检测电路、方法和像素电路的制作方法

检测电路、方法和像素电路的制作方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测电路、方法和像素电路。
【背景技术】
[0002]随着显示技术的发展，有机发光二极管(Organic Light-Emitting D1de，OLED)显示装置的应用越来越广泛。OLED显示装置可包括多个像素和用于驱动像素的像素驱动电路，其中，每个像素均包括0LED，像素驱动电路可包薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称:TFT)和电容。
[0003]在OLED显示装置中，由于每个像素对应的TFT的阈值电压Vth、迀移率、寄生电容和沟道宽度/长度等特定因素是不同的，因此OLED显示装置在显示时会产生亮度不均匀的问题。为解决上述问题，可采用数据补偿的方法对该OLED显示装置进行数据补偿，例如:通过外部补偿电路对OLED显示装置中的TFT进行数据补偿。在对TFT进行数据补偿之前，需要对OLED显示装置中的TFT的特性参数进行检测。
[0004]但是，现有技术中仅存在能够对TFT的工艺参数进行检测的电路，还没有一种既能够对TFT的特性参数进行检测又能够对OLED的特性参数进行检测的电路。

【发明内容】

[0005]本发明提供一种检测电路、方法和像素电路，用于实现既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。
[0006]为实现上述目的，本发明提供了一种检测电路，包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接。
[0007]可选地，所述第一检测模块包括:第一开关管、第二开关管、第三开关管和存储电容，所述驱动模块包括驱动管；
[0008]所述第一开关管的控制极连接至第一控制线，所述第一开关管的第一极连接至数据线和负载模块，所述第一开关管的第二极连接至第三开关管的第二极和存储电容的第一端；
[0009]所述第二开关管的控制极连接至第二控制线，所述第二开关管的第一极连接至基准电源，所述第二开关管的第二极连接至驱动管的控制极和存储电容的第二端；
[0010]所述第三开关管的控制极连接至第三控制线，所述第三开关管的第一极连接至第一电源，所述第三开关管的第二极连接至驱动管的第一极和存储电容的第一端；
[0011]所述驱动管的控制极连接至存储电容的第二端，所述驱动管的第二极连接至发光器件的第一电极。
[0012]可选地，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极。
[0013]可选地，所述发光器件的第二电极连接至第二电源。
[0014]可选地，所述负载模块包括负载电容。
[0015]可选地，所述驱动模块的特性参数包括阈值电压或者电子迀移率；
[0016]所述负载模块的特性参数包括阈值电压或者电子迀移率。
[0017]为实现上述目的，本发明提供了一种像素电路，包括上述检测电路和像素补偿电路；
[0018]所述像素补偿电路用于根据所述驱动模块的特性参数对所述驱动模块进行补偿以及根据所述发光器件的特性参数对发光器件进行补偿。
[0019]为实现上述目的，本发明提供了一种检测方法，所述方法基于检测电路，所述检测电路包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接；
[0020]所述方法包括:
[0021]在预充电阶段，数据线向负载模块提供预充电电压；
[0022]在第一检测阶段，负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电，以检测出驱动模块的特性参数；
[0023]在第二检测阶段，负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电，以检测出发光器件的特性参数。
[0024]可选地，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极；
[0025]所述负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电包括:
[0026]所述第四开关管开启，负载模块通过第四开关管和发光器件进行放电。
[0027]可选地，所述负载模块包括负载电容。
[0028]可选地，所述驱动模块包括驱动管。
[0029]本发明具有以下有益效果:
[0030]本发明提供的检测电路、方法和像素电路的技术方案中，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接，从而使得本发明既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。
【附图说明】
[0031]图1为本发明实施例一提供的一种检测电路的结构示意图；
[0032]图2为本发明实施例二提供的一种检测电路的结构示意图；
[0033]图3为实施例二中检测电路处于预充电阶段的等效电路图；
[0034]图4为实施例二中检测电路处于第一检测阶段的等效电路图；
[0035]图5为实施例二中检测电路处于第二检测阶段的等效电路图。
【具体实施方式】
[0036]为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的检测电路、方法和像素电路进行详细描述。
[0037]图1为本发明实施例一提供的一种检测电路的结构示意图，如图1所示，该检测电路包括该检测电路包括:第一检测模块11、第二检测模块12、负载模块13、发光器件14和驱动模块15，第一检测模块11和驱动模块15以及负载模块13连接，第二检测模块12和发光器件14以及负载模块13连接。
[0038]在预充电阶段，数据线DL向负载模块13提供预充电电压；在第一检测阶段，负载模块13通过第一检测模块11和驱动模块15进行放电，以检测出驱动模块15的特性参数；在第二检测阶段，负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以检测出发光器件14的特性参数。
[0039]本实施例中，驱动模块15的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则负载模块13通过第一检测模块11、驱动模块15和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出驱动模块15的特性参数。
[0040]本实施例中，负载模块13的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出发光器件14的特性参数。
[0041]本实施例提供的检测电路中，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接，驱动模块和发光器件连接，从而使得本实施例既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。本实施例中采用数据线作为检测线，将数据线和检测线的功能合并，无需再单独设置检测线，从而降低了电路复杂度和制造成本。
[0042]图2为本发明实施例二提供的一种检测电路的结构示意图，如图2所示，该检测电路包括:第一检测模块11、第二检测模块12、负载模块13、发光器件14和驱动模块15，第一检测模块11和驱动模块15以及负载模块13连接，第二检测模块12和发光器件14以及负载模块13连接。在预充电阶段，数据线DL向负载模块13提供预充电电压；在第一检测阶段，负载模块13通过第一检测模块11和驱动模块15进行放电，以检测出驱动模块15的特性参数；在第二检测阶段，负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以检测出发光器件14的特性参数。
[0043]进一步地，驱动模块15还和发光器件14连接。
[0044]本实施例中，驱动模块15的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则驱动模块15通过第一检测模块11、驱动模块15和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出驱动模块15的特性参数。
[0045]本实施例中，负载模块13的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出发光器件14的特性参数。
[0046]本实施例中，第一检测模块11包括:第一开关管Tl、第二开关管T2、第三开关管T3和存储电容Cst，所述驱动模块15包括驱动管DrT。第一开关管Tl的控制极连接至第一控制线G1，第一开关管Tl的第一极连接至数据线DL和负载模块13，第一开关管Tl的第二极连接至第三开关管T3的第二极和存储电容Cst的第一端；第二开关管T2的控制极连接至第二控制线G2，第二开关管T2的第一极连接至基准电源Ref，第二开关管T2的第二极连接至驱动管DrT的控制极和存储电容Cst的第二端；第三开关管T3的控制极连接至第三控制线G3，第三开关管T3的第一极连接至第一电源Vdd，第三开关管T3的第二极连接至驱动管DrT的第一极和存储电容Cst的第一端；驱动管DrT的控制极连接至存储电容Cst的第二端，驱动管DrT的第二极连接至发光器件14的第一电极。
[0047]本实施例中，第二检测模块12包括第四开关管T4，第四开关管T4的控制极连接至第四控制线G4，第四开关管T4的第一极连接至数据线DL和负载模块13的第一端，第四开关管T4的第二极连接至发光器件14的第一电极。在预充电阶段，第四开关管T4关闭；在第一检测阶段，第四开关管T4关闭；在第二检测阶段，第四开关管T4开启，负载模块14通过第四开关管T4和发光器件14进行放电，以检测出发光器件14的特性参数。
[0048]本实施例中，发光器件14的第二电极连接至第二电源Vss。例如:第一电极为阳极，第二电极为阴极。
[0049]本实施例中，负载模块13的第二端接地或者连接至电压电源线，该电压电源线为一稳定电压电源线。负载模块13包括负载电容Cload。
[0050]本实施例中，发光器件14包括OLED ;第一开关管Tl、第一开关管T2、第三开关管T3、第四开关管T4和驱动管DrT均为TFT。本实施例中，优选地，驱动管DrT为P型TFT。
[0051]下面通过图3至图5对本实施例提供的检测电路的工作原理进行详细描述。< br>[0052]图3为实施例二中检测电路处于预充电阶段的等效电路图，如图2所示，预充电阶段，第一控制线Gl向第一开关管Tl输出第一控制信号以使第一开关管Tl关闭，此时第一控制信号为低电平；第二控制线G2向第二开关管T2输出第二控制信号以使第二开关管T2关闭，此时第二控制信号为低电平；第三控制线G3向第三开关管T3输出第三控制信号以使第三开关管T3关闭，此时第三控制信号为低电平；第四控制线G4向第四开关管T4输出第四控制信号以使第四开关管T4关闭，此时第四控制信号为低电平。数据线DL向负载电容Cload提供预充电电压Vpre以向负载电容Cload充电。则该负载电容Cload可维持数据线DL上的预充电电压Vpre。
[0053]图4为实施例二中检测电路处于第一检测阶段的等效电路图，如图3所示，在第一检测阶段，第一控制线Gl向第一开关管Tl输出第一控制信号以使第一开关管Tl开启，此时第一控制信号为高电平；第二控制线G2向第二开关管T2输出第二控制信号以使第二开关管T2开启，此时第二控制信号为高电平；第三控制线G3向第三开关管T3输出第三控制信号以使第三开关管T3关闭，此时第三控制信号为低电平；第四控制线G4向第四开关管T4输出第四控制信号以使第四开关管T4关闭，此时第四控制信号为低电平。第一开关管Tl开启时，数据线DL向存储电容Cst的第一端提供预充电电压Vpre以向存储电容Cst充电，此时，存储电容Cst的第一端的电压为Vpre ;第二开关管T2开启时，基准电源Ref向存储电容Cst的第二端提供基准电压Vref以向存储电容Cst充电，此时，存储电容Cst的第二端的电压为Vref。由于存储电容Cst两端的电压差Vpre-Vref大于驱动管DrT的阈值电压Vth，因此驱动管DrT被驱动。此时负载电容Cload通过第一开关管Tl、驱动管DrT和OLED进行放电，直至存储电容Cst两端的电压差等于驱动管DrT的阈值电压Vth为止，以检测出驱动管DrT的特性参数。具体地，当存储电容Cst两端的电压差等于驱动管DrT的阈值电压Vth时，外部检测电路测量出数据线DL上的感测电压VI，该感测电压Vl为Cst第一端的电压，由于Cst第二端的电压为基准电压Vref，因此外部检测电路计算出驱动管DrT的阈值电压为Vl-Vref ;并且外部检测电路可根据感测电压Vl计算出驱动管DrT的其它特性参数，例如:电子迀移率。
[0054]图5为实施例二中检测电路处于第二检测阶段的等效电路图，如图4所示，在第二检测阶段，第一控制线Gl向第一开关管Tl输出第一控制信号以使第一开关管Tl关闭，此时第一控制信号为低电平；第二控制线G2向第二开关管T2输出第二控制信号以使第二开关管T2关闭，此时第二控制信号为低电平；第三控制线G3向第三开关管T3输出第三控制信号以使第三开关管T3关闭，此时第三控制信号为低电平；第四控制线G4向第四开关管T4输出第四控制信号以使第四开关管T4开启，此时第四控制信号为高电平。第四开关管T4开启后，负载电容Cload通过第四开关管T4和OLED进行放电，以检测出OLED的特性参数。具体地，当负载电容Cload通过第四开关管T4和OLED进行放电时，外部检测电路测量出数据线DL上的感测电压或者感测电流，并根据该感测电压或者感测电流计算出OLED的特性参数。而后，通过分析不同像素的OLED的特性参数的差异可评估出均一性。
[0055]本实施例提供的检测电路中，在第一检测阶段负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电以检测出驱动模块的特性参数，在第二检测阶段负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电以检测出发光器件的特性参数，从而使得本实施例既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。本实施例中采用数据线作为检测线，将数据线和检测线的功能合并，无需再单独设置检测线，从而降低了电路复杂度和制造成本。
[0056]本发明实施例三提供了一种像素电路，该像素电路包括检测电路和像素补偿电路。检测电路可采用上述实施例一提供的检测电路，此处不再具体描述。
[0057]其中，像素补偿电路用于根据驱动模块的特性参数对驱动模块进行补偿以及根据发光器件的特性参数对发光器件进行补偿。
[0058]本实施例提供的像素电路中，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接，从而使得本实施例既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。本实施例中采用数据线作为检测线，将数据线和检测线的功能合并，无需再单独设置检测线，从而降低了电路复杂度和制造成本。
[0059]本发明实施例四提供了一种检测方法，该方法基于检测电路，检测电路包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接；
[0060]该方法包括:
[0061]步骤101、在预充电阶段，数据线向负载模块提供预充电电压；
[0062]步骤102、在第一检测阶段，负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电，以检测出驱动模块的特性参数；
[0063]步骤103、在第二检测阶段，负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电，以检测出发光器件的特性参数。
[0064]本实施例中，第二检测模块包括第四开关管，第四开关管的控制极连接至第四控制线，第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极。则步骤103包括:
[0065]所述第四开关管开启，负载模块通过第四开关管和发光器件进行放电。
[0066]本实施例中，负载模块包括负载电容；驱动模块包括驱动管。
[0067]本实施例提供的检测方法可通过上述实施例一或者实施例二提供的检测电路实现，对检测电路的具体描述可参见上述实施例一或者实施例二，此处不再赘述。
[0068]本实施例提供的检测方法中，在第一检测阶段负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电以检测出驱动模块的特性参数，在第二检测阶段负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电以检测出发光器件的特性参数，从而使得本实施例既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。本实施例中采用数据线作为检测线，将数据线和检测线的功能合并，无需再单独设置检测线，从而降低了电路复杂度和制造成本。
[0069]可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种检测电路，其特征在于，包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一检测模块包括:第一开关管、第二开关管、第三开关管和存储电容，所述驱动模块包括驱动管； 所述第一开关管的控制极连接至第一控制线，所述第一开关管的第一极连接至数据线和负载模块，所述第一开关管的第二极连接至第三开关管的第二极和存储电容的第一端； 所述第二开关管的控制极连接至第二控制线，所述第二开关管的第一极连接至基准电源，所述第二开关管的第二极连接至驱动管的控制极和存储电容的第二端； 所述第三开关管的控制极连接至第三控制线，所述第三开关管的第一极连接至第一电源，所述第三开关管的第二极连接至驱动管的第一极和存储电容的第一端； 所述驱动管的控制极连接至存储电容的第二端，所述驱动管的第二极连接至发光器件的第一电极。3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极。4.根据权利要求2或3所述的检测电路，其特征在于，所述发光器件的第二电极连接至第二电源。5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述负载模块包括负载电容。6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述驱动模块的特性参数包括阈值电压或者电子迀移率； 所述负载模块的特性参数包括阈值电压或者电子迀移率。7.一种像素电路，其特征在于，包括检测电路和像素补偿电路，所述检测电路采用权利要求I至6任一所述的检测电路； 所述像素补偿电路用于根据所述驱动模块的特性参数对所述驱动模块进行补偿以及根据所述发光器件的特性参数对发光器件进行补偿。8.一种检测方法，其特征在于，所述方法基于检测电路，所述检测电路包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接； 所述方法包括: 在预充电阶段，数据线向负载模块提供预充电电压； 在第一检测阶段，负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电，以检测出驱动模块的特性参数； 在第二检测阶段，负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电，以检测出发光器件的特性参数。9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极； 所述负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电包括:所述第四开关管开启，负载模块通过第四开关管和发光器件进行放电。10.根据权利要求8或9所述的检测方法，其特征在于，所述负载模块包括负载电容。11.根据权利要求8或9所述的检测方法，其特征在于，所述驱动模块包括驱动管。
【专利摘要】本发明公开了一种检测电路、方法和像素电路。该检测电路包括第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接。本发明中既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。
【IPC分类】G09G3/32
【公开号】CN104882100
【申请号】CN201510370182
【发明人】李永谦, 王龙彦, 盖翠丽
【申请人】京东方科技集团股份有限公司
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2015年6月29日