Ai仪表的过零触发模块的制作方法
Ai仪表的过零触发模块的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种AI仪表的过零触发模块，接于AI仪表的控制芯片，包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测；控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发。其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。本实用新型的电路结构简单，不仅降低成本，还简化了整个AI仪表的电路结构，提高了可靠性。
【专利说明】Al仪表的过零触发模块
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及工业用自动化仪表，具体涉及Al (人工智能)仪表的过零触发模块。
【背景技术】
[0002]目前，Al(人工智能)仪表广泛应用于工业自动化，是由于其不可比拟的特点和优势，举例如下:(I)精度高:利用内装的微处理器，能够实时测量出静压、温度变化对检测元件的影响，通过数据处理，对非线性进行校正，对滞后及复现性进行补偿，使得输出信号更精确。一般情况，精度为最大量程的±0.1%，数字信号可达±0.075%。(2)功能强:具有多种复杂的运算功能，依赖内部微处理器和存储器，可以执行开方、温度压力补偿及各种复杂的运算。(3)测量范围宽:量程比可达40:1或100:1，迁移量可达1900%和-200%。(4)通信功能强:具有模拟量和数字量两种输出方式(如HART协议)，为实现现场总线通讯奠定了基础。(5)完善的自诊断功能:通过通信器可以查出Al仪表自诊断的故障结果信肩、O
[0003]目前，现有的Al仪表的过零触发模块，一般采用机械触点开关实现触发，该种过零触发模块容易造成触点烧毁，且对电路的冲击大，对负荷的适应范围较小，严重时造成设备烧损，影响整个Al仪表的使用寿命。
实用新型内容
[0004]因此，针对上述的问题，本实用新型提出一种新型的Al仪表的过零触发模块，采用可控硅和光耦结合，使用低压、弱电流触发，避免采用机械触点开关而导致的一系列问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是，一种Al仪表的过零触发模块，接于Al仪表的控制芯片，包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测；控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发。其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。
[0006]进一步的，所述滤波单元包括电容Cl，所述限流单元包括电阻R1，所述光耦隔离单元包括光电耦合器IC1，所述过流保护单元包括串联连接的第一电阻R12和第二电阻R13。
[0007]在某些场合，需要直接触发三相可控硅的，可采用三路相同电路结构的限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元实现。
[0008]本实用新型通过采用上述电路，通过可控硅无触点开关和光电耦合器配合，与现有技术相比，使用低压、弱电流触发，避免采用机械触点开关而导致的一系列问题，真正实现“烧不坏”的特性。另外，本实用新型的电路结构简单，不仅降低成本，还简化了整个Al仪表的电路结构，提高了可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的过零触发模块的电路框图；
[0010]图2为本实用新型的实施例的电路原理图。
【具体实施方式】
[0011]现结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。
[0012]本实用新型所采用的技术方案是，参照图1，一种Al仪表的过零触发模块，接于Al仪表的控制芯片，包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测；控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发。其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。
[0013]在某些场合，需要直接触发三相可控硅的，可采用三路相同电路结构的限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元实现。本实施例给出一种三路过零触发模块，参照图2，该过零触发电路包括电容Cl、电阻Rl、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、光电耦合器ICl、光电耦合器IC2、光电耦合器IC3、可控硅BCR1、可控硅BCR2和可控硅BCR3。其中，电容Cl作为滤波单元，电阻Rl作为限流单元。上述电路结构包括三路的相同电路结构的光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，例如其中一路，光电耦合器IC3、电阻R4、可控硅BCR3和电阻R12和电阻R13,光电稱合器IC3作为光稱隔离单兀,用于光电隔离，并控制可控娃BCR3的通断，电阻R4用于限流，可控硅BCR3作为无触点开关，电阻R12和电阻R13均为热敏电阻，作为过流保护单元，用于过流保护。
[0014]本实用新型通过采用上述电路，通过可控硅无触点开关和光电耦合器配合，使用低压、弱电流触发，避免现有技术中采用机械触点开关而导致的一系列问题，真正实现“烧不坏”的特性。另外，本实用新型的电路结构简单，不仅降低成本，还简化了整个Al仪表的电路结构，提高了可靠性。
[0015]尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种Al仪表的过零触发模块，接于Al仪表的控制芯片，其特征在于:包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测，控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发；其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。
2.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述滤波单元包括电容Cl。
3.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述限流单元包括电阻R1。
4.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述光耦隔离单元包括光电耦合器。
5.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述过流保护单元包括串联连接的第一电阻R12和第二电阻R13。
【文档编号】H03K17/72GK203537355SQ201320617477
【公开日】2014年4月9日 申请日期:2013年10月9日 优先权日:2013年10月9日
【发明者】周宇 申请人:厦门宇电自动化科技有限公司
【专利摘要】本实用新型公开一种AI仪表的过零触发模块，接于AI仪表的控制芯片，包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测；控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发。其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。本实用新型的电路结构简单，不仅降低成本，还简化了整个AI仪表的电路结构，提高了可靠性。
【专利说明】Al仪表的过零触发模块
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及工业用自动化仪表，具体涉及Al (人工智能)仪表的过零触发模块。
【背景技术】
[0002]目前，Al(人工智能)仪表广泛应用于工业自动化，是由于其不可比拟的特点和优势，举例如下:(I)精度高:利用内装的微处理器，能够实时测量出静压、温度变化对检测元件的影响，通过数据处理，对非线性进行校正，对滞后及复现性进行补偿，使得输出信号更精确。一般情况，精度为最大量程的±0.1%，数字信号可达±0.075%。(2)功能强:具有多种复杂的运算功能，依赖内部微处理器和存储器，可以执行开方、温度压力补偿及各种复杂的运算。(3)测量范围宽:量程比可达40:1或100:1，迁移量可达1900%和-200%。(4)通信功能强:具有模拟量和数字量两种输出方式(如HART协议)，为实现现场总线通讯奠定了基础。(5)完善的自诊断功能:通过通信器可以查出Al仪表自诊断的故障结果信肩、O
[0003]目前，现有的Al仪表的过零触发模块，一般采用机械触点开关实现触发，该种过零触发模块容易造成触点烧毁，且对电路的冲击大，对负荷的适应范围较小，严重时造成设备烧损，影响整个Al仪表的使用寿命。
实用新型内容
[0004]因此，针对上述的问题，本实用新型提出一种新型的Al仪表的过零触发模块，采用可控硅和光耦结合，使用低压、弱电流触发，避免采用机械触点开关而导致的一系列问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是，一种Al仪表的过零触发模块，接于Al仪表的控制芯片，包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测；控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发。其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。
[0006]进一步的，所述滤波单元包括电容Cl，所述限流单元包括电阻R1，所述光耦隔离单元包括光电耦合器IC1，所述过流保护单元包括串联连接的第一电阻R12和第二电阻R13。
[0007]在某些场合，需要直接触发三相可控硅的，可采用三路相同电路结构的限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元实现。
[0008]本实用新型通过采用上述电路，通过可控硅无触点开关和光电耦合器配合，与现有技术相比，使用低压、弱电流触发，避免采用机械触点开关而导致的一系列问题，真正实现“烧不坏”的特性。另外，本实用新型的电路结构简单，不仅降低成本，还简化了整个Al仪表的电路结构，提高了可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的过零触发模块的电路框图；
[0010]图2为本实用新型的实施例的电路原理图。
【具体实施方式】
[0011]现结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。
[0012]本实用新型所采用的技术方案是，参照图1，一种Al仪表的过零触发模块，接于Al仪表的控制芯片，包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测；控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发。其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。
[0013]在某些场合，需要直接触发三相可控硅的，可采用三路相同电路结构的限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元实现。本实施例给出一种三路过零触发模块，参照图2，该过零触发电路包括电容Cl、电阻Rl、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、光电耦合器ICl、光电耦合器IC2、光电耦合器IC3、可控硅BCR1、可控硅BCR2和可控硅BCR3。其中，电容Cl作为滤波单元，电阻Rl作为限流单元。上述电路结构包括三路的相同电路结构的光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，例如其中一路，光电耦合器IC3、电阻R4、可控硅BCR3和电阻R12和电阻R13,光电稱合器IC3作为光稱隔离单兀,用于光电隔离，并控制可控娃BCR3的通断，电阻R4用于限流，可控硅BCR3作为无触点开关，电阻R12和电阻R13均为热敏电阻，作为过流保护单元，用于过流保护。
[0014]本实用新型通过采用上述电路，通过可控硅无触点开关和光电耦合器配合，使用低压、弱电流触发，避免现有技术中采用机械触点开关而导致的一系列问题，真正实现“烧不坏”的特性。另外，本实用新型的电路结构简单，不仅降低成本，还简化了整个Al仪表的电路结构，提高了可靠性。
[0015]尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种Al仪表的过零触发模块，接于Al仪表的控制芯片，其特征在于:包括过零检测电路和过零触发电路，过零检测电路、控制芯片和过零触发电路顺次电连接，过零检测电路对电路产生的过零信号进行检测，控制芯片将过零信号生成过零脉冲信号并触发过零触发电路实现过零触发；其中，所述过零触发电路包括限流单元、滤波单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元，滤波单元和限流单元与控制芯片电连接，限流单元、光耦隔离单元、可控硅无触点开关和过流保护单元顺次电连接。
2.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述滤波单元包括电容Cl。
3.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述限流单元包括电阻R1。
4.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述光耦隔离单元包括光电耦合器。
5.根据权利要求1所述的过零触发模块，其特征在于:所述过流保护单元包括串联连接的第一电阻R12和第二电阻R13。
【文档编号】H03K17/72GK203537355SQ201320617477
【公开日】2014年4月9日 申请日期:2013年10月9日 优先权日:2013年10月9日
【发明者】周宇 申请人:厦门宇电自动化科技有限公司
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