等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法

xiaoxiao2020-7-23  10

专利名称:等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法
技术领域
本发明涉及等离子电视显示屏的驱动设计领域,具体的涉及到等离子电视驱动芯片能量 恢复功能的测试方法。
背景技术
PDP (等离子电视)是目前市场上主流的平板电视之一。PDP在前后玻璃面板上制造有三 组电极,分别是前面板上的水平扫描电极(Y)、维持电极(X),以及后面板上的垂直寻址 电极(data或Z)。在X和Y电极表面上覆有电介质,因此,X和Y之间可等效为一个由n个电容 Cpl至Cpn并联而成的容性负载,其中n是屏分辨率中列的数值。
PDP在进行图像显示时,需要向上述三种电极持续加载高压大电流脉冲。PDP行驱动芯片 和列驱动芯片的作用,就是在低压信号的控制下根据图像数据向各电极提供一定周期规律的 高压大电流脉冲,以实现各图像单元周期性的放电发光和复位熄灭。
由于每一个周期的充放电瞬间都不可避免地产生额外的浪涌位移电流,从而造成了很大 的能量损耗。因此,有必要在驱动电路中增加"能量恢复"(ERC)电路,以求解决无用的 能量耗费和电磁干扰问题。
通常的作法是在PDP扫描板(Y板)和维持放电板(X板)上增加由开关管、电感和电容 组成的能量恢复电路。为了进一步降低PDP显示屏的功耗,目前又出现了在其列驱动芯片中 设置能量恢复电路的方式。
其工作原理是根据"并联的电容之间会进行电荷能量从高向低的重新分配,直到这些 电容两端的电势差达到相同为止"的原理,可以在驱动芯片外接一个与屏电容Cpl至Cpn并联 的能量恢复电容Ce。在芯片内部ERC回路处于开启的情况下,当同一列前后相邻的图像数据 发生变化时,对应的图像单元的放电状态也会发生变化,这样就在并联电容之间存在了电荷 能量的重新分配,多余的能量就会从由放电发光转为熄灭的电容单元向包括Ce的其它并联电 容上充电。在下一子场开始时,Ce上的电荷又会向低电势的各个屏电容回充,从而达到能量 的回收利用。
PDP列驱动芯片内置ERC回路的开启,需满足两个必要条件 一是控制管脚CSE为高电位,二是前后同列对应输出端前后相邻图像数据存在差异。
驱动芯片内置ERC功能对于降低PDP显示屏的功率损耗显得尤为重要。好的ERC电路可以 回收45%的电荷能量。可是由于它是内置于集成电路之中,所以对于这部分电路,就不可能 像PDP的扫描板和维持放电板上的宏观能量回收电路那样,可以直观、直接地进行测试,而 必须要根据其工作特性,专门设计一种测试方法来进行测试检査。由于目前还没有针对列驱 动芯片内置ERC功能进行测试的方法。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提出一种等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法 ,可准确有效地对芯片内置的能量回收电路工作是否正常以及能量回收效率高低的测试。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测 试方法,包括以下步骤
a. 连接测试电路,将图像信号发生器接PDP屏的控制板,将示波器接待测PDP屏驱动芯片 的能量恢复控制端,其中图像信号发生器的输出、分辨率及帧频率需调至与PDP屏相匹配的 状态;
b. 将待测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端接高电位,接通PDP屏电源板所需的交流电源
c. 判断待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比较电路能否正常工作;
d. 判断待测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端控制是否正常;
e. 判断待测PDP屏驱动芯片ERC功能的时序是否满足PDP屏正常显示所需的时序条件;
f. 测定待测PDP屏驱动芯片内部ERC电路的能量回收最大效率将图像信号发生器的输出 调至"黑白隔行"信号,在示波器上观察输出电压的上升沿和下降沿的斜率变化发生的台阶 位置,根据台阶位置可判断出待测PDP屏驱动芯片内部ERC电路的能量回收的最大效率,若台 阶处于上升沿和下降沿的中间位置,则表明ERC电路最大可达到45。/。的能量回收;若台阶偏向 于上升沿则表明ERC电路最大能量回收小于45。/。;若台阶偏向于下降沿则表明ERC电路最大能 量回收大于45%。
所述步骤c中,判断待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比较电路能否正常工作的方 法是将图像信号发生器的输出调至"黑白隔行"信号,在示波器上观察待测PDP屏驱动芯 片任一输出电压的对应波形,根据其上升沿和下降沿有无斜率变化来判断待测PDP屏驱动芯 片内部的相邻图像数据比较电路能否检测出数据的变化;再将图像发生器的输出调至"全白",观察输出电压的对应波形;若"黑白隔行"图像时输出电压的上升沿和下降沿有斜率变 化,"全白"图像时没有,则说明待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比较电路能够正 常工作;否则,为不正常。
所述步骤d中,将图像发生器的输出调至"黑白隔行"信号,能量恢复控制端接高电平 ,在示波器上观察任一路输出电压的波形,观察其上升沿和下降沿有无斜率变化;再将能量 恢复控制端接零电位,观察输出电压波形,上升沿和下降沿的斜率变化是否消失;若在能量 恢复控制端接高电平时输出电压的上升沿和下降沿有斜率变化,而在接地时没有,则说明待 测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端控制正常;否则,为不正常。
所述步骤e中,将图像信号发生器的输出调至"黑白隔行"信号,能量恢复控制端接控 制板的对应输出信号,测试出能量恢复控制端上升沿至待测PDP屏驱动芯片输出电压上升沿 ERC台阶处的延迟时间tsl,以及能量恢复控制端上升沿至待测PDP屏驱动芯片输出电压下降 沿ERC台阶处的延迟时间ts2,根据tsl、 ts2的值对比PDP屏正常显示所需的时序条件,可判 断出待测PDP屏驱动芯片ERC功能的时序是否满足条件。
本发明的有益效果是准确有效地对PDP屏驱动芯片内置的ERC电路的功能好坏以及能量 回收效率的高低进行测试,便于PDP屏驱动芯片的设计。


图l为本发明的方法流程图。
具体实施例方式
下面结合附图及实施例对本发明作进一步的描述。
本发明针对现有技术中缺乏针对PDP屏列驱动芯片ERC功能测试的方法的不足,提出了一 种PDP驱动芯片ERC功能的测试方法,可准确有效地对PDP屏驱动芯片内置的ERC电路的功能好 坏以及能量回收效率的高低进行测试,便于PDP屏驱动芯片的设计。
如图1所示,本发明包括以下步骤a.连接测试电路,将图像信号发生器接PDP屏的控制 板,将示波器接待测PDP屏驱动芯片(以下简称待测芯片)的能量恢复控制端(以下简称CSE 端),其中图像信号发生器的输出、分辨率及帧频率需调至与PDP屏相匹配的状态;b.将待 测芯片的CSE端接高电位,接通PDP屏电源板所需的交流电源;c.判断待测芯片内部的相邻图 像数据比较电路能否正常工作;d.判断待测芯片的CSE端控制是否正常;e.判断待测芯片ERC 功能的时序是否满足PDP屏正常显示所需的时序条件;f.测定待测芯片内部ERC电路的能量回 收最大效率。下面以42英寸、分辨率为1024X768的PDP屏为例,对屏上与data电极绑定相连的待测芯 片的内置ERC功能进行测试
1) 、连接测试电路,将图像信号发生器接PDP屏的控制板,将示波器接待测芯片的CSE 端,其中图像信号发生器的输出信号的分辨率及帧频调至"1024X768、 60HZ"。
2) 、将待测芯片的CSE端接+3. 3V高电位,接通PDP屏电源板所需的100 240V交流电源
3) 、将图像发生器的输出调至"黑白隔行"信号,以满足开启ERC的条件之一。观察待 测芯片任一输出电压(Vout)的对应波形,根据Vout在其上升沿(对应能量恢复电容Ce和电 源向容性负载Cpn充电的过程)和下降沿(对应Cpn向Ce和地放电的过程)上有无斜率变化( 台阶)来判断待测芯片内部的相邻图像数据比较电路能否正常工作。再将图像发生器的输出 调至"全白",观察此时Vout的对应波形,若在"黑白隔行"图像时Vout上升沿和下降沿有 台阶,在"全白"时Vout上升沿和下降沿斜率不变,则说明此时待测芯片内部的相邻数据比 较电路工作正常,并可在需要的时候开启或关闭内部ERC回路。因为只有当Cpn和Ce之间存在 着能量的重新分配时,Vout才会出现上升和下降沿斜率的改变,也即ERC发挥了作用。若在 显示"黑白隔行"和"全白"图像时,Vout均无斜率的变化,则说明待测芯片内部的相邻数 据比较电路无法正常工作。
4) 、将图像发生器的输出调至"黑白隔行"信号,以满足开启ERC的条件之一。将待测 芯片的CSE接+3.3V高电位,观察芯片任一路输出电压Vout的波形,根据Vout在其上升和下降 沿上有无斜率变化来判断ERC是否起作用;再将CSE接零电位(地),观察此时Vout的对应波 形,若在CSE接高电位时输出电压的上升沿和下降沿有斜率变化,而在CSE接地时没有,则说 明待测芯片的CSE控制正常;否则,为不正常。
5) 、将信号发生器的输出信号调至"黑白隔行",以满足开启ERC的条件之一,CSE端 接控制板的对应输出信号。测试出CSE上升沿至芯片输出电压上升沿ERC台阶处的延迟时间 tsl为240ns,以及CSE上升沿至芯片输出电压下降沿ERC台阶处的延迟时间ts2为200ns,经过 比较,满足时序要求。若tsl、 ts2太大,则说明在待测芯片内部从CSE变化到开启或关断ERC 回路的时延太长,可能导致Ce和Cpn之间没有充足的能量转换时间;若tsl、 ts2太小,则说 明在待测芯片内部从CSE变化到开启或关断ERC回路的时延不够,可能导致芯片输出端ERC回 路和外部电源向屏充电以及屏对地放电回路同时开启,致使输出端MOS管有过大的瞬态电流穿过而被烧毁。
6)、将信号发生器的输出信号调至"黑白隔行",观察Vout的上升沿和下降沿的斜率 变化发生的位置,根据台阶位置可判断出待测芯片内部ERC的能量恢复最大效率,若台阶处 于上升沿和下降沿的中间位置,则表明ERC最大可达到45。/。的能量回收;若台阶偏向于上升沿 则表明ERC电路最大能量回收小于45y。;若台阶偏向于下降沿则表明ERC电路最大能量回收大 于45%。此外,还能通过测试待观PDP屏驱动芯片的外接能量恢复电容上的电压和电流,通过 计算其平均功率来测定内部ERC电路的能量回收最大效率。
权利要求
1.等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法,其特征在于包括以下步骤a.连接测试电路,将图像信号发生器接PDP屏的控制板,将示波器接待测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端,其中图像信号发生器的输出、分辨率及帧频率需调至与PDP屏相匹配的状态;b.将待测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端接高电位,接通PDP屏电源板所需的交流电源;c.判断待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比较电路能否正常工作;d.判断待测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端控制是否正常;e.判断待测PDP屏驱动芯片ERC功能的时序是否满足PDP屏正常显示所需的时序条件;f.测定待测PDP屏驱动芯片内部ERC电路的能量回收最大效率将图像信号发生器的输出调至“黑白隔行”信号,在示波器上观察输出电压的上升沿和下降沿的斜率变化发生的台阶位置,根据台阶位置可判断出待测PDP屏驱动芯片内部ERC电路的能量回收的最大效率,若台阶处于上升沿和下降沿的中间位置,则表明ERC电路最大可达到45%的能量回收;若台阶偏向于上升沿则表明ERC电路最大能量回收小于45%;若台阶偏向于下降沿则表明ERC电路最大能量回收大于45%。
2.如权利要求l所述的等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法 ,其特征在于所述步骤c中,判断待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比较电路能否正 常工作的方法是将图像信号发生器的输出调至"黑白隔行"信号,在示波器上观察待测 PDP屏驱动芯片任一输出电压的对应波形,根据其上升沿和下降沿有无斜率变化来判断待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比较电路能否检测出数据的变化;再将图像发生器的输出调至"全白",观察输出电压的对应波形;若"黑白隔行"图像时输出电压的上升沿和下 降沿有斜率变化,"全白"图像时没有,则说明待测PDP屏驱动芯片内部的相邻图像数据比 较电路能够正常工作;否则,为不正常。
3 如权利要求1或2所述的等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试 方法,其特征在于所述步骤d中,将图像发生器的输出调至"黑白隔行"信号,能量恢复控制端接高电平,在示波器上观察任一路输出电压的波形,观察其上升沿和下降沿有无斜率变化;再将能量恢复控制端接零电位,观察输出电压波形,上升沿和下降沿的斜率变化是否 消失;若在能量恢复控制端接高电平时输出电压的上升沿和下降沿有斜率变化,而在接地时 没有,则说明待测PDP屏驱动芯片的能量恢复控制端控制正常;否则,为不正常。
4 如权利要求1或2所述的等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试 方法,其特征在于所述步骤e中,将图像信号发生器的输出调至"黑白隔行"信号,能量 恢复控制端接控制板的对应输出信号,测试出能量恢复控制端上升沿至待测PDP屏驱动芯片 输出电压上升沿ERC台阶处的延迟时间tsl,以及能量恢复控制端上升沿至待测PDP屏驱动芯 片输出电压下降沿ERC台阶处的延迟时间ts2,根据tsl、 ts2的值对比PDP屏正常显示所需的 时序条件,可判断出待测PDP屏驱动芯片ERC功能的时序是否满足条件。
全文摘要
本发明涉及PDP显示屏的驱动设计领域,具体的涉及到等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法。本发明公开了一种等离子电视驱动芯片能量恢复功能的测试方法,可有效地对芯片内置的能量回收电路工作情况以及能量回收效率高低的测试。其技术方案的要点可概括为a.连接测试电路;b.将待测芯片的CSE接高电位,接通PDP屏电源;c.判断相邻图像数据比较电路能否正常工作;d.判断CSE端控制是否正常;e.判断ERC的时序是否满足正常显示所需时序条件;f.测定ERC电路的能量回收最大效率。本发明可准确有效地对PDP屏驱动芯片内置的ERC电路的功能好坏以及能量回收效率的高低进行测试,适用于PDP屏驱动芯片设计行业。
文档编号G01R31/00GK101587679SQ20091030400
公开日2009年11月25日 申请日期2009年7月3日 优先权日2009年7月3日
发明者珣 李 申请人:四川长虹电器股份有限公司

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