一种译码器测试装置的制作方法
专利名称：一种译码器测试装置的制作方法
技术领域：
本发明属于译码器技术领域，具体涉及一种译码器测试装置。
背景技术：
就目前工业领域中，很多操作台上都使用译码器来显示现场设备的状态，有可显示高度、速度、旋转角度等。通常是由PLC直接驱动显示的，PLC通过输出BCD码给译码器从而驱动数码管。但是由于操作环境及设备影响，常造成译码器失真，如其中一个数码管损坏掉，又是很难被操作人员发现，比如A管的损坏，那本来应该读取数字7，却变成显示是1， 在这过程中操作人员无法准确判断显示值是否正确，也无法判断译码器工作是否正常，这样就会给操作人员带来读取数据不准确，易造成操作人员的误动作，严重的还会引起设备事故甚至人身伤亡事故。特别在目前很多工业领域广泛使用的七段译码器是由PLC直接驱动显示的，PLC 通过输出BCD码给译码器从而驱动七段数码管，在这过程中操作人员无法准确判断显示值是否正确，也无法判断译码器工作是否正常，这些都需要专业的人员来调试判断，需要花一定时间。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种可以随时测试译码器是否正常工作的测
试装置。为解决上述技术问题，本发明的技术方案为
一种译码器测试装置，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源，所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡，所述微处理器模块发出的 BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。所述的译码器测试装置，还包括反馈单元模块，所述反馈单元模块采集所述微处理器模块发出BCD信号及所述译码器运行状态信号，并判断是否与输入的BCD码信号相匹配后，再反馈给所述微处理器模块。所述译码器测试装置，还包括运行状态指示模块，运行状态指示模块接收所述微处理器模块的故障信号。所述译码器测试装置，还包括光电隔离输入模块，所述光电隔离输入模块将接收的BCD码信号输入所述微处理器模块，经运算处理发出BCD码数字信号，信号由所述光电隔离输出模块输出，驱动所述译码器。所述微处理器模块为AT89S52芯片。所述直流稳压电路模块选用LM7805集成电路。所述光电隔离输出模块包括TLP51-1管。所述反馈单元模块包括TLP51-1管。
所述光电隔离输入模块包括TLP51-1管。本发明的有益效果是结构简单、运行可靠、可以随时在不影响生产的时候，由操作人员在第一时间内准确无误判断译码器读取的数值是否正常，从而减少误操作。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明的技术方案作进一步具体说明。图1为本发明实施例七段译码器测试装置硬件配置图。图2为本发明实施例七段译码器测试装置电路原理图。
具体实施例方式如图I和图2所示，一种七段译码器测试装置，其直流稳压电路模块LM7805稳压管2给微处理器模块AT89S52芯片I提供5V工作电源，晶振时钟模块2接入所述微处理器模块AT89S52芯片1，组成微处理器模块AT89S52芯片I的内部振荡。在平时正常工作情况下，微处理器模块AT89S52芯片I自动接收来自光电隔离输入模块TLP51-1管3的B⑶码信号，经运算处理发出并行或串行的BCD码数字信号，信号由四路光电隔离输出模块TLP51-1 管4，驱动七段译码器。如需人为测试七段译码器，那么微处理器模块AT89S52芯片I将屏蔽外围输入的BCD码信号，自身发出多组用来测试七段译码器的BCD码信号，信号由带光电隔离的输出模块TLP51-1管4驱动七段译码器显示，这样现场人员就可以一目了然的判断七段译码器是否正常工作。四路运行反馈单元模块TLP51-1管5及时采集微处理器模块 AT89S52芯片I的输出信号是否与输入的B⑶码信号相匹配，在无人员测试情况下也能通过这种反馈形式，自动实时监控七段译码器的工作情况；运行状态指示模块7接收微处理器模块AT89S52芯片I的故障信号。其运行过程为四路光电隔离输入模块TLP51-1管3的输入由JPl端子24V供电， 光电隔离B⑶码信号通过Pl. O、Pl. I、Pl. 2、Pl. 3输入微处理器中，控制输出光电隔离 PO. UP0. 2,PO. 3,PO. 4，经上拉电阻R300欧，由JP2供24V电信号输出；晶振时钟模块2的 C101, C102和晶振CYlOl接入微处理器模块AT89S52芯片I的XTALl、XTAL2，组成AT89s52 的内部振荡，一路开关控制输入带光电隔电接P3. O测试端。运行状态指示灯接P3. 4上拉电阻驱动LED灯(绿)亮，输出信号和反馈信号交由微处理器模块AT89S52芯片I运算，如果工作正常由P3. 3接上拉电阻驱动LED灯(黄)亮，其反馈结果由P2. 0、P2. 1、P2. 2、P2. 3、输入判断是否正常工作，如出现故障运行状态指示灯P3. 2上拉电阻驱动LED灯(红)亮。本发明的有益效果是结构简单、工作可靠、可以随时在不影响生产的时候，由操作人员在第一时间内通过故障运行状态指示灯直接显示译码器读取的数值是否正常，从而判断译码器工作是否正常，减少误操作。最后所应说明的是，以上具体实施方式
仅用以说明本发明的技术方案而非限制， 尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
权利要求
1.一种译码器测试装置，其特征是，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源；所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡；所述微处理器模块发出的BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。
2.根据权利要求I所述的译码器测试装置，其特征在于，还包括反馈单元模块，所述反馈单元模块采集所述微处理器模块发出BCD信号及所述译码器运行状态信号，并判断是否与输入的BCD码信号相匹配后，再反馈给所述微处理器模块。
3.根据权利要求I或2所述译码器测试装置，其特征在于，还包括运行状态指示模块， 运行状态指示模块接收所述微处理器模块的故障信号。
4.根据权利要求I或2所述译码器测试装置，其特征在于，还包括光电隔离输入模块， 所述光电隔离输入模块将接收的B⑶码信号输入所述微处理器模块，经运算处理发出B⑶ 码数字信号，信号由所述光电隔离输出模块输出，驱动所述译码器。
5.根据权利要求I或2所述译码器测试装置，其特征在于，所述微处理器模块为 AT89S52 芯片。
6.根据权利要求I或2所述的译码器测试装置，其特征在于，所述直流稳压电路模块选用LM7805集成电路。
7.根据权利要求I或2所述的译码器测试装置，其特征在于，光电隔离输出模块包括 TLP51-1 管。
8.根据权利要求2所述的译码器测试装置，其特征在于，所述反馈单元模块包括 TLP51-1 管。
9.根据权利要求4所述的译码器测试装置，其特征在于，所述光电隔离输入模块包括 TLP51-1 管。
全文摘要
本发明属于译码器技术领域，具体涉及一种译码器测试装置，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源，所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡，所述微处理器模块发出的BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。本发明的有益效果是结构简单，运行可靠，可以随时在不影响生产的时候，由操作人员在第一时间内准确无误判断译码器读取的数值是否正常，从而减少误操作。
文档编号G01R31/28GK102590734SQ20121009268
公开日2012年7月18日 申请日期2012年3月31日 优先权日2012年3月31日
发明者丁钢, 徐俊, 邹红 申请人:武汉钢铁(集团)公司
技术领域：
本发明属于译码器技术领域，具体涉及一种译码器测试装置。
背景技术：
就目前工业领域中，很多操作台上都使用译码器来显示现场设备的状态，有可显示高度、速度、旋转角度等。通常是由PLC直接驱动显示的，PLC通过输出BCD码给译码器从而驱动数码管。但是由于操作环境及设备影响，常造成译码器失真，如其中一个数码管损坏掉，又是很难被操作人员发现，比如A管的损坏，那本来应该读取数字7，却变成显示是1， 在这过程中操作人员无法准确判断显示值是否正确，也无法判断译码器工作是否正常，这样就会给操作人员带来读取数据不准确，易造成操作人员的误动作，严重的还会引起设备事故甚至人身伤亡事故。特别在目前很多工业领域广泛使用的七段译码器是由PLC直接驱动显示的，PLC 通过输出BCD码给译码器从而驱动七段数码管，在这过程中操作人员无法准确判断显示值是否正确，也无法判断译码器工作是否正常，这些都需要专业的人员来调试判断，需要花一定时间。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种可以随时测试译码器是否正常工作的测
试装置。为解决上述技术问题，本发明的技术方案为
一种译码器测试装置，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源，所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡，所述微处理器模块发出的 BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。所述的译码器测试装置，还包括反馈单元模块，所述反馈单元模块采集所述微处理器模块发出BCD信号及所述译码器运行状态信号，并判断是否与输入的BCD码信号相匹配后，再反馈给所述微处理器模块。所述译码器测试装置，还包括运行状态指示模块，运行状态指示模块接收所述微处理器模块的故障信号。所述译码器测试装置，还包括光电隔离输入模块，所述光电隔离输入模块将接收的BCD码信号输入所述微处理器模块，经运算处理发出BCD码数字信号，信号由所述光电隔离输出模块输出，驱动所述译码器。所述微处理器模块为AT89S52芯片。所述直流稳压电路模块选用LM7805集成电路。所述光电隔离输出模块包括TLP51-1管。所述反馈单元模块包括TLP51-1管。
所述光电隔离输入模块包括TLP51-1管。本发明的有益效果是结构简单、运行可靠、可以随时在不影响生产的时候，由操作人员在第一时间内准确无误判断译码器读取的数值是否正常，从而减少误操作。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明的技术方案作进一步具体说明。图1为本发明实施例七段译码器测试装置硬件配置图。图2为本发明实施例七段译码器测试装置电路原理图。
具体实施例方式如图I和图2所示，一种七段译码器测试装置，其直流稳压电路模块LM7805稳压管2给微处理器模块AT89S52芯片I提供5V工作电源，晶振时钟模块2接入所述微处理器模块AT89S52芯片1，组成微处理器模块AT89S52芯片I的内部振荡。在平时正常工作情况下，微处理器模块AT89S52芯片I自动接收来自光电隔离输入模块TLP51-1管3的B⑶码信号，经运算处理发出并行或串行的BCD码数字信号，信号由四路光电隔离输出模块TLP51-1 管4，驱动七段译码器。如需人为测试七段译码器，那么微处理器模块AT89S52芯片I将屏蔽外围输入的BCD码信号，自身发出多组用来测试七段译码器的BCD码信号，信号由带光电隔离的输出模块TLP51-1管4驱动七段译码器显示，这样现场人员就可以一目了然的判断七段译码器是否正常工作。四路运行反馈单元模块TLP51-1管5及时采集微处理器模块 AT89S52芯片I的输出信号是否与输入的B⑶码信号相匹配，在无人员测试情况下也能通过这种反馈形式，自动实时监控七段译码器的工作情况；运行状态指示模块7接收微处理器模块AT89S52芯片I的故障信号。其运行过程为四路光电隔离输入模块TLP51-1管3的输入由JPl端子24V供电， 光电隔离B⑶码信号通过Pl. O、Pl. I、Pl. 2、Pl. 3输入微处理器中，控制输出光电隔离 PO. UP0. 2,PO. 3,PO. 4，经上拉电阻R300欧，由JP2供24V电信号输出；晶振时钟模块2的 C101, C102和晶振CYlOl接入微处理器模块AT89S52芯片I的XTALl、XTAL2，组成AT89s52 的内部振荡，一路开关控制输入带光电隔电接P3. O测试端。运行状态指示灯接P3. 4上拉电阻驱动LED灯(绿)亮，输出信号和反馈信号交由微处理器模块AT89S52芯片I运算，如果工作正常由P3. 3接上拉电阻驱动LED灯(黄)亮，其反馈结果由P2. 0、P2. 1、P2. 2、P2. 3、输入判断是否正常工作，如出现故障运行状态指示灯P3. 2上拉电阻驱动LED灯(红)亮。本发明的有益效果是结构简单、工作可靠、可以随时在不影响生产的时候，由操作人员在第一时间内通过故障运行状态指示灯直接显示译码器读取的数值是否正常，从而判断译码器工作是否正常，减少误操作。最后所应说明的是，以上具体实施方式
仅用以说明本发明的技术方案而非限制， 尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
权利要求
1.一种译码器测试装置，其特征是，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源；所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡；所述微处理器模块发出的BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。
2.根据权利要求I所述的译码器测试装置，其特征在于，还包括反馈单元模块，所述反馈单元模块采集所述微处理器模块发出BCD信号及所述译码器运行状态信号，并判断是否与输入的BCD码信号相匹配后，再反馈给所述微处理器模块。
3.根据权利要求I或2所述译码器测试装置，其特征在于，还包括运行状态指示模块， 运行状态指示模块接收所述微处理器模块的故障信号。
4.根据权利要求I或2所述译码器测试装置，其特征在于，还包括光电隔离输入模块， 所述光电隔离输入模块将接收的B⑶码信号输入所述微处理器模块，经运算处理发出B⑶ 码数字信号，信号由所述光电隔离输出模块输出，驱动所述译码器。
5.根据权利要求I或2所述译码器测试装置，其特征在于，所述微处理器模块为 AT89S52 芯片。
6.根据权利要求I或2所述的译码器测试装置，其特征在于，所述直流稳压电路模块选用LM7805集成电路。
7.根据权利要求I或2所述的译码器测试装置，其特征在于，光电隔离输出模块包括 TLP51-1 管。
8.根据权利要求2所述的译码器测试装置，其特征在于，所述反馈单元模块包括 TLP51-1 管。
9.根据权利要求4所述的译码器测试装置，其特征在于，所述光电隔离输入模块包括 TLP51-1 管。
全文摘要
本发明属于译码器技术领域，具体涉及一种译码器测试装置，包括微处理器模块、晶振时钟模块、光电隔离输出模块和直流稳压电路模块，所述直流稳压电路模块为所述微处理器模块提供稳压电源，所述晶振时钟模块接入所述微处理器模块，组成所述微处理器模块的内部振荡，所述微处理器模块发出的BCD码信号由所述光电隔离输出模块驱动所述译码器显示。本发明的有益效果是结构简单，运行可靠，可以随时在不影响生产的时候，由操作人员在第一时间内准确无误判断译码器读取的数值是否正常，从而减少误操作。
文档编号G01R31/28GK102590734SQ20121009268
公开日2012年7月18日 申请日期2012年3月31日 优先权日2012年3月31日
发明者丁钢, 徐俊, 邹红 申请人:武汉钢铁(集团)公司
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