一种新型自动控制系统回路测试装置制造方法
一种新型自动控制系统回路测试装置制造方法
【专利摘要】本发明在测试时，整个测试过程中避免了拆线，解决了重新接线带来的接线错误和接触不良等问题，同时可进行多个通道批量测试，提高了工作效率。本发明包括基础模块和测试模块；基础模块左边为通过铜片依次连接的接线排，信号插口母头和支撑杆，右边为通过铜片依次连接的接触片支撑件，信号插口母头和接线排，左右两边通过接触片连接，接触片一端搭接在支撑杆上，另一端转动安装在接触片支撑件上；测试模块左边包含测试线接口和信号插口公头，右边包含信号插口公头和测试线结构；测试模块的信号插口公头插入对应的信号插口母头内后，测试模块上的插入杆将接触片翘起，信号回路断开；在测试模块上的测试线结构接测试装置进行控制系统的回路测试。
【专利说明】一种新型自动控制系统回路测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及工业自动化控制领域，具体应用于自动化控制系统的回路测试。
【背景技术】
[0002]自动控制系统是在无人直接参与下可使生产过程或其他过程按期望规律或预定程序进行的控制系统。自动控制系统是实现自动化的主要手段。在工业方面，主要用于对冶金、化工、机械制造等生产过程中遇到的各种物理量，包括温度、流量、压力、厚度、张力、速度、位置、频率、相位等参数进行控制。
[0003]在控制过程中需要将这些物理量采集到控制系统中，由控制系统经逻辑判断后，再转化为信号进行控制。在采集物理量和发送控制信号的过程中需要一套重要的系统参与，就是控制系统的回路系统。
[0004]如果回路系统出现故障，则控制系统将发生误判断，无法实现其应有的控制功能。因此在工业生产过程中，需要定期对控制系统回路系统进行测试，以确保其工作正常。
[0005]回路测试包括接地测试、回路电阻测试、接线测试、模拟通道校准测试。
[0006]图1为一种典型的控制系统通道示意图。如图所示，T114A为接线端子排，左边接现场传感器引出线，右边经导线连接至浪涌保护器排10P32，10P32右边经导线连接至T114B开关端子排，开关端子排右边连接入控制系统的信号采集通道。此图中有8个通道，分别为 TT-1001、TT-10101、TT-1101、TT-1201、TT-4001、TT-4002、TT-4003、TT-4011。每个通道接两根线，其中单数1、3、5、7…为信号反馈线，将现场传感器信号反馈给控制系统，双数2、4、6、8…为电源线，给现场传感器供电。
[0007]现有回路测试技术使用螺丝刀将每个通道的信号反馈线和电源线逐一从开关端子排(Τ114Β)拆下，回路与开关端子断开后，再使用回路测试设备进行回路的逐个校准测试。
[0008]现有技术首先需要拆线，控制系统中接线成百上千，逐一拆线费时费力。同时频繁拆线、接线容易使端子排松动，造成接线不可靠，影响控制系统的平稳运行。
[0009]现有技术在拆线、接线的过程中，必须非常留意，稍一疏忽就会有线路接错、接反的情况发生。后果轻则显示错误，烧坏设备，严重的会影响控制系统逻辑判断，造成事故。现有技术使用测试设备只能进行单回路逐个测试，效率低。在进行回路电阻测试时，采用线夹将导线夹住，容易接触不良，影响测试结果。
【发明内容】
[0010]本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种新型自动控制系统回路测试装置，采用本发明进行测试时，整个测试过程中避免了拆线，解决了重新接线带来的接线错误和接触不良等问题，提高了测试结果的准确性，本发明还具有提高测试工作效率的优点。
[0011]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种新型自动控制系统回路测试装置，包括基础模块和测试模块；本发明进一步的还包含控制电路和回路切换器；
[0012]上述基础模块包括接线排，信号插口母头，支撑杆，接触片，接触片支撑件，铜片；基础模块左边为通过铜片依次连接的接线排，信号插口母头和支撑杆，基础模块右边为通过铜片依次连接的接触片支撑件，信号插口母头和接线排，基础模块左右两边通过接触片连接，接触片一端搭接在支撑杆上，接触片另一端转动安装在接触片支撑件上；
[0013]上述测试模块包括设置于连接杆上的测试线接口，信号插口公头，插入杆，铜片；测试模块左边包含通过铜片相连的测试线接口和信号插口公头，测试模块右边同样包含通过铜片相连的信号插口公头和测试线结构；
[0014]上述测试模块的信号插口公头插入对应的基础模块的信号插口母头内后，测试模块上的插入杆将接触片翘起，信号回路断开；整个测试装置在测试模块的测试线接口处进行测试。
[0015]进一步的是:上述接触片和接触片支撑件之间连接有弹簧，弹簧的一端固定在接触片上，弹簧的另一端固定在接触片支撑件上。
[0016]进一步的是:上述接触片支撑件上安装有铰接件，接触片通过该铰接件转动安装在接触片支撑件上。
[0017]更进一步的是:上述接触片支撑件上的铰接件为轴承，接触片通过轴承转动安装在接触片支撑件上。
[0018]更进一步的是:还包括进行通道切换的电路装置，该电路装置的控制电路控制回路切换器将测试源的信号分配到各通道上。
[0019]本发明与现有技术相比具有以下优点:
[0020]本发明的基础模块仍然具有控制系统中所替代的开关端子排的作用。通过测试模块将基础模块回路断开，形成新的测试回路。实现了通道测试的批量化，简单化，并且测试过程中更加准确，更有效率。同时本发明易于实施，只需将源信号回路中的开关端子替换为发明中的基础模块即可，不需要重新布线。
[0021 ] 本发明简化了控制系统通道测试作业工作，提高了效率和通道可靠性。在控制系统通道测试过程中不需要进行拆线工作，仅需要将测试模块插在相应的基础模块上，控制系统信号线自动断开。解决了接线端子频繁拆线、接线造成的接线不可靠问题。也解决了线路接错、接反的问题。同时本发明采用多通道模块化设计，可同时进行多个通道的测试，大幅提升了工作效率。使用公母头插接式接头，避免了接触不良造成回路电阻测试不准情况的发生。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]图1为一种典型的控制系统通道示意图；
[0023]图2为本发明基础模块的结构示意图；
[0024]图3为本发明测试模块的结构示意图；
[0025]图4为本发明电路装置的结构原理图；
[0026]图5为本发明在回路测试时，测试模块插入对应基础模块后的结构示意图。
[0027]附图标记说明:
[0028]1-接线排，2-信号插口母头，3-支撑杆，4-弹簧，5-接触片支撑件，6_接触片，7-铜片，8-测试线接口，10-插入杆，11-信号插口公头。
【具体实施方式】
[0029]下面结合附图及实施例描述本发明【具体实施方式】:
[0030]图2至图5示出了本发明新型自动控制系统回路测试装置的【具体实施方式】，本发明由三部分组成，分别为基础模块，测试模块以及电路装置。基础模块代替现有的开关端子模块，在一般状态下可以实现开关端子模块的功能。基础模块的结构如图2所示，图中I为接线排，2为信号插口母头，3为支撑杆，6为接触片，5为接触片支撑件并附带一轴承，4为弹黃，7为铜片；
[0031]图3为测试模块结构图。图中8为测试线接口，11为信号插口公头，10为插入杆，7为铜片。
[0032]为了实现多通道快速测量，还需要一套电路装置进行通道切换。其结构原理图见图4，由控制电路控制回路切换器将测试源的信号分配到各通道上。
[0033]本发明基础模块代替现有的开关端子模块，在一般状态下可以实现开关端子模块的功能。在测试时，将测试模块插入对应的基础模块(如图5所示)，测试模块上的插入杆10将接触片6翘起，将信号回路断开。同时测试模块上的信号公头插入基础模块上的信号母头，形成良好的连接。在测试模块的测试线接口处进行测试。
[0034]本发明简化了控制系统通道测试作业工作，提高了效率和通道可靠性。在控制系统通道测试过程中不需要进行拆线工作，仅需要将测试模块插在相应的基础模块上，控制系统信号线自动断开。解决了接线端子频繁拆线、接线造成的接线不可靠问题。也解决了线路接错、接反的问题。同时本发明采用多通道模块化设计，可同时进行多个通道的测试，大幅提升了工作效率。使用公母头插接式接头，避免了接触不良造成回路电阻测试不准情况的发生。
[0035]本发明的技术关键点为采用两种模块，基础模块和测试模块。基础模块仍然具有控制系统中所替代的开关端子排的作用。通过测试模块将基础模块回路断开，形成新的测试回路。实现了通道测试的批量化，简单化，并且测试过程中更加准确，更有效率。同时本发明易于实施，只需将源信号回路中的开关端子替换为发明中的基础模块即可，不需要重新布线。
[0036]上面结合附图对本发明优选实施方式作了详细说明，但是本发明不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下做出各种变化。
[0037]不脱离本发明的构思和范围可以做出许多其他改变和改型。应当理解，本发明不限于特定的实施方式，本发明的范围由所附权利要求限定。
【权利要求】
1.一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:包括基础模块和测试模块； 所述基础模块包括接线排(I)，信号插口母头(2)，支撑杆(3)，接触片￠)，接触片支撑件(5)，铜片(7);基础模块左边为通过铜片(7)依次连接的接线排(I)，信号插口母头(2)和支撑杆(3)，基础模块右边为通过铜片(7)依次连接的接触片支撑件(5)，信号插口母头(2)和接线排(I)，基础模块左右两边通过接触片(6)连接，接触片一端搭接在支撑杆(3)上，接触片另一端转动安装在接触片支撑件(5)上； 所述测试模块包括设置于连接杆上的测试线接口(8)，信号插口公头(11)，插入杆(10)，铜片(7);测试模块左边包含通过铜片(7)相连的测试线接口(8)和信号插口公头(11)，测试模块右边同样包含通过铜片(7)相连的信号插口公头(11)和测试线结构⑶；上述测试模块的信号插口公头(11)插入对应的基础模块的信号插口母头(2)内后，测试模块上的插入杆(10)将接触片(6)翘起，信号回路断开；整个测试装置在测试模块的测试线接口(8)处进行测试。
2.如权利要求1所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:所述接触片(6)和接触片支撑件(5)之间连接有弹簧(4)，弹簧(4)的一端固定在接触片上，弹簧(4)的另一端固定在接触片支撑件(5)上。
3.如权利要求2所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:所述接触片支撑件(5)上安装有铰接件，接触片(6)通过该铰接件转动安装在接触片支撑件(5)上。
4.如权利要求3所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:所述接触片支撑件(5)上的铰接件为轴承，接触片(6)通过轴承转动安装在接触片支撑件(5)上。
5.如权利要求1-4任一所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:还包括进行通道切换的电路装置，该电路装置的控制电路控制回路切换器将测试源的信号分配到各通道上，从而进行多个通道批量测试。
【文档编号】G05B23/02GK104238537SQ201310236644
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2013年6月14日 优先权日:2013年6月14日
【发明者】李洪烈, 钱祖国, 董铁军 申请人:李洪烈
【专利摘要】本发明在测试时，整个测试过程中避免了拆线，解决了重新接线带来的接线错误和接触不良等问题，同时可进行多个通道批量测试，提高了工作效率。本发明包括基础模块和测试模块；基础模块左边为通过铜片依次连接的接线排，信号插口母头和支撑杆，右边为通过铜片依次连接的接触片支撑件，信号插口母头和接线排，左右两边通过接触片连接，接触片一端搭接在支撑杆上，另一端转动安装在接触片支撑件上；测试模块左边包含测试线接口和信号插口公头，右边包含信号插口公头和测试线结构；测试模块的信号插口公头插入对应的信号插口母头内后，测试模块上的插入杆将接触片翘起，信号回路断开；在测试模块上的测试线结构接测试装置进行控制系统的回路测试。
【专利说明】一种新型自动控制系统回路测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及工业自动化控制领域，具体应用于自动化控制系统的回路测试。
【背景技术】
[0002]自动控制系统是在无人直接参与下可使生产过程或其他过程按期望规律或预定程序进行的控制系统。自动控制系统是实现自动化的主要手段。在工业方面，主要用于对冶金、化工、机械制造等生产过程中遇到的各种物理量，包括温度、流量、压力、厚度、张力、速度、位置、频率、相位等参数进行控制。
[0003]在控制过程中需要将这些物理量采集到控制系统中，由控制系统经逻辑判断后，再转化为信号进行控制。在采集物理量和发送控制信号的过程中需要一套重要的系统参与，就是控制系统的回路系统。
[0004]如果回路系统出现故障，则控制系统将发生误判断，无法实现其应有的控制功能。因此在工业生产过程中，需要定期对控制系统回路系统进行测试，以确保其工作正常。
[0005]回路测试包括接地测试、回路电阻测试、接线测试、模拟通道校准测试。
[0006]图1为一种典型的控制系统通道示意图。如图所示，T114A为接线端子排，左边接现场传感器引出线，右边经导线连接至浪涌保护器排10P32，10P32右边经导线连接至T114B开关端子排，开关端子排右边连接入控制系统的信号采集通道。此图中有8个通道，分别为 TT-1001、TT-10101、TT-1101、TT-1201、TT-4001、TT-4002、TT-4003、TT-4011。每个通道接两根线，其中单数1、3、5、7…为信号反馈线，将现场传感器信号反馈给控制系统，双数2、4、6、8…为电源线，给现场传感器供电。
[0007]现有回路测试技术使用螺丝刀将每个通道的信号反馈线和电源线逐一从开关端子排(Τ114Β)拆下，回路与开关端子断开后，再使用回路测试设备进行回路的逐个校准测试。
[0008]现有技术首先需要拆线，控制系统中接线成百上千，逐一拆线费时费力。同时频繁拆线、接线容易使端子排松动，造成接线不可靠，影响控制系统的平稳运行。
[0009]现有技术在拆线、接线的过程中，必须非常留意，稍一疏忽就会有线路接错、接反的情况发生。后果轻则显示错误，烧坏设备，严重的会影响控制系统逻辑判断，造成事故。现有技术使用测试设备只能进行单回路逐个测试，效率低。在进行回路电阻测试时，采用线夹将导线夹住，容易接触不良，影响测试结果。
【发明内容】
[0010]本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种新型自动控制系统回路测试装置，采用本发明进行测试时，整个测试过程中避免了拆线，解决了重新接线带来的接线错误和接触不良等问题，提高了测试结果的准确性，本发明还具有提高测试工作效率的优点。
[0011]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种新型自动控制系统回路测试装置，包括基础模块和测试模块；本发明进一步的还包含控制电路和回路切换器；
[0012]上述基础模块包括接线排，信号插口母头，支撑杆，接触片，接触片支撑件，铜片；基础模块左边为通过铜片依次连接的接线排，信号插口母头和支撑杆，基础模块右边为通过铜片依次连接的接触片支撑件，信号插口母头和接线排，基础模块左右两边通过接触片连接，接触片一端搭接在支撑杆上，接触片另一端转动安装在接触片支撑件上；
[0013]上述测试模块包括设置于连接杆上的测试线接口，信号插口公头，插入杆，铜片；测试模块左边包含通过铜片相连的测试线接口和信号插口公头，测试模块右边同样包含通过铜片相连的信号插口公头和测试线结构；
[0014]上述测试模块的信号插口公头插入对应的基础模块的信号插口母头内后，测试模块上的插入杆将接触片翘起，信号回路断开；整个测试装置在测试模块的测试线接口处进行测试。
[0015]进一步的是:上述接触片和接触片支撑件之间连接有弹簧，弹簧的一端固定在接触片上，弹簧的另一端固定在接触片支撑件上。
[0016]进一步的是:上述接触片支撑件上安装有铰接件，接触片通过该铰接件转动安装在接触片支撑件上。
[0017]更进一步的是:上述接触片支撑件上的铰接件为轴承，接触片通过轴承转动安装在接触片支撑件上。
[0018]更进一步的是:还包括进行通道切换的电路装置，该电路装置的控制电路控制回路切换器将测试源的信号分配到各通道上。
[0019]本发明与现有技术相比具有以下优点:
[0020]本发明的基础模块仍然具有控制系统中所替代的开关端子排的作用。通过测试模块将基础模块回路断开，形成新的测试回路。实现了通道测试的批量化，简单化，并且测试过程中更加准确，更有效率。同时本发明易于实施，只需将源信号回路中的开关端子替换为发明中的基础模块即可，不需要重新布线。
[0021 ] 本发明简化了控制系统通道测试作业工作，提高了效率和通道可靠性。在控制系统通道测试过程中不需要进行拆线工作，仅需要将测试模块插在相应的基础模块上，控制系统信号线自动断开。解决了接线端子频繁拆线、接线造成的接线不可靠问题。也解决了线路接错、接反的问题。同时本发明采用多通道模块化设计，可同时进行多个通道的测试，大幅提升了工作效率。使用公母头插接式接头，避免了接触不良造成回路电阻测试不准情况的发生。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]图1为一种典型的控制系统通道示意图；
[0023]图2为本发明基础模块的结构示意图；
[0024]图3为本发明测试模块的结构示意图；
[0025]图4为本发明电路装置的结构原理图；
[0026]图5为本发明在回路测试时，测试模块插入对应基础模块后的结构示意图。
[0027]附图标记说明:
[0028]1-接线排，2-信号插口母头，3-支撑杆，4-弹簧，5-接触片支撑件，6_接触片，7-铜片，8-测试线接口，10-插入杆，11-信号插口公头。
【具体实施方式】
[0029]下面结合附图及实施例描述本发明【具体实施方式】:
[0030]图2至图5示出了本发明新型自动控制系统回路测试装置的【具体实施方式】，本发明由三部分组成，分别为基础模块，测试模块以及电路装置。基础模块代替现有的开关端子模块，在一般状态下可以实现开关端子模块的功能。基础模块的结构如图2所示，图中I为接线排，2为信号插口母头，3为支撑杆，6为接触片，5为接触片支撑件并附带一轴承，4为弹黃，7为铜片；
[0031]图3为测试模块结构图。图中8为测试线接口，11为信号插口公头，10为插入杆，7为铜片。
[0032]为了实现多通道快速测量，还需要一套电路装置进行通道切换。其结构原理图见图4，由控制电路控制回路切换器将测试源的信号分配到各通道上。
[0033]本发明基础模块代替现有的开关端子模块，在一般状态下可以实现开关端子模块的功能。在测试时，将测试模块插入对应的基础模块(如图5所示)，测试模块上的插入杆10将接触片6翘起，将信号回路断开。同时测试模块上的信号公头插入基础模块上的信号母头，形成良好的连接。在测试模块的测试线接口处进行测试。
[0034]本发明简化了控制系统通道测试作业工作，提高了效率和通道可靠性。在控制系统通道测试过程中不需要进行拆线工作，仅需要将测试模块插在相应的基础模块上，控制系统信号线自动断开。解决了接线端子频繁拆线、接线造成的接线不可靠问题。也解决了线路接错、接反的问题。同时本发明采用多通道模块化设计，可同时进行多个通道的测试，大幅提升了工作效率。使用公母头插接式接头，避免了接触不良造成回路电阻测试不准情况的发生。
[0035]本发明的技术关键点为采用两种模块，基础模块和测试模块。基础模块仍然具有控制系统中所替代的开关端子排的作用。通过测试模块将基础模块回路断开，形成新的测试回路。实现了通道测试的批量化，简单化，并且测试过程中更加准确，更有效率。同时本发明易于实施，只需将源信号回路中的开关端子替换为发明中的基础模块即可，不需要重新布线。
[0036]上面结合附图对本发明优选实施方式作了详细说明，但是本发明不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下做出各种变化。
[0037]不脱离本发明的构思和范围可以做出许多其他改变和改型。应当理解，本发明不限于特定的实施方式，本发明的范围由所附权利要求限定。
【权利要求】
1.一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:包括基础模块和测试模块； 所述基础模块包括接线排(I)，信号插口母头(2)，支撑杆(3)，接触片￠)，接触片支撑件(5)，铜片(7);基础模块左边为通过铜片(7)依次连接的接线排(I)，信号插口母头(2)和支撑杆(3)，基础模块右边为通过铜片(7)依次连接的接触片支撑件(5)，信号插口母头(2)和接线排(I)，基础模块左右两边通过接触片(6)连接，接触片一端搭接在支撑杆(3)上，接触片另一端转动安装在接触片支撑件(5)上； 所述测试模块包括设置于连接杆上的测试线接口(8)，信号插口公头(11)，插入杆(10)，铜片(7);测试模块左边包含通过铜片(7)相连的测试线接口(8)和信号插口公头(11)，测试模块右边同样包含通过铜片(7)相连的信号插口公头(11)和测试线结构⑶；上述测试模块的信号插口公头(11)插入对应的基础模块的信号插口母头(2)内后，测试模块上的插入杆(10)将接触片(6)翘起，信号回路断开；整个测试装置在测试模块的测试线接口(8)处进行测试。
2.如权利要求1所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:所述接触片(6)和接触片支撑件(5)之间连接有弹簧(4)，弹簧(4)的一端固定在接触片上，弹簧(4)的另一端固定在接触片支撑件(5)上。
3.如权利要求2所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:所述接触片支撑件(5)上安装有铰接件，接触片(6)通过该铰接件转动安装在接触片支撑件(5)上。
4.如权利要求3所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:所述接触片支撑件(5)上的铰接件为轴承，接触片(6)通过轴承转动安装在接触片支撑件(5)上。
5.如权利要求1-4任一所述的一种新型自动控制系统回路测试装置，其特征在于:还包括进行通道切换的电路装置，该电路装置的控制电路控制回路切换器将测试源的信号分配到各通道上，从而进行多个通道批量测试。
【文档编号】G05B23/02GK104238537SQ201310236644
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2013年6月14日 优先权日:2013年6月14日
【发明者】李洪烈, 钱祖国, 董铁军 申请人:李洪烈
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