电子控制装置及其控制特性调整方法
电子控制装置及其控制特性调整方法
【专利摘要】本发明的电子控制装置及其控制特性调整方法在由折线特性表示的特定传感器中设置用于校正检测信号的固体偏差变动的标签电阻，以较低的成本来得到高精度的校正信号。将多个样本的平均特性即标准特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将成为比较调整点的第1、第2直线的坐标点位置作为标准数据保存于电子控制装置的数据存储器中。将作为校正对象的现有样本特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将第1标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值，将第2标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值。电子控制装置读取标签电阻的电阻值，并与所保存的标准特性进行组合，插补第3直线部分来还原并生成现有样本特性。
【专利说明】电子控制装置及其控制特性调整方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电子控制装置、及其控制特性调整方法的改进，该电子控制装置包括微处理器，所述微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，输入传感器组中的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻(label resistor)。
【背景技术】
[0002]对于输入传感器的测定输入与检测输出的关系即检测特性、或者作为例如发动机、电磁阀这样的电磁致动器的电负载的控制输入与所产生的输出的关系即输出特性，进行如下动作的电子控制装置是公知的:使用包括用于校正该固体偏差变动的标签电阻在内的特性传感器或特定负载，并由微处理器读取出标签电阻的电阻值，根据所读取出的电阻值来正确地识别出所使用的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性。
例如，根据下述专利文献I “气体传感器、气体传感器的连接器、以及气体浓度检测装置”，如图23中所记载的，在气体传感器的用于连接外部的连接器部分设有标签电阻RL，所述气体传感器利用第I泵电流IPl来检测氧浓度(参照图23(A))，利用第2泵电流IP2来检测N O X浓度(参照图23 (B))，对于对第I泵电流IPl的6个级别的修正系数β = —
2、一 1、0、1、2、3、与对第2泵电流ΙΡ2的6个级别的修正系数α =- 2、一 1、0、1、2、3之间的二维映射，分配为等级I?36(参照图23(C))，根据标签电阻RL的电阻值来决定是等级I?36中的哪一个，作为其结果，决定修正系数α、β，从而利用规定的计算式(I)、(3)、
(4)、(5)来检测出氧浓度与N O X浓度。
[0003]另外，根据下述专利文献2 “喷射器及燃料喷射系统”，在喷射器处设有修正电阻，对燃料喷射用电磁阀的输出响应特性中包含的固体偏差变动进行修正，如图24所记载的那样，为了对用于获得设为目标的燃料喷射量的指令喷射量计算出用于决定所需的燃料喷射用电磁阀的开阀时间的喷射脉冲时间，对由图24(A)的实线所示的基本喷射脉冲时间特性，生成由虚线表示的修正后的喷射脉冲时间特性，该修正后的喷射脉冲时间特性是通过基本喷射脉冲时间特性与第1、第2基准修正量代数相加而得到。
第I及第2基准修正量均可以选择一20，一 10，±0，+ 10，+20μ s这5个级别的修正量，对由第I及第2基准修正量组成的二维映射分配为等级I?25 (参照图24 (B))，并利用修正电阻的电阻值来确定是等级I?25中的哪一个。
现有技术文献 专利文献
[0004]专利文献1:日本专利特开平11 一 281617号公报(图4、图8、第0062、0065段) 专利文献2:日本专利特开2000 — 220508号公报(图14、图18、第0064、0067段)
【发明内容】
发明所要解决的技术问题
[0005]上述专利文献I中的作为气体传感器的特定传感器具有能够利用一个标签电阻来决定两种修正系数α、β的特征，该修正系数α、β均是用于修正第I泵电流IPl及第2泵电流ΙΡ2的比例增益GPlst(P)或GP2st(a)的，对于第2泵电流IP2中的偏移分量IP2off不进行修正而使用固定值。
因此，并没有示出利用标签电阻来修正包含偏移分量在内的检测特性、或至少难以利用一次直线函数来表示的曲线检测特性的概念，因此在这种复杂的曲线检测特性的情况下，需要经由IC存储器来发送特性数据。
此外，根据表示专利文献I的第2实施例的所述文献中的图6，将调整第I泵电流IPl的比例增益的修正电阻Rcl、调整第2泵电流IP2的比例增益的修正电阻Rc2、以及调整第2泵电流IP2的偏移电流的修正电阻Rc3用作为检测装置内的放大电路的一个电路元器件，然而在这种硬件方法中，由于弱电流信号电路与检测装置的外部相连接，因此会产生噪声误动作的危险，或检测装置的硬件成本会变高，从而产生问题。
[0006]另外，上述专利文献2中的作为喷射器的特定负载仅仅修正了燃料喷射用电磁阀的响应时间的固体偏差变动，因此并没有考虑到比例增益的偏差修正，该比例增益决定对燃料喷射用电磁阀的指令电流的大小与喷射脉冲时间之间的关系。
另外，并没有示出当喷射脉冲时间无法简单地利用一次直线函数来表示时利用修正电阻来进行修正的概念，因此在这种复杂的曲线检测特性的情况下，需要经由IC存储器来发送特性数据。
[0007]本发明的第I目的在于，提供一种简易的电子控制装置，该电子控制装置中的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性是单调递增或单调递减的曲线特性，而并非山形或谷形的二值曲线，该电子控制装置适用于检测特性或输出特性能以一对以上的折线特性来进行近似的情况，并能抑制由于检测特性或输出特性的固体偏差变动而使得控制精度下降。
本发明的第2目的在于，提供一种简易的电子控制装置的控制特性调整方法，能够应对各种变动原因，从而抑制由于检测特性或输出特性的固体偏差变动而使得控制精度下降，其中，所述各种变动原因有:由多个样本的试验数据的平均值决定的标准特性、与作为对象的现有样本所相关的个体特性之间的偏差特性较大地依赖于特性直线的倾斜角的偏差；或者倾斜角不发生变动而偏差分量的变动较大；又或者倾斜角与偏差分量都是原因
坐寸ο
解决技术问题所采用的技术方案
[0008]本发明的电子控制装置包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，
所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动，
并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样品的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据。
所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，
所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差。所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中，
所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据、或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率、或是一对调整加法运算值、又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据。
所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，
所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值。
所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原生成所述个别特性数据，所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。
[0009]在本发明的电子控制装置的控制特性调整方法中，在所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述标准特性数据以外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据，
在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性数据的标准特性与所述个别特性数据的个别特性折线近似，
作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据可以从如下选择Al至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个:(I)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择Al、或选择由所述第I及第2调整系数的组合形成的一对调整系数的选择A2 ;或者(2)由所述偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由所述第I及第2偏置调整值形成的一对偏置调整值的选择A4 ;或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6、或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7，
另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数，
并且，所述调整系数是由比率(y nO/ y O)或比率(xnO/xO)来决定的参数，所述比率(y nO/ y O)是对于共同的比较调整输入xO、将个别特性的比较监视输出ynO与所述标准特性的比较监视输出yO进行比较后得到的比率，所述比率(xnO/xO)是对于共同的比较调整输出yO、将所述个别特性的比较监视输入χηΟ与所述标准特性的比较监视输入xO进行比较后得到的比率，
所述斜率系数是由比率(θ η/ Θ O,或tan Θ n/tan θ O)来决定的参数,所述比率(Θ n/Θ 0，或tan Θ n/tan θ O)是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率，
所述偏置调整值是由比较偏差(y In — y I)或比较偏差(X In — X I)来决定的参数，所述比较偏差(y In — y I)是与共同的比较调整输入xl相对的、所述个别特性的比较监视输出yin与标准特性的比较监视输出yl之间的比较偏差，所述比较偏差(x In —X D是与共同的比较调整输出yl相对的、所述个别特性的比较监视输入xln与所述标准特性的比较监视输入xl之间的比较偏差，
所述斜率调整值是由比较偏差(θ η — Θ 1，或tan θ η — tan Θ I)来决定的参数,所述比较偏差(θ η — Θ 1，或tan Θ n — tan Θ I)是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。
发明效果
[0010]如上所述，在本发明的电子控制装置中，输入传感器组的一部分特定传感器或电负载组的一部分特定负载包括用于校正检测特性或输出特性的固体偏差变动的标签电阻，在运行开始时将所测定到的标签电阻的电阻值、与预先存储的标准特性数据及插补信息进行组合，还原生成与所使用的特定传感器或特定负载相对应的个别特性数据，并利用从根据标签电阻的电阻值决定的调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值中选择出的多个常数，来得到折线特性。
因此，如果在电子控制装置的制造出厂阶段利用成为标准样本的特定传感器或特定负载来对控制装置进行调整操作，并在特定传感器或特定负载的制造出厂阶段组装用于修正固体偏差的标签电阻，则在组装两者的总合组装阶段、或在市场上对特定传感器或特定负载或电子控制装置进行维护更换时，无需对两者进行组合调整，因此使得组装及维护更换变得容易，从而能够得到一种利用较为廉价的特定传感器或特定负载设备、并具有高精度的控制性能的电子控制装置，
即使在检测特性或输出特性是包含一对以上的折线特性的复杂特性，特定传感器或特定负载中也无需用于存储修正常数的IC存储器，从而能够通过读取出小型且廉价的标签电阻的电阻值来简单地校正固体偏差变动，由此，无需在特定传感器或特定负载与电子控制装置之间进行复杂的信号交互，从而产生能整体地提高经济性的效果。另外，设在电子控制装置中的微处理器在不进行输入输出控制的期间读取标签电阻，并预先生成有个别特性数据，因此无需在运行中对标签电阻进行读取或转换处理，从而具有能减少微处理器的控制负担，并能使用廉价的微处理器的效果。
[0011 ] 如上所述，在本发明的电子控制装置的控制特性调整方法中，程序存储器或数据存储器包含用于选择修正常数的数据形式的辅助数据，所述修正常数用于根据标准特性数据来计算个别特性数据。
因此，在为了生成标准特性数据而对多个样本进行实验测定时，将此处所获得的标准特性与各种偏差特性进行对比，选择修正常数的变动幅度较小的数据形式，从而具有能抑制标签电阻的电阻值的调整幅度的效果。
此外，例如在标准特性的倾斜角Θ O是非常小的平坦线的情况下，与个别特性的倾斜角θ Π之间的比率即斜率系数θ η/ Θ O或tan Θ n/tan θ O将变为过大的数值，导致斜率系数的变动幅度过大，从而难以利用标签电阻来表现这种情况。
一般来说，在倾斜角的变动较小、标准特性与个别特性接近于互为平行线状态的情况下，偏置方式较为有利，在标准特性与个别特性之间的倾斜角较小、并相对于X轴呈平坦的平行特性的情况下，调整输入对监视输出的形式较为有利，在相对于X轴呈陡峭的平行特性的情况下，调整输出对监视输入的方式较为有利。
与此相对，在标准特性与个别特性之间的倾斜角的变动较大的情况下，调整系数方式较为有利。
在该情况下，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交叉点位于第1、第4坐标的情况下，使用一对调整系数较为有利，与此相对，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交叉点位于第2、第3坐标的情况下，斜率系数方式较为有利。
【专利附图】
【附图说明】[0012]
图1是表示本发明的实施方式I的整体结构图。
图2是实施方式I所用的一个一用的标签电阻的结构图。
图3是说明使用图2的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。
图4是图2的标签电阻的分配结构图。
图5是实施方式I所用的两个一用的标签电阻的结构图。
图6是说明使用图5的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。
图7是实施方式I中的特定负载的控制框图。
图8是实施方式I中的特定传感器及特定负载的调整操作的流程图。
图9是实施方式I中的电子控制装置的调整操作的流程图。
图10是实施方式I中的电子控制装置的运行动作的流程图。
图11是表示本发明的实施方式2的整体结构图。
图12是实施方式2中使用的标签电阻的结构图。
图13是说明使用图12的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。 图14是表示用于计算实施方式2中的修正系数的变形方式的图。
图15是实施方式2中的特定负载的控制框图。
图16是带有实施方式2中的特定传感器的特定负载的调整操作的流程图。
图17是实施方式2中的电子控制装置的调整操作的流程图。
图18是实施方式2中的电子控制装置的运行动作的流程图。
图19是用于说明本发明的控制特性调整方法中的调整倍率的特性曲线图。
图20是用于说明本发明的控制特性调整方法中的调整加法运算值的特性曲线图。
图21是与本发明的控制特性调整方法中的修正常数相关的说明图。
图22是与本发明的控制特性调整方法中的修正常数的分配相关的图表。
图23是用于说明作为现有技术的专利文献I的图表。
图24是用于说明作为现有技术的专利文献2的图表。
实施方式
[0013]实施方式I
下面，对表示本发明的实施方式I的整体结构图即图1进行说明。
图1中，以电子控制模块IlOA为主体构成的电子控制装置100A例如由负端子与车体101相连的车载电池等外部电源102进行供电，在未图示的电源开关闭合时，经由激励中的电源继电器的输出触点103施加作为主电源的供电电压Vb，经由负载电源继电器的输出触点104施加负载电源电压Vbb，并直接提供存储器的备用电源电压Vbu。
此外，电源继电器通过闭合未图示的电源开关来进行激励，一旦电源继电器的输出触点103闭合而使得电子控制装置100A开始动作，则利用由电子控制装置100A产生的自保持指令信号来维持激励状态，从而即使电源开关开路激励状态也得以持续，若在电子控制装置100A完成动作停止处理的时刻解除自保持指令信号，则电源继电器去激励，输出触点103开路。
[0014]电子控制装置100A与作为输入信号的传感器组105相连，该传感器组包含:与手动操作开关或后述的电负载组108的动作状态进行联动的各种开关传感器或模拟传感器、或者例如作为温度传感器的环境传感器105a等。
传感器组105的一部分即特定传感器106A包括用于校正检测特性的固体偏差变动的第I及第2标签电阻61a、62a。
由电子控制装置100A来进行驱动控制的电负载组108例如是发动机、电磁阀等致动器，或者是作为人机接口的显示设备。电负载组108的一部分即特定负载107A对指令输入产生的输出特性中存在固体偏差变动，所述特定负载107A包括用于进行校正、使得提供适当的指令信号以得到作为目标的产生输出的标签电阻74a。
此外，特定传感器106A的检测特性或特定负载107A的输出特性不是山形或谷形曲线，而是单调递增或单调递减的曲线特性，在为比较平缓的直线特性的情况下，只需一个标签电阻即可，在为弯曲特性的情况下使用两个标签电阻。
因此，如果特定传感器106A是比较平缓的直线特性的情况下，使用一个标签电阻，在特定负载107A是弯曲特性的情况下，使用两个标签电阻，这里，作为一个简单的示例，设特定传感器106A是两个一用，而特定负载107A是一个一用。
[0015]电子控制装置100A的内部设有定电压电源110a，该定电压电源IlOa由外部电源102并经由电源继电器的输出触点103来进行供电而产生例如DC5V的稳定的控制电压Vcc，对包含电子控制模块IlOA或未图示的接口电路的各单元进行供电。
电子控制模块IlOA利用总线将作为运算处理装置的微处理器111、与用于运算处理的RAM存储器112、例如作为快闪存储器的非易失性程序存储器113A、非易失性数据存储器114、多信道AD转换器115、以及串行一并行转换器116互相连接而构成。
此外，程序存储器113A中保存有后述的成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序。另外，AD转换器115中施加有作为基准电压的控制电压Vcc，AD转换器115的模拟输入信号电压Vi的数字转换值、与控制电压Vcc和输入信号电压Vi的比率成正比，若输入信号电压Vi等于控制电压Vcc，则能得到与AD转换器115的分辨率相对应的满刻度值。
将由外部电源102直接供电的定电压电源IlOb作为备用电源，以使得在电源继电器的输出触点103开路的状态下，写入RAM存储器112中的数据不会消失，在未图示的电源开关开路使得电源继电器的输出触点103延迟闭合的期间，将写入RAM存储器112中的数据中的重要数据传送并保存于数据存储器114中。
[0016]此外，可以将以I比特为单位、可进行简单地电读写的非易失性存储器用作为数据存储器114，在程序存储器113A是以块为单位一并进行电清除的快闪存储器的情况下，也可以将特定的块用作为数据存储器114。
另外，程序存储器113A具有如下结构:在连接有未图示的编程工具或后述的调整工具190的状态下，进行程序的重写，在未连接例如这些工具等的状态下，只能进行读取而不能进行重写处理。然而，对于数据存储器114，如果即使是程序存储器113A的一部分区域、所保存的数据块有所不同，则即使不连接工具也能通过微处理器111自由地进行读写然而，在使用快闪存储器的情况下，可消除的次数有限，因此一般在运行过程中写入RAM存储器112中的数据在电源开关开路后马上被传送并保存到数据存储器114中。
[0017]设在电子控制装置100A内部的接口电路160a将与特定传感器106A的检测信号进行联动的监视电压Val输入到多通道AD转换器115。
此外，在特定传感器106A例如产生DCO?5V的检测信号的情况下，无需接口电路160a,而在检测信号电压较为微小的情况下，利用接口电路160a来进行放大，在检测信号电压穿越正负区域的情况下，利用接口电路160a加上偏置电压，并进行标准化转换，使得监视电压Val处于DCO?5V的正坐标区域。
与第I标签电阻61a串联连接的串联电阻161a的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第I标签电阻61a的两端电压Va2输入到多通道AD转换器115中。
与第2标签电阻62a串联连接的串联电阻162a的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第2标签电阻62a的两端电压Va3输入到多通道AD转换器115中。
与特定负载107A的标签电阻74a串联连接的串联电阻174的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为标签电阻74a的两端电压Va5输入到多通道AD转换器115中。
[0018]此外，若将串联电阻174的电阻值设为Rl74，将标签电阻74a的电阻值设为R74，则式(I)和式(2)的关系成立。
Va5 =V cc X R 74/( R 74 + R 174)...........(I)...R 74 = R 174X ( V a5/ V cc) / [ I — ( V a5/ V cc) ]...(2)
因此，能够根据作为已知值的串联电阻174的电阻值R174、以及AD转换器115的标签电阻74a的两端电压Va5的数字转换值来计算出标签电阻74a的电阻值。
这点对于第I及第2标签电阻61a、62a也相同。
以未图示的晶体管为主体得以构成的电流控制电路171根据由微处理器111产生的作为脉宽调制信号(P WM信号)的控制指令信号DRl来进行开闭动作，经由与一端施加有负载电源电压Vbb的特定负载107A的另一端串联连接的电流检测电阻172对特定负载107A进行供电，并根据闭合时间与开闭周期的比率即开闭占空比来控制负载电流。
电流检测电阻172的两端电压通过差动放大器173放大，并作为负反馈电压Va4输入到AD转换器115中。
[0019]调整工具190A在电子控制装置100A的出厂调整运行时，经由串行通信电路109进行连接，以进行接口电路160a与电流控制电路171的初始校正，在该出厂调整运行时特定传感器106A和特定负载107A使用标准样本。
将接口电路160a的输入电压经由用于测量的数字电压计191和调整工具190A输入到电子控制装置100A中，求出在提供一大一小两种输入电压Vil、Vi2时的监视电压Val经AD转换器115转换后得到的数字转换值Di1、Di2，并根据输入电压Vi1、Vi2与数字转换电压Dil、Di2的关系，计算出接口电路160a内所施加的实际的偏置电压、以及接口电路160a的实际放大率。
其结果是，即使在接口电路160a内所施加的偏置电压、接口电路160a的实际放大率中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏置电压及放大率存储到数据存储器114中，从而准确地获取到经由接口电路160a输入的信号电压。
[0020]将电流控制电路171的输出电流经由用于测量的电流检测器193、数字电流计192及调整工具190A，输入到电子控制装置100A中，求出在提供一大一小两种输出电流Ail、Ai2时的负反馈电压Va4经AD转换器115转换后得到的数字转换值Dil、Di2，并根据输出电流Ail、Ai2与数字转换电压Dil、Di2的关系，计算出由差动放大器173产生的偏移电压或电流检测电阻172的实际值，并计算出控制指令信号DRl与实际的输出电流的关系。
其结果是，即使在电流控制电路171或电流检测电阻172中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏移电压、电流检测电阻172的值、控制指令信号DR1、及输出电流之间的关系存储到数据存储器114中，从而根据经由差动放大器173输入的负反馈电压Va4来精确地获取施加给特定负载107A的供电电流，并生成能够得到作为目标的输出电流的控制指令信号。
[0021]如上所述，可以认为:电子控制装置100A内相对于特定传感器106A或特定负载107A的接口电路预先经过适当的校正处理，因而即使特定传感器106A发出正负的检测信号，也能通过接口电路160a内的偏差加法运算来将其重新置于正坐标上的检测信号。
因此，在下述说明中，对特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性均不含有负值的情况进行说明。
[0022]接下来，对图2、图3、以及图4进行说明，图2是实施方式I中所用的一个一用的标签电阻74a的结构图，图3是对使用了图2的标签电阻74a时的调整系数进行说明的特性曲线图，图4是图2的标签电阻的分配结构图。
图2中，标签电阻74a依次串联连接有多个串联电阻80?89，串联电阻80?89的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻80?89通过设在调整窗内的多个短路/开路端子B O?B 9来进行短路或开路。
此外，电阻器的电阻值使用等比数列的标准数，因此在一个电阻器中依次选择出具有2倍值的电阻值的电阻器较为困难，所以适当地连接以虚线表示的并联电阻，从而来进行修正以使其变成近似于2倍的电阻值。
所述短路/开路端子BO?B9与作为目标的标签电阻74a的电阻值的二进制值相对应，在二进制值“O”时短路，在二进制值“I”时开路。
[0023]在预先构成这种电路的情况下，在通过短路/开路端子BO?B9的任意组合来使端子短路时，利用该组合使作为标签电阻74a的合成电阻发生变化，由靠近B9的左侧位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻74a电阻值的变化要比由靠近BO的位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻74a电阻值的变化要大，因此将其置于高比特位。
因此，标签电阻74a的电阻值是与二进制值(B 9，B 8...B I.B O)成正比的值。 其中，若在二进制值“O”时开路、在二进制值“ I ”时短路，则能得到补数值。
此外，作为标签电阻74a的调整操作，利用焊料来使短路/开路端子B O?B 9的一部分或全部短路，根据情况在全部都开路的状态下，若该调整操作结束，则在未图示的调整窗内注入密封材。
[0024]接下来，对图3进行说明，图3是图1中的特定负载107a的标准特性曲线图及个别特性曲线图。
图3 (A)是表示多个样本的特定负载107A的输出特性所相关的平均值的标准特性曲线图，如果特定负载107A例如是直流发动机，则横轴是提供给发动机的成为控制输入的供电电流，而纵轴表示发动机所产生的转矩。
该标准特性近似为第I线段303a与第2线段304a所组成的折线，第I线段303a与第2线段304a还能近似成一根合成直线305a。
合成直线305a通过坐标点(P 0，V O)，其与横轴的斜率为Θ O。
其中，P O是规定的实际测定电流，V O是实际测定电流P O所产生的转矩，由此标准数据(P 0，V 0，Θ0)得以构成。
另外，在实际测定电流为Pi时，合成直线305a与折线数据之间存在误差Λ V i0，与各个实际测定电流Pi相对应地构成差分数据(Λ V iO)。
标准数据(P O，V O，Θ O)与差分数据(Λ V iO)是作为标准输出特性数据保存在程序存储器113A或数据存储器114中的数据。
[0025]图3 (B)是表示作为出厂检查对象的现有样本的特定负载107A的输出特性的个别特性曲线图，横轴与纵轴的关系与图3(A)的情况相同。
该个别特性近似为第I线段303b与第2线段304b所组成的折线，第I线段303b与第2线段304b还能近似成一根合成直线305b。
合成直线305b通过坐标点(P O，V η)，其与横轴的斜率为θ η。
其中，P O是规定的实际测定电流，V η是实际测定电流P O所产生的转矩，由此个别数据(P O，V η，θη)得以构成。
另外，在实际测定电流为Pi时，合成直线305b与折线数据之间存在误差Λ V in，与各个实际测定电流Pi相对应地构成差分数据(Λ V in)。 这里，将个别特性中所产生的转矩Vn与标准特性中所产生的转矩VO的比率Vn/V0作为一次调整系数，将个别特性中的斜率θ η与标准特性中的斜率Θ O的比率θ η/ Θ O作为一次斜率系数，并将一次修正系数定为(V n/ V 0，θ η/ Θ O)。
该一次修正系数(V n/ V 0，θ η/ Θ O)由标签电阻74a的电阻值来体现，微处理器111通过读取出标签电阻74a的电阻值，来识别所使用的特定负载107A所相关的一次修正系数(V n/ V O, θ η/ Θ O)。
[0026]其结果是，微处理器111能够利用预先保存的标准特性数据、以及通过读取出标签电阻74a的电阻值而获取的一次修正系数，来获取所使用的特定负载107A即发动机的个别输出特性。
如图3(C)示出了如上述那样获取的个别输出特性，利用标准的合成直线305a及一次修正系数(V n/ V 0，θ η/ Θ O)来重现与个别的合成直线305b相同的合成直线305c。
通过将标准差分数据Λ V iO与该重现的合成直线305c ( = 305b)进行代数加法运算，来生成第I线段303c及第2线段304c。
由此生成的图3(C)中的一次修正折线特性与图3(B)的个别检查特性相比，差分数据Δ V in有所不同。
[0027]图3(D)示出了二次修正折线特性中的第I线段303d、第2线段304d、合成直线305d。
合成直线305d通过坐标点(P 0，V m)，其与横轴的斜率为Θ m，标签电阻74a体现出二次修正系数(V m/ V 0，Θ m/ Θ O),而非一次修正系数。
此外，二次修正系数是计算二次调整系数(V m/ V O)及二次斜率系数(Θ m/ Θ O)的值后得到的值，使得在分别使一次调整系数(V n/ V O)与一次斜率系数(θ η/ Θ O)的值微增或微减时所得到的一次修正折线特性的第I线段303c及第2线段304c、与个别折线特性中的第I线段303b及第2线段304b之间的相对误差最小。
微处理器111利用标准数据(PO，V 0，Θ O)以及从所述标签电阻74a的电阻值读取出的所述二次修正系数，来确定合成直线305d，并通过将差分数据Λ V iO与所确定的合成直线305d进行代数加法运算，来确定由第I线段303d及第2线段304d组成的二次修正折线特性，并利用所确定的二次修正折线特性来得到特定负载107A的个别输出特性。
[0028]在上述说明中，对将直流发动机用作为特定负载107A的情况进行了说明，一般来说，图3的横轴为相对于特定负载107A的控制输入，而纵轴为特定负载107A所产生的输出。
特别的，在这里的说明中，将控制输入PO设作共同的调整输入，将标准特性中所产生的输出VO与个别特性中所产生的输出Vn作为监视输出，并进行对比，但也可以将为了能得到共同的调整输出时的监视输入的比率设作为调整系数。
另外，也可以不使用斜率系数，而在合成直线305a上决定一对比较坐标点，并利用标准数据(PO，V O, P 00, V 00)来表示合成直线305a，利用一对调整系数(V n/ V 0，
Vnn/ V 00)来计算出个别的合成直线305b。
[0029]在上述说明中，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数设为调整倍率，该调整倍率是通过乘上标准特性数据而得到个别特性数据的修正常数。
与此相对，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值设为调整加法运算值，该调整加法运算值是通过与标准特性数据进行代数加法运算从而得到个别特性数据的修正常数。
[0030]接下来，对图4进行说明，图4是用于说明标签电阻74a的电阻值的决定方法的图表。
图4 (A)示出了在对标签电阻74a的电阻值进行数字转换、从而利用二进制值来表示时的比特位结构。
低比特位(B 4?B O)是用于指定1.04?0.95来作为调整系数的数值区域，例如，在希望将调整系数设作为0.95时，将低比特位设为00001?00011的中心值00010即可。
由此，在将标签电阻的调整误差或AD转换误差考虑在内的情况下，即使产生I比特程度的误差，也能可靠地识别出调整系数0.95。
此外，在图4(A)中，将低比特位上的二进制值00001?11110换算成10进制值时为I?30，与I?30相对应地分配调整系数0.95?1.04。
高比特位(B 8?B 6)用于分配1.04?0.97来作为斜率系数，例如，在希望将斜率系数设作为1.01时，设定(B 8，B 7，B 6) = (1,0,0)即可。
该情况下的十进制值为256，然而如果例如十进制值为258 = 256+2，则斜率系数选择
1.01，而调整系数选择0.95。
[0031]图4(B)是用于说明其它实施方式中的标签电阻74a的电阻值的决定方法的图表，这里，作为修正常数，在第I比较调整点上应用偏置调整值，而在第2比较调整点上应用使用了调整系数的数据形式。
此外，使用调整系数、斜率系数、偏置调整值、斜率调整值的哪个组合作为修正常数是以数据形式的方式预先写入并保存在程序存储器113A或数据存储器114中。
图4 (B)是9行7列共计63格的表，能够选择精调与粗调来作为偏置调整值，精调能够进行( + 3,+ 2,+1,0, — I, — 2, — 3)这7个级别的修正，而粗调能够进行(+ 6, + 4, +2，0，一 2，一 4，一 6)这7个级别的修正。一个单位的修正量所表示的含义均被定义在程序存储器113A或数据存储器114中，例如保存有5mV或一 IOKg这样具体的数值。
[0032]另外，也可以选择能够进行(1.04，1.03，1.02，1.01，1.00，0.99，0.98，0.97，0.96)这9个级别修正的精调、以及能够进行(1.08，1.06，1.04，1.02，1.00,0.98,0.96,0.94，0.92)这9个级别修正的粗调，来作为调整系数。
另一方面，标签电阻能够进行比特位O?6的7个比特位的选择调整，由此，可将标签电阻的数字转换值O?127中的I?126作为等级编号来进行分配。
等级编号I?126中，奇数编号被分配为用于精调，而偶数编号被分配为用于粗调，例如如果等级编号为81，则偏置调整值以+ 2为单位来进行加法运算修正，而调整系数进行0.99倍的乘法修正。
另外，例如如果等级编号为82，则偏置调整值以+ 4为单位来进行加法运算修正，而调整系数进行0.98倍的乘法修正。
[0033]接下来，对图5及图6进行说明，图5是实施方式I中所用的两个一用的标签电阻61a、62a的结构图，图6是对使用了图5的标签电阻61a、62a时的调整系数进行说明的特性曲线图。
图5中，与特定传感器106A —体化的第I及第2标签电阻61a、62a由经过激光微调后的薄膜电阻构成，通过一个调整窗来进行电阻值的调整。
此外，薄膜电阻的宽度为X、长度为Y、厚度为T，若将宽度方向上的切割尺寸设为Λ X，将长度方向上的切割尺寸设为△ Y，则通过对初始的电阻值RO进行切割而增加的增加电阻值Λ R可通过式(3)计算得出。
【权利要求】
1.一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，所述电子控制装置的特征在于， 所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动， 并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据， 所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性， 所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差， 所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中， 所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据，或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据， 所述调整倍率是通过与所述标`准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数， 所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值， 所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据， 所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。
2.一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述电负载组的一部分特定负载具有检测该特定负载的输出的特定传感器，所述特定传感器包括标签电阻，该标签电阻用于校正将所述特定负载的输出特性与所述特定传感器的检测特性进行合成后所得到的合成输出特性的固体偏差变动，所述电子控制装置的特征在于，所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动， 并且，在所述程序存储器或数据存储器中，以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定负载及所述特定传感器的标准合成特性数据， 所述合成输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性， 所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准合成数据、与实际的标准合成特性数据之间的误差， 所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算用于修正所述特定负载的合成输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中， 所述修正常数是以所述标准合成特性数据即标准特性数据为基准、用于确定所述特定负载的个别合成特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据， 所述调整倍率是通过 与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数， 所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值， 所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数、所述插补信息及所述特定负载的所述标准特性数据进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据， 所述微处理器参照所生成的所述个别合成特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。
3.如权利要求2所述的电子控制装置，其特征在于， 所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述特定负载与所述特定传感器的标准合成特性数据以外，还以规定数据形式保存有所述特定负载的标准输出特性数据， 所述微处理器为了使所述特定负载产生作为目标的目标控制输出，参照所述标准输出特性数据来生成控制指令信号，并且作为其结果，在参照所述特定负载的个别合成特性数据而得到的所述特定传感器的检测输出、与所述目标控制输出之间存在控制偏差时，所述微处理器对所述控制指令信号进行增减修正并进行负反馈控制，以获取所述目标控制输出。
4.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 所述标签电阻依次串联连接有多个串联电阻，该串联电阻的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻通过设在调整窗内的多个短路/开路端子来进行短路或开路， 所述短路/开路端子与作为目标的标签电阻的电阻值的二进制值相对应，根据各比特位的逻辑状态来进行短路或开路。
5.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 所述标签电阻使用薄膜电阻，该薄膜电阻可以通过调整窗利用激光微调来对电阻值进行调整，以使得在对电阻值进行测量监视的同时，利用宽度方向的切割尺寸及长度方向的切割尺寸来使其变为目标电阻值。
6.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 构成所述标签电阻的串联电阻在构成为漩涡状的薄膜电阻体处设置有多个连接端子，将该连接端子用作为短路/开路端子，通过调整窗使其短路或开路， 所述短路/开路端子间的电阻预先从小的电阻开始依次通过激光微调来进行调整，以将其调整成依次翻倍的电阻值。
7.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 将所述微处理器所测定到的所述标签电阻的数字转换值分割成高比特位组及低比特位组来使用，将所述高比特位组及低比特位组分别分配给所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的某一个的设定，将所分配的设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器或数据存储器中， 利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。
8.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 由所述微处理器测定到的所述标签电阻的数字转换值与设置在对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的设定值进行分配的二次映射中的流水号相对应， 利用所述流水号来指定所述设定值的等级编号， 在将所述流水号分割成小号组与大号组、或者奇数编号组与偶数编号组时，同一等级将被分配到两个流水号，将分配给各个等级编号的用于精调或用于粗调的所述设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器或数据存储器中，利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。
9.一种权利要求1或2中所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 在所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述标准特性数据以外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据， 在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性数据的标准特性与所述个别特性数据的个别特性用折线近似，作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据可以从如下选择Al至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个:(I)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择Al、或选择由所述第I及第2调整系数的组合形成的一对调整系数的选择A2 ;或者(2)由所述偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由所述第I及第2偏置调整值形成的一对偏置调整值的选择A4 ;或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6、或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7， 另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数， 并且，所述调整系数是由比率(y nO/ y O)或比率(xnO/xO)来决定的参数，所述比率(y nO/ y O)是对于共同的比较调整输入xO、将所述个别特性的比较监视输出ynO与所述标准特性的比较监视输出yO进行比较后得到的比率，所述比率(xnO/xO)是对于共同的比较调整输出yO、将所述个别特性的比较监视输入χηΟ与所述标准特性的比较监视输入xO进行比较后得到的比率， 所述斜率系数是由比率(θ η/ Θ O,或tan Θ n/tan θ O)来决定的参数,所述比率(Θ n/Θ 0，或tan Θ n/tan θ O)是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率， 所述偏置调整值是由比较偏差(y In — y I)或比较偏差(X In — X I)来决定的参数，所述比较偏差(y In — y I)是与共同的比较调整输入xl相对的、所述个别特性的比较监视输出yin与标准特性的比较监视输出yl之间的比较偏差，所述比较偏差(x In —X D是与共同的比较调整输出yl相对的、所述个别特性的比较监视输入xln与所述标准特性的比较监视输入xl之间的比较偏差， 所述斜率调整值是由比较偏差(θ η — Θ 1，或tan θ η — tan Θ I)来决定的参数,所述比较偏差(θ η — Θ 1，或tan Θ n — tan Θ I)是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。
10.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I线段及第2线段所形成的标准折线特性，并且计算出该第I线段与第2线段之间相对误差最小的合成直线， 所述标准特性数据由标准数据及差分数据△ V i0构成，所述标准数据包含与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述合成直线的斜率Θ O、或一对比较调整点的坐标，所述差分数据Λ V i0是与大小不同的多个分散调整值Pi相对应的所述第I线段及所述第2线段、与所述合成直线之间的误差， 将所述个别特性近似为由第I线段及第2线段所形成的个别折线特性，并且计算出该第I线段与第2线段之间相对误差最小的合成直线， 所述个别特性数据由个别数据构成，所述个别数据包含:在所述标准特性数据中所使用的，与选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述合成直线的斜率θ η、或一对比较调整点的坐标， 将所述个别的所述合成直线与所述标准的合成直线相比较，将所述标签电阻调整为用于确定所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述标签电阻的电阻值，并提取出所指定的所述选择参数，将其作为一次修正常数， 利用所述标准数据及所述一次修正常数来确定与所述个别的合成直线相同的合成直线，通过将所述差分数据Λ ViO作为插补信息与所确定的合成直线进行代数加法运算，来确定由经修正后的第I线段及第2线段所构成的一次修正折线特性，并利用所确定的一次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
11.如权利要求10所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 根据成为所述一次修正常数的所述选择参数的值来计算成为二次修正常数的选择参数， 所述二次修正常数是对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值进行修正计算的常数，在使构成所述选择参数的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值微增或微减时得到的，以使得所述一次修正折线特性的第I线段及第2线段、与所述个别折线特性中的第I线段及第2线段之间的相对误差最小， 将所述标签电阻调整为用于确定经修正并计算出的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值的电阻值， 所述微处理器利用从所述标准数据和所述标签电阻的电阻值中所读取出的所述二次修正常数，来确定合成直线，并通过对将所述差分数据Δ ViO作为插补信息而与所确定的合成直线进行代数加法运算，来确定对由经补充修正后的第I线段及第2线段所组成的二次修正折线特性，利用所确定的二次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
12.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I直线及第2直线组成的标准折线特性， 并且，所述标准特性数据由与所述第I直线相关的第I标准数据、以及与所述第2直线相关的第2标准数据构成， 所述第I标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率θ 10、或一对比较调整点的坐标， 所述第2标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率θ 20、或一对比较调整点的坐标， 将所述个别特性近似为由第I直线及第2直线所组成的个别折线特性，并且，所述个别特性数据由与所述第I直线相关的第I个别数据、以及与所述第2直线相关的第2个别数据构成， 所述第1个别数据包含:所述第I标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率θ In、或一对比较调整点的坐标， 所述第2个别数据包含:所述第2标准数据所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率θ 2η、或一对比较调整点的坐标， 所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线与所述标准的第I直线相比较，来确定所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与所述标准的第2直线相比较，来确定所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述第I及第2标签电阻的电阻值， 提取出与所述个别的第I直线相对的所述选择参数，并将其作为第I修正常数， 提取出与所述个别的第2直线相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数， 利用所述第I标准数据及所述第I修正常数来确定个别的第I直线的计算式， 利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式， 利用由所确定的个别的第1直线与第2直线组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据， 并且，所述程序存储器或所述数据存储器还包含曲率半径Ra来作为第3标准数据，该曲率半径Ra用于对所述标准的第I直线与第2直线的交叉部分进行圆弧修正， 对于所述个别的第I直线与第2直线的交叉部分，将作为所述第3标准数据来保存的曲率半径Ra作为插补信息，以进行圆弧修正。
13.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I直线及第2直线、以及位于所述第I直线与所述第2直线中间的第3直线所组成的标准折线特性， 并且，所述标准特性数据由与所述第I直线相关的第I标准数据、及与所述第2直线相关的第2标准数据构成， 所述第I标准数据至少包含:所述第I直线与第3直线的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率、或一对比较调整点的坐标， 所述第2标准数据至少包含:所述第2直线与第3直线的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率、或一对比较调整点的坐标， 将所述个别特性近似为由第I直线及第2直线、以及位于所述第I直线与所述第2直线中间的第3直线所组成的个别折线特性， 并且，所述个别特性数据由与所述第I直线相关的第I个别数据、及与所述第2直线相关的第2个别数据构成， 所述第I个别数据包含:所述第I标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率；或一对比较调整点的坐标，所述第2个别数据包含:所述第2标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率；或一对比较调整点的坐标，所述标签电阻由第I标签电阻及第2标签电阻构成，所述第I标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第I直线与所述标准的第I直线相比较、来确定所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与所述标准的第2直线相比较、来确定所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述第I及第2标签电阻的电阻值， 提取出与所述个别的第I直线相对的选择参数，并将其作为第I修正常数， 提取出与所述个别的第2直线相对的选择参数，并将其作为第2修正常数， 利用所述第I标准数据及所述第I修正常数来确定个别的第I直线的计算式， 利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式， 根据所确定的个别的第I直线和第2直线的计算式，来生成成为插补信息的个别的第3直线的计算式， 利用由所确定的个别的所述第I直线和所述第2直线、以及所生成的所述第3直线所组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
14.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I直线及第2直线组成的标准折线特性， 所述标准特性数据由与所述第I直线相关的第I标准特性数据、以及与所述第2直线相关的第2标准特性数据构成，并且所述第I直线与第2直线中的至少一条直线是将前段的第I线段与第2线段进行合成后得到的第I直线，或者是将后段的第I线段与第2线段进行合成后得到的第2直线， 所述第I标准特性数据由第I标准数据及第I差分数据AVil构成，所述第I标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率Θ `10、或一对比较调整点的坐标， 所述第I差分数据AVil是与大小不同的多个分散调整值Pil相对应的所述第I线段及第2线段、与所述第I直线之间的误差， 所述第2标准特性数据由第2标准数据及第2差分数据△ V i2构成，所述第2标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率Θ 20、或一对比较调整点的坐标， 所述第2差分数据Λ V i2是与大小不同的多个分散调整值Pi2相对应的所述第I线段及第2线段、与所述第2直线之间的误差， 将所述个别特性近似为由第I直线及第2直线所组成的个别折线特性，所述第I直线是将前段的第I线段与第2线段进行合成后得到的直线，所述第2直线是将后段的第I线段与第2线段进行合成后得到的直线， 并且，所述个别特性数据由与所述第I直线相关的第I个别数据、及与所述第2直线相关的第2个别数据构成， 所述第I个别数据包含:所述第I标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率Θ In、或一对比较调整点的坐标， 所述第2个别数据包含:所述第2标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率θ 2n、或一对比较调整点的坐标， 所述标签电阻由第I标签电阻及第2标签电阻构成，所述第I标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第I直线与所述标准的第I直线相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与标准的第2直线相比较、来确定的所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述第I及第2标签电阻的电阻值， 提取出与所述个别的第I直线相对的所述选择参数，并将其作为第I修正常数， 提取出与所述个别的第2直线相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数， 利用所述第I标准数据及所述第I修正常数来确定个别的第I直线的计算式， 利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式， 将所述第I差分数据AVil作为插补信息与所确定的所述第I直线进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的前段的第I线段及第2线段所组成的前段折线特性， 将所述第2差分数据△ V i2作为插补信息与所确定的所述第2直线进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的后段的第I线段及第2线段所组成的后段折线特性， 利用由所确定的所述前段折线特性及所述后段折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
15.一种电子控制装置的控制特性调整方法，该电子控制装置的控制特性调整方法是权利要求1或2所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 所述特定传感器或所述特定负载通过环境传感器来测定以温度或气压为一个例子的设置环境， 所述个别特性数据 在规定的基准环境条件下被测得， 与此相对，所述标准特性数据是在所述规定的基准环境条件、以及其它环境条件下所测定到的多个标准特性数据，所测得的多个标准特性数据被保存于所述程序存储器或所述数据存储器中， 所述修正常数由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的多个组合构成，所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值是基于在所述基准环境条件下所测定到的标准特性数据及个别特性数据而计算得出， 所述微处理器生成由所述环境传感器所测定到的所述特定传感器或所述特定负载的设置环境信息、以及根据所述多个标准特性数据进行插补计算后所得到的当前环境下的标准特性数据，以作为插补信息， 并且，基于所述基准环境下的修正常数及所述当前环境下的标准特性数据来还原并生成当前环境下的个别特性数据， 参照当前环境下的个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照当前环境下的个别输出特性数据或个别合成特性来对所述特定负载进行驱动控制。
【文档编号】G05F1/10GK103823396SQ201310275346
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年7月2日 优先权日:2012年11月15日
【发明者】神崎将造, 有米史光, 西崎广义 申请人:三菱电机株式会社
【专利摘要】本发明的电子控制装置及其控制特性调整方法在由折线特性表示的特定传感器中设置用于校正检测信号的固体偏差变动的标签电阻，以较低的成本来得到高精度的校正信号。将多个样本的平均特性即标准特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将成为比较调整点的第1、第2直线的坐标点位置作为标准数据保存于电子控制装置的数据存储器中。将作为校正对象的现有样本特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将第1标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值，将第2标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值。电子控制装置读取标签电阻的电阻值，并与所保存的标准特性进行组合，插补第3直线部分来还原并生成现有样本特性。
【专利说明】电子控制装置及其控制特性调整方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电子控制装置、及其控制特性调整方法的改进，该电子控制装置包括微处理器，所述微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，输入传感器组中的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻(label resistor)。
【背景技术】
[0002]对于输入传感器的测定输入与检测输出的关系即检测特性、或者作为例如发动机、电磁阀这样的电磁致动器的电负载的控制输入与所产生的输出的关系即输出特性，进行如下动作的电子控制装置是公知的:使用包括用于校正该固体偏差变动的标签电阻在内的特性传感器或特定负载，并由微处理器读取出标签电阻的电阻值，根据所读取出的电阻值来正确地识别出所使用的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性。
例如，根据下述专利文献I “气体传感器、气体传感器的连接器、以及气体浓度检测装置”，如图23中所记载的，在气体传感器的用于连接外部的连接器部分设有标签电阻RL，所述气体传感器利用第I泵电流IPl来检测氧浓度(参照图23(A))，利用第2泵电流IP2来检测N O X浓度(参照图23 (B))，对于对第I泵电流IPl的6个级别的修正系数β = —
2、一 1、0、1、2、3、与对第2泵电流ΙΡ2的6个级别的修正系数α =- 2、一 1、0、1、2、3之间的二维映射，分配为等级I?36(参照图23(C))，根据标签电阻RL的电阻值来决定是等级I?36中的哪一个，作为其结果，决定修正系数α、β，从而利用规定的计算式(I)、(3)、
(4)、(5)来检测出氧浓度与N O X浓度。
[0003]另外，根据下述专利文献2 “喷射器及燃料喷射系统”，在喷射器处设有修正电阻，对燃料喷射用电磁阀的输出响应特性中包含的固体偏差变动进行修正，如图24所记载的那样，为了对用于获得设为目标的燃料喷射量的指令喷射量计算出用于决定所需的燃料喷射用电磁阀的开阀时间的喷射脉冲时间，对由图24(A)的实线所示的基本喷射脉冲时间特性，生成由虚线表示的修正后的喷射脉冲时间特性，该修正后的喷射脉冲时间特性是通过基本喷射脉冲时间特性与第1、第2基准修正量代数相加而得到。
第I及第2基准修正量均可以选择一20，一 10，±0，+ 10，+20μ s这5个级别的修正量，对由第I及第2基准修正量组成的二维映射分配为等级I?25 (参照图24 (B))，并利用修正电阻的电阻值来确定是等级I?25中的哪一个。
现有技术文献 专利文献
[0004]专利文献1:日本专利特开平11 一 281617号公报(图4、图8、第0062、0065段) 专利文献2:日本专利特开2000 — 220508号公报(图14、图18、第0064、0067段)
【发明内容】
发明所要解决的技术问题
[0005]上述专利文献I中的作为气体传感器的特定传感器具有能够利用一个标签电阻来决定两种修正系数α、β的特征，该修正系数α、β均是用于修正第I泵电流IPl及第2泵电流ΙΡ2的比例增益GPlst(P)或GP2st(a)的，对于第2泵电流IP2中的偏移分量IP2off不进行修正而使用固定值。
因此，并没有示出利用标签电阻来修正包含偏移分量在内的检测特性、或至少难以利用一次直线函数来表示的曲线检测特性的概念，因此在这种复杂的曲线检测特性的情况下，需要经由IC存储器来发送特性数据。
此外，根据表示专利文献I的第2实施例的所述文献中的图6，将调整第I泵电流IPl的比例增益的修正电阻Rcl、调整第2泵电流IP2的比例增益的修正电阻Rc2、以及调整第2泵电流IP2的偏移电流的修正电阻Rc3用作为检测装置内的放大电路的一个电路元器件，然而在这种硬件方法中，由于弱电流信号电路与检测装置的外部相连接，因此会产生噪声误动作的危险，或检测装置的硬件成本会变高，从而产生问题。
[0006]另外，上述专利文献2中的作为喷射器的特定负载仅仅修正了燃料喷射用电磁阀的响应时间的固体偏差变动，因此并没有考虑到比例增益的偏差修正，该比例增益决定对燃料喷射用电磁阀的指令电流的大小与喷射脉冲时间之间的关系。
另外，并没有示出当喷射脉冲时间无法简单地利用一次直线函数来表示时利用修正电阻来进行修正的概念，因此在这种复杂的曲线检测特性的情况下，需要经由IC存储器来发送特性数据。
[0007]本发明的第I目的在于，提供一种简易的电子控制装置，该电子控制装置中的特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性是单调递增或单调递减的曲线特性，而并非山形或谷形的二值曲线，该电子控制装置适用于检测特性或输出特性能以一对以上的折线特性来进行近似的情况，并能抑制由于检测特性或输出特性的固体偏差变动而使得控制精度下降。
本发明的第2目的在于，提供一种简易的电子控制装置的控制特性调整方法，能够应对各种变动原因，从而抑制由于检测特性或输出特性的固体偏差变动而使得控制精度下降，其中，所述各种变动原因有:由多个样本的试验数据的平均值决定的标准特性、与作为对象的现有样本所相关的个体特性之间的偏差特性较大地依赖于特性直线的倾斜角的偏差；或者倾斜角不发生变动而偏差分量的变动较大；又或者倾斜角与偏差分量都是原因
坐寸ο
解决技术问题所采用的技术方案
[0008]本发明的电子控制装置包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，
所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动，
并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样品的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据。
所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，
所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差。所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中，
所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据、或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率、或是一对调整加法运算值、又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据。
所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，
所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值。
所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原生成所述个别特性数据，所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。
[0009]在本发明的电子控制装置的控制特性调整方法中，在所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述标准特性数据以外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据，
在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性数据的标准特性与所述个别特性数据的个别特性折线近似，
作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据可以从如下选择Al至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个:(I)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择Al、或选择由所述第I及第2调整系数的组合形成的一对调整系数的选择A2 ;或者(2)由所述偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由所述第I及第2偏置调整值形成的一对偏置调整值的选择A4 ;或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6、或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7，
另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数，
并且，所述调整系数是由比率(y nO/ y O)或比率(xnO/xO)来决定的参数，所述比率(y nO/ y O)是对于共同的比较调整输入xO、将个别特性的比较监视输出ynO与所述标准特性的比较监视输出yO进行比较后得到的比率，所述比率(xnO/xO)是对于共同的比较调整输出yO、将所述个别特性的比较监视输入χηΟ与所述标准特性的比较监视输入xO进行比较后得到的比率，
所述斜率系数是由比率(θ η/ Θ O,或tan Θ n/tan θ O)来决定的参数,所述比率(Θ n/Θ 0，或tan Θ n/tan θ O)是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率，
所述偏置调整值是由比较偏差(y In — y I)或比较偏差(X In — X I)来决定的参数，所述比较偏差(y In — y I)是与共同的比较调整输入xl相对的、所述个别特性的比较监视输出yin与标准特性的比较监视输出yl之间的比较偏差，所述比较偏差(x In —X D是与共同的比较调整输出yl相对的、所述个别特性的比较监视输入xln与所述标准特性的比较监视输入xl之间的比较偏差，
所述斜率调整值是由比较偏差(θ η — Θ 1，或tan θ η — tan Θ I)来决定的参数,所述比较偏差(θ η — Θ 1，或tan Θ n — tan Θ I)是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。
发明效果
[0010]如上所述，在本发明的电子控制装置中，输入传感器组的一部分特定传感器或电负载组的一部分特定负载包括用于校正检测特性或输出特性的固体偏差变动的标签电阻，在运行开始时将所测定到的标签电阻的电阻值、与预先存储的标准特性数据及插补信息进行组合，还原生成与所使用的特定传感器或特定负载相对应的个别特性数据，并利用从根据标签电阻的电阻值决定的调整系数或斜率系数或偏置调整值或斜率调整值中选择出的多个常数，来得到折线特性。
因此，如果在电子控制装置的制造出厂阶段利用成为标准样本的特定传感器或特定负载来对控制装置进行调整操作，并在特定传感器或特定负载的制造出厂阶段组装用于修正固体偏差的标签电阻，则在组装两者的总合组装阶段、或在市场上对特定传感器或特定负载或电子控制装置进行维护更换时，无需对两者进行组合调整，因此使得组装及维护更换变得容易，从而能够得到一种利用较为廉价的特定传感器或特定负载设备、并具有高精度的控制性能的电子控制装置，
即使在检测特性或输出特性是包含一对以上的折线特性的复杂特性，特定传感器或特定负载中也无需用于存储修正常数的IC存储器，从而能够通过读取出小型且廉价的标签电阻的电阻值来简单地校正固体偏差变动，由此，无需在特定传感器或特定负载与电子控制装置之间进行复杂的信号交互，从而产生能整体地提高经济性的效果。另外，设在电子控制装置中的微处理器在不进行输入输出控制的期间读取标签电阻，并预先生成有个别特性数据，因此无需在运行中对标签电阻进行读取或转换处理，从而具有能减少微处理器的控制负担，并能使用廉价的微处理器的效果。
[0011 ] 如上所述，在本发明的电子控制装置的控制特性调整方法中，程序存储器或数据存储器包含用于选择修正常数的数据形式的辅助数据，所述修正常数用于根据标准特性数据来计算个别特性数据。
因此，在为了生成标准特性数据而对多个样本进行实验测定时，将此处所获得的标准特性与各种偏差特性进行对比，选择修正常数的变动幅度较小的数据形式，从而具有能抑制标签电阻的电阻值的调整幅度的效果。
此外，例如在标准特性的倾斜角Θ O是非常小的平坦线的情况下，与个别特性的倾斜角θ Π之间的比率即斜率系数θ η/ Θ O或tan Θ n/tan θ O将变为过大的数值，导致斜率系数的变动幅度过大，从而难以利用标签电阻来表现这种情况。
一般来说，在倾斜角的变动较小、标准特性与个别特性接近于互为平行线状态的情况下，偏置方式较为有利，在标准特性与个别特性之间的倾斜角较小、并相对于X轴呈平坦的平行特性的情况下，调整输入对监视输出的形式较为有利，在相对于X轴呈陡峭的平行特性的情况下，调整输出对监视输入的方式较为有利。
与此相对，在标准特性与个别特性之间的倾斜角的变动较大的情况下，调整系数方式较为有利。
在该情况下，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交叉点位于第1、第4坐标的情况下，使用一对调整系数较为有利，与此相对，当标准特性的线段与个别特性的线段之间的交叉点位于第2、第3坐标的情况下，斜率系数方式较为有利。
【专利附图】
【附图说明】[0012]
图1是表示本发明的实施方式I的整体结构图。
图2是实施方式I所用的一个一用的标签电阻的结构图。
图3是说明使用图2的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。
图4是图2的标签电阻的分配结构图。
图5是实施方式I所用的两个一用的标签电阻的结构图。
图6是说明使用图5的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。
图7是实施方式I中的特定负载的控制框图。
图8是实施方式I中的特定传感器及特定负载的调整操作的流程图。
图9是实施方式I中的电子控制装置的调整操作的流程图。
图10是实施方式I中的电子控制装置的运行动作的流程图。
图11是表示本发明的实施方式2的整体结构图。
图12是实施方式2中使用的标签电阻的结构图。
图13是说明使用图12的标签电阻时的调整系数的特性曲线图。 图14是表示用于计算实施方式2中的修正系数的变形方式的图。
图15是实施方式2中的特定负载的控制框图。
图16是带有实施方式2中的特定传感器的特定负载的调整操作的流程图。
图17是实施方式2中的电子控制装置的调整操作的流程图。
图18是实施方式2中的电子控制装置的运行动作的流程图。
图19是用于说明本发明的控制特性调整方法中的调整倍率的特性曲线图。
图20是用于说明本发明的控制特性调整方法中的调整加法运算值的特性曲线图。
图21是与本发明的控制特性调整方法中的修正常数相关的说明图。
图22是与本发明的控制特性调整方法中的修正常数的分配相关的图表。
图23是用于说明作为现有技术的专利文献I的图表。
图24是用于说明作为现有技术的专利文献2的图表。
实施方式
[0013]实施方式I
下面，对表示本发明的实施方式I的整体结构图即图1进行说明。
图1中，以电子控制模块IlOA为主体构成的电子控制装置100A例如由负端子与车体101相连的车载电池等外部电源102进行供电，在未图示的电源开关闭合时，经由激励中的电源继电器的输出触点103施加作为主电源的供电电压Vb，经由负载电源继电器的输出触点104施加负载电源电压Vbb，并直接提供存储器的备用电源电压Vbu。
此外，电源继电器通过闭合未图示的电源开关来进行激励，一旦电源继电器的输出触点103闭合而使得电子控制装置100A开始动作，则利用由电子控制装置100A产生的自保持指令信号来维持激励状态，从而即使电源开关开路激励状态也得以持续，若在电子控制装置100A完成动作停止处理的时刻解除自保持指令信号，则电源继电器去激励，输出触点103开路。
[0014]电子控制装置100A与作为输入信号的传感器组105相连，该传感器组包含:与手动操作开关或后述的电负载组108的动作状态进行联动的各种开关传感器或模拟传感器、或者例如作为温度传感器的环境传感器105a等。
传感器组105的一部分即特定传感器106A包括用于校正检测特性的固体偏差变动的第I及第2标签电阻61a、62a。
由电子控制装置100A来进行驱动控制的电负载组108例如是发动机、电磁阀等致动器，或者是作为人机接口的显示设备。电负载组108的一部分即特定负载107A对指令输入产生的输出特性中存在固体偏差变动，所述特定负载107A包括用于进行校正、使得提供适当的指令信号以得到作为目标的产生输出的标签电阻74a。
此外，特定传感器106A的检测特性或特定负载107A的输出特性不是山形或谷形曲线，而是单调递增或单调递减的曲线特性，在为比较平缓的直线特性的情况下，只需一个标签电阻即可，在为弯曲特性的情况下使用两个标签电阻。
因此，如果特定传感器106A是比较平缓的直线特性的情况下，使用一个标签电阻，在特定负载107A是弯曲特性的情况下，使用两个标签电阻，这里，作为一个简单的示例，设特定传感器106A是两个一用，而特定负载107A是一个一用。
[0015]电子控制装置100A的内部设有定电压电源110a，该定电压电源IlOa由外部电源102并经由电源继电器的输出触点103来进行供电而产生例如DC5V的稳定的控制电压Vcc，对包含电子控制模块IlOA或未图示的接口电路的各单元进行供电。
电子控制模块IlOA利用总线将作为运算处理装置的微处理器111、与用于运算处理的RAM存储器112、例如作为快闪存储器的非易失性程序存储器113A、非易失性数据存储器114、多信道AD转换器115、以及串行一并行转换器116互相连接而构成。
此外，程序存储器113A中保存有后述的成为标签电阻读取转换单元1004的控制程序。另外，AD转换器115中施加有作为基准电压的控制电压Vcc，AD转换器115的模拟输入信号电压Vi的数字转换值、与控制电压Vcc和输入信号电压Vi的比率成正比，若输入信号电压Vi等于控制电压Vcc，则能得到与AD转换器115的分辨率相对应的满刻度值。
将由外部电源102直接供电的定电压电源IlOb作为备用电源，以使得在电源继电器的输出触点103开路的状态下，写入RAM存储器112中的数据不会消失，在未图示的电源开关开路使得电源继电器的输出触点103延迟闭合的期间，将写入RAM存储器112中的数据中的重要数据传送并保存于数据存储器114中。
[0016]此外，可以将以I比特为单位、可进行简单地电读写的非易失性存储器用作为数据存储器114，在程序存储器113A是以块为单位一并进行电清除的快闪存储器的情况下，也可以将特定的块用作为数据存储器114。
另外，程序存储器113A具有如下结构:在连接有未图示的编程工具或后述的调整工具190的状态下，进行程序的重写，在未连接例如这些工具等的状态下，只能进行读取而不能进行重写处理。然而，对于数据存储器114，如果即使是程序存储器113A的一部分区域、所保存的数据块有所不同，则即使不连接工具也能通过微处理器111自由地进行读写然而，在使用快闪存储器的情况下，可消除的次数有限，因此一般在运行过程中写入RAM存储器112中的数据在电源开关开路后马上被传送并保存到数据存储器114中。
[0017]设在电子控制装置100A内部的接口电路160a将与特定传感器106A的检测信号进行联动的监视电压Val输入到多通道AD转换器115。
此外，在特定传感器106A例如产生DCO?5V的检测信号的情况下，无需接口电路160a,而在检测信号电压较为微小的情况下，利用接口电路160a来进行放大，在检测信号电压穿越正负区域的情况下，利用接口电路160a加上偏置电压，并进行标准化转换，使得监视电压Val处于DCO?5V的正坐标区域。
与第I标签电阻61a串联连接的串联电阻161a的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第I标签电阻61a的两端电压Va2输入到多通道AD转换器115中。
与第2标签电阻62a串联连接的串联电阻162a的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为第2标签电阻62a的两端电压Va3输入到多通道AD转换器115中。
与特定负载107A的标签电阻74a串联连接的串联电阻174的一端连接有控制电压Vcc，将另一端作为标签电阻74a的两端电压Va5输入到多通道AD转换器115中。
[0018]此外，若将串联电阻174的电阻值设为Rl74，将标签电阻74a的电阻值设为R74，则式(I)和式(2)的关系成立。
Va5 =V cc X R 74/( R 74 + R 174)...........(I)...R 74 = R 174X ( V a5/ V cc) / [ I — ( V a5/ V cc) ]...(2)
因此，能够根据作为已知值的串联电阻174的电阻值R174、以及AD转换器115的标签电阻74a的两端电压Va5的数字转换值来计算出标签电阻74a的电阻值。
这点对于第I及第2标签电阻61a、62a也相同。
以未图示的晶体管为主体得以构成的电流控制电路171根据由微处理器111产生的作为脉宽调制信号(P WM信号)的控制指令信号DRl来进行开闭动作，经由与一端施加有负载电源电压Vbb的特定负载107A的另一端串联连接的电流检测电阻172对特定负载107A进行供电，并根据闭合时间与开闭周期的比率即开闭占空比来控制负载电流。
电流检测电阻172的两端电压通过差动放大器173放大，并作为负反馈电压Va4输入到AD转换器115中。
[0019]调整工具190A在电子控制装置100A的出厂调整运行时，经由串行通信电路109进行连接，以进行接口电路160a与电流控制电路171的初始校正，在该出厂调整运行时特定传感器106A和特定负载107A使用标准样本。
将接口电路160a的输入电压经由用于测量的数字电压计191和调整工具190A输入到电子控制装置100A中，求出在提供一大一小两种输入电压Vil、Vi2时的监视电压Val经AD转换器115转换后得到的数字转换值Di1、Di2，并根据输入电压Vi1、Vi2与数字转换电压Dil、Di2的关系，计算出接口电路160a内所施加的实际的偏置电压、以及接口电路160a的实际放大率。
其结果是，即使在接口电路160a内所施加的偏置电压、接口电路160a的实际放大率中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏置电压及放大率存储到数据存储器114中，从而准确地获取到经由接口电路160a输入的信号电压。
[0020]将电流控制电路171的输出电流经由用于测量的电流检测器193、数字电流计192及调整工具190A，输入到电子控制装置100A中，求出在提供一大一小两种输出电流Ail、Ai2时的负反馈电压Va4经AD转换器115转换后得到的数字转换值Dil、Di2，并根据输出电流Ail、Ai2与数字转换电压Dil、Di2的关系，计算出由差动放大器173产生的偏移电压或电流检测电阻172的实际值，并计算出控制指令信号DRl与实际的输出电流的关系。
其结果是，即使在电流控制电路171或电流检测电阻172中存在固体偏差变动，也能通过预先将实际测定到的偏移电压、电流检测电阻172的值、控制指令信号DR1、及输出电流之间的关系存储到数据存储器114中，从而根据经由差动放大器173输入的负反馈电压Va4来精确地获取施加给特定负载107A的供电电流，并生成能够得到作为目标的输出电流的控制指令信号。
[0021]如上所述，可以认为:电子控制装置100A内相对于特定传感器106A或特定负载107A的接口电路预先经过适当的校正处理，因而即使特定传感器106A发出正负的检测信号，也能通过接口电路160a内的偏差加法运算来将其重新置于正坐标上的检测信号。
因此，在下述说明中，对特定传感器的检测特性或特定负载的输出特性均不含有负值的情况进行说明。
[0022]接下来，对图2、图3、以及图4进行说明，图2是实施方式I中所用的一个一用的标签电阻74a的结构图，图3是对使用了图2的标签电阻74a时的调整系数进行说明的特性曲线图，图4是图2的标签电阻的分配结构图。
图2中，标签电阻74a依次串联连接有多个串联电阻80?89，串联电阻80?89的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻80?89通过设在调整窗内的多个短路/开路端子B O?B 9来进行短路或开路。
此外，电阻器的电阻值使用等比数列的标准数，因此在一个电阻器中依次选择出具有2倍值的电阻值的电阻器较为困难，所以适当地连接以虚线表示的并联电阻，从而来进行修正以使其变成近似于2倍的电阻值。
所述短路/开路端子BO?B9与作为目标的标签电阻74a的电阻值的二进制值相对应，在二进制值“O”时短路，在二进制值“I”时开路。
[0023]在预先构成这种电路的情况下，在通过短路/开路端子BO?B9的任意组合来使端子短路时，利用该组合使作为标签电阻74a的合成电阻发生变化，由靠近B9的左侧位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻74a电阻值的变化要比由靠近BO的位置上的短路/开路端子发生短路而导致的标签电阻74a电阻值的变化要大，因此将其置于高比特位。
因此，标签电阻74a的电阻值是与二进制值(B 9，B 8...B I.B O)成正比的值。 其中，若在二进制值“O”时开路、在二进制值“ I ”时短路，则能得到补数值。
此外，作为标签电阻74a的调整操作，利用焊料来使短路/开路端子B O?B 9的一部分或全部短路，根据情况在全部都开路的状态下，若该调整操作结束，则在未图示的调整窗内注入密封材。
[0024]接下来，对图3进行说明，图3是图1中的特定负载107a的标准特性曲线图及个别特性曲线图。
图3 (A)是表示多个样本的特定负载107A的输出特性所相关的平均值的标准特性曲线图，如果特定负载107A例如是直流发动机，则横轴是提供给发动机的成为控制输入的供电电流，而纵轴表示发动机所产生的转矩。
该标准特性近似为第I线段303a与第2线段304a所组成的折线，第I线段303a与第2线段304a还能近似成一根合成直线305a。
合成直线305a通过坐标点(P 0，V O)，其与横轴的斜率为Θ O。
其中，P O是规定的实际测定电流，V O是实际测定电流P O所产生的转矩，由此标准数据(P 0，V 0，Θ0)得以构成。
另外，在实际测定电流为Pi时，合成直线305a与折线数据之间存在误差Λ V i0，与各个实际测定电流Pi相对应地构成差分数据(Λ V iO)。
标准数据(P O，V O，Θ O)与差分数据(Λ V iO)是作为标准输出特性数据保存在程序存储器113A或数据存储器114中的数据。
[0025]图3 (B)是表示作为出厂检查对象的现有样本的特定负载107A的输出特性的个别特性曲线图，横轴与纵轴的关系与图3(A)的情况相同。
该个别特性近似为第I线段303b与第2线段304b所组成的折线，第I线段303b与第2线段304b还能近似成一根合成直线305b。
合成直线305b通过坐标点(P O，V η)，其与横轴的斜率为θ η。
其中，P O是规定的实际测定电流，V η是实际测定电流P O所产生的转矩，由此个别数据(P O，V η，θη)得以构成。
另外，在实际测定电流为Pi时，合成直线305b与折线数据之间存在误差Λ V in，与各个实际测定电流Pi相对应地构成差分数据(Λ V in)。 这里，将个别特性中所产生的转矩Vn与标准特性中所产生的转矩VO的比率Vn/V0作为一次调整系数，将个别特性中的斜率θ η与标准特性中的斜率Θ O的比率θ η/ Θ O作为一次斜率系数，并将一次修正系数定为(V n/ V 0，θ η/ Θ O)。
该一次修正系数(V n/ V 0，θ η/ Θ O)由标签电阻74a的电阻值来体现，微处理器111通过读取出标签电阻74a的电阻值，来识别所使用的特定负载107A所相关的一次修正系数(V n/ V O, θ η/ Θ O)。
[0026]其结果是，微处理器111能够利用预先保存的标准特性数据、以及通过读取出标签电阻74a的电阻值而获取的一次修正系数，来获取所使用的特定负载107A即发动机的个别输出特性。
如图3(C)示出了如上述那样获取的个别输出特性，利用标准的合成直线305a及一次修正系数(V n/ V 0，θ η/ Θ O)来重现与个别的合成直线305b相同的合成直线305c。
通过将标准差分数据Λ V iO与该重现的合成直线305c ( = 305b)进行代数加法运算，来生成第I线段303c及第2线段304c。
由此生成的图3(C)中的一次修正折线特性与图3(B)的个别检查特性相比，差分数据Δ V in有所不同。
[0027]图3(D)示出了二次修正折线特性中的第I线段303d、第2线段304d、合成直线305d。
合成直线305d通过坐标点(P 0，V m)，其与横轴的斜率为Θ m，标签电阻74a体现出二次修正系数(V m/ V 0，Θ m/ Θ O),而非一次修正系数。
此外，二次修正系数是计算二次调整系数(V m/ V O)及二次斜率系数(Θ m/ Θ O)的值后得到的值，使得在分别使一次调整系数(V n/ V O)与一次斜率系数(θ η/ Θ O)的值微增或微减时所得到的一次修正折线特性的第I线段303c及第2线段304c、与个别折线特性中的第I线段303b及第2线段304b之间的相对误差最小。
微处理器111利用标准数据(PO，V 0，Θ O)以及从所述标签电阻74a的电阻值读取出的所述二次修正系数，来确定合成直线305d，并通过将差分数据Λ V iO与所确定的合成直线305d进行代数加法运算，来确定由第I线段303d及第2线段304d组成的二次修正折线特性，并利用所确定的二次修正折线特性来得到特定负载107A的个别输出特性。
[0028]在上述说明中，对将直流发动机用作为特定负载107A的情况进行了说明，一般来说，图3的横轴为相对于特定负载107A的控制输入，而纵轴为特定负载107A所产生的输出。
特别的，在这里的说明中，将控制输入PO设作共同的调整输入，将标准特性中所产生的输出VO与个别特性中所产生的输出Vn作为监视输出，并进行对比，但也可以将为了能得到共同的调整输出时的监视输入的比率设作为调整系数。
另外，也可以不使用斜率系数，而在合成直线305a上决定一对比较坐标点，并利用标准数据(PO，V O, P 00, V 00)来表示合成直线305a，利用一对调整系数(V n/ V 0，
Vnn/ V 00)来计算出个别的合成直线305b。
[0029]在上述说明中，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对比率即斜率系数设为调整倍率，该调整倍率是通过乘上标准特性数据而得到个别特性数据的修正常数。
与此相对，将规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值、或者规定的调整比较点上的个别特性数据与标准特性数据之间的变化率所相关的相对偏差即斜率调整值设为调整加法运算值，该调整加法运算值是通过与标准特性数据进行代数加法运算从而得到个别特性数据的修正常数。
[0030]接下来，对图4进行说明，图4是用于说明标签电阻74a的电阻值的决定方法的图表。
图4 (A)示出了在对标签电阻74a的电阻值进行数字转换、从而利用二进制值来表示时的比特位结构。
低比特位(B 4?B O)是用于指定1.04?0.95来作为调整系数的数值区域，例如，在希望将调整系数设作为0.95时，将低比特位设为00001?00011的中心值00010即可。
由此，在将标签电阻的调整误差或AD转换误差考虑在内的情况下，即使产生I比特程度的误差，也能可靠地识别出调整系数0.95。
此外，在图4(A)中，将低比特位上的二进制值00001?11110换算成10进制值时为I?30，与I?30相对应地分配调整系数0.95?1.04。
高比特位(B 8?B 6)用于分配1.04?0.97来作为斜率系数，例如，在希望将斜率系数设作为1.01时，设定(B 8，B 7，B 6) = (1,0,0)即可。
该情况下的十进制值为256，然而如果例如十进制值为258 = 256+2，则斜率系数选择
1.01，而调整系数选择0.95。
[0031]图4(B)是用于说明其它实施方式中的标签电阻74a的电阻值的决定方法的图表，这里，作为修正常数，在第I比较调整点上应用偏置调整值，而在第2比较调整点上应用使用了调整系数的数据形式。
此外，使用调整系数、斜率系数、偏置调整值、斜率调整值的哪个组合作为修正常数是以数据形式的方式预先写入并保存在程序存储器113A或数据存储器114中。
图4 (B)是9行7列共计63格的表，能够选择精调与粗调来作为偏置调整值，精调能够进行( + 3,+ 2,+1,0, — I, — 2, — 3)这7个级别的修正，而粗调能够进行(+ 6, + 4, +2，0，一 2，一 4，一 6)这7个级别的修正。一个单位的修正量所表示的含义均被定义在程序存储器113A或数据存储器114中，例如保存有5mV或一 IOKg这样具体的数值。
[0032]另外，也可以选择能够进行(1.04，1.03，1.02，1.01，1.00，0.99，0.98，0.97，0.96)这9个级别修正的精调、以及能够进行(1.08，1.06，1.04，1.02，1.00,0.98,0.96,0.94，0.92)这9个级别修正的粗调，来作为调整系数。
另一方面，标签电阻能够进行比特位O?6的7个比特位的选择调整，由此，可将标签电阻的数字转换值O?127中的I?126作为等级编号来进行分配。
等级编号I?126中，奇数编号被分配为用于精调，而偶数编号被分配为用于粗调，例如如果等级编号为81，则偏置调整值以+ 2为单位来进行加法运算修正，而调整系数进行0.99倍的乘法修正。
另外，例如如果等级编号为82，则偏置调整值以+ 4为单位来进行加法运算修正，而调整系数进行0.98倍的乘法修正。
[0033]接下来，对图5及图6进行说明，图5是实施方式I中所用的两个一用的标签电阻61a、62a的结构图，图6是对使用了图5的标签电阻61a、62a时的调整系数进行说明的特性曲线图。
图5中，与特定传感器106A —体化的第I及第2标签电阻61a、62a由经过激光微调后的薄膜电阻构成，通过一个调整窗来进行电阻值的调整。
此外，薄膜电阻的宽度为X、长度为Y、厚度为T，若将宽度方向上的切割尺寸设为Λ X，将长度方向上的切割尺寸设为△ Y，则通过对初始的电阻值RO进行切割而增加的增加电阻值Λ R可通过式(3)计算得出。
【权利要求】
1.一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，所述电子控制装置的特征在于， 所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动， 并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据， 所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性， 所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差， 所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中， 所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据，或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据， 所述调整倍率是通过与所述标`准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数， 所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值， 所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据， 所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。
2.一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述电负载组的一部分特定负载具有检测该特定负载的输出的特定传感器，所述特定传感器包括标签电阻，该标签电阻用于校正将所述特定负载的输出特性与所述特定传感器的检测特性进行合成后所得到的合成输出特性的固体偏差变动，所述电子控制装置的特征在于，所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动， 并且，在所述程序存储器或数据存储器中，以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定负载及所述特定传感器的标准合成特性数据， 所述合成输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性， 所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准合成数据、与实际的标准合成特性数据之间的误差， 所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算用于修正所述特定负载的合成输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中， 所述修正常数是以所述标准合成特性数据即标准特性数据为基准、用于确定所述特定负载的个别合成特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据， 所述调整倍率是通过 与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数， 所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，可以是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值， 所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的哪种组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数、所述插补信息及所述特定负载的所述标准特性数据进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据， 所述微处理器参照所生成的所述个别合成特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。
3.如权利要求2所述的电子控制装置，其特征在于， 所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述特定负载与所述特定传感器的标准合成特性数据以外，还以规定数据形式保存有所述特定负载的标准输出特性数据， 所述微处理器为了使所述特定负载产生作为目标的目标控制输出，参照所述标准输出特性数据来生成控制指令信号，并且作为其结果，在参照所述特定负载的个别合成特性数据而得到的所述特定传感器的检测输出、与所述目标控制输出之间存在控制偏差时，所述微处理器对所述控制指令信号进行增减修正并进行负反馈控制，以获取所述目标控制输出。
4.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 所述标签电阻依次串联连接有多个串联电阻，该串联电阻的电阻值中，后级的电阻值是前级的电阻值的2倍，各个串联电阻通过设在调整窗内的多个短路/开路端子来进行短路或开路， 所述短路/开路端子与作为目标的标签电阻的电阻值的二进制值相对应，根据各比特位的逻辑状态来进行短路或开路。
5.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 所述标签电阻使用薄膜电阻，该薄膜电阻可以通过调整窗利用激光微调来对电阻值进行调整，以使得在对电阻值进行测量监视的同时，利用宽度方向的切割尺寸及长度方向的切割尺寸来使其变为目标电阻值。
6.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 构成所述标签电阻的串联电阻在构成为漩涡状的薄膜电阻体处设置有多个连接端子，将该连接端子用作为短路/开路端子，通过调整窗使其短路或开路， 所述短路/开路端子间的电阻预先从小的电阻开始依次通过激光微调来进行调整，以将其调整成依次翻倍的电阻值。
7.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 将所述微处理器所测定到的所述标签电阻的数字转换值分割成高比特位组及低比特位组来使用，将所述高比特位组及低比特位组分别分配给所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的某一个的设定，将所分配的设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器或数据存储器中， 利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。
8.如权利要求1至3的任一项所述的电子控制装置，其特征在于， 由所述微处理器测定到的所述标签电阻的数字转换值与设置在对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的设定值进行分配的二次映射中的流水号相对应， 利用所述流水号来指定所述设定值的等级编号， 在将所述流水号分割成小号组与大号组、或者奇数编号组与偶数编号组时，同一等级将被分配到两个流水号，将分配给各个等级编号的用于精调或用于粗调的所述设定值、以及与所述偏置调整值或所述斜率调整值相关的最小值保存在所述程序存储器或数据存储器中，利用与所述最小值相对的倍率来对所述偏置调整值或所述斜率调整值进行设定。
9.一种权利要求1或2中所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 在所述程序存储器或所述数据存储器中，除了所述标准特性数据以外，还添加有用于选择所述数据形式的辅助数据， 在由输入共同的比较调整值的调整输入轴、和输出不同的比较监视值的监视输出轴所组成的二维坐标上，或者在由输出共同的比较调整值的调整输出轴、和输入不同的比较监视值的监视输入轴所组成的二维坐标上，所述标准特性数据的标准特性与所述个别特性数据的个别特性用折线近似，作为构成所述修正常数的选择参数，所述辅助数据可以从如下选择Al至选择A7的一部分或全部之中选择出任意一个:(I)由所述调整系数与所述斜率系数的组合形成的选择Al、或选择由所述第I及第2调整系数的组合形成的一对调整系数的选择A2 ;或者(2)由所述偏置调整值与斜率调整值的组合形成的选择A3、或选择由所述第I及第2偏置调整值形成的一对偏置调整值的选择A4 ;或者(3)选择由所述偏置调整值与所述调整系数的复合组合的选择A5、或选择由所述调整系数与所述斜率调整值的组合形成的复合组合的选择A6、或者选择所述偏置调整值与所述斜率系数的组合的选择A7， 另外，(4)所述折线特性的坐标轴选择调整输入轴对监视输出轴的二维坐标轴即选择B1、或调整输出轴对监视输入轴的二维坐标轴即选择B2中的任意一个，由此，指定共计14种选择项中的一个来作为选择参数， 并且，所述调整系数是由比率(y nO/ y O)或比率(xnO/xO)来决定的参数，所述比率(y nO/ y O)是对于共同的比较调整输入xO、将所述个别特性的比较监视输出ynO与所述标准特性的比较监视输出yO进行比较后得到的比率，所述比率(xnO/xO)是对于共同的比较调整输出yO、将所述个别特性的比较监视输入χηΟ与所述标准特性的比较监视输入xO进行比较后得到的比率， 所述斜率系数是由比率(θ η/ Θ O,或tan Θ n/tan θ O)来决定的参数,所述比率(Θ n/Θ 0，或tan Θ n/tan θ O)是将用于计算所述调整系数的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切进行比较后得到的比率， 所述偏置调整值是由比较偏差(y In — y I)或比较偏差(X In — X I)来决定的参数，所述比较偏差(y In — y I)是与共同的比较调整输入xl相对的、所述个别特性的比较监视输出yin与标准特性的比较监视输出yl之间的比较偏差，所述比较偏差(x In —X D是与共同的比较调整输出yl相对的、所述个别特性的比较监视输入xln与所述标准特性的比较监视输入xl之间的比较偏差， 所述斜率调整值是由比较偏差(θ η — Θ 1，或tan θ η — tan Θ I)来决定的参数,所述比较偏差(θ η — Θ 1，或tan Θ n — tan Θ I)是用于计算所述偏差修正值的比较调整点上的所述个别特性的变化率即线段的倾斜角或其正切、与所述标准特性的变化率即线段的倾斜角或其正切之间的比较偏差。
10.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I线段及第2线段所形成的标准折线特性，并且计算出该第I线段与第2线段之间相对误差最小的合成直线， 所述标准特性数据由标准数据及差分数据△ V i0构成，所述标准数据包含与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述合成直线的斜率Θ O、或一对比较调整点的坐标，所述差分数据Λ V i0是与大小不同的多个分散调整值Pi相对应的所述第I线段及所述第2线段、与所述合成直线之间的误差， 将所述个别特性近似为由第I线段及第2线段所形成的个别折线特性，并且计算出该第I线段与第2线段之间相对误差最小的合成直线， 所述个别特性数据由个别数据构成，所述个别数据包含:在所述标准特性数据中所使用的，与选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述合成直线的斜率θ η、或一对比较调整点的坐标， 将所述个别的所述合成直线与所述标准的合成直线相比较，将所述标签电阻调整为用于确定所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述标签电阻的电阻值，并提取出所指定的所述选择参数，将其作为一次修正常数， 利用所述标准数据及所述一次修正常数来确定与所述个别的合成直线相同的合成直线，通过将所述差分数据Λ ViO作为插补信息与所确定的合成直线进行代数加法运算，来确定由经修正后的第I线段及第2线段所构成的一次修正折线特性，并利用所确定的一次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
11.如权利要求10所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 根据成为所述一次修正常数的所述选择参数的值来计算成为二次修正常数的选择参数， 所述二次修正常数是对所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值进行修正计算的常数，在使构成所述选择参数的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值微增或微减时得到的，以使得所述一次修正折线特性的第I线段及第2线段、与所述个别折线特性中的第I线段及第2线段之间的相对误差最小， 将所述标签电阻调整为用于确定经修正并计算出的所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值中的任意值的电阻值， 所述微处理器利用从所述标准数据和所述标签电阻的电阻值中所读取出的所述二次修正常数，来确定合成直线，并通过对将所述差分数据Δ ViO作为插补信息而与所确定的合成直线进行代数加法运算，来确定对由经补充修正后的第I线段及第2线段所组成的二次修正折线特性，利用所确定的二次修正折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
12.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I直线及第2直线组成的标准折线特性， 并且，所述标准特性数据由与所述第I直线相关的第I标准数据、以及与所述第2直线相关的第2标准数据构成， 所述第I标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率θ 10、或一对比较调整点的坐标， 所述第2标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率θ 20、或一对比较调整点的坐标， 将所述个别特性近似为由第I直线及第2直线所组成的个别折线特性，并且，所述个别特性数据由与所述第I直线相关的第I个别数据、以及与所述第2直线相关的第2个别数据构成， 所述第1个别数据包含:所述第I标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率θ In、或一对比较调整点的坐标， 所述第2个别数据包含:所述第2标准数据所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率θ 2η、或一对比较调整点的坐标， 所述标签电阻由第1标签电阻及第2标签电阻构成，所述第1标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第1直线与所述标准的第I直线相比较，来确定所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与所述标准的第2直线相比较，来确定所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述第I及第2标签电阻的电阻值， 提取出与所述个别的第I直线相对的所述选择参数，并将其作为第I修正常数， 提取出与所述个别的第2直线相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数， 利用所述第I标准数据及所述第I修正常数来确定个别的第I直线的计算式， 利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式， 利用由所确定的个别的第1直线与第2直线组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据， 并且，所述程序存储器或所述数据存储器还包含曲率半径Ra来作为第3标准数据，该曲率半径Ra用于对所述标准的第I直线与第2直线的交叉部分进行圆弧修正， 对于所述个别的第I直线与第2直线的交叉部分，将作为所述第3标准数据来保存的曲率半径Ra作为插补信息，以进行圆弧修正。
13.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I直线及第2直线、以及位于所述第I直线与所述第2直线中间的第3直线所组成的标准折线特性， 并且，所述标准特性数据由与所述第I直线相关的第I标准数据、及与所述第2直线相关的第2标准数据构成， 所述第I标准数据至少包含:所述第I直线与第3直线的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率、或一对比较调整点的坐标， 所述第2标准数据至少包含:所述第2直线与第3直线的交点位置的坐标、以及与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率、或一对比较调整点的坐标， 将所述个别特性近似为由第I直线及第2直线、以及位于所述第I直线与所述第2直线中间的第3直线所组成的个别折线特性， 并且，所述个别特性数据由与所述第I直线相关的第I个别数据、及与所述第2直线相关的第2个别数据构成， 所述第I个别数据包含:所述第I标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率；或一对比较调整点的坐标，所述第2个别数据包含:所述第2标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率；或一对比较调整点的坐标，所述标签电阻由第I标签电阻及第2标签电阻构成，所述第I标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第I直线与所述标准的第I直线相比较、来确定所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与所述标准的第2直线相比较、来确定所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述第I及第2标签电阻的电阻值， 提取出与所述个别的第I直线相对的选择参数，并将其作为第I修正常数， 提取出与所述个别的第2直线相对的选择参数，并将其作为第2修正常数， 利用所述第I标准数据及所述第I修正常数来确定个别的第I直线的计算式， 利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式， 根据所确定的个别的第I直线和第2直线的计算式，来生成成为插补信息的个别的第3直线的计算式， 利用由所确定的个别的所述第I直线和所述第2直线、以及所生成的所述第3直线所组成的折线特性，来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
14.如权利要求9所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 将所述标准特性近似为由第I直线及第2直线组成的标准折线特性， 所述标准特性数据由与所述第I直线相关的第I标准特性数据、以及与所述第2直线相关的第2标准特性数据构成，并且所述第I直线与第2直线中的至少一条直线是将前段的第I线段与第2线段进行合成后得到的第I直线，或者是将后段的第I线段与第2线段进行合成后得到的第2直线， 所述第I标准特性数据由第I标准数据及第I差分数据AVil构成，所述第I标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率Θ `10、或一对比较调整点的坐标， 所述第I差分数据AVil是与大小不同的多个分散调整值Pil相对应的所述第I线段及第2线段、与所述第I直线之间的误差， 所述第2标准特性数据由第2标准数据及第2差分数据△ V i2构成，所述第2标准数据包含:与所述14种选择参数中的任意一种相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率Θ 20、或一对比较调整点的坐标， 所述第2差分数据Λ V i2是与大小不同的多个分散调整值Pi2相对应的所述第I线段及第2线段、与所述第2直线之间的误差， 将所述个别特性近似为由第I直线及第2直线所组成的个别折线特性，所述第I直线是将前段的第I线段与第2线段进行合成后得到的直线，所述第2直线是将后段的第I线段与第2线段进行合成后得到的直线， 并且，所述个别特性数据由与所述第I直线相关的第I个别数据、及与所述第2直线相关的第2个别数据构成， 所述第I个别数据包含:所述第I标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第I直线的斜率Θ In、或一对比较调整点的坐标， 所述第2个别数据包含:所述第2标准数据中所使用的、与所述选择参数相对应的规定的比较调整点的坐标及比较调整点上的所述第2直线的斜率θ 2n、或一对比较调整点的坐标， 所述标签电阻由第I标签电阻及第2标签电阻构成，所述第I标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第I直线与所述标准的第I直线相比较，来确定的所述选择参数的电阻值，所述第2标签电阻被调整成用于通过将所述个别的第2直线与标准的第2直线相比较、来确定的所述选择参数的电阻值， 所述微处理器读取出所述第I及第2标签电阻的电阻值， 提取出与所述个别的第I直线相对的所述选择参数，并将其作为第I修正常数， 提取出与所述个别的第2直线相对的所述选择参数，并将其作为第2修正常数， 利用所述第I标准数据及所述第I修正常数来确定个别的第I直线的计算式， 利用所述第2标准数据及所述第2修正常数来确定个别的第2直线的计算式， 将所述第I差分数据AVil作为插补信息与所确定的所述第I直线进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的前段的第I线段及第2线段所组成的前段折线特性， 将所述第2差分数据△ V i2作为插补信息与所确定的所述第2直线进行代数加法运算，由此来确定由经修正后的后段的第I线段及第2线段所组成的后段折线特性， 利用由所确定的所述前段折线特性及所述后段折线特性来还原并生成所述特定传感器或所述特定负载的个别特性数据。
15.一种电子控制装置的控制特性调整方法，该电子控制装置的控制特性调整方法是权利要求1或2所述的电子控制装置的控制特性调整方法，其特征在于， 所述特定传感器或所述特定负载通过环境传感器来测定以温度或气压为一个例子的设置环境， 所述个别特性数据 在规定的基准环境条件下被测得， 与此相对，所述标准特性数据是在所述规定的基准环境条件、以及其它环境条件下所测定到的多个标准特性数据，所测得的多个标准特性数据被保存于所述程序存储器或所述数据存储器中， 所述修正常数由所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值的多个组合构成，所述调整系数或所述斜率系数或所述偏置调整值或所述斜率调整值是基于在所述基准环境条件下所测定到的标准特性数据及个别特性数据而计算得出， 所述微处理器生成由所述环境传感器所测定到的所述特定传感器或所述特定负载的设置环境信息、以及根据所述多个标准特性数据进行插补计算后所得到的当前环境下的标准特性数据，以作为插补信息， 并且，基于所述基准环境下的修正常数及所述当前环境下的标准特性数据来还原并生成当前环境下的个别特性数据， 参照当前环境下的个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照当前环境下的个别输出特性数据或个别合成特性来对所述特定负载进行驱动控制。
【文档编号】G05F1/10GK103823396SQ201310275346
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年7月2日 优先权日:2012年11月15日
【发明者】神崎将造, 有米史光, 西崎广义 申请人:三菱电机株式会社
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