调试装置的制作方法
专利名称：调试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于便携式电子装置的调试装置，尤其涉及一种用于便携式电子 装置的JTAG调试装置。
背景技术：
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议， 主要用于芯片内部测试。现有多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。JTAG 可进行电路采集、CPU读写、故障模拟等，实现开发工作过程中故障的观察、仿真、模拟。现有的JTAG接口一般包括TDI (Test Data Input，测试数据输入)引脚、TCK (Test Clocklnput，测试时钟信号)引脚、TMS(Test Mode Selection Input，测试模式转换信号) 引脚、TRST(Test Reset Input，测试复位信号)引脚、RST(Test Reset Input，内核复位信 号)引脚、TD0(Test Data Output，测试数据输出)引脚。在便携式电子装置电路发生故障后的修理过程中，经常需要对其进行JTAG调试。 此时，现有的测试方法大多需要从其内置的印刷电路板上将上述引脚引出，并通过焊接引 线连接到JTAG调试器上，而相应的JTAG调试器上也需要焊接引线以建立对应的电性连接。 然而，大多数现有的JTAG调试器都是插接式的，其插头构造并不易于进行焊线操作；同时， 焊接引线也容易引起电路板上的短路及断路，造成额外损失。
发明内容
针对上述问题，有必要提供一种安全可靠的调试装置。一种调试装置，其用于连接一 JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包 括一 JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一 USB接口及一复 位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG 接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调 试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。与现有技术相比，使用本发明的调试装置进行JTAG调试时，只需直接将JTAG调试 机连接至耳机电路的插孔及USB接口，即可由耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG 接口之间建立电性连接，从而对便携式电子装置进行JTAG调试。本发明无需进行复杂的焊 线操作，避免在焊线过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试具有更高效率且更加安全可罪。
图1为本发明较佳实施例的调试装置的功能模块图。图2为本发明较佳实施例的调试装置的电路图。
具体实施例方式请参阅图1及图2，本发明较佳实施例调试装置100用于连接一 JTAG调试机(图 未示)，以对移动电话、PDA等便携式电子装置进行JTAG调试。该调试装置100包括一 JTAG 接口 10、一耳机电路20、一开关切换单元30、一 USB接口 40及一复位电路50。该耳机电路 20经开关切换单元30与JTAG接口 10相连，该USB接口 40及复位电路50均与该与JTAG 接口 10相连。该JTAG接口 10包括8个引脚，该8个引脚可为待调试便携式电子装置内一电路 板上的电连接端，其用于与JTAG调试机建立连接，以进行JTAG调试。该8个引脚分别为Vdd 引脚11、GND引脚12、TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、TMS引脚16、RST引脚17及 TRST引脚18。其中，该GND引脚12接地；该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15与开关 切换单元30相连，以由开关切换单元30切换至与耳机电路20相连；该Vdd引脚11、TMS引 脚16、RST引脚17均与USB接口 40相连；从而，该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、 Vdd引脚11、TMS引脚16及RST引脚17可通过该耳机电路20及USB接口 40连接至JTAG 测试机；该TRST引脚18与复位电路50相连，其可接收复位电路50的内核复位信号，并进 行内核复位。该耳机电路20包括6个引脚，分别为接地(GND)引脚21、音频输入(MIC)引脚22、 二左音频输出(EAR_L0)引脚23及(EAR_L1)引脚24、二右音频输出(EAR_R0)引脚25及 (EAR_R1)引脚26。其中，该GND引脚21接地；该MIC引脚22、EAR_L0引脚23、EAR_L1引 脚24、EAR_R0引脚25及EAR_R1引脚26与便携式电子装置内电路板上的音频信号线相连， 以进行传统的音频输入及输出；同时，该MIC引脚22、EAR_L0弓丨脚23及EAR_R1弓丨脚26还 与开关切换单元30连接，进行引脚复用。另外，该耳机电路20具有一插孔(图未示)，该耳 机电路20可通过该插孔连接现有的JTAG调试机。该开关切换单元30用以根据插孔是否外接JTAG调试机切换耳机电路20的连接 状态。该开关切换单元30包括11个引脚，分别为接地(GND)引脚301、电源(Vdd)引脚302、 三输入(YA)引脚303、(YB)引脚304及(YC)引脚305、六输出(IAO)引脚306、(IAl)引脚 307、(IBO)引脚 308、(IBl)引脚 309、(ICO)引脚 310 及(ICl)引脚 311。其中，GND 引脚 301接地，Vdd引脚302连接至一电源V0 ；IAO引脚306、IAl引脚307、IBO引脚308、IBl引 脚309、ICO引脚310及ICl引脚311为信号输入/输出引脚，YA引脚303, YB引脚304, YC 引脚305形成第一引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引 脚26对应相连，以检测耳机插孔中是否接AJTAG调试机。IAO引脚306、IBO引脚308、ICO引脚310形成第二引脚组，分别与JTAG接口 10 的TDI引脚13,TDO引脚14及TCK引脚15对应相连耳机电路；IAl引脚307、IBl引脚309、 ICl引脚311形成第三引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_ Rl引脚26对应相连。该第二引脚组与第三引脚组在第一引脚组检测到耳机插孔中无JTAG 调试机接入时为断开状态，在检测到耳机插孔中有JTAG调试机接入时则切换为电性连接 状态，从而使耳机电路20在JTAG接口 10与JTAG调试机之间建立电性相连，而将JTAG调 试机连接至JTAG接口 10的TDI引脚13、TDO引脚14及TCK引脚15。该USB接口 40为一 miniUSB接口，其包括5个弓丨脚，该5个引脚分别为GND引脚 41、VCC引脚42、、ID弓丨脚43、D+引脚44及D-引脚45。其中，该GND弓丨脚41接地，该Vcc引
4脚42用以输入及输出电源，连接至一 Vusb电源，该ID引脚43用以在该USB接口 40与其他 便携式电子装置连接时，进行身份识别，该D+引脚44及D-引脚45用以传输数据；同时，该 ID引脚43、D+引脚44及D-引脚45分别与Vdd引脚11、TMS引脚16及RST引脚17相连， 以对Vdd引脚供电，并使JTAG调试机可通过连接该USB接口 40而连接至JTAG接口 10的 TMS引脚16及RST引脚17。该复位电路50由一与JTAG接口 10的TRST引脚18电性连接的零欧姆电阻形成。 该零欧姆电阻一端与TRST引脚18相连，另一端可与便携式电子装置内电路板相连，以接收 一内核复位信号并由TRST引脚18传送至JTAG接口 10。使用该JTAG装置100进行JTAG调试时，只需直接将现有JTAG调试器的插头分别 连接至耳机电路20的插孔及USB接口 40，其与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23、 EAR_R1引脚26相连以进行测试数据输入、测试数据输出及测试时钟信号传输，同时与USB 接口的ID引脚43、D+引脚44、D-引脚45相连以进行电源输入、测试模式转换信号及测试 复位信号输出，从而通过耳机电路20及USB接口 40在JTAG调试机与JTAG接口 10之间建 立电性连接，以对便携式电子装置进行JTAG调试，无需进行复杂的焊线操作，避免在焊线 过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试更加安全可靠。
权利要求
一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，其特征在于该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。
2.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于该JTAG接口包括一VDD引脚、一GND引 脚、一 TDI引脚、一 TDO引脚、一 TCK引脚、一 TMS引脚、一 RST引脚及一 TRST引脚；该GND 引脚接地；该TDI引脚、TDO引脚及TCK引脚经开关切换单元与耳机电路相连；该VDD引脚、 一 TMS引脚及一 RST引脚与USB接口相连；该TRST引脚与复位电路相连。
3.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该耳机电路包括GND引脚、MIC引脚、 EAR_L0引脚、EAR_L1引脚、EAR_R0引脚、EAR_R1引脚；该GND引脚接地，MIC引脚、EAR_L0 引脚及EAR_R1引脚与开关切换单元相连。
4.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该USB接口单元包括VCC引脚、GND引 脚、ID引脚、D-引脚及D+引脚，该VCC引脚连接至一电源，该GND引脚接地，该ID引脚、 D-引脚及D+引脚与VDD引脚、TRST引脚及TMS引脚相连。
5.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该复位电路由一与TRST引脚相连的零 欧姆电阻形成。
6.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该开关切换单元包括一GND引脚、一 VDD引脚、一第一引脚组、一第二引脚组及一第三引脚组，该GND引脚接地，该VDD引脚连接 至一电源，该第一引脚组与耳机电路相连，该第二引脚组与耳机电路相连，该第三引脚组与 JTAG接口相连；当第一引脚组检测到耳机电路有JTAG调试机接入时，将第二引脚组与第三 引脚组由断开状态切换至连接状态。
7.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于该第一引脚组包括与耳机电路相连的 一 YA引脚、一 YB引脚及一 YC弓丨脚。
8.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于该第二引脚组包括与耳机电路相连的 一 IAO引脚、一 IBO引及一 ICO引脚。
9.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于该第三引脚组包括与JTAG接口相连的 一 IAl引脚、一 IBl引脚及一 ICl引脚。
全文摘要
本发明提供一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。
文档编号G01R31/3185GK101893685SQ20091030255
公开日2010年11月24日 申请日期2009年5月23日 优先权日2009年5月23日
发明者韩佳庆 申请人:深圳富泰宏精密工业有限公司;奇美通讯股份有限公司
技术领域：
本发明涉及一种用于便携式电子装置的调试装置，尤其涉及一种用于便携式电子 装置的JTAG调试装置。
背景技术：
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议， 主要用于芯片内部测试。现有多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。JTAG 可进行电路采集、CPU读写、故障模拟等，实现开发工作过程中故障的观察、仿真、模拟。现有的JTAG接口一般包括TDI (Test Data Input，测试数据输入)引脚、TCK (Test Clocklnput，测试时钟信号)引脚、TMS(Test Mode Selection Input，测试模式转换信号) 引脚、TRST(Test Reset Input，测试复位信号)引脚、RST(Test Reset Input，内核复位信 号)引脚、TD0(Test Data Output，测试数据输出)引脚。在便携式电子装置电路发生故障后的修理过程中，经常需要对其进行JTAG调试。 此时，现有的测试方法大多需要从其内置的印刷电路板上将上述引脚引出，并通过焊接引 线连接到JTAG调试器上，而相应的JTAG调试器上也需要焊接引线以建立对应的电性连接。 然而，大多数现有的JTAG调试器都是插接式的，其插头构造并不易于进行焊线操作；同时， 焊接引线也容易引起电路板上的短路及断路，造成额外损失。
发明内容
针对上述问题，有必要提供一种安全可靠的调试装置。一种调试装置，其用于连接一 JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包 括一 JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一 USB接口及一复 位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG 接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调 试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。与现有技术相比，使用本发明的调试装置进行JTAG调试时，只需直接将JTAG调试 机连接至耳机电路的插孔及USB接口，即可由耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG 接口之间建立电性连接，从而对便携式电子装置进行JTAG调试。本发明无需进行复杂的焊 线操作，避免在焊线过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试具有更高效率且更加安全可罪。
图1为本发明较佳实施例的调试装置的功能模块图。图2为本发明较佳实施例的调试装置的电路图。
具体实施例方式请参阅图1及图2，本发明较佳实施例调试装置100用于连接一 JTAG调试机(图 未示)，以对移动电话、PDA等便携式电子装置进行JTAG调试。该调试装置100包括一 JTAG 接口 10、一耳机电路20、一开关切换单元30、一 USB接口 40及一复位电路50。该耳机电路 20经开关切换单元30与JTAG接口 10相连，该USB接口 40及复位电路50均与该与JTAG 接口 10相连。该JTAG接口 10包括8个引脚，该8个引脚可为待调试便携式电子装置内一电路 板上的电连接端，其用于与JTAG调试机建立连接，以进行JTAG调试。该8个引脚分别为Vdd 引脚11、GND引脚12、TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、TMS引脚16、RST引脚17及 TRST引脚18。其中，该GND引脚12接地；该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15与开关 切换单元30相连，以由开关切换单元30切换至与耳机电路20相连；该Vdd引脚11、TMS引 脚16、RST引脚17均与USB接口 40相连；从而，该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、 Vdd引脚11、TMS引脚16及RST引脚17可通过该耳机电路20及USB接口 40连接至JTAG 测试机；该TRST引脚18与复位电路50相连，其可接收复位电路50的内核复位信号，并进 行内核复位。该耳机电路20包括6个引脚，分别为接地(GND)引脚21、音频输入(MIC)引脚22、 二左音频输出(EAR_L0)引脚23及(EAR_L1)引脚24、二右音频输出(EAR_R0)引脚25及 (EAR_R1)引脚26。其中，该GND引脚21接地；该MIC引脚22、EAR_L0引脚23、EAR_L1引 脚24、EAR_R0引脚25及EAR_R1引脚26与便携式电子装置内电路板上的音频信号线相连， 以进行传统的音频输入及输出；同时，该MIC引脚22、EAR_L0弓丨脚23及EAR_R1弓丨脚26还 与开关切换单元30连接，进行引脚复用。另外，该耳机电路20具有一插孔(图未示)，该耳 机电路20可通过该插孔连接现有的JTAG调试机。该开关切换单元30用以根据插孔是否外接JTAG调试机切换耳机电路20的连接 状态。该开关切换单元30包括11个引脚，分别为接地(GND)引脚301、电源(Vdd)引脚302、 三输入(YA)引脚303、(YB)引脚304及(YC)引脚305、六输出(IAO)引脚306、(IAl)引脚 307、(IBO)引脚 308、(IBl)引脚 309、(ICO)引脚 310 及(ICl)引脚 311。其中，GND 引脚 301接地，Vdd引脚302连接至一电源V0 ；IAO引脚306、IAl引脚307、IBO引脚308、IBl引 脚309、ICO引脚310及ICl引脚311为信号输入/输出引脚，YA引脚303, YB引脚304, YC 引脚305形成第一引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引 脚26对应相连，以检测耳机插孔中是否接AJTAG调试机。IAO引脚306、IBO引脚308、ICO引脚310形成第二引脚组，分别与JTAG接口 10 的TDI引脚13,TDO引脚14及TCK引脚15对应相连耳机电路；IAl引脚307、IBl引脚309、 ICl引脚311形成第三引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_ Rl引脚26对应相连。该第二引脚组与第三引脚组在第一引脚组检测到耳机插孔中无JTAG 调试机接入时为断开状态，在检测到耳机插孔中有JTAG调试机接入时则切换为电性连接 状态，从而使耳机电路20在JTAG接口 10与JTAG调试机之间建立电性相连，而将JTAG调 试机连接至JTAG接口 10的TDI引脚13、TDO引脚14及TCK引脚15。该USB接口 40为一 miniUSB接口，其包括5个弓丨脚，该5个引脚分别为GND引脚 41、VCC引脚42、、ID弓丨脚43、D+引脚44及D-引脚45。其中，该GND弓丨脚41接地，该Vcc引
4脚42用以输入及输出电源，连接至一 Vusb电源，该ID引脚43用以在该USB接口 40与其他 便携式电子装置连接时，进行身份识别，该D+引脚44及D-引脚45用以传输数据；同时，该 ID引脚43、D+引脚44及D-引脚45分别与Vdd引脚11、TMS引脚16及RST引脚17相连， 以对Vdd引脚供电，并使JTAG调试机可通过连接该USB接口 40而连接至JTAG接口 10的 TMS引脚16及RST引脚17。该复位电路50由一与JTAG接口 10的TRST引脚18电性连接的零欧姆电阻形成。 该零欧姆电阻一端与TRST引脚18相连，另一端可与便携式电子装置内电路板相连，以接收 一内核复位信号并由TRST引脚18传送至JTAG接口 10。使用该JTAG装置100进行JTAG调试时，只需直接将现有JTAG调试器的插头分别 连接至耳机电路20的插孔及USB接口 40，其与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23、 EAR_R1引脚26相连以进行测试数据输入、测试数据输出及测试时钟信号传输，同时与USB 接口的ID引脚43、D+引脚44、D-引脚45相连以进行电源输入、测试模式转换信号及测试 复位信号输出，从而通过耳机电路20及USB接口 40在JTAG调试机与JTAG接口 10之间建 立电性连接，以对便携式电子装置进行JTAG调试，无需进行复杂的焊线操作，避免在焊线 过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试更加安全可靠。
权利要求
一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，其特征在于该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。
2.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于该JTAG接口包括一VDD引脚、一GND引 脚、一 TDI引脚、一 TDO引脚、一 TCK引脚、一 TMS引脚、一 RST引脚及一 TRST引脚；该GND 引脚接地；该TDI引脚、TDO引脚及TCK引脚经开关切换单元与耳机电路相连；该VDD引脚、 一 TMS引脚及一 RST引脚与USB接口相连；该TRST引脚与复位电路相连。
3.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该耳机电路包括GND引脚、MIC引脚、 EAR_L0引脚、EAR_L1引脚、EAR_R0引脚、EAR_R1引脚；该GND引脚接地，MIC引脚、EAR_L0 引脚及EAR_R1引脚与开关切换单元相连。
4.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该USB接口单元包括VCC引脚、GND引 脚、ID引脚、D-引脚及D+引脚，该VCC引脚连接至一电源，该GND引脚接地，该ID引脚、 D-引脚及D+引脚与VDD引脚、TRST引脚及TMS引脚相连。
5.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该复位电路由一与TRST引脚相连的零 欧姆电阻形成。
6.如权利要求2所述的调试装置，其特征在于该开关切换单元包括一GND引脚、一 VDD引脚、一第一引脚组、一第二引脚组及一第三引脚组，该GND引脚接地，该VDD引脚连接 至一电源，该第一引脚组与耳机电路相连，该第二引脚组与耳机电路相连，该第三引脚组与 JTAG接口相连；当第一引脚组检测到耳机电路有JTAG调试机接入时，将第二引脚组与第三 引脚组由断开状态切换至连接状态。
7.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于该第一引脚组包括与耳机电路相连的 一 YA引脚、一 YB引脚及一 YC弓丨脚。
8.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于该第二引脚组包括与耳机电路相连的 一 IAO引脚、一 IBO引及一 ICO引脚。
9.如权利要求6所述的调试装置，其特征在于该第三引脚组包括与JTAG接口相连的 一 IAl引脚、一 IBl引脚及一 ICl引脚。
全文摘要
本发明提供一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。
文档编号G01R31/3185GK101893685SQ20091030255
公开日2010年11月24日 申请日期2009年5月23日 优先权日2009年5月23日
发明者韩佳庆 申请人:深圳富泰宏精密工业有限公司;奇美通讯股份有限公司
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