的一种实施例中，所述第一 DTX检测值为；所述原始比特和校验比特的 正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原始比特和校验比 特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值的比值，或为所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的总比 特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阔值为第一 DTX能量检测阔值、第一 DTX幅值检 测阔值或第一 DTX权重检测阔值；
[0044] 所述第二DTX检测值为；所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阔值为第二DTX能量检 测阔值、第二DTX幅值检测阔值或第二DTX权重检测阔值；
[0045] 所述第Η DTX检测值为；所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检 测阔值、第Η DTX幅值检测阔值或第Η DTX权重检测阔值。
[0046] 为了解决上述问题，本发明还提供了一种基站，包括信号接收器、极性选择器W 及处理器；所述信号接收器用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0047] 所述极性选择器用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特，将提取 的信息比特进行分极性处理；
[0048] 所述处理器用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值，将所述DTX检测值与 预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
[0049] 在本发明的一种实施例中，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于 等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反馈信号中HARQ-ACK信息比 特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和 占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，所述用于进行 DTX检测的信息比特包括编码比特。
[0050] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的 第一 DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0051] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述 DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测 值，W及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阔值包 括第一 DTX检测阔值和第二DTX检测阔值；
[0052] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所 述编码比特不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，所述DTX检测阔值包括第Η DTX 检测阔值。
[0053] 在本发明的一种实施例中，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特和校 验比特时，所述处理器将所述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定 所述上行终端是否处于DTX状态包括；将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进 行比较，如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[0054] 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述 处理器将所述DTX检测值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端 是否处于DTX状态包括；将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阔值进行比较，如小于 所述第二DTX检测阔值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阔值进行比较，如小于 所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；
[00巧]所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述处理器将所述DTX检测 值与所述DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括： 将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行比较，如小于所述第Η DTX检测阔值， 判定所述上行终端处于DTX状态。
[0056] 在本发明的一种实施例中，所述第一 DTX检测值为；所述原始比特和校验比特的 正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原始比特和校验比 特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值的比值，或为所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的总比 特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阔值为第一 DTX能量检测阔值、第一 DTX幅值检 测阔值或第一 DTX权重检测阔值；
[0057] 所述第二DTX检测值为；所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阔值为第二DTX能量检 测阔值、第二DTX幅值检测阔值或第二DTX权重检测阔值；
[0058] 所述第Η DTX检测值为；所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息 比特的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息 比特的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负 极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检 测阔值、第Η DTX幅值检测阔值或第Η DTX权重检测阔值。
[0059] 本发明的有益效果是：
[0060] 本发明提供的DTX检测方法、装置及基站，从上行终端发送的反馈信号中提取用 于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息比特进行分极性处理；进而根据不同极性的信 息比特得到DTX检测值；将该DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确 定上行终端是否处于DTX状态。也即，本发明提供的方案可利用信息比特的极性特点完成 DTX检测，因此可大大降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize 条件下。
【附图说明】
[0061] 图1为现有PUSCH上传输的资源映射图；
[0062] 图2为本发明实施例一中提供的DTX检测方法流程示意图；
[0063] 图3为本发明实施例二中提供的DTX检测装置结构示意图；
[0064] 图4为本发明实施例二中提供的另一 DTX检测装置结构示意图；
[0065] 图5为本发明实施例Η中提供的基站结构示意图；
[0066] 图6为本发明实施例四中提供的复用1比特的HARQ-ACK检测流程示意图；
[0067] 图7为本发明实施例四中提供的复用2比特的HARQ-ACK检测流程示意图；
[006引图8为本发明实施例五中提供的绑定1比特的HARQ-ACK检测流程示意图；
[0069] 图9为本发明实施例五中提供的绑定2比特的HARQ-ACK检测流程示意图。
【具体实施方式】
[0070] 下面通过【具体实施方式】结合附图对本发明作进一步详细说明。
[007 U 实施例一：
[007引请参见图2所示，本实施例提供的DTX检测方法包括W下步骤：
[0073] 步骤201 ;接收上行终端发送的反馈信号；
[0074] 步骤202 ;提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[00巧]步骤203 ;将提取的信息比特进行分极性处理；
[007引步骤204 ;根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0077] 步骤205 ;将得到的DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确 定该上行终端是否处于DTX状态；也即确定该上行终端是否传输了 HARQ-ACK信息。
[0078] 在本实施例中，上述步骤202中提取反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特可 W采用的不同的方案，下面仅种提取方案作为示例行的说明：
[007引方案一；当反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等于2比特时，提取用于 进行DTX检测的信息比特包括：提取该反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比 特；
[0080] 此时的DTX检测值包括根据提取的原始比特和校验比特的不同极性的信息比特 得到的第一 DTX检测值，DTX检测阔值包括与该第一 DTX检测值对应的第一 DTX检测阔值； 此时将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状 态包括：将得到的第一 DTX检测值与预设的第一 DTX检测阔值进行比较，如小于第一 DTX检 测阔值，则判定该上行终端处于DTX状态；如果第一 DTX检测值大于预设的第一 DTX检测阔 值，则判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端处于非DTX状态。 [00引]方案二：当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等于2比特时，提取 该反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和占位比特。此时DTX检测值包括 根据提取的原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，W及根据提 取的占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，DTX检测阔值包括分别与第一 DTX 检测值和第二DTX检测值对应的第一 DTX检测阔值和第二DTX检测阔值。此时将DTX检 测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态的过程包括： 先将第二DTX检测值与第二DTX检测阔值进行比较，如第二DTX检测值大于第二DTX检测 阔值，则表明上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端处于非DTX状态； 如第二DTX检测值小于第二DTX检测阔值，则再将第一 DTX检测值与第一 DTX检测阔值进 行比较，如第一 DTX检测值小于第一 DTX检测阔值，则判定上行终端处于DTX状态；否则，判 定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[008引方案S ;当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，提取用于 进行DTX检测的信息比特包括：提取该反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特；
[0083] 此时的DTX检测值包括根据提取的编码比特的不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，DTX检测阔值包括与该第Η DTX检测值对应的第Η DTX检测阔值；此时将DTX 检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态包括；将得 到的第Η DTX检测值与预设的第Η DTX检测阔值进行比较，如小于第Η DTX检测阔值，则判 定该上行终端处于DTX状态；如果第Η DTX检测值大于预设的第Η DTX检测阔值，则判定该 上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端处于非DTX状态。
[0084] 本实施例中，第一 DTX检测值可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0085] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能 量和的比值（A1);
[0086] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比 特的总幅值绝对值的比值（A2);
[0087] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息 比特包含的总比特个数的比值（A3);
[0088] 对应的，第一 DTX检测阔值分别对应为第一 DTX能量检测阔值（All)、第一 DTX幅 值检测阔值（A22)或第一 DTX权重检测阔值（A33)。
[0089] 本实施例中，第二DTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0090] 提取的占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 度1);
[0091] 提取的占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值度2);
[0092] 提取的占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值度3);
[0093] 对应的，第二DTX检测阔值为第二DTX能量检测阔值度11)、第二DTX幅值检测阔 值度22)或第二DTX权重检测阔值度33)。
[0094] 本实施例中，第HDTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0095] 提取的编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 (C1)；
[0096] 提取的编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值（C2);
[0097] 提取的编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值（C3);
[0098] 对应的，第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检测阔值（C11)、第Η DTX幅值检测阔 值（C22)或第HDTX权重检测阔值（C33)。
[0099] 应当理解的是，当DTX检测过程涉及到第二DTX检测值和第二DTX检测阔值的比 较和第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值的比较时，具体可W采用上述不同类型的检测值 和检测阔值的任意组合。例如：第二DTX检测值和第二DTX检测阔值可W分别采用Β1和 Β11，或Β2和Β22,或Β3和Β33,第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值可W分别采用Α1和 Α11，或 Α2 和 Α22，或 A3 和 Α33。
[0100] 下面对信息比特的具体提取过程结合具体的编码方式进行示例性的说明。但应当 理解的是，不管编码方式如何变化，只要其提取过程遵循本方案的规则都在本方案的保护 范围之内。
[010。 HARQ-ACK信息比特在发送的时候，3GPP协议定义了小于3(即小于等于2比特） 比特和大于2比特（即大于等于3比特）的HARQ-ACK的不同的编码方式，小于3比特时， 按照不同的调制方式定义了 1比特和2比特的编码方式，具体请分别参照如下表1和表2， 然后利用循环接连的方式构造出定义长度的比特序列。
[0102] 表一
[0103]
[0106] 对于表一中的ofi'比特和表二中的讀? of'K比特称为原始比特；对于表一中的 y比特和表二中的off比特称为校验比特，其中，cfK =C0fK+ 々f?)mod2 ;表一中的X 比特和表二中的X比特称为占位比特。对应的，对于大于2比特所采用的编码方式中对应 的各比特也可按照上述对应关系划分成原始比特、校验比特和占位比特。而对于大于2比 特的HARQ-ACK采用RM编码方式，首先RM编码生成长度为32的比特信息，然后再利用循环 接连的方式生成定义长度的信息比特。发送端利用构造好的HARQ-ACK信息比特映射到相 应的资源位置上。如果是绑定模式下需要先对构造的信息比特进行Walsh (沃尔什序列） 序列加扰，然后再映射到相应的资源位置发送。
[0107] 基于上述编码规则可知，当反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为1比 特时，原始比特为ofK比特，校验比特为y比特，占位比特为X比特；当反馈信号中 包含的HARQ-ACK信息比特为2比特时，原始比特为ofi 〇严，校验比特为off， 0严=物严+ 0严):做，占位比特为X比特。当反馈信号中包含的hArq-acK信息比特 为3比特时，一般采用RM编码获得指定长度的编码序列，可从该序列中获取到对应的编码 比特。
[010引上述方案一和方案二中对提取的信息比特进行分极性处理的过程包括：
[0109]将提取的信息比特输入极性选择模块进行分极，然后分别将得到的正、负极信息 比特分别输入对应的正极性端和负极性端。值得注意的是，对于上述方案二，提取的为原始 比特、校验比特和占位比特时，可W针对占位比特专口设置一路极性选择模块和对应的正、 负极性端，W专口对占位比特进行分极处理。当然，根据实际需要，也可与原始比特和校验 比特共用一路极性选择模块和正、负极性端。对信息比特的分极处理时，分1比特和2比特 (或者大于2比特）两种情况。如果是1比特的HARQ-ACK，可直接利用提取的信息比特进行 极性选择，然后分别输入到正极性端和负极性端或者占位比特的极性选择器；如果是2 (或 者大于2比特）比特齡1?9-40(时，利用上述表格二中如化〇1脚〇^&-^个比特关系，通过 最大似然的方式获取Η个比特所对应的信息比特。可W采用遍历Η个比特的8种可能性， 由于在发HARQ-ACK时检测错误的概率很小，为了实现的简单性，在进行对应比特选择的时 候只要遍历四种可能性进行最大似然选择，所谓的四种可能性及Η种信息比特满足Η者之 间关系的四种组合，分别表示为&^>和&32 D然后利用所检测的比特信息与提取出的对 应比特进行相乘，然后对相乘后的信息比特进行极性选择。
[0110] 上述方案Η中，对提取的信息比特进行分极性处理具体可根据不同的编码序列长 度进行选定。下面进行示例性的说明：
[0111] 从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特后，3比特或 者说大于2比特的情况下，由于HARQ-ACK采用的是RM编码，编码后的比特序列长度为32， 然后进行循环复制的方式衔接为编码要求的长度的比特序列。由于，采用Μ编码后，比特 序列的极性特点不像1比特和2比特的情况下满足一定的规律，单纯的对解扰后的比特信 息进行极性判断来进行DTX检测会出现误检的现象。由于RM编码的特点，在进行RM译码 之前的提取出来的比特信息的极性与Μ编码采用的基序列是有关的，因此，按照利用单极 性特点来判断是否为DTX存在一定的误检现象。所W优选的，针对3比特的极性判断，本实 施例可W采用如下思路进行判断：
[0112] 如果编码比特长度大于32,优选大于64时，利用32长度的RM编码比特信息的极 性与对应的复制比特信息的极性相同的特点进行DTX判断；具体操作可W采用针对32比特 长度的编码比特与其所有对应的所有复制比特信息进行极性判断，如果极性相同则存储判 断结果为1，否则存储判断结果为0。如此，对32个比特与其所有复制比特进行对比，然后 一一存储判断结果。最后，进行统计所有判断结果中判断1的个数与判断为0的个数之比 (应当理解的是也可W转换成判断为1的个数与总判断个数之比），或者统计判读为1的 所有对应的比特信息的能量总和与总能量之比得到第Η DTX检测值，然后用比值与对应的 第Η DTX检测阔值进行比较，如果大于第Η DTX检测阔值则认为非DTX，否则为DTX。
[0113] 如果编码比特长度小于32,则不能采用上述的方法进行极性判断，即便大于32且 小于64时，虽然也可W采用上述的方法进行DTX检测，但是由于样点较少，检测准确率会有 所降低，增加误检和漏检概率。所W，本实施例还提供了一种受编码长度限制的另一方法， 该方法在编码比特个数大于64的时候同样适用，具体如下；首先，对上述提取的解扰后的 比特信息进行重新排列，如果编码比特序列长度不满足32的整数倍，则在比特序列尾部补 零，且满足总长度为32的整数倍，即从第一个比特开始，连续32个比特为一列，依次按照 连续32个比特为一列进行排序；然后，所有列的每个比特信息和对应行的比特信息进行求 和，也就是编码后的32比特和所有对应的复制比特信息进行求和处理，当然可W不做求和 处理，按照其中的不存在补零的一列的比特信息进行下面的操作，优选进行求和处理；再然 后进行Μ译码处理，可W选择利用哈达马矩阵进行译码处理，选择其中绝对值最大的所对 应的译码过程得到的长度为32的序列作为最终提取出的用于进行DTX检测的编码比特；最 后，把如上32比特的序列输入到极性选择器，进行极性选择，按照两种极性的个数之比 或者幅值之比与对应的Π 限值进行判断，从判断得到是否为DTX。
[0114] 上述步骤205中，当判定上行终端传输了 HARQ-ACK信息是，本实施例中还可进一 步根据比特幅值和方向确定该上行终端具体是传输的是ACK还是NACK。
[0115] 另外，本实施例还可采用两种或者多种检测方法结合起来进行DTX检测，W综合 利用各方案的优点，规避各个方案各自的缺点所带来的影响，提高DTX的检测性能，降低漏 检和误检概率。此时在上述步骤202之前，还包括：
[0116] 判断当前是否满足采用极性判断方法检测DTX的条件，例如该可条件为判断 SNR(Si即al to Noise Ratio,信噪比）是否大于信噪比阔值Μ化，和/或TBsize是否小 于传输块大小阔值N，优选N = 144 ;如满足，再进行后续的步骤120,否则，可根据实际情况 选择其他的检测方法，例如，当SNR< = Μ地时，采用"SNR判决方法"或者其他检测方法进 行DTX检测。本实施例中也可W发送HARQ-ACK比特信息长度值等作为各种方法的激活判 决依据。
[0117] 实施例二：
[011引本实施例公开了一种DTX检测装置，请参见图3所示，包括信号接收模块、比特提 取模块、分极处理模块、计算模块W及判断模块，其中：
[0119] 信号接收模块用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0120] 比特提取模块用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；
[0121] 分极处理模块用于将提取的信息比特进行分极性处理；
[0122] 计算模块用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；
[0123] 判断模块用于将得到的DTX检测值与预设的DTX检测阔值进行比较，根据比较结 果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
[0124] 实施例中的比特提取模块根据其具体提取的比特信息的不同可W包含不同的子 模块。例如，对应上述实施例一中的方案一时，其具体包括原始比特提取子模块、校验比特 提取子模块；对应上述实施例一中的方案二时，其具体包括原始比特提取子模块、校验比特 提取子模块和占位比特提取子模块；对应上述实施例一中的方案Η时，其具体包括编码比 特提取子模块。具体的，各子模块的作用如下：
[01巧]原始比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特；
[0126] 校验比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的校验比特；
[0127] 占位比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的占位比特；
[0128] 编码比特提取子模块用于提取反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。
[0129] 对应上述实施例一中的方案一时，即比特提取模块包括原始比特提取子模块、校 验比特提取子模块时，计算模块包括第一检测值计算子模块；对应上述实施例一中的方案 二时，即比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子 模块时，计算模块包括第一检测值计算子模块和第二检测值计算子模块；对应上述实施例 一中的方案Η时，即比特提取模块包括编码比特提取子模块时，计算模块包括第Η检测值 计算子模块；
[0130] 第一检测值计算子模块用于根据原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到 的第一 DTX检测值，DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值；
[0131] 第二检测值计算子模块用于根据占位比特不同 极性的信息比特得到的第二检测 值，DTX检测阔值还包括第二DTX检测阔值；
[0132] 第Η检测值计算子模块用于根据编码比特不同极性的信息比特得到的第Η DTX 检测值，DTX检测阔值包括第Η DTX检测阔值；
[0133] 对应上述实施例一中的方案一时，即比特提取模块包括原始比特提取子模块、校 验比特提取子模块时，判断模块包括第一判断子模块，用于将所述第一 DTX检测值与所述 第一 DTX检测阔值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状 态；否则，判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0134] 对应上述实施例一中的方案二时，也即比特提取模块包括原始比特提取子模块、 校验比特提取子模块和占位比特提取子模块时，判断模块包括第一判断子模块和第二判断 子模块；第二判断子模块用于将第二DTX检测值与第二DTX检测阔值进行比较，如第二DTX 检测值大于第二DTX检测阔值，则表明上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即 上行终端处于非DTX状态；如第二DTX检测值小于第二DTX检测阔值，通知第一判断子模块 将第一 DTX检测值与第一 DTX检测阔值进行比较，如小于第一 DTX检测阔值，判定上行终端 处于DTX状态；否则，判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0135] 对应上述实施例一中的方案Η时，即比特提取模块包括编码比特提取子模块时， 判断模块包括第Η判断子模块，用于将所述第Η DTX检测值与所述第Η DTX检测阔值进行 比较，如小于所述第HDTX检测阔值，判定所述上行终端处于DTX状态；否则，判定该上行终 端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0136] 请参见图4所示，本实施例提供的DTX检测装置还可进一步包括策略选择模块， 用于在比特提取模块从反馈信号中提取信息比特之前，判断当前是否满足采用极性判断方 法检测DTX的条件，例如该可条件为判断SNR是否大于Μ化，和/或TBsize是否小于144 ; 如满足，再通知比特提取模块进行后续的步骤，否则，可根据预设的规则选择其他的检测方 法，例如，当SNR< = Μ地时，采用"SNR判决方法"或者其他检测方法进行DTX检巧IJ。本实施 例中也可W发送HARQ-ACK比特信息长度值等作为各种方法的激活判决依据。送样可采用 两种或者多种检测方法结合起来进行DTX检测，W综合利用各方案的优点，规避各个方案 各自的缺点所带来的影响，提高DTX的检测性能，降低漏检和误检概率。
[0137] 实施例H:
[0138] 本实施例提供了一种基站，请参见图5所示，包括信号接收器、极性选择器W及处 理器，其中：
[0139] 信号接收器用于接收上行终端发送的反馈信号；
[0140] 极性选择器用于提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息 比特进行分极性处理；
[0141] 处理器用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值，将DTX检测值与预设的DTX 检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态。
[0142] 本实施例中，提取的用于进行DTX检测的信息比特包括：反馈信号中HARQ-ACK信 息比特的原始比特、校验比特，或反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特和 占位比特，或反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。也即也可采用实施例一中的方案 一或方案二或方案H。
[0143] 当提取的信息比特包括原始比特和校验比特时，DTX检测值包括根据原始比特和 校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，对应的DTX检测阔值包括第一 DTX 检测阔值；此时处理器将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行终端 是否处于DTX状态包括；将得到的第一 DTX检测值与预设的第一 DTX检测阔值进行比较，女口 小于第一 DTX检测阔值，则判定该上行终端处于DTX状态；如果第一 DTX检测值大于预设的 第一 DTX检测阔值，则判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上行终端 处于非DTX状态。
[0144] 当提取的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，DTX检测值包括根据所 述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，W及根据占位比特不 同极性的信息比特得到的第二检测值，对应的，DTX检测阔值包括第一 DTX检测阔值和第二 DTX检测阔值。此时处理器将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行 终端是否处于DTX状态的过程包括：先将第二DTX检测值与第二DTX检测阔值进行比较，女口 第二DTX检测值大于第二DTX检测阔值，则表明上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX =0,也即上行终端处于非DTX状态；如第二DTX检测值小于第二DTX检测阔值，则再将第 一 DTX检测值与第一 DTX检测阔值进行比较，如第一 DTX检测值小于第一 DTX检测阔值，贝U 判定上行终端处于DTX状态；否则，判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0。
[0145] 当提取的信息比特的编码比特时，此时的DTX检测值包括根据提取的编码比特的 不同极性的信息比特得到的第Η DTX检测值，DTX检测阔值包括与该第Η DTX检测值对应 的第Η DTX检测阔值；此时将DTX检测值与DTX检测阔值进行比较，根据比较结果确定上行 终端是否处于DTX状态包括；将得到的第Η DTX检测值与预设的第Η DTX检测阔值进行比 较，如小于第Η DTX检测阔值，则判定该上行终端处于DTX状态；如果第Η DTX检测值大于 预设的第Η DTX检测阔值，则判定该上行终端传输了 HARQ-ACK信息，此时DTX = 0,也即上 行终端处于非DTX状态。
[0146] 本实施例中，第一 DTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0147] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能 量和的比值（A1);
[014引提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比 特的总幅值绝对值的比值（A2);
[0149] 提取的原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息 比特包含的总比特个数的比值（A3);
[0150] 对应的，第一 DTX检测阔值分别对应为第一 DTX能量检测阔值（All)、第一 DTX幅 值检测阔值（A22)或第一 DTX权重检测阔值（A33)。
[0151] 本实施例中，第二DTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0152] 提取的占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 度1);
[0153] 提取的占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值度2);
[0154] 提取的占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值度3);
[0155] 对应的，第二DTX检测阔值为第二DTX能量检测阔值度11)、第二DTX幅值检测阔 值度22)或第二DTX权重检测阔值度33)。
[0156] 本实施例中，第HDTX检测值也可W为W下几种检测值中的任意一种：
[0157] 提取的编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值 (C1)；
[015引提取的编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值（C2);
[0159] 提取的编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息比特包含的 总比特个数的比值（C3);
[0160] 对应的，第Η DTX检测阔值为第Η DTX能量检测阔值（C11)、第Η DTX幅值检测阔 值（C22)或第HDTX权重检测阔值（C33)。
[0161] 应当理解的是，当DTX检测过程涉及到第二DTX检测值和第二DTX检测阔值的比 较和第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值的比较时，具体可W采用上述不同类型的检测值 和检测阔值的任意组合。例如：第二DTX检测值和第二DTX检测阔值可W分别采用Β1和 Β11，或Β2和Β22,或Β3和Β33,第一 DTX检测值和第一 DTX检测阔值可W分别采用Α1和 Α11，或 Α2 和 Α22，或 A3 和 Α33。
[0162] 本实施例中，处理器还可用于在信号接收器接收到反馈信号后，极性选择器用于 提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特之前，判断当前是否满足采用极性判断方 法检测DTX的条件，例如该可条件为判断SNR是否大于Μ化，和/或TBsize是否小于144 ; 如满足，再通知比特提取模块进行后续的步骤，否则，可根据预设的规则选择其他的检测 方法，例如，当SNR< = Μ地时，采用"SNR判决方法"或者其他检测方法进行DTX检测。本实 施例中也可W发送HARQ-ACK比特信息长度值等作为各种方法的激活判决依据。送样可采 用两种或者多种检测方法结合起来进行DTX检测，W综合利用各方案的优点，规避各个方 案各自的缺点所带来的影响，提高DTX的检测性能，降低漏检和误检概率。
[0163] 实施例四：
[0164] 本实施例W HARQ-ACK复用在PUSCH上传输时，1比特和2比特的HARQ-ACK传输时 的DTX检测过程对本发明进行进一步的示例性说明。对于大于2比特的HARQ-ACK传输时， 其DTX检测过程与2比特的HARQ-ACK传输时的过程类似，在此不再赏述。具体实现步骤如 下：
[0165] 请参见图6所示，该图所示为复用1比特的HARQ-ACK检测流程示意图，具体包括：
[0166] 步骤601 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特，1 比特包括比特、y比特或比特、y比特、X比特两种方案；对于X比特主要是在16QAM 和64QAM调制方式下加入的占位符。因此，在此步骤操作的过程中，如果需要利用X比特， 按照其对应位置分别提取出off比特、y比特和X比特；如果不需要利用X比特信息，则按 照对应位置分别只提取出off比特、y比特。在本实施例的中不考虑采用X比特进行DTX 判决，假设提取出来的所有比特、y比特分别表示为;
[0167] 步骤602 ;把提取出来的信息原始比特（efK比特）和y比特极性选择器进行极 性选择；
[016引步骤603 ;把极性为正和极性为负的信息比特分别输入到对应的正负极性端；对 于1比特的HARQ-ACK，可直接利用提取的信息比特进行极性选择，然后分别输入到正极性 端和负极性端。
[0169] 步骤604;获取第一 DTX检测值，本实施例可W分别获取正、负极性信息比特的幅 值总和，然后计算两个之间的比值大小，选取两个值中的最大值作为第一 DTX检测值。对于 送一步骤也可W采用正、负极性的信息比特个数总和之比，并获取两个值中的最大值作为 第一 DTX检测值；
[0170] 步骤605 ;判断第一 DTX检测值是否大于对应的第一 DTX检测阔值，如是，转至步 骤606 ;否则，转至步骤607 ;
[017。 步骤606 ;判定发送了 HARQ-ACK，DTX = 0。此时还可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[0172] 步骤 607 ;判定没有发送 HARQ-ACK，DTX = 1。
[0173] 请参见图7所示，该图所示为复用2比特的HARQ-ACK检测流程示意图，具体包括：
[0174] 步骤701 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特， 2比特包括.Ofi 4α ofA'或者OqiCA 〇严：和X比特两种方案，对于X比特主要是在 16QAM和64QAM调制方式下加入的占位符。因此，在此步骤操作的过程中，如果需要利用X比 特，按照其对应位置分别提取出of*- Oi-wf off和X比特；如果不需要利用X比特信息，贝U 按照对应位置分别只提取出off o/fK off。在本实施例的中不考虑采用X比特进行DTX 判决，假设提取出来的所有分别表示为讀^和讀f ；
[0175] 步骤702 ;获取Η比特的对应比特；由于2比特的条件下，可能其中一流发ACK，也 就是发'1'，另外一流可能发NACK，也就是发'0'，或者两流都发ACK或者NACK，针对该 问题，需要进行对所提取的Η个比特的软信息进行检测。在进行检测的时候由于Η个信息 比特的组合有23种组合，但是满足off off off Η个信息比特关系的组合只有四种。在 进行信息比特的检测的时候可W采用最大似然的方法遍历23组合或者满足Η比特关系的 四种组合，考虑到实现的复杂度，另外在漏检时，能够正确检对的概率非常高，因此在进行 此操作的过程中，本实施例优先选择采用满足Η比特关系的四种组合进行检测，获取相关 性最高的组合，分别表示为義^;、爲.和％;
[0176] 步骤7〇3 ;对得到的〇。心。严Κ 〇2心'和續、為郝矣相乘并进行极性选择，為。、4 和与如表四所示，
[0177] 表四 [017 引
[0179] 所获取的為、為和秦分别有四种组合，考虑到利用获取的信息比特与对应的软信 息相乘的过程，如果获取的信息比特为"-1"，进行相乘后的操作后，所获取的比特的软信息 的极性发生改变，也就是原来时正极性的变为负极性，原来负极性的变为正极性；如果获取 的信息比特为"1"时，相乘后不改变原来软信息的极性。因此，利用送特点，如果所获取的 或比特为"1"时，则对应的软信息进行极性选择，把选择的正极性的信息比特输入到正 极端，负极性的信息输入到负极端；如果所获取的馬比特为"-1"时，则对应的软信息Oe'fK 进行极性选择；
[0180] 步骤704 ;把极性为正和极性为负的信息比特分别输入到对应的正负极性端；
[0181] 步骤705;获取第一 DTX检测值，本实施例可W分别获取正、负极性信息比特的幅 值总和，然后计算两个之间的比值大小，选取两个值中的最大值作为第一 DTX检测值。对于 送一步骤也可W采用正、负极性的信息比特个数总和之比，并获取两个值中的最大值作为 第一 DTX检测值；
[0182] 步骤706 ;判断第一 DTX检测值是否大于对应的第一 DTX检测阔值，如是，转至步 骤707 ;否则，转至步骤708 ;
[0183] 步骤707 ;判定发送了 HARQ-ACK，DTX = 0。此时还可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[0184] 步骤 708 ;判定没有发送 HARQ-ACK，DTX = 1。
[0185] 实施例五：
[0186] 本实施例W HARQ-ACK绑定在PUSCH上传输时，1比特和2比特的HARQ-ACK传输时 的DTX检测。对于大于2比特的HARQ-ACK传输时，其DTX检测过程与2比特的HARQ-ACK 传输时的过程类似，在此不再赏述。绑定模式与复用模式不同的是，在发端进行编码的时候 增加 Walsh序列进行加扰的过程，因此在进行解码的时候要增加解Walsh序列的过程。具 体实现步骤如下：
[0187] 请参见图8所示，该图所示为绑定在PUSCH上传输时，1比特的HARQ-ACK检测流程 示意图，具体包括：
[018引步骤801 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特，1 比特包括如α'比特、y比特或如比特、y比特、X比特两种方案；本实施例采用提取off比 特、y比特、X比特送种方案；
[0189] 步骤802 ;进行Walsh序列解扰处理，如果知道Walsh序列号时，直接利用该Walsh 序列对提取的软信息进行解Walsh操作；如果不知道Walsh序列号时，首先要获取Walsh 序列号，目前36. 212协议中定义了 4种Walsh序列，通常采用最大似然的方法获取Walsh 序列号，在此不做详述；假设解Walsh序列后1比特的off比特和y比特W及X比特分别 表示为〇1,、yj,或者Xs;
[0190] 步骤803 ;把解Walsh序列后获取的〇1,、yj,和X,输入到对应的极性选择器中；
[0191] 步骤804 ;把极性为正和和极性为负的信息比特分别输入到对应的极性端；需要 说明的是，在进行极性选择的时候，把X比特极性选择后的正极性和负极性软信息分别输 入到其独立的极性端；
[0192] 步骤805 ;获取第二DTX检测值和第一 DTX检测值；第二DTX检测值为X比特的极 端获取正负极性比特的幅值（功率）总和之比，或者是正负比特的个数总和之比，第一 DTX 检测值为非X比特（即原始比特和校验比特）极端的正负极性比特的幅值（功率）总和之 比或者正负比特的个数总和之比。在此实施例子中，选择第一 DTX检测值和第二DTX检测 值分别获取X比特极端的正负比特的个数总和之比非X比特极端的正负极性比特的幅值总 和之比；
[0193] 步骤806 ;进行DTX判断，具体为；首先将第二DTX检测值与对应的第二DTX检测 阔值进行比较，如果大于第二DTX检测阀值，转至步骤807 ;否则，再将第一 DTX检测值与第 一 DTX检测阔值进行比较，如果小于第一 DTX检测阀值，转至步骤808 ;否则转至步骤807 ;
[0194] 步骤807 ;判定发送了 HARQ-ACK，且DTX = 0 ;此时可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[0195] 步骤808 ;判断为没有发HARQ-ACK，且DTX = 1，也即处于DTX状态。
[0196] 请参见图9所示，该图所示为绑定在PUSCH上传输时，2比特的HARQ-ACK检测流程 示意图，具体包括：
[0197] 步骤901 ;从码字解扰后的软信息中提取出需要利用进行DTX检测的信息比特， 2比特包括off off 或者口。却〇严A-和X比特两种方案；本实施例采用提取 泡:Κ 人乂证 ACK in 、Λ*壬山个舍 〇扫 巧 瑪和X该种万柔；
[0198] 步骤902 ;进行Walsh序列解扰处理，如果知道Walsh序列号时，直接利用该Walsh 序列对提取的软信息进行解Walsh操作；如果不知道Walsh序列号时，首先要获取Walsh序 列号，目前36. 212协议中定义了 4种Walsh序列，通常采用最大似然的方法获取Walsh序 列号，在此不做详述；假设2比特的。.wa ^.4? 和X比特分别表示为續^和《if Uj 和Xs。需要说明的是如果在进行DTX检测时不需要利用X比特信息，则不需要对X比特进 行处理；在此实施例描述过程中考虑采用X比特信息进行DTX判决；
[0199] 步骤903 ;获取Η比特的对应比特；由于2比特的条件下，可能其中一流发ACK，也 就是发'1'，另外一流可能发NACK，也就是发'0'，或者两流都发ACK或者NACK，针对该 问题，需要进行对所提取的Η个比特的软信息进行检测。在进行检测的时候由于Η个信息 比特的组合有23种组合，但是满足个信息比特关系的组合只有四种。在 进行信息比特的检测的时候可W采用最大似然的方法遍历23组合或者满足Η比特关系的 四种组合，考虑到实现的复杂度，另外在漏检时，能够正确检对的概率非常高，因此在进行 此操作的过程中，本实施例优先选择采用满足Η比特关系的四种组合进行检测，获取相关 性最高的组合，分别表示为^^郝^， V X .3 矿》、. 泌S
[0200] 步骤904 ;把解Walsh序列后获取的鴻Γ、馬Γ和0；5&《和X,与提取出的对应比特 -去巧 进行相乘，然后对相乘后的信息比特进行极性选择；
[0201] 步骤905 ;把极性为正和和极性为负的信息比特分别输入到对应的极性端；需要 说明的是，在进行极性选择的时候，把X比特极性选择后的正极性和负极性软信息分别输 入到其独立的极性端；
[0202] 步骤906 ;获取第二DTX检测值和第一 DTX检测值；第二DTX检测值为X比特的极 端获取正负极性比特的幅值（功率）总和之比，或者是正负比特的个数总和之比，第一 DTX 检测值为非X比特（即原始比特和校验比特）极端的正负极性比特的幅值（功率）总和之 比或者正负比特的个数总和之比。在此实施例子中，选择第一 DTX检测值和第二DTX检测 值分别获取X比特极端的正负比特的个数总和之比非X比特极端的正负极性比特的幅值总 和之比；
[0203] 步骤907 ;进行DTX判断，具体为；首先将第二DTX检测值与对应的第二DTX检测 阔值进行比较，如果大于第二DTX检测阀值，转至步骤908 ;否则，再将第一 DTX检测值与第 一 DTX检测阔值进行比较，如果小于第一 DTX检测阀值，转至步骤909 ;否则转至步骤908 ;
[0204] 步骤908 ;判定发送了 HARQ-ACK，且DTX = 0 ;此时可进一步统计提取的每个码字 的信息比特，如果信息比特和小于0表示发送了 "ACK"，大于0表示发送了 "NACK"。
[020引步骤909 ;判断为没有发HARQ-ACK，且DTX = 1，也即处于DTX状态。
[0206] 可见，本发明提供的方案可利用信息比特的极性特点完成DTX检测，因此可大大 降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize条件下。
[0207] W上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发 明的具体实施只局限于送些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱 离本发明构思的前提下，还可W做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护 范围。
【主权项】
1. 一种DTX检测方法，其特征在于，包括： 接收上行终端发送的反馈信号； 提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特； 将提取的信息比特进行分极性处理； 根据不同极性的信息比特得到DTX检测值； 将所述DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端 是否处于DTX状态。2. 如权利要求1所述的DTX检测方法，其特征在于，当所述反馈信号中包含的 HARQ-ACK信息比特为小于等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反 馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特 的原始比特、校验比特和占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2 比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特。3. 如权利要求2所述的DTX检测方法，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比 特包括原始比特和校验比特时，或包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比 特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX 检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述DTX 检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，以 及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值和第二DTX检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述编 码比特不同极性的信息比特得到的第三DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第三DTX检测 阈值。4. 如权利要求3所述的DTX检测方法，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比特 包括原始比特和校验比特时，将所述DTX检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结 果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测 阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，将所述DTX 检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态 包括：将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阈值进行比较，如小于所述第二DTX检测 阈值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测 阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，将所述DTX检测值与所述DTX检 测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第三DTX 检测值与所述第三DT X检测阈值进行比较，如小于所述第三DTX检测阈值，判定所述上行终 端处于DTX状态。5. 如权利要求3或4所述的DTX检测方法，其特征在于，所述第一 DTX检测值为：所述 原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为 所述原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值 绝对值的比值，或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极 性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阈值为第一 DTX能量检测 阈值、第一 DTX幅值检测阈值或第一 DTX权重检测阈值； 所述第二DTX检测值为：所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阈值为第二DTX能量检测阈 值、第二DTX幅值检测阈值或第二DTX权重检测阈值； 所述第三DTX检测值为：所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第三DTX检测阈值为第三DTX能量检测阈 值、第三DTX幅值检测阈值或第三DTX权重检测阈值。6. 如权利要求2-4任一项所述的DTX检测方法，其特征在于，当所述反馈信号中包含的 HARQ-ACK信息比特为1比特时，所述原始比特为比特，所述校验比特为y比特，所述占 位比特为X比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为2比特时，所述原始比特 为4? ,所述校验比特为所述占位比特为X比特。7. 如权利要求1-4任一项所述的DTX检测方法，其特征在于，在提取该反馈信号中用于 进行DTX检测的信息比特之前,还包括； 判断当前是否满足采用极性判断方法检测DTX的条件；所述条件为判断信噪比是否大 于信噪比阈值M,和/或传输块大小是否小于传输块大小阈值N。8. -种DTX检测装置，其特征在于，包括信号接收模块、比特提取模块、分极处理模块、 计算模块以及判断模块； 所述信号接收模块用于接收上行终端发送的反馈信号； 所述比特提取模块用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特； 所述分极处理模块用于将提取的信息比特进行分极性处理； 所述计算模块用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值； 所述判断模块用于将所述DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果 确定所述上行终端是否处于DTX状态。9. 如权利要求8所述的DTX检测装置，其特征在于，所述比特提取模块包括原始比特提 取子模块、校验比特提取子模块；或包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位 比特提取子模块；或包括编码比特提取子模块； 所述原始比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比特； 所述校验比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的校验比特； 所述占位比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为小于等 于2比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的占位比特； 所述编码比特提取子模块用于当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2 比特时，提取所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的编码比特。10. 如权利要求9所述的DTX检测装置，其特征在于，所述比特提取模块包括原始比特 提取子模块、校验比特提取子模块时，所述计算模块包括第一检测值计算子模块；所述比特 提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子模块时，所述 计算模块包括第一检测值计算子模块和第二检测值计算子模块；所述比特提取模块包括编 码比特提取子模块时，所述计算模块包括第三检测值计算子模块； 所述第一检测值计算子模块用于根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特 得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值； 所述第二检测值计算子模块用于根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二 检测值，所述DTX检测阈值还包括第二DTX检测阈值； 所述第三检测值计算子模块用于根据所述编码比特不同极性的信息比特得到的第三 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第三DTX检测阈值。11. 如权利要求10所述的DTX检测装置，其特征在于，所述比特提取模块包括原始比特 提取子模块、校验比特提取子模块时，所述判断模块包括第一判断子模块，用于将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上 行终端处于DTX状态； 所述比特提取模块包括原始比特提取子模块、校验比特提取子模块和占位比特提取子 模块时，所述判断模块包括第一判断子模块和第二判断子模块；所述第二判断子模块用于 将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阈值进行比较，如小于所述第二DTX检测阈值， 通知所述第一判断子模块将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小 于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述比特提取模块包括编码比特提取子模块时，所述判断模块包括第三判断子模块， 用于将所述第三DTX检测值与所述第三DTX检测阈值进行比较，如小于所述第三DTX检测 阈值，判定所述上行终端处于DTX状态。12. 如权利要求10或11所述的DTX检测装置，其特征在于，所述第一 DTX检测值为： 所述原始比特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值， 或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总 幅值绝对值的比值，或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与 负极性信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阈值为第一 DTX能量 检测阈值、第一 DTX幅值检测阈值或第一 DTX权重检测阈值； 所述第二DTX检测值为：所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阈值为第二DTX能量检测阈 值、第二DTX幅值检测阈值或第二DTX权重检测阈值； 所述第三DTX检测值为：所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第三DTX检测阈值为第三DTX能量检测阈 值、第三DTX幅值检测阈值或第三DTX权重检测阈值。13. -种基站，其特征在于，包括信号接收器、极性选择器以及处理器；所述信号接收 器用于接收上行终端发送的反馈信号； 所述极性选择器用于提取所述反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信 息比特进行分极性处理； 所述处理器用于根据不同极性的信息比特得到DTX检测值，将所述DTX检测值与预设 的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。14. 如权利要求13所述的基站，其特征在于，当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信 息比特为小于等于2比特时，所述用于进行DTX检测的信息比特包括：所述反馈信号中 HARQ-ACK信息比特的原始比特、校验比特，或所述反馈信号中HARQ-ACK信息比特的原始比 特、校验比特和占位比特；当所述反馈信号中包含的HARQ-ACK信息比特为大于2比特时，所 述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特。15. 如权利要求14所述的基站，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原 始比特和校验比特时，所述DTX检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息 比特得到的第一 DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述DTX 检测值包括根据所述原始比特和校验比特不同极性的信息比特得到的第一 DTX检测值，以 及根据所述占位比特不同极性的信息比特得到的第二检测值，所述DTX检测阈值包括第一 DTX检测阈值和第二DTX检测阈值； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述DTX检测值包括根据所述编 码比特不同极性的信息比特得到的第三DTX检测值，所述DTX检测阈值包括第三DTX检测 阈值。16. 如权利要求15所述的基站，其特征在于，所述用于进行DTX检测的信息比特包括原 始比特和校验比特时，所述处理器将所述DTX检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比 较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX 检测阈值进行比较，如小于所述第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括原始比特、校验比特和占位比特时，所述处理 器将所述DTX检测值与所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否 处于DTX状态包括：将所述第二DTX检测值与所述第二DTX检测阈值进行比较，如小于所述 第二DTX检测阈值，将所述第一 DTX检测值与所述第一 DTX检测阈值进行比较，如小于所述 第一 DTX检测阈值，判定所述上行终端处于DTX状态； 所述用于进行DTX检测的信息比特包括编码比特时，所述处理器将所述DTX检测值与 所述DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态包括：将所 述第三DTX检测值与所述第三DTX检测阈值进行比较，如小于所述第三DTX检测阈值，判定 所述上行终端处于DTX状态。17. 如权利要求15或16所述的基站，其特征在于，所述第一DTX检测值为：所述原始比 特和校验比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特的能量和的比值，或为所述原 始比特和校验比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特的总幅值绝对值 的比值，或为所述原始比特和校验比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性信息 比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第一 DTX检测阈值为第一 DTX能量检测阈值、 第一 DTX幅值检测阈值或第一 DTX权重检测阈值； 所述第二DTX检测值为：所述占位比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述占位比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第二DTX检测阈值为第二DTX能量检测阈 值、第二DTX幅值检测阈值或第二DTX权重检测阈值； 所述第三DTX检测值为：所述编码比特的正极性信息比特的能量和与负极性信息比特 的能量和的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特的总幅值绝对值与负极性信息比特 的总幅值绝对值的比值，或为所述编码比特的正极性信息比特包含的总比特个数与负极性 信息比特包含的总比特个数的比值；对应的，所述第三DTX检测阈值为第三DTX能量检测阈 值、第三DTX幅值检测阈值或第三DTX权重检测阈值。
【专利摘要】本发明公开了一种DTX检测方法、装置及基站，从上行终端发送的反馈信号中提取用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息比特进行分极性处理；进而根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；将该DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态。也即，本发明提供的方案利用信息比特的极性特点完成DTX检测，可大大降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize条件下。
【IPC分类】H04W24/02, H04L1/18
【公开号】CN105491591
【申请号】CN201410475510
【发明人】魏继东
【申请人】中兴通讯股份有限公司
【公开日】2016年4月13日
【申请日】2014年9月17日
【公告号】WO2015154573A1
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