主板测试系统及方法
专利名称：主板测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种测试系统及方法，尤其是一种主板测试系统及方法。
背景技术：
随着电子科学技术的发展，主板已成为各种电器设备(如计算机)不可缺少的重 要组成部分。由于受到元器件的老化等多种因素的影，若要保证主板在使用时的可靠性，就 必须在出厂时对其进行检测。以往传统的检测方法需要依靠作业员的手工操作，由于检测 的范围广、功能多，因此，在检测时常常忙得不可开交，不仅劳动强度大，工作效率低，而且 容易产生人为错误，检测的数据也不易管理。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试系统，其可自动测试主板。鉴于以上内容，还有必要提供一种主板测试方法，其可自动测试主板。一种主板测试系统，包括测试电脑和示波器，该测试电脑通过交换机与控制电脑 和示波器相连，该测试电脑包括参数设置模块，用于设置主板的测试参数，所述测试参数 包括待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的 项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，获 取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；探针定位模块，用于根据待 测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令；所述控制电脑根据该探针定位 指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；所述测试电 脑还包括信号测试模块，用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器采集 到每个测试项目的测试数据；所述信号测试模块，还用于根据设定的每个测试项目的标准 值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；所 述信号测试模块，还用于当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据及分析结果，并将 其存储在设定的测试结果存储路径中。一种主板测试方法，包括如下步骤于测试电脑中设置主板测试参数，所述测试参 数包括待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试 的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；当测试开始时，测试电脑获取待测零 件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；测试电脑根据待测零件在主板中的坐 标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机 械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；示波器通过交换机将采 集到的每个测试项目的测试数据返回至测试电脑；测试电脑依次对待测零件的每个测试信 号进行测试，根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项 目的测试数据是否在设定的标准值范围内；当所有测试信号测试完毕时，测试电脑汇整所 有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。相较于现有技术，所述的主板测试系统及方法，可以自动测试主板，避免了人工作
4业的错误发生，提高了测试的可靠度及效率。
图1是本发明主板测试系统较佳实施例的硬件架构图。图2是图1中所示主板测试系统的功能模块图。图3是本发明主板测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施例方式如图1所示，是本发明主板测试系统较佳实施例的系统架构图。该系统主要包括 控制电脑1、测试电脑2、示波器3、交换机4、机械手臂5、待测试的主板6。其中，所述控制 电脑1、测试电脑2和示波器3通过交换机4相连，所述测试电脑2中安装有主板测试系统 20。所述机械手臂5上安装有探针抓取装置50，该探针抓取装置50用于抓取示波器3的探 针。所述主板6放置于测试机台7上。当测试开始后，主板测试系统20向控制电脑1发出探针定位指令，所述控制电脑 1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6 上的待测零件。然后，示波器3将测试到的数据通过交换机4返回至测试电脑2。测试电脑 2中的主板测试系统20对该测试数据进行分析处理。如图2所示，是图1中所示主板测试系统20的功能模块图。所述主板测试系统20 包括参数设置模块201、参数获取模块202、探针定位模块203和信号测试模块204。本发明 所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执 行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。其中，所述参数设置模块201用于设置主板6的测试参数，并将该测试参数存储在 测试电脑2的存储器中(如硬盘)。所述测试参数包括待测零件在主板6中的坐标位置、 待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试 结果存储路径等。其中，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持 高电平的时间等。例如，电压信号的测试项目包括过冲(Overshoot)、下冲(Undershoot)、 斜率(Slew Rate)、上升时间(Rise Time)、下降时间(Fall Time)或占空比失真(DutyCycle Distortion)等。在本实施例中，以测试主板6上一个零件的信号序列为例进行说明。所述参数获取模块202用于当测试开始时，从存储器中获取待测零件的测试信号 序列及每个测试信号需要测试的项目。所述探针定位模块203用于根据待测零件在主板6中的坐标位置，计算出该待测 零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测 零件到原点的偏移量。在本实施例中，以主板6的中心为原点建立坐标系，探针抓取装置50 的初始位置定位在坐标系原点位置。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波 器3的探针定位到主板6上的待测零件。假设待测零件在主板6中的坐标位置为(10，12)， 单位为毫米(mm)，则待测零件到原点的X轴偏移量为10毫米，Y轴偏移量为12毫米。当控 制电脑1接收到探针定位模块203发送过来的探针定位指令后，控制机械手臂5的探针抓 取装置50将示波器3的探针沿X轴正方向移动10毫米，沿Y轴正方向移动12毫米，定位到待测零件在主板6中的坐标位置。待测零件在坐标系中的Z轴坐标为零，控制电脑1将 根据探针抓取装置50相对于待测零件的高度控制示波器3的探针沿Z轴方向移动。所述信号测试模块204用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波 器3采集到每个测试项目的测试数据，并存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测 试结果存储路径为D: \Motherboard\Test。所述信号测试模块204还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进 行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内，并将分析结果存储 至设定的测试结果存储路径中。例如，设定待测零件电压的高电平标准值范围为[5，30]，单 位为伏特。如果示波器3采集到的电压高电平为4. 5伏特，则信号测试模块204判断该测 试数据不合格。所述信号测试模块204还用于判断所有测试信号是否测试完毕，如果还有测试信 号需要测试，则继续测试，如果所有测试信号都已测试完毕，则汇整所有测试数据并存储在 设定的测试结果存储路径中。如图3所示，是本发明主板测试方法较佳实施例的流程图。步骤S41，参数设置模块201设置主板6的测试参数，并将该测试参数存储在测试 电脑2的存储器中。所述测试参数包括待测零件在主板6中的坐标位置、待测零件的测试 信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径等。 其中，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间等。 在本实施例中，以测试主板6上一个零件的信号序列为例进行说明。步骤S42，当测试开始时，参数获取模块202从存储器中获取待测零件的测试信号 序列及每个测试信号需要测试的项目。步骤S43，探针定位模块203根据待测零件在主板6中的坐标位置，计算出该待测 零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测 零件到原点的偏移量。在本实施例中，所述坐标位置是以主板6的中心为原点建立坐标系 来确定，探针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波 器3的探针定位到主板6上的待测零件。步骤S44，信号测试模块204依次对待测零件的每个测试信号进行测试。步骤S45，信号测试模块204获取示波器3采集到每个测试项目的测试数据，并存 储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测试结果存储路径为D: \Motherboard\Test。步骤S46，信号测试模块204还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数 据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内，并将分析结果 存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定电压维持高电平时间的标准值范围为[1， 5]，单位为秒。如果示波器3采集到的电压维持高电平时间为0. 5秒，则信号测试模块204 判断该测试数据不合格。步骤S47，信号测试模块204判断所有测试信号是否测试完毕。如果还有测试信号 需要测试，则流程回到步骤S44，继续测试下一个测试信号，如果所有测试信号都已测试完 毕，则执行步骤S48。在本实施例中，以变量i记录测试信号的测试次数，变量i的初始值等 于1，每测试完一个测试信号，将变量i的值累加1。假设测试信号序列中的测试信号个数
6为N，如果i大于等于N，则信号测试模块204判断所有测试信号测试完毕。步骤S48，信号测试模块204汇整所有测试数据并存储在设定的测试结果存储路 径中。本实施例是以一个待测零件为例进行说明的，如果主板6中包含两个以上的待测 零件，则当测试完一个待测零件后，探针定位模块203将根据下一个待测零件在主板6中的 坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量，并向控制电脑1发出探针定 位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。所述控制电脑1 根据该偏移量控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6上的下 一个待测零件，开始下一个测试流程，具体过程参阅图3的描述，在此不在赘述。最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照 较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的 技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
权利要求
一种主板测试系统，包括测试电脑和示波器，其特征在于，该测试电脑通过交换机与控制电脑和示波器相连，该测试电脑包括参数设置模块，用于设置主板的测试参数，所述测试参数包括待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；探针定位模块，用于根据待测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令；所述控制电脑用于根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；所述测试电脑还包括信号测试模块，用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器采集到的每个测试项目的测试数据；所述信号测试模块，还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；及所述信号测试模块，还用于当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。
2.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，待测零件的测试信号序列包括电 压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间。
3.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，所述探针定位模块根据待测零件 在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令包括根据待测零件在主板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标 位置是以主板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原 点位置；及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。
4.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，所述探针定位模块还用于当主板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，根据下一个待 测零件在主板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量；及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
5.一种主板测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤于测试电脑中设置主板测试参数，所述测试参数包括待测零件在主板中的坐标位置、 待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试 结果存储路径；当测试开始时，测试电脑获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；测试电脑根据待测零件在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到 主板上的待测零件；示波器通过交换机将采集到的每个测试项目的测试数据返回至测试电脑； 测试电脑依次对待测零件的每个测试信号进行测试，根据设定的每个测试项目的标准 值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；及当所有测试信号测试完毕时，测试电脑汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在 设定的测试结果存储路径中。
6.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，待测零件的测试信号序列包括电 压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间。
7.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，所述步骤测试电脑根据待测零件 在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令包括根据待测零件在主板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标 位置是以主板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原 点位置；及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。
8.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，还包括步骤当主板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，测试电脑根据 下一个待测零件在主板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量； 及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
全文摘要
一种主板测试方法，包括如下步骤设置测试参数；获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；将示波器的探针定位到主板上待测零件的位置；依次对每个测试信号进行测试；获取测试数据并存储；对测试数据进行分析并存储；当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据并存储。本发明还提供一种主板测试系统。利用本发明可以自动测试主板。
文档编号G01R31/28GK101865975SQ20091030160
公开日2010年10月20日 申请日期2009年4月16日 优先权日2009年4月16日
发明者李昇军, 许寿国 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
技术领域：
本发明涉及一种测试系统及方法，尤其是一种主板测试系统及方法。
背景技术：
随着电子科学技术的发展，主板已成为各种电器设备(如计算机)不可缺少的重 要组成部分。由于受到元器件的老化等多种因素的影，若要保证主板在使用时的可靠性，就 必须在出厂时对其进行检测。以往传统的检测方法需要依靠作业员的手工操作，由于检测 的范围广、功能多，因此，在检测时常常忙得不可开交，不仅劳动强度大，工作效率低，而且 容易产生人为错误，检测的数据也不易管理。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试系统，其可自动测试主板。鉴于以上内容，还有必要提供一种主板测试方法，其可自动测试主板。一种主板测试系统，包括测试电脑和示波器，该测试电脑通过交换机与控制电脑 和示波器相连，该测试电脑包括参数设置模块，用于设置主板的测试参数，所述测试参数 包括待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的 项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，获 取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；探针定位模块，用于根据待 测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令；所述控制电脑根据该探针定位 指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；所述测试电 脑还包括信号测试模块，用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器采集 到每个测试项目的测试数据；所述信号测试模块，还用于根据设定的每个测试项目的标准 值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；所 述信号测试模块，还用于当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据及分析结果，并将 其存储在设定的测试结果存储路径中。一种主板测试方法，包括如下步骤于测试电脑中设置主板测试参数，所述测试参 数包括待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试 的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；当测试开始时，测试电脑获取待测零 件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；测试电脑根据待测零件在主板中的坐 标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机 械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；示波器通过交换机将采 集到的每个测试项目的测试数据返回至测试电脑；测试电脑依次对待测零件的每个测试信 号进行测试，根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项 目的测试数据是否在设定的标准值范围内；当所有测试信号测试完毕时，测试电脑汇整所 有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。相较于现有技术，所述的主板测试系统及方法，可以自动测试主板，避免了人工作
4业的错误发生，提高了测试的可靠度及效率。
图1是本发明主板测试系统较佳实施例的硬件架构图。图2是图1中所示主板测试系统的功能模块图。图3是本发明主板测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施例方式如图1所示，是本发明主板测试系统较佳实施例的系统架构图。该系统主要包括 控制电脑1、测试电脑2、示波器3、交换机4、机械手臂5、待测试的主板6。其中，所述控制 电脑1、测试电脑2和示波器3通过交换机4相连，所述测试电脑2中安装有主板测试系统 20。所述机械手臂5上安装有探针抓取装置50，该探针抓取装置50用于抓取示波器3的探 针。所述主板6放置于测试机台7上。当测试开始后，主板测试系统20向控制电脑1发出探针定位指令，所述控制电脑 1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6 上的待测零件。然后，示波器3将测试到的数据通过交换机4返回至测试电脑2。测试电脑 2中的主板测试系统20对该测试数据进行分析处理。如图2所示，是图1中所示主板测试系统20的功能模块图。所述主板测试系统20 包括参数设置模块201、参数获取模块202、探针定位模块203和信号测试模块204。本发明 所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执 行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。其中，所述参数设置模块201用于设置主板6的测试参数，并将该测试参数存储在 测试电脑2的存储器中(如硬盘)。所述测试参数包括待测零件在主板6中的坐标位置、 待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试 结果存储路径等。其中，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持 高电平的时间等。例如，电压信号的测试项目包括过冲(Overshoot)、下冲(Undershoot)、 斜率(Slew Rate)、上升时间(Rise Time)、下降时间(Fall Time)或占空比失真(DutyCycle Distortion)等。在本实施例中，以测试主板6上一个零件的信号序列为例进行说明。所述参数获取模块202用于当测试开始时，从存储器中获取待测零件的测试信号 序列及每个测试信号需要测试的项目。所述探针定位模块203用于根据待测零件在主板6中的坐标位置，计算出该待测 零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测 零件到原点的偏移量。在本实施例中，以主板6的中心为原点建立坐标系，探针抓取装置50 的初始位置定位在坐标系原点位置。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波 器3的探针定位到主板6上的待测零件。假设待测零件在主板6中的坐标位置为(10，12)， 单位为毫米(mm)，则待测零件到原点的X轴偏移量为10毫米，Y轴偏移量为12毫米。当控 制电脑1接收到探针定位模块203发送过来的探针定位指令后，控制机械手臂5的探针抓 取装置50将示波器3的探针沿X轴正方向移动10毫米，沿Y轴正方向移动12毫米，定位到待测零件在主板6中的坐标位置。待测零件在坐标系中的Z轴坐标为零，控制电脑1将 根据探针抓取装置50相对于待测零件的高度控制示波器3的探针沿Z轴方向移动。所述信号测试模块204用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波 器3采集到每个测试项目的测试数据，并存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测 试结果存储路径为D: \Motherboard\Test。所述信号测试模块204还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进 行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内，并将分析结果存储 至设定的测试结果存储路径中。例如，设定待测零件电压的高电平标准值范围为[5，30]，单 位为伏特。如果示波器3采集到的电压高电平为4. 5伏特，则信号测试模块204判断该测 试数据不合格。所述信号测试模块204还用于判断所有测试信号是否测试完毕，如果还有测试信 号需要测试，则继续测试，如果所有测试信号都已测试完毕，则汇整所有测试数据并存储在 设定的测试结果存储路径中。如图3所示，是本发明主板测试方法较佳实施例的流程图。步骤S41，参数设置模块201设置主板6的测试参数，并将该测试参数存储在测试 电脑2的存储器中。所述测试参数包括待测零件在主板6中的坐标位置、待测零件的测试 信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径等。 其中，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间等。 在本实施例中，以测试主板6上一个零件的信号序列为例进行说明。步骤S42，当测试开始时，参数获取模块202从存储器中获取待测零件的测试信号 序列及每个测试信号需要测试的项目。步骤S43，探针定位模块203根据待测零件在主板6中的坐标位置，计算出该待测 零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测 零件到原点的偏移量。在本实施例中，所述坐标位置是以主板6的中心为原点建立坐标系 来确定，探针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波 器3的探针定位到主板6上的待测零件。步骤S44，信号测试模块204依次对待测零件的每个测试信号进行测试。步骤S45，信号测试模块204获取示波器3采集到每个测试项目的测试数据，并存 储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测试结果存储路径为D: \Motherboard\Test。步骤S46，信号测试模块204还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数 据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内，并将分析结果 存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定电压维持高电平时间的标准值范围为[1， 5]，单位为秒。如果示波器3采集到的电压维持高电平时间为0. 5秒，则信号测试模块204 判断该测试数据不合格。步骤S47，信号测试模块204判断所有测试信号是否测试完毕。如果还有测试信号 需要测试，则流程回到步骤S44，继续测试下一个测试信号，如果所有测试信号都已测试完 毕，则执行步骤S48。在本实施例中，以变量i记录测试信号的测试次数，变量i的初始值等 于1，每测试完一个测试信号，将变量i的值累加1。假设测试信号序列中的测试信号个数
6为N，如果i大于等于N，则信号测试模块204判断所有测试信号测试完毕。步骤S48，信号测试模块204汇整所有测试数据并存储在设定的测试结果存储路 径中。本实施例是以一个待测零件为例进行说明的，如果主板6中包含两个以上的待测 零件，则当测试完一个待测零件后，探针定位模块203将根据下一个待测零件在主板6中的 坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量，并向控制电脑1发出探针定 位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。所述控制电脑1 根据该偏移量控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6上的下 一个待测零件，开始下一个测试流程，具体过程参阅图3的描述，在此不在赘述。最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照 较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的 技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
权利要求
一种主板测试系统，包括测试电脑和示波器，其特征在于，该测试电脑通过交换机与控制电脑和示波器相连，该测试电脑包括参数设置模块，用于设置主板的测试参数，所述测试参数包括待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；探针定位模块，用于根据待测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令；所述控制电脑用于根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；所述测试电脑还包括信号测试模块，用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器采集到的每个测试项目的测试数据；所述信号测试模块，还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；及所述信号测试模块，还用于当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。
2.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，待测零件的测试信号序列包括电 压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间。
3.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，所述探针定位模块根据待测零件 在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令包括根据待测零件在主板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标 位置是以主板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原 点位置；及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。
4.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，所述探针定位模块还用于当主板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，根据下一个待 测零件在主板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量；及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
5.一种主板测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤于测试电脑中设置主板测试参数，所述测试参数包括待测零件在主板中的坐标位置、 待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试 结果存储路径；当测试开始时，测试电脑获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；测试电脑根据待测零件在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到 主板上的待测零件；示波器通过交换机将采集到的每个测试项目的测试数据返回至测试电脑； 测试电脑依次对待测零件的每个测试信号进行测试，根据设定的每个测试项目的标准 值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；及当所有测试信号测试完毕时，测试电脑汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在 设定的测试结果存储路径中。
6.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，待测零件的测试信号序列包括电 压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间。
7.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，所述步骤测试电脑根据待测零件 在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令包括根据待测零件在主板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标 位置是以主板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原 点位置；及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。
8.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，还包括步骤当主板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，测试电脑根据 下一个待测零件在主板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量； 及向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
全文摘要
一种主板测试方法，包括如下步骤设置测试参数；获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；将示波器的探针定位到主板上待测零件的位置；依次对每个测试信号进行测试；获取测试数据并存储；对测试数据进行分析并存储；当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据并存储。本发明还提供一种主板测试系统。利用本发明可以自动测试主板。
文档编号G01R31/28GK101865975SQ20091030160
公开日2010年10月20日 申请日期2009年4月16日 优先权日2009年4月16日
发明者李昇军, 许寿国 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
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