电子产品的制作方法

xiaoxiao2020-7-23  3

专利名称:电子产品的制作方法
技术领域
本实用新型涉及电子产品,尤其涉及包含触发器的电子产品。
背景技术
一般而言,除了普通的用户工作模式之外,电子产品还会设计一个测试模式,用于研发阶段的实验室测试和出厂前的工厂测试,这个模式由于涉及到很多的电路内部的原理和特性参数,是需要受到保护的,因此需要对用户保密。各个电子产品制造商也会有自己的一套方法进入工厂测试模式。·目前,一般采用软件的形式,S卩,通过一个口令或调入一段程序,强制产品进入测试模式,而这些口令和程序是对外保密的。对于研发人员,特别是硬件开发人员,要记住这些复杂的口令实在是一件浪费脑力且无效的事情。对于工厂测试,无疑又增加了测试时间,产生了更多的测试成本。如果输错命令,还有可能影响模块的当前工作状态。

实用新型内容为了克服前述现有技术中的问题,提出了本实用新型。本实用新型提供了一种电子产品,包括外部引脚和处理器,其特征在于,还包括测试模式启动电路,该测试模式启动电路的输入端连接到所述外部引脚且输出端连接到所述处理器,其中在该电子产品的上电初始阶段期间,所述输入端通过所述外部引脚接收外部电压,当该外部电压使得所述输出端的输出满足预定条件时,所述处理器驱使该电子产品进入测试模式。本实用新型的优点在于-研发人员不需要记住复杂的口令就可以对电子产品进行测试,操作失误也不会产生不良影响;-对于工厂测试而言,节省了测试时间,从而降低了测试成本;-电路简单,成本很低;-隐蔽性更强,这是因为电子产品一般都有几个外部连接器,每个外部连接器上都有很多引脚,所以用户很难揭秘如何进入测试模式。

图1示出了根据本实用新型的一个实施例的电子产品的示意性框图。图2示出了图1中所示的测试模式启动电路的一个实例。图3示出了图1中所示的测试模式启动电路的另一个实例。图4示出了图3所示的反相施密特触发器的一个示例性电路。
具体实施方式
下面将结合附图更详细地描述本实用新型的技术方案。附图和以下的描述仅仅是为了充分公开本实用新型,而不应当理解为是对本实用新型的限制。本实用新型的保护范围由所附权利要求书限定。图1示出了根据本发明一个实施例的电子产品100的示意性框图。如图1所示,该电子产品100包括处理器110、测试模式启动电路120以及外部引脚Pin。处理器110可以是微处理器或者微控制器单元(MCU)。测试模式启动电路120的输入端连接到外部引脚Pin且输出端连接到处理器110。外部引脚Pin可以选择为在上电初始阶段不参与电子产品100的工作的、电子产品100的任何外部连接器上的任何一个引脚;除了上电初始阶段的其它时间段,该引脚Pin可以参与电子产品100的任何工作。上电初始阶段为从为电子产品上电开始到电子产品进入测试模式或者用户工作模式之前的那段时间。对于包含了测试模式启动电路120的电子产品100,如果在上电初始阶段期间,外部引脚Pin被施加电压,当该电压使得测试模式启动电路120的输出端的输出满足预定条件时,处理器110就驱使该电子产品100进入测试模式。图2示出了图1中的测试模式启动电路120的一个实例。图2所示的测试模式启动电路120的例子为施密特触发器220 (以下简称为触发器220),触发器220的输入端Vin可以连接到电子产品100的外部引脚Pin,输出端Vout可以连接到处理器110。对于包含了触发器220的电子产品100,可以在处理器110中预先设定只有在上电初始阶段期间检测到触发器220的输出从低电平(即,逻辑“O”)变成高电平(即,逻辑“I”)时或者检测到触发器220的输出为逻辑“I”时,才驱使该电子产品100进入测试模式。如果在电子产品100的上电初始阶段期间,向所述外部引脚Pin施加于大于触发器220的阈值电压的电压,则触发器220的输出由逻辑“O”变成逻辑“1”,于是,根据预先设定的条件,处理器110驱使电子产品100进入测试模式。在上电初始阶段期间施加于引脚Pin的电压小于触发器220的阈值电压时,触发器220的输出保持逻辑“O”不变,因此预先设定的条件未满足,则处理器110忽略此次操作(向引脚Pin施加电压的操作)并且驱使电子产品100直接进入用户工作模式。而如果不是在上电初始阶段期间向外部引脚Pin施加电压,则无论所施加电压的大小如何,处理器110都不会驱使电子产品100进入测试模式。此外,如果向不是连接到触发器220的引脚Pin的另外的引脚施加电压,处理器110也不会驱使电子产品100进入测试模式。图3示出了图1中的测试模式启动电路120的另一个实例。图2所示的测试模式启动电路120的另一个实例为反相施密特触发器320 (以下简称为触发器320),触发器320的输入端Vin可以连接到电子产品100的外部引脚Pin,输出端Vout可以连接到处理器 110。可以在处理器110中预先设定只有在上电初始阶段期间检测到触发器320的输出从高电平(即,逻辑“ I ”)变成低电平(即,逻辑“O”)时或者检测到触发器320的输出为逻辑“O”时,才驱使该电子产品100进入测试模式。如果在电子产品100的上电初始阶段期间,向所述外部引脚Pin施加于大于触发器320的阈值电压的电压,触发器320的输出由逻辑“ I ”变成逻辑“0”,于是,根据预先设定的条件,处理器110驱使电子产品100进入测试模式。在上电初始阶段期间施加于引脚Pin的电压小于触发器320的阈值电压时,触发器320的输出保持逻辑“I”不变,因此预先设定的条件未满足,则处理器110忽略此次操作(向引脚Pin施加电压的操作)并且驱使电子产品100直接进入用户工作模式。而如果不是在上电初始阶段期间向外部引脚Pin施加电压,则无论所施加电压的大小如何,处理器110都不会驱使电子产品100进入测试模式。此外,如果向不是连接到触发器320的引脚Pin的另外的引脚施加电压,处理器110也不会驱使电子产品100进入测试模式。图4示出了触发器320的一个示例性电路。图4所示的触发器320包括第一电阻器R1、第二电阻器R2、第三电阻器R3、第一二极管D1、第二二极管D2以及pnp晶体管T,第一电阻器Rl的一端连接到输入端Vin且另一端连接到第一二极管Dl的正极,第一二极管Dl的负极连接到第二电阻器R2的一端和第二二极管D2的负极,第二电阻器R2的另一端接地,第二二极管D2的正极连接到晶体管T的基极,晶体管T的发射极接收参考电压Vref、集电极连接到第三电阻器R3的一端和输出端Vout,且第三电阻器R3的另一端接地。在一个例子中,Rl为75kQ、R2为200k Ω、R3为IOkQ。在这种情况下,例如,施加Vref = 5V的参考电压,考虑二极管Dl、D2的压降且晶体管T的发射极和基极之间的压降均为O. 5v,则触发器320的阈值电压为6V。当Vin上施加了大于6V的电压时,Vout上的电压就从高电·平变为低电平(逻辑“O”)。根据预先设定的条件,处理器110驱使电子产品100进入测试模式。尽管在上面参考图4描述了反相施密特触发器320的一个示例性电路以及用于该示例性电路的示例性参数,但是应当理解,本领域技术人员能够根据实际需要构造施密特触发器220和反相施密特触发器320的其它各种具体电路以及选择相应的参数。所述电子产品100包括但不限于移动电话、照相机、平板电脑、多媒体播放器、个人数字助理(PDA)等。尽管用上面的实施例具体描述了本实用新型,本领域技术人员应当理解,在本实用新型的精神和范围内,可以对上述实施例和实例做出各种更改和变化,这些更改和变化都落入由所附权利要求书限定的本实用新型的保护范围内。
权利要求1.一种电子产品,包括外部引脚和处理器,其特征在于,还包括测试模式启动电路, 该测试模式启动电路的输入端连接到所述外部引脚且输出端连接到所述处理器,其中在该电子产品的上电初始阶段期间,所述输入端通过所述外部引脚接收外部电压,当该外部电压使得所述输出端的输出满足预定条件时,所述处理器驱使该电子产品进入测试模式。
2.根据权利要求1的电子产品,所述外部引脚是在上电初始阶段不参与所述电子产品的工作的、所述电子产品的任何外部连接器上的任何一个引脚,并且除了上电初始阶段的其它时间段,该引脚能够参与所述电子产品的任何工作。
3.根据权利要求1或2的电子产品,其中所述测试模式启动电路是施密特触发器,该施密特触发器的输入端连接到所述外部引脚且输出端连接到所述处理器,所述预定条件为该施密特触发器的输出从低电平变到高电平或者为高电平。
4.根据权利要求1或2的电子产品,其中所述测试模式启动电路是反相施密特触发器, 该反相施密特触发器的输入端连接到所述外部引脚且输出端连接到所述处理器,所述预定条件为该反相施密特触发器的输出从高电平变到低电平或者为低电平。
5.根据权利要求4的电子产品,其中所述反相施密特触发器包括第一电阻器、第二电阻器、第三电阻器、第一二极管、第二二极管以及pnp晶体管,其中第一电阻器的一端连接到作为该反相施密特触发器的输入端且另一端连接到第一二极管的正极,第一二极管的负极连接到第二电阻器的一端和第二二极管的负极,第二电阻器的另一端接地,第二二极管的正极连接到所述pnp晶体管的基极,所述pnp晶体管的发射极接收参考电压、集电极连接到第三电阻器的一端并且作为该反相施密特触发器的输出端,第三电阻器的另一端接地。
6.根据权利要求5的电子产品,其中所述第一电阻器的电阻为75kQ、第二电阻器的电阻为200k Ω且第三电阻器的电阻为IOkQ。
7.根据权利要求1或2的电子产品,其中该电子产品为移动电话、照相机、平板电脑、多媒体播放器或者个人数字助理。
专利摘要本实用新型涉及一种电子产品,包括外部引脚和处理器,其特征在于,还包括测试模式启动电路,该测试模式启动电路的输入端连接到所述外部引脚且输出端连接到所述处理器,其中在该电子产品的上电初始阶段期间,所述输入端通过所述外部引脚接收外部电压,当该外部电压使得所述输出端的输出满足预定条件时,所述处理器驱使该电子产品进入测试模式。
文档编号G06F21/12GK202854812SQ201220602438
公开日2013年4月3日 申请日期2012年11月15日 优先权日2012年11月15日
发明者刘艳丽, 魏建将 申请人:大陆汽车投资(上海)有限公司

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