自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法
专利名称：自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法
技术领域：
本发明涉及一种评估测试方法，尤其是涉及一种基于Javelin飞针测试机台控制 软件下开发的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法。
背景技术：
当某一个机种的飞针测试程序调试完毕后，针对其测试数据进行分析，以获得客 户所需要的该所测机种的测试覆盖率报告。在对某一机种进行测试覆盖率评估时，原有机 台自带的测试覆盖率产生程序是将经调试后的结果文件直接格式化后成为文本文件输出， 供用户查阅。然以文本文件输出的测试程序测试覆盖率评估报告可读性很低，文本文件描述的 格式及标识比较零乱，且对每个被测试元件的测试方法不能够做出详细说明，若对此种测 试程序测试覆盖率评估报告进行重新整理，以便于测试人员能一目了然其测试覆盖状况， 则需要耗费大量的人力及时间，尤其是当被测机种的测试板比较大，被测试元件较多时，需 要耗费更长的时间。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提供了一种基于Javelin飞针测试机台控制软件下开发的 自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法。为了达到上述目的，本发明采用了如下的技术方案一种自动生成飞针测试程序 测试覆盖率的方法，其基于Javelin飞针测试机台控制软件下开发，该方法主要包括以下 步骤a.指定飞针程序目录；b.读取飞针程序调试完毕后的测试数据；其特征在于，该方法还包括以下步骤c.判断测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试的测试数据，若是，则该测 试数据为有效测试数据，若否，则该测试数据为无效测试数据；d.对有效测试数据进行分析，将有效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元 件名称及对应的有效测试数据；e.对无效测试数据进行分析，将无效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元 件名称及对应的无效测试数据； f.判断步骤d及步骤e存储的测试数据是否有重复，若有重复，则将重复的测试数 据去除，并计算测试覆盖率，若无重复，则计算测试覆盖率；g.输出测试覆盖率及存储结果。较佳的，本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其中，所述 测试数据主要包括测试机种名、元件总数、可测元件数量及元件名称、不可测元件数量及元 件名称、测试方法和不可测原因等，此外，步骤g中的测试覆盖率及存储结果以表格形式输
出ο
相较于先前技术，本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法， 对测试结果进行自动分析后汇成表格形式进行分类存储，测试人员能够直观地获取测试覆 盖率或其他信息。
图1是本发明的方法流程图。
具体实施例方式请参照图1所示，为本发明的方法流程图。本发明提供了一种自动生成飞针测试 程序测试覆盖率的方法，其基于Javelin飞针测试机台控制软件下开发，所述飞针测试是 对印刷电路板进行电气测试的一种测试方法，通过飞针与印刷电路板接触，以测试印刷电 路板上的电阻阻值、电容容值等电气性能。其中，本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，该方法主要 包括以下步骤步骤101.指定飞针程序目录；步骤102.读取飞针程序调试完毕后的测试数据；步骤103.判断当前的测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试测得的测 试数据，若是，则当前的测试数据为有效测试数据，若否，则当前的测试数据为无效测试数 据；步骤104.对有效测试数据进行分析，将有效测试数据按元件类型进行分类存储， 将其元件名称及与该元件名称对应的有效测试数据进行存储，元件类型包括电阻、二极管、 三极管、连接器及电容等；步骤105.对无效测试数据进行分析，将元件经调试后未对元件进行有效测试的 元件的元件名称及其对应的无效测试数据进行存储；步骤106.判断步骤104及步骤105存储的测试数据是否有重复；步骤107.若有重复，则将重复的测试数据去除，并计算测试覆盖率，所述测试覆 盖率应为经有效测试步骤测试的元件数量占印刷电路板上的元件数量的百分比；步骤108.若无重复，则计算测试覆盖率；步骤109.将测试覆盖率及存储结果以表格形式输出。其中，所述测试数据主要包括测试机种名、元件总数、可测元件数量及元件名称、 不可测元件数量及元件名称、测试方法和不可测原因等。本发明所述的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法基于Javelin飞针测试 机台控制软件下开发，能够对飞针测试调试后的测试结果自动分析，按元件类型进行分类 存储，并将测试结果汇成表格形式输出，以令测试人员能够直观地获取测试覆盖率等信息， 有效地节省了人力及时间。
权利要求
一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其特征在于，该方法主要包括以下步骤a.指定飞针程序目录；b.读取飞针程序调试完毕后的测试数据；其特征在于，该方法还包括以下步骤c.判断测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试的测试数据，若是，则该测试数据为有效测试数据，若否，则该测试数据为无效测试数据；d.对有效测试数据进行分析，将有效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元件名称及对应的有效测试数据；e.对无效测试数据进行分析，将无效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元件名称及对应的无效测试数据；f.判断步骤d及步骤e存储的测试数据是否有重复，若有重复，则将重复的测试数据去除，并计算测试覆盖率，若无重复，则计算测试覆盖率；g.输出测试覆盖率及存储结果。
2.根据权利要求1所述的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其特征在于，所 述测试数据主要包括测试机种名、元件总数、可测元件数量及元件名称、不可测元件数量及 元件名称、测试方法和不可测原因。
3.根据权利要求1所述的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其特征在于，步 骤g中的测试覆盖率及存储结果以表格形式输出。
全文摘要
本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其包括以下步骤指定飞针程序目录；读取飞针测试调试后的测试数据；判断测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试的测试数据，若是，则为有效测试数据，若否，则为无效测试数据；对有效测试数据进行分析，将其按元件类型进行存储，存储元件名称及对应的有效测试数据；对无效测试数据进行分析，将无效测试数据进行分类存储；判断存储的测试数据是否有重复，若有重复，则去除重复的测试数据，若无重复，则计算测试覆盖率；输出测试覆盖率及存储结果。本发明对测试结果进行自动分析后存储并汇成表格形式，可直观地获取测试覆盖率或其他信息。
文档编号G01R31/26GK101989201SQ20091030533
公开日2011年3月23日 申请日期2009年8月7日 优先权日2009年8月7日
发明者李军 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
技术领域：
本发明涉及一种评估测试方法，尤其是涉及一种基于Javelin飞针测试机台控制 软件下开发的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法。
背景技术：
当某一个机种的飞针测试程序调试完毕后，针对其测试数据进行分析，以获得客 户所需要的该所测机种的测试覆盖率报告。在对某一机种进行测试覆盖率评估时，原有机 台自带的测试覆盖率产生程序是将经调试后的结果文件直接格式化后成为文本文件输出， 供用户查阅。然以文本文件输出的测试程序测试覆盖率评估报告可读性很低，文本文件描述的 格式及标识比较零乱，且对每个被测试元件的测试方法不能够做出详细说明，若对此种测 试程序测试覆盖率评估报告进行重新整理，以便于测试人员能一目了然其测试覆盖状况， 则需要耗费大量的人力及时间，尤其是当被测机种的测试板比较大，被测试元件较多时，需 要耗费更长的时间。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提供了一种基于Javelin飞针测试机台控制软件下开发的 自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法。为了达到上述目的，本发明采用了如下的技术方案一种自动生成飞针测试程序 测试覆盖率的方法，其基于Javelin飞针测试机台控制软件下开发，该方法主要包括以下 步骤a.指定飞针程序目录；b.读取飞针程序调试完毕后的测试数据；其特征在于，该方法还包括以下步骤c.判断测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试的测试数据，若是，则该测 试数据为有效测试数据，若否，则该测试数据为无效测试数据；d.对有效测试数据进行分析，将有效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元 件名称及对应的有效测试数据；e.对无效测试数据进行分析，将无效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元 件名称及对应的无效测试数据； f.判断步骤d及步骤e存储的测试数据是否有重复，若有重复，则将重复的测试数 据去除，并计算测试覆盖率，若无重复，则计算测试覆盖率；g.输出测试覆盖率及存储结果。较佳的，本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其中，所述 测试数据主要包括测试机种名、元件总数、可测元件数量及元件名称、不可测元件数量及元 件名称、测试方法和不可测原因等，此外，步骤g中的测试覆盖率及存储结果以表格形式输
出ο
相较于先前技术，本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法， 对测试结果进行自动分析后汇成表格形式进行分类存储，测试人员能够直观地获取测试覆 盖率或其他信息。
图1是本发明的方法流程图。
具体实施例方式请参照图1所示，为本发明的方法流程图。本发明提供了一种自动生成飞针测试 程序测试覆盖率的方法，其基于Javelin飞针测试机台控制软件下开发，所述飞针测试是 对印刷电路板进行电气测试的一种测试方法，通过飞针与印刷电路板接触，以测试印刷电 路板上的电阻阻值、电容容值等电气性能。其中，本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，该方法主要 包括以下步骤步骤101.指定飞针程序目录；步骤102.读取飞针程序调试完毕后的测试数据；步骤103.判断当前的测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试测得的测 试数据，若是，则当前的测试数据为有效测试数据，若否，则当前的测试数据为无效测试数 据；步骤104.对有效测试数据进行分析，将有效测试数据按元件类型进行分类存储， 将其元件名称及与该元件名称对应的有效测试数据进行存储，元件类型包括电阻、二极管、 三极管、连接器及电容等；步骤105.对无效测试数据进行分析，将元件经调试后未对元件进行有效测试的 元件的元件名称及其对应的无效测试数据进行存储；步骤106.判断步骤104及步骤105存储的测试数据是否有重复；步骤107.若有重复，则将重复的测试数据去除，并计算测试覆盖率，所述测试覆 盖率应为经有效测试步骤测试的元件数量占印刷电路板上的元件数量的百分比；步骤108.若无重复，则计算测试覆盖率；步骤109.将测试覆盖率及存储结果以表格形式输出。其中，所述测试数据主要包括测试机种名、元件总数、可测元件数量及元件名称、 不可测元件数量及元件名称、测试方法和不可测原因等。本发明所述的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法基于Javelin飞针测试 机台控制软件下开发，能够对飞针测试调试后的测试结果自动分析，按元件类型进行分类 存储，并将测试结果汇成表格形式输出，以令测试人员能够直观地获取测试覆盖率等信息， 有效地节省了人力及时间。
权利要求
一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其特征在于，该方法主要包括以下步骤a.指定飞针程序目录；b.读取飞针程序调试完毕后的测试数据；其特征在于，该方法还包括以下步骤c.判断测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试的测试数据，若是，则该测试数据为有效测试数据，若否，则该测试数据为无效测试数据；d.对有效测试数据进行分析，将有效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元件名称及对应的有效测试数据；e.对无效测试数据进行分析，将无效测试数据按元件类型进行分类存储，存储元件名称及对应的无效测试数据；f.判断步骤d及步骤e存储的测试数据是否有重复，若有重复，则将重复的测试数据去除，并计算测试覆盖率，若无重复，则计算测试覆盖率；g.输出测试覆盖率及存储结果。
2.根据权利要求1所述的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其特征在于，所 述测试数据主要包括测试机种名、元件总数、可测元件数量及元件名称、不可测元件数量及 元件名称、测试方法和不可测原因。
3.根据权利要求1所述的自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其特征在于，步 骤g中的测试覆盖率及存储结果以表格形式输出。
全文摘要
本发明提供了一种自动生成飞针测试程序测试覆盖率的方法，其包括以下步骤指定飞针程序目录；读取飞针测试调试后的测试数据；判断测试数据是否为经调试后对元件进行有效测试的测试数据，若是，则为有效测试数据，若否，则为无效测试数据；对有效测试数据进行分析，将其按元件类型进行存储，存储元件名称及对应的有效测试数据；对无效测试数据进行分析，将无效测试数据进行分类存储；判断存储的测试数据是否有重复，若有重复，则去除重复的测试数据，若无重复，则计算测试覆盖率；输出测试覆盖率及存储结果。本发明对测试结果进行自动分析后存储并汇成表格形式，可直观地获取测试覆盖率或其他信息。
文档编号G01R31/26GK101989201SQ20091030533
公开日2011年3月23日 申请日期2009年8月7日 优先权日2009年8月7日
发明者李军 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
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