一种转接测试座的制作方法
专利名称：一种转接测试座的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子行业上的转接测试座，尤指是指一种测试电 路板的转接测试座，具体涉及一种电脑内存条转接测试座。
背景技术：
随着经济日益发展及电子产品的广泛应用，电子产品市场曰显成 熟和绝对量化，对各种具有特定功能的电子组件如电脑内存条的需求 也同样绝对巨增，这必然使电子组件生产商及其代工厂在经营各自品 牌的同时，也必须考虑直接的生产测试成本问题。以往各类生产商或 其代工厂他们会对其所生产的电子组件进行测试，以电脑内存条的测
试为例，其测试技术发展过程有两个阶段过程
第一过程为用电脑主机板上内存插槽由四排焊PIN通过治具压 合成两排焊PIN,然后再焊接转接PCB进行测试，这种普通内存转接 测试卡插槽其弹簧触片采用的是黄铜材质，弹簧触片上的端子较小； 当测试时内存条记忆体垂直插入内存转接测试槽的卡插槽内时，弹簧 触片上的端子往外张开夹住金手指，因存在不停的插拔测试卡插槽内 的金属弹簧触片上的端子，易损坏或插跪，出现信号衰减或接触不良 等问题；在测试时寿命特别短，仅为400次左右。后来，也有改成柔 韧较好的磷铜弹簧触片，但寿命只在1000次以内，还有一个最重要 的缺陷是它釆用垂直插拔的面磨擦原理进行测试，所带来的 一个严重 的技术瓶颈，是根本上解决不了因垂直插拔而产生的内存条记忆体金 手指与弹簧触片上的端子产生面磨擦带来的严重磨损、刮痕，甚至金 手指存放时间过长因镀金层刮损发生氧化现象，从而影响到销售品 质，另一个缺陷是因需要用手用力抓握内存条做垂直插拔测试，不可 避免的会造成内存条记忆体上小元件的不小心碰掉而重工返修。
第二个过程是2006年5月31日公开的中国专利 ZL200510090361. 0,提供了 一种内存条记忆体测试产品，它的方案虽然提高插拔的测试寿命，但这还是靠内存条记忆体卡插槽的金属弹片 上的端子挤压来测试，仍然产生了金属弹片上的端子与内存条记忆体 金手指严重的面磨擦，根本上改变不了金手指外观损坏、刮痕、氧化问题。
发明内容
为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种转接测试座，可以 从根本上解决其测试寿命和金手指外观的完好度两方面的问题，从而 大幅度降低了测试成本。
为达到上述目的，本发明基本构思是 一种转接测试座，包括接 触电路板及卡插槽，接触电路板的一边与卡插槽电连接，另一边设有 金手指，卡插槽内含有若干金属弹片，金手指与对应的金属弹片电连 接，卡插槽内含有可旋转的D型轴，当转动D型轴时，驱动金属弹片 同步向内移动，直至与所要测试的电子组件的金手指可靠电连接，当 把D型轴转动回原来位置，金属弹片在其本身的弹性力作用下回到原 来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手指明显的分离。
更优的，所述的D型轴与金属弹片相互垂直，并且所述的金属弹 片沿着所述的D型轴的一侧直线排列。
更优的，所述的卡插槽上还设有导槽。
更优的，所述的卡插槽上还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢 接轴，所述的滑块和所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过 枢接轴链接，滑块可绕枢接轴转动。
更优的，所述的D型轴的其中一个的两侧齿轮的外端设有一调整 D型轴旋转角度的手柄。
更优的，在所述转接测试座上设有限制D型轴旋转角度的限位装置。
采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可 以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕， 从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可 以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平的插入转接测试座内，防 止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的 电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态即靠拢状态 时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子 组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而 造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开的问题。
作为实现本发明基本构思的第一种技术方案，在卡插槽内两侧分 别设有一条可旋转的D型轴，D型轴位于金属弹片与卡插槽内壁之间， D型轴与金属弹片之间含有一绝缘层，两条D型轴的两端分别向卡插 槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮，所述的两个齿轮相互啮合， 在一齿轮的外端设有一调整两个D型轴旋转角度的手柄。
更优的，所述的D型轴与金属弹片相互垂直，并且金属弹片沿着 D型轴的一侧直线排列，齿轮设有限位齿，卡插槽上还设有导槽，并 且还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和所述的 导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可绕枢接 轴转动。
更优的，本技术方案采用的是D型轴等距轴原理，当D型轴的旋 转保证了它上面两边金属弹片会同时接触所要测试的电子组件的金 手指，而且D型等距轴与金属弹片接触的部分成型了耐磨性高，绝缘 性良好的进口绝缘尼龙塑胶，其次保证了 D型轴旋转时会将力均匀无 损耗的传递给各金属弹片，同时也增加了 D型轴在外壳内的滚动磨擦 寿命，当把D型轴转动回原来位置，金属弹片在其本身的弹性力作用 下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手指明显的分 离。
采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可 以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕， 从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指 外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平地插入转接测试座内，防止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的 电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态即靠拢状态 时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子 组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而 造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开。作为实现本发明基本构思的第二种技术方案，在卡插槽内中间设 有一条D型轴，其上方还设有一V型部件，V型部件的俯^L图为一日 字型，金属弹片从两个矩形孔中穿过，V型部件设有若千复位弹簧与 卡插槽相连，D型轴的平面侧水平向上，当转动D型轴时，D型轴推 动V型部件向上运动，V型部件迫使金属弹片同步向内移动，直至与 所要测试的电子组件的金手指可靠电连接，当把D型轴转动回原来位 置，V型部件在复位弹簧的作用下回到原来位置，金属弹片在其本身 的弹性力作用下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手 指明显的分离。更优的，所述V型部件设有若干复位弹簧与卡插槽相连，所述V型部件设有导向凸条或者导向凹槽与卡插槽内相应的导向凹槽或者 导向凸条滑动匹配。更优的，所述转接测试座上还设有限定D型轴旋转角度的限位装置。采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可 以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕， 从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指 外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可 以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平的插入转接测试座内，防 止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的 电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态时即靠拢状态 时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子 组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明。图1至图6是本发明转接测试座第一个实施方式的示意图；图7至图ll是本发明转接测试座第二个实施方式的示意图；图1为本发明实施例产品的初始状态的剖视图；图2为本发明实施例产品的手柄转动前状态的示意图；图3为本发明实施例产品的手柄转动后状态的示意图；图4为图3中A处放大示意图；图5为本发明实施例产品的齿轮齿合的放大示意图；图6为本发明实施例产品的插入内存条时的状态的示意图；图7为本发明实施例产品的初始状态的剖视图；图8为本发明实施例产品的手柄转动前状态的示意图；图9为本发明实施例产品的手柄转动后状态的示意图；图IO为图3中A处放大示意图；图11为本发明实施例产品的插入内存条时的状态的示意图。
具体实施方式
图1至图6为第一种技术方案的实施例，一种内存条转接测试座。 在图1至图6所示的转接测试座示意图中，如图1所示，转接测 试座包括接触电路板1及卡插槽2,接触电路板1的一边与所述卡插 槽2电连接，另一边为金手指11连接口，卡插槽2内侧两边分别各 有一百二十片金属弹片21,且每个金手指11与金属弹片21通过PCB 上的线路电联通，形成——对应关系；卡插槽2内部两侧各分别设置 两条可旋转的D型轴22, D型轴22位于金属弹片21与卡插槽2内 壁之间，且D型轴22的外表面胶条220包套着，胶条220为高性能 防静电的进口绝缘尼龙胶条，胶条22G对弹簧触片21起到绝缘的作 用，而金属弹片21与D型轴22相互垂直，沿着D型轴22的一侧直线排列。金属弹片21平衡状态时，其上端为呈稍向外倾斜状，与相
对的金属弹片形成V字形结构，此时，D型轴22的平坦面2201与金 属弹片21平行。
如图2所示，每条D型轴22的两端分别向卡插槽2的外部延伸， 延伸出来的两端分别有齿轮221,两条D型轴22间的同侧端的齿轮 221相啮合，形成连动关系，且齿轮221末端还嵌套有调整两个齿轮 之间啮合旋转角度的手柄23。当D型轴22末端的手柄23向左作逆时 针转动时，如图4所示，D型轴22也跟随向内作旋转运动，此时D 型轴22上的平坦面2201开始向内通过胶条220顶压着弹簧金属弹片 21向内靠拢，直至触碰紧压内存条3上的金手指31.此时，如图5所 示，由于齿4仑221上的限位齿222的作用，限制了 D型轴的继续旋转。 如图3所示，完成了内存条测试的电连接过程，保证了 D型轴与金属 弹片的持久耐磨和绝缘；而金属弹片采用的是进口 0. 14mm厚的铍铜， 它的柔韧性非常好，确保了端子测试寿命，其来回运动的寿命可达IO 万次以上。
如图6所示，卡插槽2的上部两端还分别设有导槽4,以引导内 存顺利插入卡插槽2,及为了防止内存条插入卡插槽2后反弹出卡插 槽2而增设的导扣5，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和 所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可 绕枢接轴转动。
当转接测试座处于开锁状态时，插入内存条，转动手柄，手柄及 另一摇杆上的滑轮推动导扣5的滑块，滑块契入内存条两侧的锁止口 ， 使内存条充分到位，保证接触良好，当转接测试座处于锁定或者半锁 定的状态时，滑块起到阻止内存条插入的作用，彻底的消除了内存在 卡插槽内锁定或半锁定状态下所带来的插跪弹簧触片及烧坏内存条 现象。
如图2和图5所示，由于齿4仑221上的限位齿222和齿專仑221外 侧D型轴22的延长部分对手柄的限位作用，限制了 D型轴在待测状 态下手柄向解锁方向进一步运动或在测试状态下因操作员不慎误操作将手柄向锁定方向进一步运动而带来的测试异常或烧坏内存条记 忆体等现象，彻底的升了测试的安全性.
若测试完后用手指将手柄从内向外轻轻推回，金属弹片在自身弹 力的作用下由内往外侧张开重新回到原始位置，轻易取出已测好的内
存条，由于限位齿222的作用，限制了D型轴旋转的角度，防止D型 轴进一步反向旋转而使金属弹片无法回到原来的位置。此新型产品的
外壳采用的是锌合金材质铸造而成。
图7至图11为第二种技术方案的实施例， 一种内存条转接测试座。
在图7至图11所示的转接测试座示意图中，如图7所示，转接 测试座包括接触电路板1及卡插槽2，接触电路板1的一边与所述卡 插槽2电连接，另一边为金手指11连接口，卡插槽2内侧两边分别 各有一百二十片金属弹片21,且每个金手指11与金属弹片21通过 PCB上的线路电联通，形成——对应关系；卡插槽2内部中间设置有 一条可旋转的D型轴22,且D型轴22的外表面被胶条220包套着， 胶条2 2 0为高性能防静电的进口绝缘尼龙胶条，胶条2 2 0对弹簧触片 21起到绝缘的作用，在D型轴的上方还设有一V型部件41, V型部 件的俯视图为一日字型，金属弹片从两个矩形孔中穿过，V型部件设 有若千复位弹簧42与卡插槽相连，而金属弹片21与D型轴22相互 垂直，沿着D型轴22的一侧直线排列。金属弹片21平衡状态时，其 上端为呈稍向外倾斜状，与相对的金属弹片形成V字形结构，此时， D型轴22的平坦面2201水平向上。
如图8所示，D型轴22的两端分别向卡插槽2的外部延伸，延 伸出来的一端还嵌套有调整D型轴旋转角度的手柄23。当D型轴22 末端的手柄23向左作逆时针转动时，如图4所示，D型轴22也跟随 向内作旋转运动，此时D型轴22上的平坦面2201开始向上通过绝缘 层胶条220顶压着V型部件41向上移动，V型部件41的向上移动迫 使弹簧金属弹片21向内靠拢，直至触碰紧压所要测试的电子组件3 上的金手指31.当把D型轴22转动回原来位置，V型部件41在复位弹簧42的作用下回到原来位置，金属弹片21在其本身的弹性力作用 下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件3的金手指31明显 的分离，因此所要测试的电子组件可以轻松地插入卡插槽或者取出， 其金手指不会被损伤或者留下擦痕，从根本上解决转接测试座的测试 寿命和所要测试的电子组件金手指外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本。如图9所示，完成了内存条测试的电连接过程，保证了D型轴与 金属弹片的持久耐磨和绝缘；而金属弹片采用的是进口 0. 14mm厚的铍铜，它的柔韧性非常好，确保了端子测试寿命，其的来回运动寿命 可达10万次以上。如图11所示，卡插槽2的上部两端还分别设有导槽4，以引导内 存顺利插入卡插槽2，及当插入卡插槽2后防止内存条反弹，弹出卡 插槽2而增设导扣5，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和 所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可 绕枢接轴转动。当转接测试座处于开锁状态时，插入内存条，转动手柄，手柄及 另一摇杆上的滑轮推动导扣5的滑块，滑块契入内存条两侧的锁止口 ， 使内存条充分到位，保证接触良好，当转接测试座处于锁定或者半锁 定的状态时，滑块起到阻止内存条插入的作用，彻底的消除了内存在 卡插槽内锁定或半锁定状态下所带来的插跪弹簧触片及烧坏内存条 现象。由于限位钉9对手柄的限位的作用，限制了 D型轴在待测状态下 手柄向解锁方向进一 步运动或在测试状态下因操作员不慎误操作将 手柄向锁定方向进一步运动而带来的测试异常或烧坏内存条记忆体 等现象，彻底的升了测试的安全性此新型产品的外壳采用的是锌合金材质铸造而成。 采用上述技术方案以后，从根本上解决先前技术条件下测试时内 存条金手指外观不良(刮痕、磨擦度镀金层、氧化)此新型技术采用 的是无磨擦点接触测试，不对内存条金手指产生任何磨擦，有效的保护了金手指外观的品质，直接有效的降低了内存条记忆体保护转接测 试成本。
以上所述的仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本领域 的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做 出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。
权利要求
1.一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与对应的金属弹片电连接，其特征在于，所述的卡插槽内含有可旋转的D型轴。
2. 根据权利要求1所述的转接测试座，其特征在于，所述的D型轴 有两条，分别位于卡插槽内金属弹片与卡插槽内壁之间，两条D型轴的 两端均向卡插槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮，所述齿轮对应的 相互啮合。
3. 根据权利要求1或2所述的转接测试座，其特征在于，所述的D 型轴与金属弹片相互垂直，并且所述的金属弹片沿着所述的D型轴的一 侧直线排列。
4. 根据权利要求2所述的转接测试座，其特征在于，所述的齿轮设 有限位齿。
5. 根据权利要求或2所述的转接测试座，其特征在于，所述的卡插 槽上还设有导槽。
6. 根据权利要求1或2所述的转接测试座，其特征在于所述的卡插 槽上还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和所述的 导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可绕枢接轴 转动。
7. 根据权利要求1或2所述的转接测试座，其特征在于，所述的D 型轴的其中 一个的两侧齿轮的外端设有一调整D型轴旋转角度的手柄。
8. 根据权利要求1所述的转接测试座，其特征在于，所述的D型轴 与金属弹片之间含有一绝缘层。
全文摘要
本发明公开了一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与金属弹片电连接，所述的卡插槽内含有旋转的D型轴，转动所述的D型轴，就可以使所述金属片向内联动，直至与被测试电路板插件的金手指可靠的电连接，此新型技术采用的是无磨擦点接触测试，不对内存条金手指产生任何磨擦，有效的保护了金手指外观的品质，直接有效的降低了内存条记忆体保护转接测试成本。
文档编号H01R13/639GK101320857SQ20081008194
公开日2008年12月10日 申请日期2008年2月27日 优先权日2007年6月7日
发明者何巧丽, 张光荣 申请人:张光荣;何巧丽
技术领域：
本发明涉及一种电子行业上的转接测试座，尤指是指一种测试电 路板的转接测试座，具体涉及一种电脑内存条转接测试座。
背景技术：
随着经济日益发展及电子产品的广泛应用，电子产品市场曰显成 熟和绝对量化，对各种具有特定功能的电子组件如电脑内存条的需求 也同样绝对巨增，这必然使电子组件生产商及其代工厂在经营各自品 牌的同时，也必须考虑直接的生产测试成本问题。以往各类生产商或 其代工厂他们会对其所生产的电子组件进行测试，以电脑内存条的测
试为例，其测试技术发展过程有两个阶段过程
第一过程为用电脑主机板上内存插槽由四排焊PIN通过治具压 合成两排焊PIN,然后再焊接转接PCB进行测试，这种普通内存转接 测试卡插槽其弹簧触片采用的是黄铜材质，弹簧触片上的端子较小； 当测试时内存条记忆体垂直插入内存转接测试槽的卡插槽内时，弹簧 触片上的端子往外张开夹住金手指，因存在不停的插拔测试卡插槽内 的金属弹簧触片上的端子，易损坏或插跪，出现信号衰减或接触不良 等问题；在测试时寿命特别短，仅为400次左右。后来，也有改成柔 韧较好的磷铜弹簧触片，但寿命只在1000次以内，还有一个最重要 的缺陷是它釆用垂直插拔的面磨擦原理进行测试，所带来的 一个严重 的技术瓶颈，是根本上解决不了因垂直插拔而产生的内存条记忆体金 手指与弹簧触片上的端子产生面磨擦带来的严重磨损、刮痕，甚至金 手指存放时间过长因镀金层刮损发生氧化现象，从而影响到销售品 质，另一个缺陷是因需要用手用力抓握内存条做垂直插拔测试，不可 避免的会造成内存条记忆体上小元件的不小心碰掉而重工返修。
第二个过程是2006年5月31日公开的中国专利 ZL200510090361. 0,提供了 一种内存条记忆体测试产品，它的方案虽然提高插拔的测试寿命，但这还是靠内存条记忆体卡插槽的金属弹片 上的端子挤压来测试，仍然产生了金属弹片上的端子与内存条记忆体 金手指严重的面磨擦，根本上改变不了金手指外观损坏、刮痕、氧化问题。
发明内容
为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种转接测试座，可以 从根本上解决其测试寿命和金手指外观的完好度两方面的问题，从而 大幅度降低了测试成本。
为达到上述目的，本发明基本构思是 一种转接测试座，包括接 触电路板及卡插槽，接触电路板的一边与卡插槽电连接，另一边设有 金手指，卡插槽内含有若干金属弹片，金手指与对应的金属弹片电连 接，卡插槽内含有可旋转的D型轴，当转动D型轴时，驱动金属弹片 同步向内移动，直至与所要测试的电子组件的金手指可靠电连接，当 把D型轴转动回原来位置，金属弹片在其本身的弹性力作用下回到原 来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手指明显的分离。
更优的，所述的D型轴与金属弹片相互垂直，并且所述的金属弹 片沿着所述的D型轴的一侧直线排列。
更优的，所述的卡插槽上还设有导槽。
更优的，所述的卡插槽上还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢 接轴，所述的滑块和所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过 枢接轴链接，滑块可绕枢接轴转动。
更优的，所述的D型轴的其中一个的两侧齿轮的外端设有一调整 D型轴旋转角度的手柄。
更优的，在所述转接测试座上设有限制D型轴旋转角度的限位装置。
采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可 以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕， 从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可 以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平的插入转接测试座内，防 止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的 电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态即靠拢状态 时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子 组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而 造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开的问题。
作为实现本发明基本构思的第一种技术方案，在卡插槽内两侧分 别设有一条可旋转的D型轴，D型轴位于金属弹片与卡插槽内壁之间， D型轴与金属弹片之间含有一绝缘层，两条D型轴的两端分别向卡插 槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮，所述的两个齿轮相互啮合， 在一齿轮的外端设有一调整两个D型轴旋转角度的手柄。
更优的，所述的D型轴与金属弹片相互垂直，并且金属弹片沿着 D型轴的一侧直线排列，齿轮设有限位齿，卡插槽上还设有导槽，并 且还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和所述的 导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可绕枢接 轴转动。
更优的，本技术方案采用的是D型轴等距轴原理，当D型轴的旋 转保证了它上面两边金属弹片会同时接触所要测试的电子组件的金 手指，而且D型等距轴与金属弹片接触的部分成型了耐磨性高，绝缘 性良好的进口绝缘尼龙塑胶，其次保证了 D型轴旋转时会将力均匀无 损耗的传递给各金属弹片，同时也增加了 D型轴在外壳内的滚动磨擦 寿命，当把D型轴转动回原来位置，金属弹片在其本身的弹性力作用 下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手指明显的分 离。
采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可 以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕， 从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指 外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平地插入转接测试座内，防止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的 电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态即靠拢状态 时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子 组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而 造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开。作为实现本发明基本构思的第二种技术方案，在卡插槽内中间设 有一条D型轴，其上方还设有一V型部件，V型部件的俯^L图为一日 字型，金属弹片从两个矩形孔中穿过，V型部件设有若千复位弹簧与 卡插槽相连，D型轴的平面侧水平向上，当转动D型轴时，D型轴推 动V型部件向上运动，V型部件迫使金属弹片同步向内移动，直至与 所要测试的电子组件的金手指可靠电连接，当把D型轴转动回原来位 置，V型部件在复位弹簧的作用下回到原来位置，金属弹片在其本身 的弹性力作用下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手 指明显的分离。更优的，所述V型部件设有若干复位弹簧与卡插槽相连，所述V型部件设有导向凸条或者导向凹槽与卡插槽内相应的导向凹槽或者 导向凸条滑动匹配。更优的，所述转接测试座上还设有限定D型轴旋转角度的限位装置。采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可 以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕， 从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指 外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可 以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平的插入转接测试座内，防 止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的 电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态时即靠拢状态 时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子 组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明。图1至图6是本发明转接测试座第一个实施方式的示意图；图7至图ll是本发明转接测试座第二个实施方式的示意图；图1为本发明实施例产品的初始状态的剖视图；图2为本发明实施例产品的手柄转动前状态的示意图；图3为本发明实施例产品的手柄转动后状态的示意图；图4为图3中A处放大示意图；图5为本发明实施例产品的齿轮齿合的放大示意图；图6为本发明实施例产品的插入内存条时的状态的示意图；图7为本发明实施例产品的初始状态的剖视图；图8为本发明实施例产品的手柄转动前状态的示意图；图9为本发明实施例产品的手柄转动后状态的示意图；图IO为图3中A处放大示意图；图11为本发明实施例产品的插入内存条时的状态的示意图。
具体实施方式
图1至图6为第一种技术方案的实施例，一种内存条转接测试座。 在图1至图6所示的转接测试座示意图中，如图1所示，转接测 试座包括接触电路板1及卡插槽2,接触电路板1的一边与所述卡插 槽2电连接，另一边为金手指11连接口，卡插槽2内侧两边分别各 有一百二十片金属弹片21,且每个金手指11与金属弹片21通过PCB 上的线路电联通，形成——对应关系；卡插槽2内部两侧各分别设置 两条可旋转的D型轴22, D型轴22位于金属弹片21与卡插槽2内 壁之间，且D型轴22的外表面胶条220包套着，胶条220为高性能 防静电的进口绝缘尼龙胶条，胶条22G对弹簧触片21起到绝缘的作 用，而金属弹片21与D型轴22相互垂直，沿着D型轴22的一侧直线排列。金属弹片21平衡状态时，其上端为呈稍向外倾斜状，与相
对的金属弹片形成V字形结构，此时，D型轴22的平坦面2201与金 属弹片21平行。
如图2所示，每条D型轴22的两端分别向卡插槽2的外部延伸， 延伸出来的两端分别有齿轮221,两条D型轴22间的同侧端的齿轮 221相啮合，形成连动关系，且齿轮221末端还嵌套有调整两个齿轮 之间啮合旋转角度的手柄23。当D型轴22末端的手柄23向左作逆时 针转动时，如图4所示，D型轴22也跟随向内作旋转运动，此时D 型轴22上的平坦面2201开始向内通过胶条220顶压着弹簧金属弹片 21向内靠拢，直至触碰紧压内存条3上的金手指31.此时，如图5所 示，由于齿4仑221上的限位齿222的作用，限制了 D型轴的继续旋转。 如图3所示，完成了内存条测试的电连接过程，保证了 D型轴与金属 弹片的持久耐磨和绝缘；而金属弹片采用的是进口 0. 14mm厚的铍铜， 它的柔韧性非常好，确保了端子测试寿命，其来回运动的寿命可达IO 万次以上。
如图6所示，卡插槽2的上部两端还分别设有导槽4,以引导内 存顺利插入卡插槽2,及为了防止内存条插入卡插槽2后反弹出卡插 槽2而增设的导扣5，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和 所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可 绕枢接轴转动。
当转接测试座处于开锁状态时，插入内存条，转动手柄，手柄及 另一摇杆上的滑轮推动导扣5的滑块，滑块契入内存条两侧的锁止口 ， 使内存条充分到位，保证接触良好，当转接测试座处于锁定或者半锁 定的状态时，滑块起到阻止内存条插入的作用，彻底的消除了内存在 卡插槽内锁定或半锁定状态下所带来的插跪弹簧触片及烧坏内存条 现象。
如图2和图5所示，由于齿4仑221上的限位齿222和齿專仑221外 侧D型轴22的延长部分对手柄的限位作用，限制了 D型轴在待测状 态下手柄向解锁方向进一步运动或在测试状态下因操作员不慎误操作将手柄向锁定方向进一步运动而带来的测试异常或烧坏内存条记 忆体等现象，彻底的升了测试的安全性.
若测试完后用手指将手柄从内向外轻轻推回，金属弹片在自身弹 力的作用下由内往外侧张开重新回到原始位置，轻易取出已测好的内
存条，由于限位齿222的作用，限制了D型轴旋转的角度，防止D型 轴进一步反向旋转而使金属弹片无法回到原来的位置。此新型产品的
外壳采用的是锌合金材质铸造而成。
图7至图11为第二种技术方案的实施例， 一种内存条转接测试座。
在图7至图11所示的转接测试座示意图中，如图7所示，转接 测试座包括接触电路板1及卡插槽2，接触电路板1的一边与所述卡 插槽2电连接，另一边为金手指11连接口，卡插槽2内侧两边分别 各有一百二十片金属弹片21,且每个金手指11与金属弹片21通过 PCB上的线路电联通，形成——对应关系；卡插槽2内部中间设置有 一条可旋转的D型轴22,且D型轴22的外表面被胶条220包套着， 胶条2 2 0为高性能防静电的进口绝缘尼龙胶条，胶条2 2 0对弹簧触片 21起到绝缘的作用，在D型轴的上方还设有一V型部件41, V型部 件的俯视图为一日字型，金属弹片从两个矩形孔中穿过，V型部件设 有若千复位弹簧42与卡插槽相连，而金属弹片21与D型轴22相互 垂直，沿着D型轴22的一侧直线排列。金属弹片21平衡状态时，其 上端为呈稍向外倾斜状，与相对的金属弹片形成V字形结构，此时， D型轴22的平坦面2201水平向上。
如图8所示，D型轴22的两端分别向卡插槽2的外部延伸，延 伸出来的一端还嵌套有调整D型轴旋转角度的手柄23。当D型轴22 末端的手柄23向左作逆时针转动时，如图4所示，D型轴22也跟随 向内作旋转运动，此时D型轴22上的平坦面2201开始向上通过绝缘 层胶条220顶压着V型部件41向上移动，V型部件41的向上移动迫 使弹簧金属弹片21向内靠拢，直至触碰紧压所要测试的电子组件3 上的金手指31.当把D型轴22转动回原来位置，V型部件41在复位弹簧42的作用下回到原来位置，金属弹片21在其本身的弹性力作用 下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件3的金手指31明显 的分离，因此所要测试的电子组件可以轻松地插入卡插槽或者取出， 其金手指不会被损伤或者留下擦痕，从根本上解决转接测试座的测试 寿命和所要测试的电子组件金手指外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本。如图9所示，完成了内存条测试的电连接过程，保证了D型轴与 金属弹片的持久耐磨和绝缘；而金属弹片采用的是进口 0. 14mm厚的铍铜，它的柔韧性非常好，确保了端子测试寿命，其的来回运动寿命 可达10万次以上。如图11所示，卡插槽2的上部两端还分别设有导槽4，以引导内 存顺利插入卡插槽2，及当插入卡插槽2后防止内存条反弹，弹出卡 插槽2而增设导扣5，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和 所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可 绕枢接轴转动。当转接测试座处于开锁状态时，插入内存条，转动手柄，手柄及 另一摇杆上的滑轮推动导扣5的滑块，滑块契入内存条两侧的锁止口 ， 使内存条充分到位，保证接触良好，当转接测试座处于锁定或者半锁 定的状态时，滑块起到阻止内存条插入的作用，彻底的消除了内存在 卡插槽内锁定或半锁定状态下所带来的插跪弹簧触片及烧坏内存条 现象。由于限位钉9对手柄的限位的作用，限制了 D型轴在待测状态下 手柄向解锁方向进一 步运动或在测试状态下因操作员不慎误操作将 手柄向锁定方向进一步运动而带来的测试异常或烧坏内存条记忆体 等现象，彻底的升了测试的安全性此新型产品的外壳采用的是锌合金材质铸造而成。 采用上述技术方案以后，从根本上解决先前技术条件下测试时内 存条金手指外观不良(刮痕、磨擦度镀金层、氧化)此新型技术采用 的是无磨擦点接触测试，不对内存条金手指产生任何磨擦，有效的保护了金手指外观的品质，直接有效的降低了内存条记忆体保护转接测 试成本。
以上所述的仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本领域 的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做 出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。
权利要求
1.一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与对应的金属弹片电连接，其特征在于，所述的卡插槽内含有可旋转的D型轴。
2. 根据权利要求1所述的转接测试座，其特征在于，所述的D型轴 有两条，分别位于卡插槽内金属弹片与卡插槽内壁之间，两条D型轴的 两端均向卡插槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮，所述齿轮对应的 相互啮合。
3. 根据权利要求1或2所述的转接测试座，其特征在于，所述的D 型轴与金属弹片相互垂直，并且所述的金属弹片沿着所述的D型轴的一 侧直线排列。
4. 根据权利要求2所述的转接测试座，其特征在于，所述的齿轮设 有限位齿。
5. 根据权利要求或2所述的转接测试座，其特征在于，所述的卡插 槽上还设有导槽。
6. 根据权利要求1或2所述的转接测试座，其特征在于所述的卡插 槽上还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和所述的 导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可绕枢接轴 转动。
7. 根据权利要求1或2所述的转接测试座，其特征在于，所述的D 型轴的其中 一个的两侧齿轮的外端设有一调整D型轴旋转角度的手柄。
8. 根据权利要求1所述的转接测试座，其特征在于，所述的D型轴 与金属弹片之间含有一绝缘层。
全文摘要
本发明公开了一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与金属弹片电连接，所述的卡插槽内含有旋转的D型轴，转动所述的D型轴，就可以使所述金属片向内联动，直至与被测试电路板插件的金手指可靠的电连接，此新型技术采用的是无磨擦点接触测试，不对内存条金手指产生任何磨擦，有效的保护了金手指外观的品质，直接有效的降低了内存条记忆体保护转接测试成本。
文档编号H01R13/639GK101320857SQ20081008194
公开日2008年12月10日 申请日期2008年2月27日 优先权日2007年6月7日
发明者何巧丽, 张光荣 申请人:张光荣;何巧丽
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