光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法
专利名称：光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法
技术领域：
本发明涉及用于从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜， 将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置的光学显示装置制造 系统及光学显示装置制造方法。
背景技术：
图7中示意性地表示了以往的液晶显示装置中安装的光学显示装置的制造方法。 首先，在光学薄膜制造厂中，将具有光学薄膜的长条(带状)片材状制品制造成辊状卷料 (#1)。由于该具体的制造工序是公知的制造工序，所以省略说明。作为该长条(带状)片 材状制品的辊状卷料，例如有液晶显示装置中使用的偏光板卷料、相位差板卷料、偏光板 与相位差板的层叠薄膜卷料等。接着，将辊状卷料剪裁成规定尺寸(遵照光学显示单元尺 寸的尺寸)(#2)。然后，将被剪裁后的长条卷料按照所贴合的光学显示单元的尺寸定量切断 (#3)。接着，对定量切断后的单片片材状制品(光学薄膜)进行外观检查(#4)。作为该检 查方法，例如可举出基于目视的缺点检查、采用公知的缺点检查装置的检查。缺点例如是 指表面或内部的污损、瑕疵、夹入异物的擦痕的扭拧后的特殊状缺点(有时称作弯结)、气 泡、异物等。接着，进行成品检查(#5)。成品检查是按照比外观检查在合格品判定上更严厉 的品质基准所进行的检查。接着，对单片片材状制品的4个端面进行端面加工(#6)。这是 为了防止在输送中，不从端面露出粘结剂等而进行的加工。然后，在清洁室环境中，对单片 片材状制品进行清洁包装(#7)。接着，为了输送而进行包装(输送捆包)(#8)。如上所述 那样制造单片片材状制品之后，将其输送到面板加工厂。在面板加工厂中，拆开输送来的单片片材状制品的捆包(#11)。接着，为了检查在 输送中或拆开捆包时产生的瑕疵、污损等而进行外观检查(#12)。通过检查被判定为优良品 的单片片材状制品被向下道工序搬送。另外，有时也省略该外观检查。预先制造了单片片 材状制品所贴合的光学显示单元(例如封入有液晶单元的玻璃基板单元)，光学显示单元 在贴合工序之前被洗涤(#13)。将单片片材状制品与光学显示单元贴合(#14)。从单片片材状制品上残留粘结剂 层地剥离分型薄膜，将粘结剂层作为贴合面贴合到光学显示单元的一个面。并且，在光学显 示单元的其他面上也能够同样地贴合。在对两个面贴合的情况下，可以构成为对光学显示 单元的各个面贴合同一构成的光学薄膜，也可以构成为贴合不同构成的光学薄膜。接着，进 行对贴合了光学薄膜的状态的光学显示装置的检查及缺点检查(#15)。通过该检查而判定 为优良品的光学显示装置被搬送到安装工序(#16)。另一方面，对被判定为非优良品的光学 显示装置实施再加工(rework)处理(#17)。在再加工处理中，光学薄膜被从光学显示单元 上剥离。再加工处理后的光学显示单元被重新贴合光学薄膜(#14)。当如上所述那样在光学薄膜制造厂中制造单片片材状制品时，提出了以下方法 预先检测辊状卷料的缺陷，并以条形码的方式将该检测到的缺陷的位置信息印到辊状卷料 上、或将该位置信息存储到存储装置(专利文献1及2)。在这些方法中，通过根据条形码或从存储装置读取的上述位置信息对偏光板进行打孔，可以从生产线将包含偏光板的缺陷的 部分除去。在以上的制造工序中，由于光学薄膜制造厂与面板加工厂存在于各自不同的场 所，所以尤其是端面加工、单片片材状制品的包装、捆包拆解等成为必要的工序。但是，因为 多道工序而存在制造成本提高的问题，而且，还存在因多道工序、输送而产生的瑕疵、尘埃、 污损等问题、与之相伴的检查工序的必要性、和必须对多种单片片材状制品进行库存保管、
管理等问题。作为解决该问题的方法，提出了日本特开2007-140046号公报(专利文献3)的方 案。根据该发明，具备从具有作为光学显示装置的部件的光学薄膜的带状片材状制品被 卷绕而成的辊状卷料，抽出带状片材状制品来进行供给的供给机构；对由供给机构抽出的 带状片材状制品的缺陷进行检测的检测机构；根据检测机构的检测结果，切断带状片材状 制品，加工成各个片材状制品的切断加工机构；为了进行贴合加工，而输送被切断加工机构 切断加工后的片材状制品的输送机构；和将被输送机构输送的片材状制品与作为光学显示 装置的部件的光学显示单元贴合的贴合加工机构；将这些各机构配置到连续的生产线工序 上。在上述构成中，可以从具有光学薄膜的带状片材状制品直接切断加工成所希望的尺寸， 将该切断后的片材状制品贴合到光学显示单元上。因此，在以往的情况下，当对带状片材状 制品进行打孔，并将打孔后的片材状制品严格捆包，向面板加工厂交货时，能够将卷绕成辊 状卷料的带状片材状制品直接捆包进行交货。专利文献1日本特开2005-62165号公报专利文献2日本特开2005-114624号公报专利文献3日本特开2007-140046号公报在如上述专利文献1及2那样的方法中，通过根据预先检测出的缺陷的位置信息， 对偏光板进行打孔，能够将不包含缺陷的偏光板制造成为单片片材状制品。但是，在实际对 光学显示单元贴合如此制造的单片片材状制品时，由于上述那样的因输送产生的瑕疵、尘 埃、污损等问题，有可能在片材状制品产生新的缺陷。对此，在如上述专利文献3那样的方法中，由于从光学薄膜制造厂向面板加工厂 交货的辊状卷料，在对光学显示单元即将贴合之前被切断，所以能够抑制如上所述那样伴 随输送而产生新的缺陷的情况。但是，即便是这样的方法，为了制造更高品质的光学显示装 置，也优选在被贴合到光学显示单元之前，对从交货的辊状卷料抽出而要贴合到光学显示 单元上的光学薄膜进行检查。而且，在上述那样的贴合前对光学薄膜的检查的基础上，还要 对被贴合了该光学薄膜的光学显示装置进行检查。但是，如上所述那样在贴合的前后进行缺点检查的情况下，当贴合前的缺点检查 的基准比贴合后的缺点检查的基准高时等，有时在贴合后的缺点检查中不被检查为缺点的 程度的微小缺点，会在贴合前的缺点检查中被严格检测。而且，即使光学薄膜的制造工序与 面板的加工工序在同一厂中进行的情况下，当这些工序在不同的生产线上进行时，也同样 要考虑该严格检查的情况。
发明内容
本发明鉴于上述的实际情况而提出，其目的在于，提供一种能够更恰当地进行缺点检查的光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法。为了解决上述课题，通过不懈的研究，结果完成了以下的本发明。第1本发明涉及的光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而 形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制 造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行 检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行 检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果， 修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和 根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排 除的排除机构。通过该构成，根据由光学显示装置检查机构进行的对贴合了光学薄膜的光学显示 装置的检查结果，来修正由修正光学薄膜检查机构进行的对被贴合到光学显示单元之前的 光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由光学薄膜检查机构根据该修正后的检测条 件检测出的缺点的光学薄膜排除。因此，由于能够按照之后由光学显示装置检查机构进行 的缺点检查的基准，调整由光学薄膜检查机构进行的缺点检查的基准，所以可以更良好地 进行缺点检查，能够提高光学显示装置的成品率。第2本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，具备切断机构，该切断机 构按照由所述光学薄膜检查机构根据修正后的所述检测条件检测出的缺点，不包含在与光 学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所述光学薄膜切断，所述排除机构将被 所述切断机构切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。根据该构成，可以按照由光学薄膜检查机构根据修正后的检测条件检测出的缺 点，不包含在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将光学薄膜切断，并将该 被切断的包含缺点的光学薄膜排除。由此，由于能够高效地排除光学薄膜的包含缺点的部 分，所以可进一步提高光学薄膜的成品率。第3本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，所述检测条件修正机构将 所述光学薄膜检查机构的检查结果与所述光学显示装置检查机构的检查结果进行比较，按 照所述光学薄膜检查机构与所述光学显示装置检查机构提取出光学薄膜中的满足相同基 准的缺点的方式，修正所述检测条件。根据该构成，由于通过按照光学薄膜检查机构与光学显示装置检查机构提取出光 学薄膜中的满足相同基准的缺点的方式，修正检测条件，能够在贴合前后使缺点检查的基 准接近，所以可以更良好地进行缺点检查。第4本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，所述光学薄膜检查机构只 在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情况下，将其检测为缺点，在该光学薄 膜检查机构检测出的缺点未被所述光学显示装置检查机构检测到的情况下，所述检测条件 修正机构将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。根据该构成，在由光学薄膜检查机构检测出的缺点未被光学显示装置检查机构检 测到的情况下，与该缺点对应的条件被从光学薄膜检查机构的检测条件中排除。因此，即使 在由光学薄膜检查机构进行的贴合前的缺点检查的基准，比由光学显示装置检查机构进行 的贴合后的缺点检查的基准高的情况下，也能够防止在贴合后的缺点检查中不被检测为缺点的程度的微小缺点，在贴合前的缺点检查中被严格检测的情况，因此，可以更良好地进行 缺点检查。第5本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，所述检测条件由所述光学 薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的大小来规定。根据该构成，在由光学薄膜检查机构检测出的缺点未被光学显示装置检查机构检 测到的情况下，可以从由光学薄膜中的缺点与该缺点的周围的亮度差、及缺点的大小规定 的光学薄膜检查机构的检测条件，将与该缺点对应的条件排除。即、通过根据光学显示装置 检查机构的检查结果，将规定的亮度差或规定的大小的缺点从光学薄膜检查机构的检测条 件中排除，能够更良好地进行缺点检查。第6本发明涉及的光学显示装置制造方法，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而 形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制 造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行 检查，来检测缺点的光学薄膜检查步骤；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行 检查，来检测缺点的光学显示装置检查步骤；根据所述光学显示装置检查步骤的检查结果， 修正通过所述光学薄膜检查步骤对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正步 骤；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查步骤检测到的缺点的光学 薄膜排除的排除步骤。根据该构成，能够提供一种起到与第1本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第7本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，具备切断步骤，在该切断 步骤中，按照由所述光学薄膜检查步骤根据修正后的所述检测条件检测出的缺点，不包含 在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所述光学薄膜切断，在所述排除 步骤中，将通过所述切断步骤被切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。根据该构成，能够提供一种起到与第2本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第8本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，在所述检测条件修正步骤 中，将所述光学薄膜检查步骤的检查结果与所述光学显示装置检查步骤的检查结果进行比 较，按照在所述光学薄膜检查步骤与所述光学显示装置检查步骤中提取出光学薄膜中的满 足相同基准的缺点的方式，修正所述检测条件。根据该构成，能够提供一种起到与第3本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第9本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，在所述光学薄膜检查步骤 中，只在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情况下，将其检测为缺点，在所述 检测条件修正步骤中，当通过该光学薄膜检查步骤检测出的缺点未被所述光学显示装置检 查步骤检测到时，将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。根据该构成，能够提供一种起到与第4本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第10本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，所述检测条件由所述光 学薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的大小规定。
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根据该构成，能够提供一种起到与第5本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。
图1是实施方式1的光学显示装置的制造方法的流程图。图2是实施方式2的光学显示装置的制造方法的流程图。图3是用于对第1、第2光学薄膜的层叠构造的一例进行说明的图。图4是用于对由第1缺点检查装置及第2缺点检查装置进行的缺点检查中的缺点 的检测条件被修正时的状态进行说明的框图。图5是用于对在检测条件修正部进行修正的前后，贴合前检测条件范围的变化进 行说明的图。图6是表示了当检查装置的检查结果被反馈时，由检测条件修正部进行的处理的 一例的流程图。图7是以往的光学显示装置的制造方法的流程图。图中1_控制装置，Ia-贴合控制部，Ib-检测条件修正部，14-第1缺点检查装置， 24-第2缺点检查装置，30-检查装置，Fl-第1片材制品，F2-第2片材制品，Fll-第1光 学薄膜，F21-第2光学薄膜，W-光学显示单元。
具体实施例方式(实施方式1)下面，对本发明的实施方式1进行说明。图1中表示了实施方式1的光学显示装 置的制造方法的流程图。实施方式1的制造系统是在后述的实施方式2的制造系统的构成 中，不具备第1、第2检查前剥离装置、第1、第2分型薄膜贴附装置的构成例。另外，作为实 施方式1的制造系统的其他实施方式，还可以例示不具备第1、第2缺点检查装置的构成。(光学显示单元)首先，作为本发明所使用的光学显示单元，例如可举出液晶单元的玻璃基板单元、 有机EL发光体单元等。(光学薄膜)贴合于光学显示单元的光学薄膜，可举出偏光件薄膜、相位差薄膜、视角补偿薄 膜、亮度提高薄膜、这些薄膜的2个以上的组合层叠薄膜。有时在这些光学薄膜的表面层叠 有保护用的透明薄膜。而且，为了贴合到光学显示单元上，在光学薄膜的一个表面形成有粘 结剂，并设置有用于保护该粘结剂的分型薄膜。而在光学薄膜的其他表面，隔着粘结剂设置 有表面保护薄膜。这些薄膜的具体构成将在后面叙述。下面，有时将层叠有表面保护薄膜 及分型薄膜的光学薄膜称为片材制品。(制造流程图)1)第1辊状卷料准备工序(图1、S1)。准备长条的第1片材制品作为第1辊状卷 料。第1辊状卷料的宽度取决于光学显示单元的贴合尺寸。如图3所示，第1片材制品Fl 的层叠构造具有第1光学薄膜F11、第1分型薄膜F12和表面保护薄膜F13。第1光学薄 膜Fll由第1偏光件Flla、借助粘结剂层(未图示)贴合在其一个面的第1薄膜FllbjP借助粘结剂层(未图示)贴合在其另外一面的第2薄膜Fllc构成。第1、第2薄膜Fllb、File例如是偏光件保护薄膜(例如三乙酰基纤维素薄膜、 PET薄膜等)。第2薄膜Fllc借助第1粘结剂F14被贴合到光学显示单元面侧。可以对 第1薄膜Fllb实施表面处理。作为表面处理，例如可举出镀膜处理、防反射处理、以粘附 (sticking)的防止、扩散或者防闪耀(anti-glare)等为目的的处理等。第1分型薄膜F12 与第2薄膜Fllc隔着第1粘结剂层F14设置。而且，表面保护薄膜F13与第1薄膜Fllb 隔着粘结剂层F15设置。以下，有时将偏光件与偏光件保护薄膜的层叠构造称作偏光板。以下的各工序在工厂内被隔离开的隔离构造内进行，来维持清洁度。尤其在将光 学薄膜贴合到光学显示单元的贴合工序中，优选维持清洁度。(2)搬送工序(图1、S2)。从准备设置的第1辊状卷料抽出第1片材制品FlJf 其向下游侧搬送。(3)第1检查工序(图1、S3 光学薄膜检查步骤)。使用第1缺点检查装置来检 查第1片材制品Fl的缺点。作为这里的缺点检查方法，可举出对第1片材制品Fl的两 面，进行基于透过光、反射光的图像摄影/图像处理的方法；将检查用偏光薄膜按照与检查 对象即偏光板的偏光轴成为交叉偏振(々π 7 二二 >)的方式配置于C⑶相机和检查对象 物之间(有时称作0度交叉)而进行图像摄影/图像处理的方法；在CCD相机与检查对象 物之间，将检查用偏光薄膜配置成与作为检查对象的偏光板的偏光轴成为规定角度(例如 比0度大、10度以内的范围)(有时称作χ度交叉)，来进行图像摄影/图像处理的方法。其 中，图像处理的算法可以采用公知的方法，例如可以通过基于二值化处理的浓淡判定来检 测缺点。在基于透过光的图像摄影/图像处理方法中，可以检测出第1片材制品Fl内部的 异物。在基于反射光的图像摄影/图像处理方法中，可以检测出第1片材制品Fl表面的附 着异物。在基于0度交叉的图像摄影/图像处理方法中，主要可以将表面异物、污损、内部 的异物等检测为亮点。在基于χ度交叉的图像摄影/图像处理方法中，主要可以检测出弯
结(夕二夕夕)。由第1缺点检查装置获得的缺点的信息与其位置信息(例如位置坐标)相关联地 一同被发送给控制装置，用于后述的第1切断装置的切断方法。(4)第1切断工序(图1、S4)。第1切断装置不切断第1分型薄膜F12地将表面 保护薄膜F13、粘结剂层F15、第1光学薄膜Fll及第1粘结剂层F14切断为规定尺寸。作 为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的切断机构等。构成为根据由第1缺 点检查装置获得的缺点的信息，按照在与光学显示单元W贴合的区域内不包含缺点的方 式，避开缺点进行切断。由此，会大幅度提高第1片材制品Fl的成品率。将如此按照在与 光学显示单元W贴合的区域内不包含缺点的方式，避开缺点地进行切断的方式称作跳过切 断(skip cut)，切断时的缺点信息可以是由内嵌的缺点检查装置获得的信息，也可以是预 先对辊状卷料赋予的信息。包含缺点的第1片材制品Fl被后述的第1排除装置排除，不被 贴合到光学显示单元W上。(5)第1光学薄膜贴合工序(图1、S5)。一边利用第1剥离装置除去第1分型薄 膜F12，一边利用第1贴合装置将被除去了该第1分型薄膜F12后的第1光学薄膜FllJf 助第1粘结剂层F14贴合到光学显示单元W上。在贴合时，如后所述那样，利用辊子对夹持第1光学薄膜Fl 1和光学显示单元W，进行压接。(6)洗涤工序(图1、S6)。通过研磨洗涤、水洗涤等，洗涤光学显示单元W的表面。 洗涤后的光学显示单元W被搬送到第1贴合装置。优选这些第1辊状卷料准备工序、第1检查工序、第1切断工序、第1光学薄膜贴 合工序、洗涤工序各道工序，在连续的生产线上实施。在以上的一系列制造工序中，光学显 示单元W的一个面被贴合第1光学薄膜Fl 1。下面，对其另一面贴合第2光学薄膜F21的制 造工序进行说明。(7)第2辊状卷料准备工序(图1、Sll)。准备长条的第2片材制品F2作为第2 辊状卷料。如图3所示，第2片材制品F2的层叠构造是与第1片材制品同样的构成，但不 限定于此。第2片材制品F2具有第2光学薄膜F21、第2分型薄膜F22和表面保护薄膜 F23。第2光学薄膜F21由第2偏光件21a、借助粘结剂层(未图示)贴合在其一个面的第 3薄膜F21b、和借助粘结剂层(未图示)贴合在其另一个面的第4薄膜F21c构成。第3、第4薄膜F21b、F21c例如是偏光件保护薄膜(例如三乙酰基纤维素薄膜、PET 薄膜等)。第4薄膜F21c借助第2粘结剂层F24被贴合到光学显示单元面侧。可以对第 3薄膜F21b进行表面处理。作为表面处理，例如可举出镀膜处理、防反射处理、以粘附的防 止、扩散或者防闪耀等为目的的处理等。第2分型薄膜F22与第4薄膜F21c隔着第2粘结 剂层F24而设置。而且，表面保护薄膜F23与第3薄膜F21b隔着粘结剂层F25而设置。(8)搬送工序(图1、S12)。从准备设置第2辊状卷料抽出第2片材制品F2，将其 向下游侧搬送。(9)第2检查工序(图1、S13 光学薄膜检查步骤)。利用第2缺点检查装置检查 第2片材制品F2的缺点。这里的缺点检查方法与上述的基于第1缺点检查装置的方法同 样。(10)第2切断工序(图1、S14)。第2切断装置不切断第2分型薄膜F22地将表 面保护薄膜F23、粘结剂层F25、第2光学薄膜F21及第2粘结剂层F24切断为规定尺寸。 作为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的切断机构等。构成为根据由第2 缺点检查装置获得的缺点的信息，按照在与光学显示单元W贴合的区域内不含有缺点的方 式，避开缺点进行切断。由此，会大幅度提高第2片材制品F2的成品率。包含缺点的第2 片材制品F2被后述的第2排除装置排除，不被贴合到光学显示单元W上。(11)第2光学薄膜贴合工序(图1、S15)。接着，在第2切断工序之后，一边利用 第2剥离装置将第2分型薄膜F22除去，一边利用第2贴合装置将被除去了该第2分型薄 膜F22后的第2光学薄膜F21，借助所述第2粘结剂层F24贴合到光学显示单元W的与贴合 了第1光学薄膜Fll的面不同的面上。其中，有时在将第2光学薄膜F21贴合到光学显示 单元W之前，通过搬送机构的搬送方向切换机构使光学显示单元W旋转90度，让第1光学 薄膜Fll与第2光学薄膜F21成为交叉偏振的关系。在贴合时，如后所述，利用辊子夹持第 2光学薄膜F21与光学显示单元W，进行压接。(12)光学显示装置的检查工序(图1、S16 光学显示装置检查步骤)。检查装置 对光学显示单元W的两面贴合了光学薄膜的光学显示装置进行检查。作为检查方法，可举 出对光学显示装置的两面进行基于反射光的图像摄影/图像处理的方法。另外，作为其他 方法，还可以举出在CCD相机与检查对象物之间设置检查用偏光薄膜的方法。其中，图像处理的算法可以应用公知的方法，例如能够通过基于二值化处理的浓淡判定来检测缺点。(13)根据由检查装置获得的缺点的信息，进行光学显示装置的优良品判定。判定 为优良品的光学显示装置被搬送到接下来的安装工序。在判定为是非优良品的情况下，实 施再加工处理，重新贴合光学薄膜，然后进行检查，并在判定为是优良品的情况下，转移到 安装工序，而如果判定为是非优良品，则再次进入再加工处理、或将其废弃处理。在以上的一系列制造工序中，通过将第1光学薄膜Fll的贴合工序与第2光学薄 膜F21的贴合工序构成为连续的生产线，可以良好地制造光学显示装置。(跳过切断的其他实施方式)下面，对上述第1切断工序及第2切断工序的其他实施方式进行说明。有时在第 1及第2辊状卷料的宽度方向的一个端部，以规定间距单位(例如1000mm)附加有第1、第 2片材状制品的缺点信息(缺点坐标、缺点的种类、尺寸等)作为代码信息(例如QR代码、 条形码)。这样的情况下，在进行切断的前阶段，读取该代码信息并进行分析，按照避开缺点 部分的方式，在第1、第2切断工序中切断为规定尺寸。然后，构成为包含缺点的部分被除去 或贴合到不是光学显示单元的部件，将切断为规定尺寸的判定为优良品的单片片材状制品 贴合到光学显示单元上。由此，光学薄膜F11、F21的成品率大幅度提高。(实施方式2)下面，对本发明的实施方式2进行说明。图2中表示了实施方式2的光学显示装 置的制造方法的流程图。针对与实施方式1同样的处理简单进行说明。(1)第1辊状卷料准备工序(图2、S1)。准备长条的第1片材制品Fl作为第1辊 状卷料。第1片材制品Fl的层叠构造与图3所示的实施方式1同样。(2)搬送工序(图2、S2)。从准备设置的第1辊状卷料抽出第1片材制品FlJf 其向下游侧搬送。(3)分型薄膜除去工序(图2、S23)。第1检查前剥离装置从搬送来的第1片材制 品Fl将第1分型薄膜F12剥离。剥离机构的详细情况将在后面叙述。(4)第1检查工序(图2、S24 光学薄膜检查步骤)。第1缺点检查装置在分型薄 膜除去工序之后，检查第1片材制品Fl的缺点。能够不必考虑分型薄膜F12内在的相位差 地进行第1光学薄膜Fll的缺点检查。缺点检查的方法如上所述。包含缺点的第1片材制 品Fl被后述的第1排除装置排除，不被贴合到光学显示单元W上。(5)分型薄膜贴合工序(图2、S25)。第1分型薄膜贴附装置在第1检查工序之 后，将第1分型薄膜F12借助第1粘结剂层F14贴合到第1光学薄膜Fll上。在贴合时，按 照不产生气泡等泡沫的方式进行贴合是希望维持平面性。第1分型薄膜贴附装置的详细结 构将在后面叙述。(6)第1切断工序(图2、S26)。接着，在分型薄膜贴合工序之后，第1切断装置不 切断第1分型薄膜F12地将表面保护薄膜F13、粘结剂层F15、第1光学薄膜Fll及第1粘 结剂层F14切断为规定尺寸。作为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的切 断机构等。(7)第1光学薄膜贴合工序(图2、S27)。接着，在第1切断工序之后，第1剥离装 置将第1分型薄膜F12剥离。第1贴合装置将被剥离了第1分型薄膜F12的第1光学薄膜 Fl 1，借助第1粘结剂层F14与光学显示单元W贴合。在贴合时，如后所述，通过辊子夹持第
111光学薄膜Fl 1与光学显示单元W，来进行压接。(8)光学显示单元的洗涤工序(图2、S6)。是与上述同样的工序。(9)第2辊状卷料准备工序(图2、Sll)。准备长条的第2片材制品F2作为第2 辊状卷料。第2片材制品F2的层叠构造是图3所示的构成。(10)搬送工序(图2、S12)。从准备设置的第2辊状卷料抽出第2片材制品F2， 将其向下游侧搬送。(11)分型薄膜除去工序(图2、S33)。第2检查前剥离装置从搬送来的第2片材 制品F2将第2分型薄膜F22剥离。剥离机构的详细情况将在后面叙述。(12)第2检查工序(图2、S34 光学薄膜检查步骤)。第2缺点检查装置在分型 薄膜除去工序之后，检查第2片材制品F2的缺点。能够不必考虑分型薄膜F22内在的相位 差地进行第2光学薄膜F21的缺点检查。缺点检查的方法如上所述。包含缺点的第2片材 制品F2被后述的第2排除装置排除，不被贴合到光学显示单元上。(13)分型薄膜贴合工序(图2、S35)。第2分型薄膜贴附装置在第2检查工序之 后，将第2分型薄膜F22借助第2粘结剂层F24与第2光学薄膜F21贴合。在贴合时，按照 不产生气泡等泡沫的方式进行贴合，是希望维持平面性。第2分型薄膜贴附装置的详细情 况将在后面叙述。(14)第2切断工序(图2、S36)。接着，在分型薄膜贴合工序之后，第2切断装置 不切断第2分型薄膜F22地将表面保护薄膜F23、粘结剂层F25、第2光学薄膜F21及第2 粘结剂层F24切断为规定尺寸。作为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的 切断机构等。(15)第2光学薄膜贴合工序(图2、S37)。接着，在第2切断工序之后，第2剥离 装置将第2分型薄膜F22剥离。第2贴合装置将被剥离了第2分型薄膜F22的第2光学薄 膜F21，借助第2粘结剂层F24贴合到光学显示单元W的与贴合有第1光学薄膜Fl 1的面不 同的面上。其中，有时在将第2光学薄膜F21与光学显示单元W贴合之前，使光学显示单元 W旋转90度，让第1光学薄膜Fll与第2光学薄膜F21成为交叉偏振的关系。在贴合时，如 后所述，利用辊子夹持第2光学薄膜F21与光学显示单元W，进行压接。通过上述步骤，可以 制造在光学显示单元W的一个面贴合了第1光学薄膜F11、在其另一面贴合了第2光学薄膜 F21，对两个面设置了光学薄膜的光学显示装置。(16)光学显示装置的检查工序(图2、S16 光学显示装置检查步骤)。该工序与 上述同样。(17)根据由检查装置获得的缺点的信息，进行光学显示装置的优良品判定。判定 为优良品的光学显示装置被向接下来的安装工序搬送。在判定为是非优良品的情况下，实 施再加工处理，重新贴合光学薄膜，然后进行检查，在判定为是优良品的情况下，转移到安 装工序，而在判定为是非优良品时，再次转移到再加工处理或将其废弃处分。在以上的一系列制造工序中，通过以连续的生产线执行第1光学薄膜Fll的贴合 工序与第2光学薄膜F21的贴合工序，能够良好地制造光学显示装置。尤其通过在从工厂 内隔离的隔离构造内部进行上述各工序，能够在确保了清洁度的环境下将光学薄膜贴合到 光学显示单元上，可以制造高质量的光学显示装置。(实现实施方式1、2的制造方法的优选制造系统)
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下面，针对实现实施方式2的制造方法的优选制造系统的一例进行说明。实现实施方式2的制造方法的各种装置，通过隔离构造与外部隔离。被隔离构造 包围的内部比外部清洁。隔离构造由透明材料的壁和骨架构造构成。在隔离构造的顶棚设 置有送风装置。送风装置具备HEPA过滤器，将清洁度高的空气向隔壁构造内部吹送。在隔 壁构造的壁面下部，设置有用于将内部空气向外部排出的空气排出开口部。而且，为了防止 来自外部的侵入物，还可以在开口面设置过滤器。通过该隔壁构造、送风装置，可以将制造 系统整体维持在清洁环境，能够恰当地防止来自外部的异物混入。而且，由于仅将制造系统 通过隔壁构造与外部隔离，所以不需要使工厂整体成为所谓的清洁室。首先，对研磨洗涤装置进行说明。从收纳箱取出光学显示单元W，将其载置到搬送 机构上。若光学显示单元W到达了洗涤位置，则停止搬送，由保持机构保持光学显示单元W 的端部。使研磨机构从垂直上方与光学显示单元W的上面接触，并使研磨机构从垂直下方 与光学显示单元下面接触。使各自的研磨机构在光学显示单元W的两表面旋转。由此，光 学显示单元W的两表面的附着异物被除去。作为附着异物，例如可举出玻璃的微小片、纤维
Jn寸。接着，对水洗涤装置进行说明。研磨洗涤后的光学显示单元W被搬送机构搬送到 水浴中，在这里进行水洗涤。水浴的内部流动着纯水。从水浴搬送来的光学显示单元W的两 面，被从流水管流出的纯水洗涤。接着，光学显示单元W通过由干燥装置送来的清洁空气被 除去水分。然后，光学显示单元W被搬送到第1贴合装置。另外，作为其他的实施方式，也 可以取代纯水而使用乙醇水溶液进行洗涤。此外，作为其他的实施方式，还可以省略水浴。接着，依次对各种装置进行说明。长条的第1片材制品Fl的第1辊状卷料被设置 于自由旋转或按照以一定的转速进行旋转的方式与马达等连动的辊架台装置。由控制装置 设定转速、进行驱动控制。第1搬送装置是将第1片材制品Fl向下游侧搬送的搬送机构。该第1搬送装置 具备多个搬送辊，沿着由这些搬送辊形成的搬送路，搬送第1片材制品F1。该搬送路从第1 辊状卷料起延伸到第1贴合装置。第1搬送装置由控制装置控制。第1检查前剥离装置是从沿着搬送路搬送的第1片材制品Fl上剥离第1分型薄 膜F12，将其卷绕到辊的构成。向辊的卷绕速度由控制装置控制。作为剥离机构，构成为通 过对第1分型薄膜F12进行反转输送，将第1分型薄膜F12剥离，并且将剥离了第1分型薄 膜F12后的第1片材制品Fl沿搬送方向搬送。第1缺点检查装置在第1分型薄膜F12的剥离之后，进行缺点检查。第1缺点检 查装置对由CCD相机拍摄的图像数据进行分析，检测出缺点，进而计算出其位置坐标。该缺 点的位置坐标被提供给后述的由第1切断装置进行的跳过切断。第1分型薄膜贴附装置在第1缺点检查之后，将第1分型薄膜F12借助第1粘结 剂层F14贴合到第1光学薄膜Fll上。从第1分型薄膜F12的辊状卷料抽出第1分型薄膜 F12，利用1个或多个辊子对夹持第1分型薄膜F12与第1光学薄膜Fl 1，通过该辊子对作用 规定的压力来使其贴合。辊子对的转速、压力控制、搬送控制由控制装置控制。第1切断装置不切断第1分型薄膜F12地将第1光学薄膜F11、表面保护薄膜F13、 第1粘结剂层F14、粘结剂层F15切断为规定尺寸。第1切断装置例如是激光装置。根据由 第1缺点检查处理检测出的缺点的位置坐标，第1切断装置按照在贴合到光学显示单元W的区域内不包含缺点的方式，避开缺点部分，将其切断成规定尺寸。即，包含缺点部分的切 断品作为非优良品在后续工序中被第1排除装置排除。或者，第1切断装置也可以无视缺 点的存在，连续地切断成规定尺寸。该情况下，可以构成为在后述的贴合处理中，不贴合该 部分而将其除去。此时的控制也基于控制装置的功能实现。而且，第1切断装置配置有从背面吸附保持第1片材制品Fl的保持工作台，在第 1片材制品Fl的上方具备激光装置。按照沿着第1片材制品Fl的宽度方向扫描激光的方 式水平移动，残留最下部的第1分型薄膜F12，将第1光学薄膜Fl 1、第1粘结剂层F14、表面 保护薄膜F13、粘结剂层F15沿着其搬送方向以规定间距切断(下面适当称作“半切断”)。 并且，优选该激光装置以从第一片材制品Fl的宽度方向夹持的方式朝向切断部位吹付温 风的空气喷嘴、与通过该温风输送的切断部位所产生的气体(烟)得以集烟的集烟通道在 对置的状态下被一体构成。在利用保持工作台吸附第1片材制品Fl的情况下，按照不停止 其下游侧与上流侧的第1片材制品Fl的连续搬送的方式，使搬送机构的蓄力装置沿上下垂 直方向移动。该动作也基于控制装置的控制实现。第1贴合装置在上述切断处理之后，将由第1剥离装置剥离了第1分型薄膜F12 的第ι片材制品Fl (第1光学薄膜Fl 1)，借助第1粘结剂层F14贴合到光学显示单元W上。 第1片材制品Fl的搬送路是光学显示单元W的搬送路的上方。来自送风装置的清洁空气 流被第1片材制品Fl遮挡，在光学显示单元W的上面成为风力弱小的气流。在进行贴合时，一边利用按压辊、弓I导辊将第1光学薄膜Fl 1压接到光学显示单元 W面，一边进行贴合。按压辊、引导辊的按压压力、驱动动作由控制装置控制。作为第1剥离装置的剥离机构，构成为通过对第1分型薄膜F12进行反转输送，将 第1分型薄膜F12剥离，并且将剥离了第1分型薄膜F12后的第1片材制品Fl (第1光学 薄膜Fll)送到光学显示单元W面。此时，通过在3秒以内进行对第1分型薄膜F12施加 150N/m以上1000N/m以下的张力的状态及/或在剥离了第1分型薄膜F12之后将第1光学 薄膜压接到光学显示单元W面为止的时间，能够提高第1光学薄膜的贴合精度。如果张力 小于150N/m，则第1光学薄膜的送出位置不稳定，如果大于1000N/m，则第1分型薄膜F12 有可能延伸断裂，如果到进行压接为止的时间比3秒长，则从第1分型薄膜F12剥离的第1 光学薄膜端部有可能弯折或产生气泡。剥离后的第1分型薄膜F12被卷绕到辊。卷的卷绕 控制由控制装置控制。作为贴合机构，由按压辊和与其对置配置的引导辊构成。引导辊由被马达旋转驱 动的橡胶辊构成，被配置成能够升降。而且，在其正上方，能够升降地配置有被马达旋转驱 动的由金属辊构成的按压辊。在将光学显示单元W送入到贴合位置时，按压辊上升到比其 上面高的位置，开启辊间隔。另外，引导辊及按压辊可以都是橡胶辊，也可以都是金属辊。是 光学显示单元W如上述那样被各种洗涤装置洗涤，并由搬送机构搬送的构成。搬送机构的 搬送控制也基于控制装置的控制来实现。对将包含缺点的第1片材制品Fl排除的第1排除装置进行说明。当包含缺点的 第ι片材制品Fl被搬送到贴合位置后，引导辊向垂直下方移动。接着，挂设有除去用薄膜 的辊子移动到引导辊的规定位置。使按压辊向垂直下方移动，将包含缺点的第1片材制品 Fl压制到除去用薄膜上，使第1片材制品Fl与除去用薄膜贴合，然后将除去用薄膜与包含 缺点的第1片材制品Fl卷绕到辊上。除去用薄膜能够利用第1片材制品Fl的第1粘结剂
14层F14的粘着力，贴合包含缺点的第1片材制品F1，但作为除去用薄膜，也可以使用粘结胶带。如上所述那样贴合了第1光学薄膜Fll的光学显示单元W被向下游侧搬送，贴合 第2光学薄膜F21 (第2片材制品F2)。下面，对于同样的装置构成简单进行其说明。在将第2光学薄膜F21以与第1光学薄膜Fll成90°的关系(交叉偏振的关系) 进行贴合的情况下，通过搬送机构的搬送方向切换机构使光学显示单元W旋转90°后，贴 合第2光学薄膜F21。在以下说明的第2片材制品F2的贴合方法中，构成为以使第2片材 制品F2反转的状态(第2分型薄膜F22成为上面)处理各工序，从光学显示单元W的下侧 贴合第2光学薄膜F21。长条的第2片材制品F2的第2辊状卷料被设置于自由旋转或按照以一定的转速 进行旋转的方式与马达等连动的辊架台装置。由控制装置设定转速、进行驱动控制。第2搬送装置是将第2片材制品F2向下游侧搬送的搬送机构。该第2搬送装置 具备多个搬送辊，沿着由这些搬送辊形成的搬送路搬送第2片材制品F2。该搬送路从第2 辊状卷料延伸到第2贴合装置。第2搬送装置由控制装置控制。第2检查前剥离装置是从被沿着搬送路搬送的第2片材制品F2剥离第2分型薄 膜F22，将其卷绕到辊的构成。向辊的卷绕速度由控制装置控制。作为剥离机构，构成为通 过对第2分型薄膜F22进行反转输送，将第2分型薄膜F22剥离，并且将剥离了第2分型薄 膜F22后的第2片材制品F2沿搬送方向搬送。第2缺点检查装置在第2分型薄膜F22的剥离之后进行缺点检查。第2缺点检查 装置分析由CCD相机拍摄的图像数据来检测缺点，进而计算出其位置坐标。该缺点的位置 坐标被用于后述的由第2切断装置进行的跳过切断。第2分型薄膜贴附装置在第2缺点检查之后，将第2分型薄膜F22借助第2粘结 剂层F24贴合到第2光学薄膜F21上。从第2分型薄膜F22的辊状卷料抽出第2分型薄膜 F22，利用1个或多个辊子对夹持第2分型薄膜F22与第2光学薄膜F21，通过该辊子对作用 规定的压力使其贴合。辊子对的转速、压力控制、搬送控制由控制装置控制。第2切断装置不切断第2分型薄膜F22地将第2光学薄膜F21、表面保护薄膜F23、 第2粘结剂层F24、粘结剂层F25切断为规定尺寸。第2切断装置例如是激光装置。根据由 第2缺点检查处理检测到的缺点的位置坐标，第2切断装置按照在与光学显示单元W贴合 的区域内不含有缺点的方式，避开缺点部分切断成规定尺寸。即，包含缺点部分的切断品作 为非优良品在后续工序中被第2排除装置排除。或者，第2切断装置可以无视缺点的存在， 连续地切断成规定尺寸。该情况下，可以构成为在后述的贴合处理中，不贴合该部分而将其 除去。此时的控制也基于控制装置的功能来实现。而且，第2切断装置配置有从背面吸附保持第2片材制品F2的保持工作台，在第 2片材制品F2的下方具有激光装置。按照沿着第2片材制品F2的宽度方向扫描激光的方 式水平移动，残存最下部的第2分型薄膜F22，将第2光学薄膜F21、第2粘结剂层F24、表面 保护薄膜F23、粘结剂层F25沿着其搬送方向以规定间距切断。在利用保持工作台吸附第2 片材制品F2的情况下，按照不停止其下游侧与上流侧的第2片材制品F2的连续搬送的方 式，使搬送机构的蓄力装置沿上下垂直方向移动。该动作也基于控制装置的控制实现。第2贴合装置在切断处理之后，将被第2剥离装置剥离了第2分型薄膜F22的第2片材制品F2 (第2光学薄膜F21)，借助第2粘结剂层F24贴合到光学显示单元W上。在 进行贴合时，一边通过按压辊、弓I导辊将第2光学薄膜F21压接到光学显示单元W面一边进 行贴合。按压辊、引导辊的按压压力、驱动动作由控制装置控制。作为第2剥离装置的剥离机构，构成为通过对第2分型薄膜F22进行反转输送，将 第2分型薄膜F22剥离，并且将剥离了第2分型薄膜F22后的第2片材制品F2 (第2光学薄 膜)向光学显示单元W面送出。此时，通过在3秒以内进行对第2分型薄膜F22施加150N/ m以上1000N/m以下的张力的状态及/或在剥离了第2分型薄膜F22之后将第2光学薄膜 压接到光学显示单元W面为止的时间，能够提高第2光学薄膜的贴合精度。如果张力小于 150N/m,则第2光学薄膜的送出位置不稳定，如果大于1000N/m，则第2分型薄膜F22有可能 延伸断裂，如果到进行压接为止的时间比3秒长，则从第2分型薄膜F22剥离的第1光学薄 膜端部有可能弯折或产生气泡。剥离后的第2分型薄膜F22被卷绕到辊。卷的卷绕控制由 控制装置控制。作为贴合机构，由按压辊和与其对置配置的引导辊构成。引导辊由被马达旋转驱 动的橡胶辊构成，被配置成能够升降。而且，在其正下方，能够升降地配置有被马达旋转驱 动的由金属辊构成的按压辊。在将光学显示单元W送入到贴合位置时，按压辊移动到下方 位置，开启辊间隔。另外，引导辊及按压辊可以都是橡胶辊，也可以都是金属辊。对将包含缺点的第2片材制品F2排除的第2排除装置进行说明。当包含缺点的 第2片材制品F2被搬送到贴合位置时，引导辊向垂直上方移动。接着，挂设有除去用薄膜 的辊子移动到引导辊的规定位置。使按压辊向垂直上方移动，将包含缺点的第2片材制品 F2压制到除去用薄膜上，使第2片材制品F2与除去用薄膜贴合，然后将除去用薄膜与包含 缺点的第2片材制品F2卷绕到辊上。通过第1、第2片材制品与光学显示单元W贴合而形成的光学显示装置，被搬送到 检查装置。检查装置对搬送来的光学显示装置的两面执行检查。光源经由半透明反射镜，垂 直照射到光学显示装置的上面，由CCD相机拍摄其反射光像来作为图像数据。而且，其他的 光源以规定角度照射光学显示装置表面，由CCD相机拍摄其反射光像来作为图像数据。光 学显示装置的相反面的检查也利用光源及CCD相机同样地执行。根据这些图像数据，对缺 点进行图像处理分析，来执行优良品判定。各个装置的动作定时，例如通过在规定的位置配置传感器来进行检测的方法计 算，或者，利用旋转编码器等检测搬送装置和搬送机构的旋转部件来计算。控制装置可以通 过软件程序和CPU、存储器等硬件资源的协同作用来实现，此时，程序软件、处理步骤、各种 设定等被预先存储于存储器。另外，可以由专用电路或固件(firmware)等构成。在上述的制造系统中，是从光学显示单元W的上面贴合第1片材制品Fl (第1光学 薄膜Fll)，从光学显示单元W的下面贴合第2片材制品F2 (第2光学薄膜F21的构成。送 风装置正下方的风力大、越向隔壁构造的底部风力越弱。这是由于各种装置部件、第1片材 制品F1、光学显示单元W、除去用薄膜妨碍了清洁空气的流动。尤其在第1片材制品Fl的 背侧，清洁空气的流动弱，有时在光学显示单元W的上面侧发生清洁空气的滞留。清洁空气 的流动越弱，其清洁度相对而言较低。由于如果清洁度低，则会蓄积尘埃、异物，所以导致光 学显示单元W的上面附着异物，因而不希望发生。(其他实施方式的制造系统)
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因此，下面对能够抑制清洁空气的滞留、以维持高的清洁度的状态将第1光学薄 膜Fll贴合到光学显示单元W上的制造系统进行说明。第1片材制品Fl以第1分型薄膜F12位于上面的状态被搬送。虽然第1检查前 剥离装置、第1缺点检查装置、第1分型薄膜贴附装置、第1切断装置各自的构成及功能与 上述相同，但因为第1分型薄膜F12的位置，它们的配置不同。第1剥离装置、第1贴合装置、第1排除装置也同样，虽然各自的构成及功能与上 述相同，但因为第1分型薄膜F12的位置，它们的配置不同。由此，由于第1片材制品Fl被 搬送到比光学显示单元W靠下部，所以可以将光学显示单元W上面侧的清洁度维持得高。而 且，虽然第1片材制品Fl的周边清洁度低，但由于在上面侧形成有被剥离的第1分型薄膜 F12，所以，即使浮游物附着于第1分型薄膜F12，贴合时附着异物的问题也少。第2片材制品F2以第2分型薄膜F22位于下面的方式被搬送。虽然第2检查前 剥离装置、第2缺点检查装置、第2分型薄膜贴附装置、第2切断装置各自的构成及功能与 上述相同，但因为第2分型薄膜F22的位置，它们的配置不同。第2剥离装置、第2贴合装置、第2排除装置也同样，虽然各自的构成及功能与上 述相同，但因为第2分型薄膜F22的位置，它们的配置不同。根据该配置，能够将光学显示单 元W上面侧的清洁度维持得高。而且，还能够将第2片材制品F2的周边清洁度维持得高。缺点检查可以采用公知的缺点检查方法。自动检查装置是自动检测片材状制品的 缺点(也被称作缺陷)的装置，其照射光，通过线性传感器或二维TV相机等摄像部取得其 反射光像、透过光像，根据取得的图像数据进行缺点检测。并且，以在光源与摄像部之间的 光路中夹设有检查用偏光滤波器的状态，取得图像数据。通常，该检查用偏光滤波器的偏光 轴(例如偏光吸收轴)被配置成，处于与作为检查对象的偏光板的偏光轴(例如偏光吸收 轴)正交的状态(交叉偏振)。通过配置成交叉偏振，如果假设不存在缺点，则从摄像部输 入整面黑色的图像，如果存在缺点，则该部分不为黑色(被识别为亮点)。因此，通过设定适 当的阈值，能够检测缺点。在这样的亮点检测中，表面附着物、内部的异物等缺点被检测为 亮点。另外，除了该亮点检测之外，还存在通过针对对象物CCD拍摄透过光图像，并进行图 像分析，来实施异物检测的方法。而且，还存在通过针对对象物CCD拍摄反射光图像，并进 行图像分析，来检测表面附着异物的方法。在上述切断工序中，针对不切断分型薄膜地将片材制品的其他部件切断的方式 (半切断方式)进行了说明。根据这样的构成，能够不切断借助粘结剂层贴合到光学薄膜上 的分型薄膜而将该光学薄膜及粘结剂层切断，在对光学显示单元进行贴合处理之前，从光 学薄膜剥离分型薄膜。即，由于作为光学薄膜的贴合面的粘结剂层能够成为在即将贴合之 前不露出的构成，所以可以防止异物混入到光学薄膜的贴合面。尤其通过不切断分型薄膜地将光学薄膜及粘结剂层切断，能够将分型薄膜作为载 置体，搬送被切断的光学薄膜及粘结剂层。因此，能够使光学薄膜的搬送装置成为更简易的 构成，从而可进一步降低光学显示装置的制造成本。(检测条件修正处理)在对光学显示单元W贴合第1光学薄膜Fll之前由第1缺点检查装置进行的缺点 检查中的缺点的检测条件，根据贴合了第1光学薄膜Fll之后进行的检查装置的检查结果 被修正。同样，在对光学显示单元W贴合第2光学薄膜F21之前由第2缺点检查装置进行的缺点检查中的缺点的检测条件，根据贴合了第2光学薄膜F21之后进行的检查装置的检查 结果被修正。即，由第1缺点检查装置及第2缺点检查装置进行的缺点检查，被反馈了检查 装置的检查结果。在进行上述反馈时，不进行基于第1切断装置及第2切断装置的跳过切 断、以及第1排除装置及第2排除装置对包含缺点的片材制品F1、F2的排除，在上述反馈结 束后再重新开始。其中，上述检测条件是例如由阈值等规定的条件，第1缺点检查装置仅在 第1光学薄膜Fll中含有的缺点满足上述检测条件的情况下将其检测为缺点，第2缺点检 查装置仅在第2光学薄膜F21中含有的缺点满足上述检测条件的情况下将其检测为缺点。图4是用于对第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24进行的缺点检查中的 缺点的检测条件被修正时的方式进行说明的框图。这里，第1缺点检查装置14及第2缺点 检查装置24构成了对被贴合到光学显示单元W之前的光学薄膜F11、F21进行检查，来检测 缺点的光学薄膜检查机构。第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24中分别设置有存 储器Ml，在该存储器Ml中存储有第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24分别对被 贴合到光学显示单元W之前的光学薄膜Fll、F21进行检查来检测缺点的检测条件的范围 (以下称为“贴合前检测条件范围”)。而且，检查装置30构成了对被贴合了光学薄膜Fll、F21的光学显示装置进行检 查，来检测缺点的光学显示装置检查机构。检查装置30中设置有存储器M2，在该存储器M2 中存储有检查装置30对被贴合了光学薄膜F11、F21的光学显示装置进行检查来检测缺点 的检测条件的范围(下面称为“贴合后检测条件范围”)。控制装置1是对光学显示装置制造系统所具备的各种装置的动作进行控制的控 制机构，通过该控制装置1所具备的CPU执行计算机程序，作为贴合控制部Ia及检测条件 修正部Ib等发挥功能。贴合控制部Ia通过控制第1切断装置16、第1贴合装置18及第1 排除装置19等，进行与光学显示单元W和第1光学薄膜Fll的贴合相关的控制。而且，贴 合控制部Ia通过控制第2切断装置26、第2贴合装置28及第2排除装置29等，进行与光 学显示单元W和第2光学薄膜F21的贴合相关的控制。检测条件修正部Ib是根据检查装置30的检查结果，对第1缺点检查装置14及第 2缺点检查装置24检测光学薄膜Fll、F21的缺点的检测条件进行修正的检测条件修正机 构。即，检测条件修正部Ib通过将反馈检查装置30的检查结果而得到的贴合前检测条件 范围，存储到第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24的各存储器Ml中，来进行该存 储器Ml中存储的贴合前检测条件范围的修正。此时，检测条件修正部Ib将缺点检查装置 14,24的检查结果与检查装置30的检查结果进行比较，按照缺点检查装置14、24和检查装 置30提取出光学薄膜Fll、F21中的满足相同基准的缺点的方式，修改贴合前检测条件范 围。通过贴合控制部Ia的控制，切断装置16、26按照由缺点检查装置14、24根据存储 器Ml中存储的修正后的贴合前检测条件范围检测出的缺点，不包含在与光学显示单元W贴 合的区域内的方式，避开缺点部分，即通过跳过切断，将光学薄膜Fll、F21切断。排除装置 19,29通过将被切断装置16、26切断的包含缺点的光学薄膜Fll、F21排除，来排除由缺点 检查装置14、24根据修正后的贴合前检测条件范围而检测出的包含缺点的光学薄膜F11、 F21。图5是用于对检测条件修正部Ib修正前后的贴合前检测条件范围的变化进行说
18明的图。如对该图5实施了影线进行表示那样，第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置 24的缺点检查所使用的检测条件，由以光学薄膜F11、F21中的缺点与该缺点的周围的亮度 差作为纵轴、以缺点的尺寸(面积)为横轴的坐标所规定的贴合前检测条件范围构成。检 查装置30的缺点检查所使用的检测条件，由以被贴合了光学薄膜F11、F21的光学显示装置 中的缺点与该缺点的周围的亮度差为纵轴、以缺点的尺寸(面积)为横轴的坐标所规定的 贴合后检测条件范围构成。具体而言，第1缺点检查装置14将在第1光学薄膜Fll所包含的缺点的亮度差比 规定的阈值(以下称为“亮度差阈值”)大、且尺寸比规定的阈值(以下称为“尺寸阈值”) 大的情况下，将其检测为缺点。而且，第2缺点检查装置24仅在第2光学薄膜F21所包含 的缺点的亮度差比亮度差阈值大、且尺寸比尺寸阈值大的情况下，将其检测为缺点。在图5(a)的例子中，缺点检查装置14、24对光学薄膜Fll、F21的检查结果表示 了，在贴合前检测条件范围内检测到缺点P 1 P5的情况。该图5(a)所示的贴合前检测 条件范围，是反馈检查装置30的检查结果来进行修正之前的状态。随后，该光学薄膜F11、 F21被切断为规定尺寸、贴合到光学显示单元W上，在通过检查装置30进行了缺点检查的情 况下，该检查装置30的检查结果被反馈，由检测条件修正部Ib修正贴合前检测条件范围。由缺点检查装置14、24检查的光学薄膜F11、F21、与由检查装置30检查的被贴合 到光学显示装置的光学显示单元W上的光学薄膜Fll、F21是同一薄膜。因此，如果缺点检 查装置14、24与检查装置30的缺点检查的基准(level)相同，则在任意的检查中都能够从 光学薄膜F11、F21检测出满足相同基准的缺点，在检查装置30中还能进一步检测出光学显 示单元W的缺点。但是，在该例子中，表示了由缺点检查装置14、24检测出的缺点Pl P5 中的缺点P4及P5，在检查装置30中未被检测到的情况。存在这样由缺点检查装置14、24检测出的缺点在检查装置30中未被检测到的情 况，是因为由缺点检查装置14、24进行的贴合前的缺点检查的基准，被设定得比由检查装 置30进行的贴合后的缺点检查的基准高。在这样的情况下，通过从贴合前检测条件范围中 排除与在检查装置30中无法检测到的缺点P4及P5对应的范围，来变更亮度差阈值或尺寸 阈值。在表示反馈了检查装置30的检查结果而修正后的贴合前检测条件范围的图5(b)中， 从贴合前检测条件范围中排除的范围，作为检测排出条件范围被用虚线表示。如果对修正贴合前检测条件范围时的方式更加具体地进行说明，则在由缺点检查 装置14、24检测到的缺点无法在检查装置30中检测出的情况下，以该缺点(下面称作“非 检测缺点”)的亮度差及尺寸作为基准，来修正贴合前检测条件范围。例如，当在包含非检测 缺点的亮度差的规定的亮度差范围内，由检查装置30无法检测到其他缺点时，其亮度差范 围被从贴合前检测条件范围中排除。另外，当在包含非检测缺点的尺寸的规定的尺寸范围 内，由检查装置30无法检测到其他缺点时，其尺寸范围被从贴合前检测条件范围中排除。 上述规定的亮度差范围或尺寸范围可以是包含非检测缺点的亮度差或尺寸的一定范围，也 可以是比非检测缺点的亮度差或尺寸小的所有范围。在图5的例子中，对于非检测缺点P4，在包含该缺点P4的尺寸的规定的尺寸范围 内，由检查装置30没有检测到其他的缺点，与之相对，在包含该缺点P4的亮度差的规定的 亮度差范围内，由检查装置30检测到其他的缺点P2。另外，对于非检测缺点P5也同样，在 包含该缺点P5的尺寸的规定的尺寸范围内，由检查装置30没有检测到其他的缺点，与之相对，在包含该缺点P5的亮度差的规定的亮度差范围内，由检查装置30检测到其他的缺点P 3。这样的情况下，如图5(b)所示，与非检测缺点P4及P5分别对应的上述规定的尺寸范围 被从贴合前检测条件范围中排除，而与非检测缺点P4及P5分别对应的上述规定的亮度差 范围未被从贴合前检测条件范围中排除。另外，在图5中，表示了贴合前检测条件范围由一定的亮度差阈值及一定的尺寸 阈值规定的例子，但不限于这样的构成，也可以是亮度差阈值及尺寸阈值的至少一方不是 一定值那样的构成。例如，在是相同的亮度差，但基于缺点的尺寸检测为缺点、或未检测为 缺点的情况下，与图5不同，检测条件范围不是被直线，而是被曲线或弯曲线包围的范围所 表示。而且，检测条件的修正不限于通过上述那样的方式进行的构成，也可以是通过例如采 用一次式等数学式进行运算，来修正检测条件那样的构成。并且，不限于是检测条件由缺点 的亮度差及尺寸规定的构成，也可以由其他的条件进行规定。图6是表示检查装置30的检查结果被反馈时检测条件修正部Ib的处理的一例的 流程图。当检查装置30的检查结果被反馈时，首先，判定其检查结果中是否包含非检测缺 点(步骤S101)。此时，在没有非检测缺点的情况下，S卩、由缺点检查装置14、24检测出的缺 点全部被检查装置30检测到的情况下(步骤SlOl中为否)，不修正贴合前检测条件范围而
结束处理。另一方面，在存在非检测缺点的情况下，即、由缺点检查装置14、24检测出的缺点 的一部或全部未被检查装置30检测到的情况下(步骤SlOl中为是)，将一个非检测缺点决 定为关注缺点(步骤S102)。即，在存在一个非检测缺点的情况下，该非检测缺点被决定为 关注缺点，在存在两个以上非检测缺点的情况下，任意一个非检测缺点被决定为关注缺点。然后，以关注缺点作为基准，当在包含该关注缺点(非检测缺点)的亮度差的规定 的亮度差范围内，由检查装置30没有检测到其他缺点时(步骤S103中为否)，该亮度差范 围被从贴合前检测条件范围中排除(步骤S104)。而且，当在包含该关注缺点(非检测缺 点)的尺寸的规定的尺寸范围内，由检查装置30没有检测到其他缺点时(步骤S105中为 否)，该尺寸范围被从贴合前检测条件范围中排除(步骤S106)。在存在两个以上非检测缺点的情况下，这些非检测缺点被依次决定为关注缺点， 以该关注缺点作为基准，进行步骤S103 S106的处理(检测条件修正步骤)。然后，如果 针对所有的非检测缺点结束了上述处理(步骤S107中为是)，则检测条件修正部Ib对贴合 前检测条件范围的修正结束。在该例子中，根据由检查装置30进行的对被贴合了光学薄膜F11、F21的光学显示 装置的检查结果，修正由缺点检查装置14、24进行的被贴合到光学显示单元W之前的光学 薄膜Fll、F21的检查中的缺点的检测条件，并根据该修正后的检测条件，排除由缺点检查 装置14、24检测到的包含缺点的光学薄膜Fll、F21。因此，由于能够与之后由检查装置30 进行的缺点检查的基准一致，调整由缺点检查装置14、24进行的缺点检查的基准，所以可 更良好地进行缺点检查，能够提高光学薄膜的成品率。而且，在由缺点检查装置14、24检测出的缺点由检查装置30没有检测到的情况 下，与该缺点对应的条件被从缺点检查装置14、24的检测条件中排除。因此，即使在由缺点 检查装置14、24进行的贴合前的缺点检查的基准，比由检查装置30进行的贴合后的缺点检 查的基准高的情况下，也能够防止在贴合后的缺点检查中不被检查为缺点的程度的微小缺点，在贴合前的缺点检查中被苛刻检测，因此能够更良好地进行缺点检查。不过，在上述的例子中，说明了作为对贴合前检测条件范围进行修正的检测条件 修正机构的检测条件修正部lb，被配置于与缺点检查装置14、24及检查装置30独立设置的 控制装置1的构成，但不限定于这样的构成，也可以是缺点检查装置14、24或检查装置30 中具备检测条件修正机构那样的构成。(光学薄膜的构成及制造方法的例子)首先，作为光学薄膜的一例，对偏光板进行说明。偏光板可以通过在预先制造的 聚乙烯醇系薄膜(偏光件)的单面贴合例如TAC(三乙酰基纤维素)薄膜(偏光件保护薄 膜)，在另一面贴合PET (聚对苯二甲酸乙二醇酯)薄膜而获得。偏光板的辊状卷料例如可以通过以下的制造工序来制造。作为前工序，有下述处 理㈧获得偏光件的工序。这里，将实施了染色/交链及延伸处理后的聚乙烯醇(PVA)薄 膜干燥，获得偏光件。(B)制造偏光板的工序。这里，借助粘结剂将TAC薄膜贴合到偏光件 的一面，将PET薄膜贴合到其另一面，并实施干燥，由此制造偏光板。也可以对显示装置的 称为视觉确认侧的PET薄膜预先实施防闪耀处理。(C)贴合分型薄膜(隔板)及保护薄膜 的工序。借助强粘结剂将隔板贴合到偏光板的TAC薄膜面、借助弱粘结剂将表面保护薄膜 贴合到PET薄膜面。这里，隔板被预先涂敷强粘结剂，表面保护薄膜被涂敷了弱粘结剂。对 隔板涂敷的强粘结剂是在将隔板剥离后，被转印到TAC薄膜上的。而对表面保护薄膜涂敷 的弱粘结剂，即使将表面保护薄膜剥离，也还形成于表面保护薄膜，实质上没有转印到PET 薄膜上。通过以上的前工序，制造出长条的片材状制品，其被卷绕成辊状后，提供给后工序。在该前工序(A、B、C)中，按各道工序，由检查者进行规定的检查。例如在工序㈧ 的情况下，在PVA卷料的搬送途中，检查者通过目视确认缺点(异物、污损、扭转等)。而在 工序(B)的情况下，当将得到的偏光板卷料卷绕成辊状时，检查者通过目视在辊的卷绕开 始与卷绕完毕的时刻确认缺点(异物、污损、弯结、扭转、折皱等)。并且，由缺点检查装置 (利用相机拍摄异物、污损等，通过进行图像处理来判定缺点的公知装置)自动检查贴合后 的偏光板卷料，利用监视器对缺点进行确认。并且，在工序(C)的情况下，当将得到的带状片材状制品卷料卷绕成辊状时，检查 者通过目视在辊的卷绕开始与卷绕完毕的时刻确认缺点(异物、污损、扭转等)，通过对该 缺点进行评价，来划分片材状制品卷料的等级(良、不良、可否出厂)。接着，作为后工序，进行(D)辊状卷料的切分工序。由于辊状卷料为宽幅，所以按 照作为最终制品的光学显示装置的尺寸，将辊状卷料切分为规定尺寸。可以根据辊状卷料 的宽度而省略该切分工序。接着，进行(E)辊状卷料的检查工序。这里，作为长条的片材状 制品的外观检查，利用辊式自动检查装置及/或由检查者进行目视检查。辊式自动检查装 置是利用相机拍摄卷绕不良、外观不良等，并进行图像处理来判定缺点的公知装置。在以上的工序中制造的辊状卷料被捆包、输送到下一工序的场所。另一方面，当在 同一场所进行与光学显示单元的贴合工序时，以简易的包装或保持该状态被搬送到下一工 序。通过本发明制造的光学显示装置，可以在液晶显示装置、有机EL显示装置、PDP等 图像显示装置中应用。液晶显示装置的形成能够按照以往那样进行。即，液晶显示装置一般通过适当组合液晶单元(相当于光学显示单元)、光学薄膜、及根据需要而采用的照明系统等构成部 件，并装入驱动电路等而形成，但在本发明中，除了利用光学薄膜这一点之外，没有特殊限 定地按以往方法进行。对于液晶单元，例如也采用TN型或STN型、π型等任意类型。可以形成在液晶单元的一侧或两侧配置了光学薄膜的液晶显示装置、照明系统采 用了背光灯或反射板等的适当的液晶显示装置。该情况下，光学薄膜可以设置在液晶单元 的一侧或两侧。在光学薄膜设置在两侧的情况下，它们可以相同，也可以不同。并且，在形 成液晶显示装置时，例如可以在适当位置配置1层或2层以上扩散板、防闪耀层、防反射膜、 保护板、棱镜阵列、透镜阵列片材、光扩散板、背光灯等适当部件。液晶显示装置可以形成为将光学薄膜配置在液晶单元的一侧或两侧而成的透过 型、反射型、或透过反射两用型的参照以往的适当构造。因此，形成液晶显示装置的液晶 单元是任意的，例如可以使用薄膜晶体管型所代表的有源矩阵驱动型等适当类型的液晶单兀。另外，当在液晶单元的两侧设置偏光板、光学部件时，它们可以是相同的部件，也 可以是不同的部件。并且，在形成液晶显示装置时，例如可以在适当的位置配置1层或2层 以上的棱镜阵列片材、透镜阵列片材、光扩散板、背光灯等适当部件。
2权利要求
一种光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果，修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排除的排除机构。
2.根据权利要求1所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，具备切断机构，该切断机构按照由所述光学薄膜检查机构根据修正后的所述检测条件 检测出的缺点，不包含在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所述光学 薄膜切断，所述排除机构将被所述切断机构切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。
3.根据权利要求1或2所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，所述检测条件修正机构将所述光学薄膜检查机构的检查结果与所述光学显示装置检 查机构的检查结果进行比较，按照所述光学薄膜检查机构与所述光学显示装置检查机构提 取出光学薄膜中的满足相同基准的缺点的方式，修正所述检测条件。
4.根据权利要求1 3中任意一项所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，所述光学薄膜检查机构只在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情况下， 将其检测为缺点，在该光学薄膜检查机构检测出的缺点未被所述光学显示装置检查机构检测到的情况 下，所述检测条件修正机构将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。
5.根据权利要求1 4中任意一项所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，所述检测条件由所述光学薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的大小来规定。
6.一种光学显示装置制造方法，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料 送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置， 其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行检查，来检测缺点的光学薄膜检 查步骤；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行检查，来检测缺点的光学显示装置检 查步骤；根据所述光学显示装置检查步骤的检查结果，修正通过所述光学薄膜检查步骤对所述 光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正步骤；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查步骤检测到的缺点的光学薄 膜排除的排除步骤。
7.根据权利要求6所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，具备切断步骤，在该切断步骤中，按照由所述光学薄膜检查步骤根据修正后的所述检 测条件检测出的缺点，不包含在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所 述光学薄膜切断，在所述排除步骤中，将通过所述切断步骤被切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。
8.根据权利要求6或7所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，在所述检测条件修正步骤中，将所述光学薄膜检查步骤的检查结果与所述光学显示装 置检查步骤的检查结果进行比较，按照在所述光学薄膜检查步骤与所述光学显示装置检查 步骤中提取出光学薄膜中的满足相同基准的缺点的方式，修正所述检测条件。
9.根据权利要求6 8中任意一项所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，在所述光学薄膜检查步骤中，只在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情 况下，将其检测为缺点，在所述检测条件修正步骤中，当通过该光学薄膜检查步骤检测出的缺点未被所述光学 显示装置检查步骤检测到时，将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。
10.根据权利要求6 9中任意一项所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，所述检测条件由所述光学薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的 大小规定。
全文摘要
本发明提供一种能够更好地进行缺点检查的光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法。根据由检查装置(30)进行的对被贴合了光学薄膜的光学显示装置的检查结果，修正由缺点检查装置(14、24)进行的被贴合到光学显示单元之前的光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由缺点检查装置(14、24)根据该修正后的检测条件检测出的缺点的光学薄膜排除。由此，由于能够按照之后由检查装置(30)进行的缺点检查的基准，调整由缺点检查装置(14、24)进行的缺点检查的基准，所以可以更好地进行缺点检查，能够提高光学薄膜的成品率。
文档编号G09F9/00GK101965605SQ20098010829
公开日2011年2月2日 申请日期2009年4月10日 优先权日2008年4月14日
发明者中园拓矢, 北田和生, 小盐智, 由良友和 申请人:日东电工株式会社
技术领域：
本发明涉及用于从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜， 将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置的光学显示装置制造 系统及光学显示装置制造方法。
背景技术：
图7中示意性地表示了以往的液晶显示装置中安装的光学显示装置的制造方法。 首先，在光学薄膜制造厂中，将具有光学薄膜的长条(带状)片材状制品制造成辊状卷料 (#1)。由于该具体的制造工序是公知的制造工序，所以省略说明。作为该长条(带状)片 材状制品的辊状卷料，例如有液晶显示装置中使用的偏光板卷料、相位差板卷料、偏光板 与相位差板的层叠薄膜卷料等。接着，将辊状卷料剪裁成规定尺寸(遵照光学显示单元尺 寸的尺寸)(#2)。然后，将被剪裁后的长条卷料按照所贴合的光学显示单元的尺寸定量切断 (#3)。接着，对定量切断后的单片片材状制品(光学薄膜)进行外观检查(#4)。作为该检 查方法，例如可举出基于目视的缺点检查、采用公知的缺点检查装置的检查。缺点例如是 指表面或内部的污损、瑕疵、夹入异物的擦痕的扭拧后的特殊状缺点(有时称作弯结)、气 泡、异物等。接着，进行成品检查(#5)。成品检查是按照比外观检查在合格品判定上更严厉 的品质基准所进行的检查。接着，对单片片材状制品的4个端面进行端面加工(#6)。这是 为了防止在输送中，不从端面露出粘结剂等而进行的加工。然后，在清洁室环境中，对单片 片材状制品进行清洁包装(#7)。接着，为了输送而进行包装(输送捆包)(#8)。如上所述 那样制造单片片材状制品之后，将其输送到面板加工厂。在面板加工厂中，拆开输送来的单片片材状制品的捆包(#11)。接着，为了检查在 输送中或拆开捆包时产生的瑕疵、污损等而进行外观检查(#12)。通过检查被判定为优良品 的单片片材状制品被向下道工序搬送。另外，有时也省略该外观检查。预先制造了单片片 材状制品所贴合的光学显示单元(例如封入有液晶单元的玻璃基板单元)，光学显示单元 在贴合工序之前被洗涤(#13)。将单片片材状制品与光学显示单元贴合(#14)。从单片片材状制品上残留粘结剂 层地剥离分型薄膜，将粘结剂层作为贴合面贴合到光学显示单元的一个面。并且，在光学显 示单元的其他面上也能够同样地贴合。在对两个面贴合的情况下，可以构成为对光学显示 单元的各个面贴合同一构成的光学薄膜，也可以构成为贴合不同构成的光学薄膜。接着，进 行对贴合了光学薄膜的状态的光学显示装置的检查及缺点检查(#15)。通过该检查而判定 为优良品的光学显示装置被搬送到安装工序(#16)。另一方面，对被判定为非优良品的光学 显示装置实施再加工(rework)处理(#17)。在再加工处理中，光学薄膜被从光学显示单元 上剥离。再加工处理后的光学显示单元被重新贴合光学薄膜(#14)。当如上所述那样在光学薄膜制造厂中制造单片片材状制品时，提出了以下方法 预先检测辊状卷料的缺陷，并以条形码的方式将该检测到的缺陷的位置信息印到辊状卷料 上、或将该位置信息存储到存储装置(专利文献1及2)。在这些方法中，通过根据条形码或从存储装置读取的上述位置信息对偏光板进行打孔，可以从生产线将包含偏光板的缺陷的 部分除去。在以上的制造工序中，由于光学薄膜制造厂与面板加工厂存在于各自不同的场 所，所以尤其是端面加工、单片片材状制品的包装、捆包拆解等成为必要的工序。但是，因为 多道工序而存在制造成本提高的问题，而且，还存在因多道工序、输送而产生的瑕疵、尘埃、 污损等问题、与之相伴的检查工序的必要性、和必须对多种单片片材状制品进行库存保管、
管理等问题。作为解决该问题的方法，提出了日本特开2007-140046号公报(专利文献3)的方 案。根据该发明，具备从具有作为光学显示装置的部件的光学薄膜的带状片材状制品被 卷绕而成的辊状卷料，抽出带状片材状制品来进行供给的供给机构；对由供给机构抽出的 带状片材状制品的缺陷进行检测的检测机构；根据检测机构的检测结果，切断带状片材状 制品，加工成各个片材状制品的切断加工机构；为了进行贴合加工，而输送被切断加工机构 切断加工后的片材状制品的输送机构；和将被输送机构输送的片材状制品与作为光学显示 装置的部件的光学显示单元贴合的贴合加工机构；将这些各机构配置到连续的生产线工序 上。在上述构成中，可以从具有光学薄膜的带状片材状制品直接切断加工成所希望的尺寸， 将该切断后的片材状制品贴合到光学显示单元上。因此，在以往的情况下，当对带状片材状 制品进行打孔，并将打孔后的片材状制品严格捆包，向面板加工厂交货时，能够将卷绕成辊 状卷料的带状片材状制品直接捆包进行交货。专利文献1日本特开2005-62165号公报专利文献2日本特开2005-114624号公报专利文献3日本特开2007-140046号公报在如上述专利文献1及2那样的方法中，通过根据预先检测出的缺陷的位置信息， 对偏光板进行打孔，能够将不包含缺陷的偏光板制造成为单片片材状制品。但是，在实际对 光学显示单元贴合如此制造的单片片材状制品时，由于上述那样的因输送产生的瑕疵、尘 埃、污损等问题，有可能在片材状制品产生新的缺陷。对此，在如上述专利文献3那样的方法中，由于从光学薄膜制造厂向面板加工厂 交货的辊状卷料，在对光学显示单元即将贴合之前被切断，所以能够抑制如上所述那样伴 随输送而产生新的缺陷的情况。但是，即便是这样的方法，为了制造更高品质的光学显示装 置，也优选在被贴合到光学显示单元之前，对从交货的辊状卷料抽出而要贴合到光学显示 单元上的光学薄膜进行检查。而且，在上述那样的贴合前对光学薄膜的检查的基础上，还要 对被贴合了该光学薄膜的光学显示装置进行检查。但是，如上所述那样在贴合的前后进行缺点检查的情况下，当贴合前的缺点检查 的基准比贴合后的缺点检查的基准高时等，有时在贴合后的缺点检查中不被检查为缺点的 程度的微小缺点，会在贴合前的缺点检查中被严格检测。而且，即使光学薄膜的制造工序与 面板的加工工序在同一厂中进行的情况下，当这些工序在不同的生产线上进行时，也同样 要考虑该严格检查的情况。
发明内容
本发明鉴于上述的实际情况而提出，其目的在于，提供一种能够更恰当地进行缺点检查的光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法。为了解决上述课题，通过不懈的研究，结果完成了以下的本发明。第1本发明涉及的光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而 形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制 造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行 检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行 检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果， 修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和 根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排 除的排除机构。通过该构成，根据由光学显示装置检查机构进行的对贴合了光学薄膜的光学显示 装置的检查结果，来修正由修正光学薄膜检查机构进行的对被贴合到光学显示单元之前的 光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由光学薄膜检查机构根据该修正后的检测条 件检测出的缺点的光学薄膜排除。因此，由于能够按照之后由光学显示装置检查机构进行 的缺点检查的基准，调整由光学薄膜检查机构进行的缺点检查的基准，所以可以更良好地 进行缺点检查，能够提高光学显示装置的成品率。第2本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，具备切断机构，该切断机 构按照由所述光学薄膜检查机构根据修正后的所述检测条件检测出的缺点，不包含在与光 学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所述光学薄膜切断，所述排除机构将被 所述切断机构切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。根据该构成，可以按照由光学薄膜检查机构根据修正后的检测条件检测出的缺 点，不包含在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将光学薄膜切断，并将该 被切断的包含缺点的光学薄膜排除。由此，由于能够高效地排除光学薄膜的包含缺点的部 分，所以可进一步提高光学薄膜的成品率。第3本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，所述检测条件修正机构将 所述光学薄膜检查机构的检查结果与所述光学显示装置检查机构的检查结果进行比较，按 照所述光学薄膜检查机构与所述光学显示装置检查机构提取出光学薄膜中的满足相同基 准的缺点的方式，修正所述检测条件。根据该构成，由于通过按照光学薄膜检查机构与光学显示装置检查机构提取出光 学薄膜中的满足相同基准的缺点的方式，修正检测条件，能够在贴合前后使缺点检查的基 准接近，所以可以更良好地进行缺点检查。第4本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，所述光学薄膜检查机构只 在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情况下，将其检测为缺点，在该光学薄 膜检查机构检测出的缺点未被所述光学显示装置检查机构检测到的情况下，所述检测条件 修正机构将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。根据该构成，在由光学薄膜检查机构检测出的缺点未被光学显示装置检查机构检 测到的情况下，与该缺点对应的条件被从光学薄膜检查机构的检测条件中排除。因此，即使 在由光学薄膜检查机构进行的贴合前的缺点检查的基准，比由光学显示装置检查机构进行 的贴合后的缺点检查的基准高的情况下，也能够防止在贴合后的缺点检查中不被检测为缺点的程度的微小缺点，在贴合前的缺点检查中被严格检测的情况，因此，可以更良好地进行 缺点检查。第5本发明涉及的光学显示装置制造系统的特征在于，所述检测条件由所述光学 薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的大小来规定。根据该构成，在由光学薄膜检查机构检测出的缺点未被光学显示装置检查机构检 测到的情况下，可以从由光学薄膜中的缺点与该缺点的周围的亮度差、及缺点的大小规定 的光学薄膜检查机构的检测条件，将与该缺点对应的条件排除。即、通过根据光学显示装置 检查机构的检查结果，将规定的亮度差或规定的大小的缺点从光学薄膜检查机构的检测条 件中排除，能够更良好地进行缺点检查。第6本发明涉及的光学显示装置制造方法，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而 形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制 造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行 检查，来检测缺点的光学薄膜检查步骤；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行 检查，来检测缺点的光学显示装置检查步骤；根据所述光学显示装置检查步骤的检查结果， 修正通过所述光学薄膜检查步骤对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正步 骤；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查步骤检测到的缺点的光学 薄膜排除的排除步骤。根据该构成，能够提供一种起到与第1本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第7本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，具备切断步骤，在该切断 步骤中，按照由所述光学薄膜检查步骤根据修正后的所述检测条件检测出的缺点，不包含 在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所述光学薄膜切断，在所述排除 步骤中，将通过所述切断步骤被切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。根据该构成，能够提供一种起到与第2本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第8本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，在所述检测条件修正步骤 中，将所述光学薄膜检查步骤的检查结果与所述光学显示装置检查步骤的检查结果进行比 较，按照在所述光学薄膜检查步骤与所述光学显示装置检查步骤中提取出光学薄膜中的满 足相同基准的缺点的方式，修正所述检测条件。根据该构成，能够提供一种起到与第3本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第9本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，在所述光学薄膜检查步骤 中，只在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情况下，将其检测为缺点，在所述 检测条件修正步骤中，当通过该光学薄膜检查步骤检测出的缺点未被所述光学显示装置检 查步骤检测到时，将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。根据该构成，能够提供一种起到与第4本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。第10本发明涉及的光学显示装置制造方法的特征在于，所述检测条件由所述光 学薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的大小规定。
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根据该构成，能够提供一种起到与第5本发明涉及的光学显示装置制造系统同样 效果的光学显示装置制造方法。
图1是实施方式1的光学显示装置的制造方法的流程图。图2是实施方式2的光学显示装置的制造方法的流程图。图3是用于对第1、第2光学薄膜的层叠构造的一例进行说明的图。图4是用于对由第1缺点检查装置及第2缺点检查装置进行的缺点检查中的缺点 的检测条件被修正时的状态进行说明的框图。图5是用于对在检测条件修正部进行修正的前后，贴合前检测条件范围的变化进 行说明的图。图6是表示了当检查装置的检查结果被反馈时，由检测条件修正部进行的处理的 一例的流程图。图7是以往的光学显示装置的制造方法的流程图。图中1_控制装置，Ia-贴合控制部，Ib-检测条件修正部，14-第1缺点检查装置， 24-第2缺点检查装置，30-检查装置，Fl-第1片材制品，F2-第2片材制品，Fll-第1光 学薄膜，F21-第2光学薄膜，W-光学显示单元。
具体实施例方式(实施方式1)下面，对本发明的实施方式1进行说明。图1中表示了实施方式1的光学显示装 置的制造方法的流程图。实施方式1的制造系统是在后述的实施方式2的制造系统的构成 中，不具备第1、第2检查前剥离装置、第1、第2分型薄膜贴附装置的构成例。另外，作为实 施方式1的制造系统的其他实施方式，还可以例示不具备第1、第2缺点检查装置的构成。(光学显示单元)首先，作为本发明所使用的光学显示单元，例如可举出液晶单元的玻璃基板单元、 有机EL发光体单元等。(光学薄膜)贴合于光学显示单元的光学薄膜，可举出偏光件薄膜、相位差薄膜、视角补偿薄 膜、亮度提高薄膜、这些薄膜的2个以上的组合层叠薄膜。有时在这些光学薄膜的表面层叠 有保护用的透明薄膜。而且，为了贴合到光学显示单元上，在光学薄膜的一个表面形成有粘 结剂，并设置有用于保护该粘结剂的分型薄膜。而在光学薄膜的其他表面，隔着粘结剂设置 有表面保护薄膜。这些薄膜的具体构成将在后面叙述。下面，有时将层叠有表面保护薄膜 及分型薄膜的光学薄膜称为片材制品。(制造流程图)1)第1辊状卷料准备工序(图1、S1)。准备长条的第1片材制品作为第1辊状卷 料。第1辊状卷料的宽度取决于光学显示单元的贴合尺寸。如图3所示，第1片材制品Fl 的层叠构造具有第1光学薄膜F11、第1分型薄膜F12和表面保护薄膜F13。第1光学薄 膜Fll由第1偏光件Flla、借助粘结剂层(未图示)贴合在其一个面的第1薄膜FllbjP借助粘结剂层(未图示)贴合在其另外一面的第2薄膜Fllc构成。第1、第2薄膜Fllb、File例如是偏光件保护薄膜(例如三乙酰基纤维素薄膜、 PET薄膜等)。第2薄膜Fllc借助第1粘结剂F14被贴合到光学显示单元面侧。可以对 第1薄膜Fllb实施表面处理。作为表面处理，例如可举出镀膜处理、防反射处理、以粘附 (sticking)的防止、扩散或者防闪耀(anti-glare)等为目的的处理等。第1分型薄膜F12 与第2薄膜Fllc隔着第1粘结剂层F14设置。而且，表面保护薄膜F13与第1薄膜Fllb 隔着粘结剂层F15设置。以下，有时将偏光件与偏光件保护薄膜的层叠构造称作偏光板。以下的各工序在工厂内被隔离开的隔离构造内进行，来维持清洁度。尤其在将光 学薄膜贴合到光学显示单元的贴合工序中，优选维持清洁度。(2)搬送工序(图1、S2)。从准备设置的第1辊状卷料抽出第1片材制品FlJf 其向下游侧搬送。(3)第1检查工序(图1、S3 光学薄膜检查步骤)。使用第1缺点检查装置来检 查第1片材制品Fl的缺点。作为这里的缺点检查方法，可举出对第1片材制品Fl的两 面，进行基于透过光、反射光的图像摄影/图像处理的方法；将检查用偏光薄膜按照与检查 对象即偏光板的偏光轴成为交叉偏振(々π 7 二二 >)的方式配置于C⑶相机和检查对象 物之间(有时称作0度交叉)而进行图像摄影/图像处理的方法；在CCD相机与检查对象 物之间，将检查用偏光薄膜配置成与作为检查对象的偏光板的偏光轴成为规定角度(例如 比0度大、10度以内的范围)(有时称作χ度交叉)，来进行图像摄影/图像处理的方法。其 中，图像处理的算法可以采用公知的方法，例如可以通过基于二值化处理的浓淡判定来检 测缺点。在基于透过光的图像摄影/图像处理方法中，可以检测出第1片材制品Fl内部的 异物。在基于反射光的图像摄影/图像处理方法中，可以检测出第1片材制品Fl表面的附 着异物。在基于0度交叉的图像摄影/图像处理方法中，主要可以将表面异物、污损、内部 的异物等检测为亮点。在基于χ度交叉的图像摄影/图像处理方法中，主要可以检测出弯
结(夕二夕夕)。由第1缺点检查装置获得的缺点的信息与其位置信息(例如位置坐标)相关联地 一同被发送给控制装置，用于后述的第1切断装置的切断方法。(4)第1切断工序(图1、S4)。第1切断装置不切断第1分型薄膜F12地将表面 保护薄膜F13、粘结剂层F15、第1光学薄膜Fll及第1粘结剂层F14切断为规定尺寸。作 为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的切断机构等。构成为根据由第1缺 点检查装置获得的缺点的信息，按照在与光学显示单元W贴合的区域内不包含缺点的方 式，避开缺点进行切断。由此，会大幅度提高第1片材制品Fl的成品率。将如此按照在与 光学显示单元W贴合的区域内不包含缺点的方式，避开缺点地进行切断的方式称作跳过切 断(skip cut)，切断时的缺点信息可以是由内嵌的缺点检查装置获得的信息，也可以是预 先对辊状卷料赋予的信息。包含缺点的第1片材制品Fl被后述的第1排除装置排除，不被 贴合到光学显示单元W上。(5)第1光学薄膜贴合工序(图1、S5)。一边利用第1剥离装置除去第1分型薄 膜F12，一边利用第1贴合装置将被除去了该第1分型薄膜F12后的第1光学薄膜FllJf 助第1粘结剂层F14贴合到光学显示单元W上。在贴合时，如后所述那样，利用辊子对夹持第1光学薄膜Fl 1和光学显示单元W，进行压接。(6)洗涤工序(图1、S6)。通过研磨洗涤、水洗涤等，洗涤光学显示单元W的表面。 洗涤后的光学显示单元W被搬送到第1贴合装置。优选这些第1辊状卷料准备工序、第1检查工序、第1切断工序、第1光学薄膜贴 合工序、洗涤工序各道工序，在连续的生产线上实施。在以上的一系列制造工序中，光学显 示单元W的一个面被贴合第1光学薄膜Fl 1。下面，对其另一面贴合第2光学薄膜F21的制 造工序进行说明。(7)第2辊状卷料准备工序(图1、Sll)。准备长条的第2片材制品F2作为第2 辊状卷料。如图3所示，第2片材制品F2的层叠构造是与第1片材制品同样的构成，但不 限定于此。第2片材制品F2具有第2光学薄膜F21、第2分型薄膜F22和表面保护薄膜 F23。第2光学薄膜F21由第2偏光件21a、借助粘结剂层(未图示)贴合在其一个面的第 3薄膜F21b、和借助粘结剂层(未图示)贴合在其另一个面的第4薄膜F21c构成。第3、第4薄膜F21b、F21c例如是偏光件保护薄膜(例如三乙酰基纤维素薄膜、PET 薄膜等)。第4薄膜F21c借助第2粘结剂层F24被贴合到光学显示单元面侧。可以对第 3薄膜F21b进行表面处理。作为表面处理，例如可举出镀膜处理、防反射处理、以粘附的防 止、扩散或者防闪耀等为目的的处理等。第2分型薄膜F22与第4薄膜F21c隔着第2粘结 剂层F24而设置。而且，表面保护薄膜F23与第3薄膜F21b隔着粘结剂层F25而设置。(8)搬送工序(图1、S12)。从准备设置第2辊状卷料抽出第2片材制品F2，将其 向下游侧搬送。(9)第2检查工序(图1、S13 光学薄膜检查步骤)。利用第2缺点检查装置检查 第2片材制品F2的缺点。这里的缺点检查方法与上述的基于第1缺点检查装置的方法同 样。(10)第2切断工序(图1、S14)。第2切断装置不切断第2分型薄膜F22地将表 面保护薄膜F23、粘结剂层F25、第2光学薄膜F21及第2粘结剂层F24切断为规定尺寸。 作为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的切断机构等。构成为根据由第2 缺点检查装置获得的缺点的信息，按照在与光学显示单元W贴合的区域内不含有缺点的方 式，避开缺点进行切断。由此，会大幅度提高第2片材制品F2的成品率。包含缺点的第2 片材制品F2被后述的第2排除装置排除，不被贴合到光学显示单元W上。(11)第2光学薄膜贴合工序(图1、S15)。接着，在第2切断工序之后，一边利用 第2剥离装置将第2分型薄膜F22除去，一边利用第2贴合装置将被除去了该第2分型薄 膜F22后的第2光学薄膜F21，借助所述第2粘结剂层F24贴合到光学显示单元W的与贴合 了第1光学薄膜Fll的面不同的面上。其中，有时在将第2光学薄膜F21贴合到光学显示 单元W之前，通过搬送机构的搬送方向切换机构使光学显示单元W旋转90度，让第1光学 薄膜Fll与第2光学薄膜F21成为交叉偏振的关系。在贴合时，如后所述，利用辊子夹持第 2光学薄膜F21与光学显示单元W，进行压接。(12)光学显示装置的检查工序(图1、S16 光学显示装置检查步骤)。检查装置 对光学显示单元W的两面贴合了光学薄膜的光学显示装置进行检查。作为检查方法，可举 出对光学显示装置的两面进行基于反射光的图像摄影/图像处理的方法。另外，作为其他 方法，还可以举出在CCD相机与检查对象物之间设置检查用偏光薄膜的方法。其中，图像处理的算法可以应用公知的方法，例如能够通过基于二值化处理的浓淡判定来检测缺点。(13)根据由检查装置获得的缺点的信息，进行光学显示装置的优良品判定。判定 为优良品的光学显示装置被搬送到接下来的安装工序。在判定为是非优良品的情况下，实 施再加工处理，重新贴合光学薄膜，然后进行检查，并在判定为是优良品的情况下，转移到 安装工序，而如果判定为是非优良品，则再次进入再加工处理、或将其废弃处理。在以上的一系列制造工序中，通过将第1光学薄膜Fll的贴合工序与第2光学薄 膜F21的贴合工序构成为连续的生产线，可以良好地制造光学显示装置。(跳过切断的其他实施方式)下面，对上述第1切断工序及第2切断工序的其他实施方式进行说明。有时在第 1及第2辊状卷料的宽度方向的一个端部，以规定间距单位(例如1000mm)附加有第1、第 2片材状制品的缺点信息(缺点坐标、缺点的种类、尺寸等)作为代码信息(例如QR代码、 条形码)。这样的情况下，在进行切断的前阶段，读取该代码信息并进行分析，按照避开缺点 部分的方式，在第1、第2切断工序中切断为规定尺寸。然后，构成为包含缺点的部分被除去 或贴合到不是光学显示单元的部件，将切断为规定尺寸的判定为优良品的单片片材状制品 贴合到光学显示单元上。由此，光学薄膜F11、F21的成品率大幅度提高。(实施方式2)下面，对本发明的实施方式2进行说明。图2中表示了实施方式2的光学显示装 置的制造方法的流程图。针对与实施方式1同样的处理简单进行说明。(1)第1辊状卷料准备工序(图2、S1)。准备长条的第1片材制品Fl作为第1辊 状卷料。第1片材制品Fl的层叠构造与图3所示的实施方式1同样。(2)搬送工序(图2、S2)。从准备设置的第1辊状卷料抽出第1片材制品FlJf 其向下游侧搬送。(3)分型薄膜除去工序(图2、S23)。第1检查前剥离装置从搬送来的第1片材制 品Fl将第1分型薄膜F12剥离。剥离机构的详细情况将在后面叙述。(4)第1检查工序(图2、S24 光学薄膜检查步骤)。第1缺点检查装置在分型薄 膜除去工序之后，检查第1片材制品Fl的缺点。能够不必考虑分型薄膜F12内在的相位差 地进行第1光学薄膜Fll的缺点检查。缺点检查的方法如上所述。包含缺点的第1片材制 品Fl被后述的第1排除装置排除，不被贴合到光学显示单元W上。(5)分型薄膜贴合工序(图2、S25)。第1分型薄膜贴附装置在第1检查工序之 后，将第1分型薄膜F12借助第1粘结剂层F14贴合到第1光学薄膜Fll上。在贴合时，按 照不产生气泡等泡沫的方式进行贴合是希望维持平面性。第1分型薄膜贴附装置的详细结 构将在后面叙述。(6)第1切断工序(图2、S26)。接着，在分型薄膜贴合工序之后，第1切断装置不 切断第1分型薄膜F12地将表面保护薄膜F13、粘结剂层F15、第1光学薄膜Fll及第1粘 结剂层F14切断为规定尺寸。作为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的切 断机构等。(7)第1光学薄膜贴合工序(图2、S27)。接着，在第1切断工序之后，第1剥离装 置将第1分型薄膜F12剥离。第1贴合装置将被剥离了第1分型薄膜F12的第1光学薄膜 Fl 1，借助第1粘结剂层F14与光学显示单元W贴合。在贴合时，如后所述，通过辊子夹持第
111光学薄膜Fl 1与光学显示单元W，来进行压接。(8)光学显示单元的洗涤工序(图2、S6)。是与上述同样的工序。(9)第2辊状卷料准备工序(图2、Sll)。准备长条的第2片材制品F2作为第2 辊状卷料。第2片材制品F2的层叠构造是图3所示的构成。(10)搬送工序(图2、S12)。从准备设置的第2辊状卷料抽出第2片材制品F2， 将其向下游侧搬送。(11)分型薄膜除去工序(图2、S33)。第2检查前剥离装置从搬送来的第2片材 制品F2将第2分型薄膜F22剥离。剥离机构的详细情况将在后面叙述。(12)第2检查工序(图2、S34 光学薄膜检查步骤)。第2缺点检查装置在分型 薄膜除去工序之后，检查第2片材制品F2的缺点。能够不必考虑分型薄膜F22内在的相位 差地进行第2光学薄膜F21的缺点检查。缺点检查的方法如上所述。包含缺点的第2片材 制品F2被后述的第2排除装置排除，不被贴合到光学显示单元上。(13)分型薄膜贴合工序(图2、S35)。第2分型薄膜贴附装置在第2检查工序之 后，将第2分型薄膜F22借助第2粘结剂层F24与第2光学薄膜F21贴合。在贴合时，按照 不产生气泡等泡沫的方式进行贴合，是希望维持平面性。第2分型薄膜贴附装置的详细情 况将在后面叙述。(14)第2切断工序(图2、S36)。接着，在分型薄膜贴合工序之后，第2切断装置 不切断第2分型薄膜F22地将表面保护薄膜F23、粘结剂层F25、第2光学薄膜F21及第2 粘结剂层F24切断为规定尺寸。作为切断机构，例如可举出激光装置、切割机、其他公知的 切断机构等。(15)第2光学薄膜贴合工序(图2、S37)。接着，在第2切断工序之后，第2剥离 装置将第2分型薄膜F22剥离。第2贴合装置将被剥离了第2分型薄膜F22的第2光学薄 膜F21，借助第2粘结剂层F24贴合到光学显示单元W的与贴合有第1光学薄膜Fl 1的面不 同的面上。其中，有时在将第2光学薄膜F21与光学显示单元W贴合之前，使光学显示单元 W旋转90度，让第1光学薄膜Fll与第2光学薄膜F21成为交叉偏振的关系。在贴合时，如 后所述，利用辊子夹持第2光学薄膜F21与光学显示单元W，进行压接。通过上述步骤，可以 制造在光学显示单元W的一个面贴合了第1光学薄膜F11、在其另一面贴合了第2光学薄膜 F21，对两个面设置了光学薄膜的光学显示装置。(16)光学显示装置的检查工序(图2、S16 光学显示装置检查步骤)。该工序与 上述同样。(17)根据由检查装置获得的缺点的信息，进行光学显示装置的优良品判定。判定 为优良品的光学显示装置被向接下来的安装工序搬送。在判定为是非优良品的情况下，实 施再加工处理，重新贴合光学薄膜，然后进行检查，在判定为是优良品的情况下，转移到安 装工序，而在判定为是非优良品时，再次转移到再加工处理或将其废弃处分。在以上的一系列制造工序中，通过以连续的生产线执行第1光学薄膜Fll的贴合 工序与第2光学薄膜F21的贴合工序，能够良好地制造光学显示装置。尤其通过在从工厂 内隔离的隔离构造内部进行上述各工序，能够在确保了清洁度的环境下将光学薄膜贴合到 光学显示单元上，可以制造高质量的光学显示装置。(实现实施方式1、2的制造方法的优选制造系统)
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下面，针对实现实施方式2的制造方法的优选制造系统的一例进行说明。实现实施方式2的制造方法的各种装置，通过隔离构造与外部隔离。被隔离构造 包围的内部比外部清洁。隔离构造由透明材料的壁和骨架构造构成。在隔离构造的顶棚设 置有送风装置。送风装置具备HEPA过滤器，将清洁度高的空气向隔壁构造内部吹送。在隔 壁构造的壁面下部，设置有用于将内部空气向外部排出的空气排出开口部。而且，为了防止 来自外部的侵入物，还可以在开口面设置过滤器。通过该隔壁构造、送风装置，可以将制造 系统整体维持在清洁环境，能够恰当地防止来自外部的异物混入。而且，由于仅将制造系统 通过隔壁构造与外部隔离，所以不需要使工厂整体成为所谓的清洁室。首先，对研磨洗涤装置进行说明。从收纳箱取出光学显示单元W，将其载置到搬送 机构上。若光学显示单元W到达了洗涤位置，则停止搬送，由保持机构保持光学显示单元W 的端部。使研磨机构从垂直上方与光学显示单元W的上面接触，并使研磨机构从垂直下方 与光学显示单元下面接触。使各自的研磨机构在光学显示单元W的两表面旋转。由此，光 学显示单元W的两表面的附着异物被除去。作为附着异物，例如可举出玻璃的微小片、纤维
Jn寸。接着，对水洗涤装置进行说明。研磨洗涤后的光学显示单元W被搬送机构搬送到 水浴中，在这里进行水洗涤。水浴的内部流动着纯水。从水浴搬送来的光学显示单元W的两 面，被从流水管流出的纯水洗涤。接着，光学显示单元W通过由干燥装置送来的清洁空气被 除去水分。然后，光学显示单元W被搬送到第1贴合装置。另外，作为其他的实施方式，也 可以取代纯水而使用乙醇水溶液进行洗涤。此外，作为其他的实施方式，还可以省略水浴。接着，依次对各种装置进行说明。长条的第1片材制品Fl的第1辊状卷料被设置 于自由旋转或按照以一定的转速进行旋转的方式与马达等连动的辊架台装置。由控制装置 设定转速、进行驱动控制。第1搬送装置是将第1片材制品Fl向下游侧搬送的搬送机构。该第1搬送装置 具备多个搬送辊，沿着由这些搬送辊形成的搬送路，搬送第1片材制品F1。该搬送路从第1 辊状卷料起延伸到第1贴合装置。第1搬送装置由控制装置控制。第1检查前剥离装置是从沿着搬送路搬送的第1片材制品Fl上剥离第1分型薄 膜F12，将其卷绕到辊的构成。向辊的卷绕速度由控制装置控制。作为剥离机构，构成为通 过对第1分型薄膜F12进行反转输送，将第1分型薄膜F12剥离，并且将剥离了第1分型薄 膜F12后的第1片材制品Fl沿搬送方向搬送。第1缺点检查装置在第1分型薄膜F12的剥离之后，进行缺点检查。第1缺点检 查装置对由CCD相机拍摄的图像数据进行分析，检测出缺点，进而计算出其位置坐标。该缺 点的位置坐标被提供给后述的由第1切断装置进行的跳过切断。第1分型薄膜贴附装置在第1缺点检查之后，将第1分型薄膜F12借助第1粘结 剂层F14贴合到第1光学薄膜Fll上。从第1分型薄膜F12的辊状卷料抽出第1分型薄膜 F12，利用1个或多个辊子对夹持第1分型薄膜F12与第1光学薄膜Fl 1，通过该辊子对作用 规定的压力来使其贴合。辊子对的转速、压力控制、搬送控制由控制装置控制。第1切断装置不切断第1分型薄膜F12地将第1光学薄膜F11、表面保护薄膜F13、 第1粘结剂层F14、粘结剂层F15切断为规定尺寸。第1切断装置例如是激光装置。根据由 第1缺点检查处理检测出的缺点的位置坐标，第1切断装置按照在贴合到光学显示单元W的区域内不包含缺点的方式，避开缺点部分，将其切断成规定尺寸。即，包含缺点部分的切 断品作为非优良品在后续工序中被第1排除装置排除。或者，第1切断装置也可以无视缺 点的存在，连续地切断成规定尺寸。该情况下，可以构成为在后述的贴合处理中，不贴合该 部分而将其除去。此时的控制也基于控制装置的功能实现。而且，第1切断装置配置有从背面吸附保持第1片材制品Fl的保持工作台，在第 1片材制品Fl的上方具备激光装置。按照沿着第1片材制品Fl的宽度方向扫描激光的方 式水平移动，残留最下部的第1分型薄膜F12，将第1光学薄膜Fl 1、第1粘结剂层F14、表面 保护薄膜F13、粘结剂层F15沿着其搬送方向以规定间距切断(下面适当称作“半切断”)。 并且，优选该激光装置以从第一片材制品Fl的宽度方向夹持的方式朝向切断部位吹付温 风的空气喷嘴、与通过该温风输送的切断部位所产生的气体(烟)得以集烟的集烟通道在 对置的状态下被一体构成。在利用保持工作台吸附第1片材制品Fl的情况下，按照不停止 其下游侧与上流侧的第1片材制品Fl的连续搬送的方式，使搬送机构的蓄力装置沿上下垂 直方向移动。该动作也基于控制装置的控制实现。第1贴合装置在上述切断处理之后，将由第1剥离装置剥离了第1分型薄膜F12 的第ι片材制品Fl (第1光学薄膜Fl 1)，借助第1粘结剂层F14贴合到光学显示单元W上。 第1片材制品Fl的搬送路是光学显示单元W的搬送路的上方。来自送风装置的清洁空气 流被第1片材制品Fl遮挡，在光学显示单元W的上面成为风力弱小的气流。在进行贴合时，一边利用按压辊、弓I导辊将第1光学薄膜Fl 1压接到光学显示单元 W面，一边进行贴合。按压辊、引导辊的按压压力、驱动动作由控制装置控制。作为第1剥离装置的剥离机构，构成为通过对第1分型薄膜F12进行反转输送，将 第1分型薄膜F12剥离，并且将剥离了第1分型薄膜F12后的第1片材制品Fl (第1光学 薄膜Fll)送到光学显示单元W面。此时，通过在3秒以内进行对第1分型薄膜F12施加 150N/m以上1000N/m以下的张力的状态及/或在剥离了第1分型薄膜F12之后将第1光学 薄膜压接到光学显示单元W面为止的时间，能够提高第1光学薄膜的贴合精度。如果张力 小于150N/m，则第1光学薄膜的送出位置不稳定，如果大于1000N/m，则第1分型薄膜F12 有可能延伸断裂，如果到进行压接为止的时间比3秒长，则从第1分型薄膜F12剥离的第1 光学薄膜端部有可能弯折或产生气泡。剥离后的第1分型薄膜F12被卷绕到辊。卷的卷绕 控制由控制装置控制。作为贴合机构，由按压辊和与其对置配置的引导辊构成。引导辊由被马达旋转驱 动的橡胶辊构成，被配置成能够升降。而且，在其正上方，能够升降地配置有被马达旋转驱 动的由金属辊构成的按压辊。在将光学显示单元W送入到贴合位置时，按压辊上升到比其 上面高的位置，开启辊间隔。另外，引导辊及按压辊可以都是橡胶辊，也可以都是金属辊。是 光学显示单元W如上述那样被各种洗涤装置洗涤，并由搬送机构搬送的构成。搬送机构的 搬送控制也基于控制装置的控制来实现。对将包含缺点的第1片材制品Fl排除的第1排除装置进行说明。当包含缺点的 第ι片材制品Fl被搬送到贴合位置后，引导辊向垂直下方移动。接着，挂设有除去用薄膜 的辊子移动到引导辊的规定位置。使按压辊向垂直下方移动，将包含缺点的第1片材制品 Fl压制到除去用薄膜上，使第1片材制品Fl与除去用薄膜贴合，然后将除去用薄膜与包含 缺点的第1片材制品Fl卷绕到辊上。除去用薄膜能够利用第1片材制品Fl的第1粘结剂
14层F14的粘着力，贴合包含缺点的第1片材制品F1，但作为除去用薄膜，也可以使用粘结胶带。如上所述那样贴合了第1光学薄膜Fll的光学显示单元W被向下游侧搬送，贴合 第2光学薄膜F21 (第2片材制品F2)。下面，对于同样的装置构成简单进行其说明。在将第2光学薄膜F21以与第1光学薄膜Fll成90°的关系(交叉偏振的关系) 进行贴合的情况下，通过搬送机构的搬送方向切换机构使光学显示单元W旋转90°后，贴 合第2光学薄膜F21。在以下说明的第2片材制品F2的贴合方法中，构成为以使第2片材 制品F2反转的状态(第2分型薄膜F22成为上面)处理各工序，从光学显示单元W的下侧 贴合第2光学薄膜F21。长条的第2片材制品F2的第2辊状卷料被设置于自由旋转或按照以一定的转速 进行旋转的方式与马达等连动的辊架台装置。由控制装置设定转速、进行驱动控制。第2搬送装置是将第2片材制品F2向下游侧搬送的搬送机构。该第2搬送装置 具备多个搬送辊，沿着由这些搬送辊形成的搬送路搬送第2片材制品F2。该搬送路从第2 辊状卷料延伸到第2贴合装置。第2搬送装置由控制装置控制。第2检查前剥离装置是从被沿着搬送路搬送的第2片材制品F2剥离第2分型薄 膜F22，将其卷绕到辊的构成。向辊的卷绕速度由控制装置控制。作为剥离机构，构成为通 过对第2分型薄膜F22进行反转输送，将第2分型薄膜F22剥离，并且将剥离了第2分型薄 膜F22后的第2片材制品F2沿搬送方向搬送。第2缺点检查装置在第2分型薄膜F22的剥离之后进行缺点检查。第2缺点检查 装置分析由CCD相机拍摄的图像数据来检测缺点，进而计算出其位置坐标。该缺点的位置 坐标被用于后述的由第2切断装置进行的跳过切断。第2分型薄膜贴附装置在第2缺点检查之后，将第2分型薄膜F22借助第2粘结 剂层F24贴合到第2光学薄膜F21上。从第2分型薄膜F22的辊状卷料抽出第2分型薄膜 F22，利用1个或多个辊子对夹持第2分型薄膜F22与第2光学薄膜F21，通过该辊子对作用 规定的压力使其贴合。辊子对的转速、压力控制、搬送控制由控制装置控制。第2切断装置不切断第2分型薄膜F22地将第2光学薄膜F21、表面保护薄膜F23、 第2粘结剂层F24、粘结剂层F25切断为规定尺寸。第2切断装置例如是激光装置。根据由 第2缺点检查处理检测到的缺点的位置坐标，第2切断装置按照在与光学显示单元W贴合 的区域内不含有缺点的方式，避开缺点部分切断成规定尺寸。即，包含缺点部分的切断品作 为非优良品在后续工序中被第2排除装置排除。或者，第2切断装置可以无视缺点的存在， 连续地切断成规定尺寸。该情况下，可以构成为在后述的贴合处理中，不贴合该部分而将其 除去。此时的控制也基于控制装置的功能来实现。而且，第2切断装置配置有从背面吸附保持第2片材制品F2的保持工作台，在第 2片材制品F2的下方具有激光装置。按照沿着第2片材制品F2的宽度方向扫描激光的方 式水平移动，残存最下部的第2分型薄膜F22，将第2光学薄膜F21、第2粘结剂层F24、表面 保护薄膜F23、粘结剂层F25沿着其搬送方向以规定间距切断。在利用保持工作台吸附第2 片材制品F2的情况下，按照不停止其下游侧与上流侧的第2片材制品F2的连续搬送的方 式，使搬送机构的蓄力装置沿上下垂直方向移动。该动作也基于控制装置的控制实现。第2贴合装置在切断处理之后，将被第2剥离装置剥离了第2分型薄膜F22的第2片材制品F2 (第2光学薄膜F21)，借助第2粘结剂层F24贴合到光学显示单元W上。在 进行贴合时，一边通过按压辊、弓I导辊将第2光学薄膜F21压接到光学显示单元W面一边进 行贴合。按压辊、引导辊的按压压力、驱动动作由控制装置控制。作为第2剥离装置的剥离机构，构成为通过对第2分型薄膜F22进行反转输送，将 第2分型薄膜F22剥离，并且将剥离了第2分型薄膜F22后的第2片材制品F2 (第2光学薄 膜)向光学显示单元W面送出。此时，通过在3秒以内进行对第2分型薄膜F22施加150N/ m以上1000N/m以下的张力的状态及/或在剥离了第2分型薄膜F22之后将第2光学薄膜 压接到光学显示单元W面为止的时间，能够提高第2光学薄膜的贴合精度。如果张力小于 150N/m,则第2光学薄膜的送出位置不稳定，如果大于1000N/m，则第2分型薄膜F22有可能 延伸断裂，如果到进行压接为止的时间比3秒长，则从第2分型薄膜F22剥离的第1光学薄 膜端部有可能弯折或产生气泡。剥离后的第2分型薄膜F22被卷绕到辊。卷的卷绕控制由 控制装置控制。作为贴合机构，由按压辊和与其对置配置的引导辊构成。引导辊由被马达旋转驱 动的橡胶辊构成，被配置成能够升降。而且，在其正下方，能够升降地配置有被马达旋转驱 动的由金属辊构成的按压辊。在将光学显示单元W送入到贴合位置时，按压辊移动到下方 位置，开启辊间隔。另外，引导辊及按压辊可以都是橡胶辊，也可以都是金属辊。对将包含缺点的第2片材制品F2排除的第2排除装置进行说明。当包含缺点的 第2片材制品F2被搬送到贴合位置时，引导辊向垂直上方移动。接着，挂设有除去用薄膜 的辊子移动到引导辊的规定位置。使按压辊向垂直上方移动，将包含缺点的第2片材制品 F2压制到除去用薄膜上，使第2片材制品F2与除去用薄膜贴合，然后将除去用薄膜与包含 缺点的第2片材制品F2卷绕到辊上。通过第1、第2片材制品与光学显示单元W贴合而形成的光学显示装置，被搬送到 检查装置。检查装置对搬送来的光学显示装置的两面执行检查。光源经由半透明反射镜，垂 直照射到光学显示装置的上面，由CCD相机拍摄其反射光像来作为图像数据。而且，其他的 光源以规定角度照射光学显示装置表面，由CCD相机拍摄其反射光像来作为图像数据。光 学显示装置的相反面的检查也利用光源及CCD相机同样地执行。根据这些图像数据，对缺 点进行图像处理分析，来执行优良品判定。各个装置的动作定时，例如通过在规定的位置配置传感器来进行检测的方法计 算，或者，利用旋转编码器等检测搬送装置和搬送机构的旋转部件来计算。控制装置可以通 过软件程序和CPU、存储器等硬件资源的协同作用来实现，此时，程序软件、处理步骤、各种 设定等被预先存储于存储器。另外，可以由专用电路或固件(firmware)等构成。在上述的制造系统中，是从光学显示单元W的上面贴合第1片材制品Fl (第1光学 薄膜Fll)，从光学显示单元W的下面贴合第2片材制品F2 (第2光学薄膜F21的构成。送 风装置正下方的风力大、越向隔壁构造的底部风力越弱。这是由于各种装置部件、第1片材 制品F1、光学显示单元W、除去用薄膜妨碍了清洁空气的流动。尤其在第1片材制品Fl的 背侧，清洁空气的流动弱，有时在光学显示单元W的上面侧发生清洁空气的滞留。清洁空气 的流动越弱，其清洁度相对而言较低。由于如果清洁度低，则会蓄积尘埃、异物，所以导致光 学显示单元W的上面附着异物，因而不希望发生。(其他实施方式的制造系统)
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因此，下面对能够抑制清洁空气的滞留、以维持高的清洁度的状态将第1光学薄 膜Fll贴合到光学显示单元W上的制造系统进行说明。第1片材制品Fl以第1分型薄膜F12位于上面的状态被搬送。虽然第1检查前 剥离装置、第1缺点检查装置、第1分型薄膜贴附装置、第1切断装置各自的构成及功能与 上述相同，但因为第1分型薄膜F12的位置，它们的配置不同。第1剥离装置、第1贴合装置、第1排除装置也同样，虽然各自的构成及功能与上 述相同，但因为第1分型薄膜F12的位置，它们的配置不同。由此，由于第1片材制品Fl被 搬送到比光学显示单元W靠下部，所以可以将光学显示单元W上面侧的清洁度维持得高。而 且，虽然第1片材制品Fl的周边清洁度低，但由于在上面侧形成有被剥离的第1分型薄膜 F12，所以，即使浮游物附着于第1分型薄膜F12，贴合时附着异物的问题也少。第2片材制品F2以第2分型薄膜F22位于下面的方式被搬送。虽然第2检查前 剥离装置、第2缺点检查装置、第2分型薄膜贴附装置、第2切断装置各自的构成及功能与 上述相同，但因为第2分型薄膜F22的位置，它们的配置不同。第2剥离装置、第2贴合装置、第2排除装置也同样，虽然各自的构成及功能与上 述相同，但因为第2分型薄膜F22的位置，它们的配置不同。根据该配置，能够将光学显示单 元W上面侧的清洁度维持得高。而且，还能够将第2片材制品F2的周边清洁度维持得高。缺点检查可以采用公知的缺点检查方法。自动检查装置是自动检测片材状制品的 缺点(也被称作缺陷)的装置，其照射光，通过线性传感器或二维TV相机等摄像部取得其 反射光像、透过光像，根据取得的图像数据进行缺点检测。并且，以在光源与摄像部之间的 光路中夹设有检查用偏光滤波器的状态，取得图像数据。通常，该检查用偏光滤波器的偏光 轴(例如偏光吸收轴)被配置成，处于与作为检查对象的偏光板的偏光轴(例如偏光吸收 轴)正交的状态(交叉偏振)。通过配置成交叉偏振，如果假设不存在缺点，则从摄像部输 入整面黑色的图像，如果存在缺点，则该部分不为黑色(被识别为亮点)。因此，通过设定适 当的阈值，能够检测缺点。在这样的亮点检测中，表面附着物、内部的异物等缺点被检测为 亮点。另外，除了该亮点检测之外，还存在通过针对对象物CCD拍摄透过光图像，并进行图 像分析，来实施异物检测的方法。而且，还存在通过针对对象物CCD拍摄反射光图像，并进 行图像分析，来检测表面附着异物的方法。在上述切断工序中，针对不切断分型薄膜地将片材制品的其他部件切断的方式 (半切断方式)进行了说明。根据这样的构成，能够不切断借助粘结剂层贴合到光学薄膜上 的分型薄膜而将该光学薄膜及粘结剂层切断，在对光学显示单元进行贴合处理之前，从光 学薄膜剥离分型薄膜。即，由于作为光学薄膜的贴合面的粘结剂层能够成为在即将贴合之 前不露出的构成，所以可以防止异物混入到光学薄膜的贴合面。尤其通过不切断分型薄膜地将光学薄膜及粘结剂层切断，能够将分型薄膜作为载 置体，搬送被切断的光学薄膜及粘结剂层。因此，能够使光学薄膜的搬送装置成为更简易的 构成，从而可进一步降低光学显示装置的制造成本。(检测条件修正处理)在对光学显示单元W贴合第1光学薄膜Fll之前由第1缺点检查装置进行的缺点 检查中的缺点的检测条件，根据贴合了第1光学薄膜Fll之后进行的检查装置的检查结果 被修正。同样，在对光学显示单元W贴合第2光学薄膜F21之前由第2缺点检查装置进行的缺点检查中的缺点的检测条件，根据贴合了第2光学薄膜F21之后进行的检查装置的检查 结果被修正。即，由第1缺点检查装置及第2缺点检查装置进行的缺点检查，被反馈了检查 装置的检查结果。在进行上述反馈时，不进行基于第1切断装置及第2切断装置的跳过切 断、以及第1排除装置及第2排除装置对包含缺点的片材制品F1、F2的排除，在上述反馈结 束后再重新开始。其中，上述检测条件是例如由阈值等规定的条件，第1缺点检查装置仅在 第1光学薄膜Fll中含有的缺点满足上述检测条件的情况下将其检测为缺点，第2缺点检 查装置仅在第2光学薄膜F21中含有的缺点满足上述检测条件的情况下将其检测为缺点。图4是用于对第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24进行的缺点检查中的 缺点的检测条件被修正时的方式进行说明的框图。这里，第1缺点检查装置14及第2缺点 检查装置24构成了对被贴合到光学显示单元W之前的光学薄膜F11、F21进行检查，来检测 缺点的光学薄膜检查机构。第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24中分别设置有存 储器Ml，在该存储器Ml中存储有第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24分别对被 贴合到光学显示单元W之前的光学薄膜Fll、F21进行检查来检测缺点的检测条件的范围 (以下称为“贴合前检测条件范围”)。而且，检查装置30构成了对被贴合了光学薄膜Fll、F21的光学显示装置进行检 查，来检测缺点的光学显示装置检查机构。检查装置30中设置有存储器M2，在该存储器M2 中存储有检查装置30对被贴合了光学薄膜F11、F21的光学显示装置进行检查来检测缺点 的检测条件的范围(下面称为“贴合后检测条件范围”)。控制装置1是对光学显示装置制造系统所具备的各种装置的动作进行控制的控 制机构，通过该控制装置1所具备的CPU执行计算机程序，作为贴合控制部Ia及检测条件 修正部Ib等发挥功能。贴合控制部Ia通过控制第1切断装置16、第1贴合装置18及第1 排除装置19等，进行与光学显示单元W和第1光学薄膜Fll的贴合相关的控制。而且，贴 合控制部Ia通过控制第2切断装置26、第2贴合装置28及第2排除装置29等，进行与光 学显示单元W和第2光学薄膜F21的贴合相关的控制。检测条件修正部Ib是根据检查装置30的检查结果，对第1缺点检查装置14及第 2缺点检查装置24检测光学薄膜Fll、F21的缺点的检测条件进行修正的检测条件修正机 构。即，检测条件修正部Ib通过将反馈检查装置30的检查结果而得到的贴合前检测条件 范围，存储到第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置24的各存储器Ml中，来进行该存 储器Ml中存储的贴合前检测条件范围的修正。此时，检测条件修正部Ib将缺点检查装置 14,24的检查结果与检查装置30的检查结果进行比较，按照缺点检查装置14、24和检查装 置30提取出光学薄膜Fll、F21中的满足相同基准的缺点的方式，修改贴合前检测条件范 围。通过贴合控制部Ia的控制，切断装置16、26按照由缺点检查装置14、24根据存储 器Ml中存储的修正后的贴合前检测条件范围检测出的缺点，不包含在与光学显示单元W贴 合的区域内的方式，避开缺点部分，即通过跳过切断，将光学薄膜Fll、F21切断。排除装置 19,29通过将被切断装置16、26切断的包含缺点的光学薄膜Fll、F21排除，来排除由缺点 检查装置14、24根据修正后的贴合前检测条件范围而检测出的包含缺点的光学薄膜F11、 F21。图5是用于对检测条件修正部Ib修正前后的贴合前检测条件范围的变化进行说
18明的图。如对该图5实施了影线进行表示那样，第1缺点检查装置14及第2缺点检查装置 24的缺点检查所使用的检测条件，由以光学薄膜F11、F21中的缺点与该缺点的周围的亮度 差作为纵轴、以缺点的尺寸(面积)为横轴的坐标所规定的贴合前检测条件范围构成。检 查装置30的缺点检查所使用的检测条件，由以被贴合了光学薄膜F11、F21的光学显示装置 中的缺点与该缺点的周围的亮度差为纵轴、以缺点的尺寸(面积)为横轴的坐标所规定的 贴合后检测条件范围构成。具体而言，第1缺点检查装置14将在第1光学薄膜Fll所包含的缺点的亮度差比 规定的阈值(以下称为“亮度差阈值”)大、且尺寸比规定的阈值(以下称为“尺寸阈值”) 大的情况下，将其检测为缺点。而且，第2缺点检查装置24仅在第2光学薄膜F21所包含 的缺点的亮度差比亮度差阈值大、且尺寸比尺寸阈值大的情况下，将其检测为缺点。在图5(a)的例子中，缺点检查装置14、24对光学薄膜Fll、F21的检查结果表示 了，在贴合前检测条件范围内检测到缺点P 1 P5的情况。该图5(a)所示的贴合前检测 条件范围，是反馈检查装置30的检查结果来进行修正之前的状态。随后，该光学薄膜F11、 F21被切断为规定尺寸、贴合到光学显示单元W上，在通过检查装置30进行了缺点检查的情 况下，该检查装置30的检查结果被反馈，由检测条件修正部Ib修正贴合前检测条件范围。由缺点检查装置14、24检查的光学薄膜F11、F21、与由检查装置30检查的被贴合 到光学显示装置的光学显示单元W上的光学薄膜Fll、F21是同一薄膜。因此，如果缺点检 查装置14、24与检查装置30的缺点检查的基准(level)相同，则在任意的检查中都能够从 光学薄膜F11、F21检测出满足相同基准的缺点，在检查装置30中还能进一步检测出光学显 示单元W的缺点。但是，在该例子中，表示了由缺点检查装置14、24检测出的缺点Pl P5 中的缺点P4及P5，在检查装置30中未被检测到的情况。存在这样由缺点检查装置14、24检测出的缺点在检查装置30中未被检测到的情 况，是因为由缺点检查装置14、24进行的贴合前的缺点检查的基准，被设定得比由检查装 置30进行的贴合后的缺点检查的基准高。在这样的情况下，通过从贴合前检测条件范围中 排除与在检查装置30中无法检测到的缺点P4及P5对应的范围，来变更亮度差阈值或尺寸 阈值。在表示反馈了检查装置30的检查结果而修正后的贴合前检测条件范围的图5(b)中， 从贴合前检测条件范围中排除的范围，作为检测排出条件范围被用虚线表示。如果对修正贴合前检测条件范围时的方式更加具体地进行说明，则在由缺点检查 装置14、24检测到的缺点无法在检查装置30中检测出的情况下，以该缺点(下面称作“非 检测缺点”)的亮度差及尺寸作为基准，来修正贴合前检测条件范围。例如，当在包含非检测 缺点的亮度差的规定的亮度差范围内，由检查装置30无法检测到其他缺点时，其亮度差范 围被从贴合前检测条件范围中排除。另外，当在包含非检测缺点的尺寸的规定的尺寸范围 内，由检查装置30无法检测到其他缺点时，其尺寸范围被从贴合前检测条件范围中排除。 上述规定的亮度差范围或尺寸范围可以是包含非检测缺点的亮度差或尺寸的一定范围，也 可以是比非检测缺点的亮度差或尺寸小的所有范围。在图5的例子中，对于非检测缺点P4，在包含该缺点P4的尺寸的规定的尺寸范围 内，由检查装置30没有检测到其他的缺点，与之相对，在包含该缺点P4的亮度差的规定的 亮度差范围内，由检查装置30检测到其他的缺点P2。另外，对于非检测缺点P5也同样，在 包含该缺点P5的尺寸的规定的尺寸范围内，由检查装置30没有检测到其他的缺点，与之相对，在包含该缺点P5的亮度差的规定的亮度差范围内，由检查装置30检测到其他的缺点P 3。这样的情况下，如图5(b)所示，与非检测缺点P4及P5分别对应的上述规定的尺寸范围 被从贴合前检测条件范围中排除，而与非检测缺点P4及P5分别对应的上述规定的亮度差 范围未被从贴合前检测条件范围中排除。另外，在图5中，表示了贴合前检测条件范围由一定的亮度差阈值及一定的尺寸 阈值规定的例子，但不限于这样的构成，也可以是亮度差阈值及尺寸阈值的至少一方不是 一定值那样的构成。例如，在是相同的亮度差，但基于缺点的尺寸检测为缺点、或未检测为 缺点的情况下，与图5不同，检测条件范围不是被直线，而是被曲线或弯曲线包围的范围所 表示。而且，检测条件的修正不限于通过上述那样的方式进行的构成，也可以是通过例如采 用一次式等数学式进行运算，来修正检测条件那样的构成。并且，不限于是检测条件由缺点 的亮度差及尺寸规定的构成，也可以由其他的条件进行规定。图6是表示检查装置30的检查结果被反馈时检测条件修正部Ib的处理的一例的 流程图。当检查装置30的检查结果被反馈时，首先，判定其检查结果中是否包含非检测缺 点(步骤S101)。此时，在没有非检测缺点的情况下，S卩、由缺点检查装置14、24检测出的缺 点全部被检查装置30检测到的情况下(步骤SlOl中为否)，不修正贴合前检测条件范围而
结束处理。另一方面，在存在非检测缺点的情况下，即、由缺点检查装置14、24检测出的缺点 的一部或全部未被检查装置30检测到的情况下(步骤SlOl中为是)，将一个非检测缺点决 定为关注缺点(步骤S102)。即，在存在一个非检测缺点的情况下，该非检测缺点被决定为 关注缺点，在存在两个以上非检测缺点的情况下，任意一个非检测缺点被决定为关注缺点。然后，以关注缺点作为基准，当在包含该关注缺点(非检测缺点)的亮度差的规定 的亮度差范围内，由检查装置30没有检测到其他缺点时(步骤S103中为否)，该亮度差范 围被从贴合前检测条件范围中排除(步骤S104)。而且，当在包含该关注缺点(非检测缺 点)的尺寸的规定的尺寸范围内，由检查装置30没有检测到其他缺点时(步骤S105中为 否)，该尺寸范围被从贴合前检测条件范围中排除(步骤S106)。在存在两个以上非检测缺点的情况下，这些非检测缺点被依次决定为关注缺点， 以该关注缺点作为基准，进行步骤S103 S106的处理(检测条件修正步骤)。然后，如果 针对所有的非检测缺点结束了上述处理(步骤S107中为是)，则检测条件修正部Ib对贴合 前检测条件范围的修正结束。在该例子中，根据由检查装置30进行的对被贴合了光学薄膜F11、F21的光学显示 装置的检查结果，修正由缺点检查装置14、24进行的被贴合到光学显示单元W之前的光学 薄膜Fll、F21的检查中的缺点的检测条件，并根据该修正后的检测条件，排除由缺点检查 装置14、24检测到的包含缺点的光学薄膜Fll、F21。因此，由于能够与之后由检查装置30 进行的缺点检查的基准一致，调整由缺点检查装置14、24进行的缺点检查的基准，所以可 更良好地进行缺点检查，能够提高光学薄膜的成品率。而且，在由缺点检查装置14、24检测出的缺点由检查装置30没有检测到的情况 下，与该缺点对应的条件被从缺点检查装置14、24的检测条件中排除。因此，即使在由缺点 检查装置14、24进行的贴合前的缺点检查的基准，比由检查装置30进行的贴合后的缺点检 查的基准高的情况下，也能够防止在贴合后的缺点检查中不被检查为缺点的程度的微小缺点，在贴合前的缺点检查中被苛刻检测，因此能够更良好地进行缺点检查。不过，在上述的例子中，说明了作为对贴合前检测条件范围进行修正的检测条件 修正机构的检测条件修正部lb，被配置于与缺点检查装置14、24及检查装置30独立设置的 控制装置1的构成，但不限定于这样的构成，也可以是缺点检查装置14、24或检查装置30 中具备检测条件修正机构那样的构成。(光学薄膜的构成及制造方法的例子)首先，作为光学薄膜的一例，对偏光板进行说明。偏光板可以通过在预先制造的 聚乙烯醇系薄膜(偏光件)的单面贴合例如TAC(三乙酰基纤维素)薄膜(偏光件保护薄 膜)，在另一面贴合PET (聚对苯二甲酸乙二醇酯)薄膜而获得。偏光板的辊状卷料例如可以通过以下的制造工序来制造。作为前工序，有下述处 理㈧获得偏光件的工序。这里，将实施了染色/交链及延伸处理后的聚乙烯醇(PVA)薄 膜干燥，获得偏光件。(B)制造偏光板的工序。这里，借助粘结剂将TAC薄膜贴合到偏光件 的一面，将PET薄膜贴合到其另一面，并实施干燥，由此制造偏光板。也可以对显示装置的 称为视觉确认侧的PET薄膜预先实施防闪耀处理。(C)贴合分型薄膜(隔板)及保护薄膜 的工序。借助强粘结剂将隔板贴合到偏光板的TAC薄膜面、借助弱粘结剂将表面保护薄膜 贴合到PET薄膜面。这里，隔板被预先涂敷强粘结剂，表面保护薄膜被涂敷了弱粘结剂。对 隔板涂敷的强粘结剂是在将隔板剥离后，被转印到TAC薄膜上的。而对表面保护薄膜涂敷 的弱粘结剂，即使将表面保护薄膜剥离，也还形成于表面保护薄膜，实质上没有转印到PET 薄膜上。通过以上的前工序，制造出长条的片材状制品，其被卷绕成辊状后，提供给后工序。在该前工序(A、B、C)中，按各道工序，由检查者进行规定的检查。例如在工序㈧ 的情况下，在PVA卷料的搬送途中，检查者通过目视确认缺点(异物、污损、扭转等)。而在 工序(B)的情况下，当将得到的偏光板卷料卷绕成辊状时，检查者通过目视在辊的卷绕开 始与卷绕完毕的时刻确认缺点(异物、污损、弯结、扭转、折皱等)。并且，由缺点检查装置 (利用相机拍摄异物、污损等，通过进行图像处理来判定缺点的公知装置)自动检查贴合后 的偏光板卷料，利用监视器对缺点进行确认。并且，在工序(C)的情况下，当将得到的带状片材状制品卷料卷绕成辊状时，检查 者通过目视在辊的卷绕开始与卷绕完毕的时刻确认缺点(异物、污损、扭转等)，通过对该 缺点进行评价，来划分片材状制品卷料的等级(良、不良、可否出厂)。接着，作为后工序，进行(D)辊状卷料的切分工序。由于辊状卷料为宽幅，所以按 照作为最终制品的光学显示装置的尺寸，将辊状卷料切分为规定尺寸。可以根据辊状卷料 的宽度而省略该切分工序。接着，进行(E)辊状卷料的检查工序。这里，作为长条的片材状 制品的外观检查，利用辊式自动检查装置及/或由检查者进行目视检查。辊式自动检查装 置是利用相机拍摄卷绕不良、外观不良等，并进行图像处理来判定缺点的公知装置。在以上的工序中制造的辊状卷料被捆包、输送到下一工序的场所。另一方面，当在 同一场所进行与光学显示单元的贴合工序时，以简易的包装或保持该状态被搬送到下一工 序。通过本发明制造的光学显示装置，可以在液晶显示装置、有机EL显示装置、PDP等 图像显示装置中应用。液晶显示装置的形成能够按照以往那样进行。即，液晶显示装置一般通过适当组合液晶单元(相当于光学显示单元)、光学薄膜、及根据需要而采用的照明系统等构成部 件，并装入驱动电路等而形成，但在本发明中，除了利用光学薄膜这一点之外，没有特殊限 定地按以往方法进行。对于液晶单元，例如也采用TN型或STN型、π型等任意类型。可以形成在液晶单元的一侧或两侧配置了光学薄膜的液晶显示装置、照明系统采 用了背光灯或反射板等的适当的液晶显示装置。该情况下，光学薄膜可以设置在液晶单元 的一侧或两侧。在光学薄膜设置在两侧的情况下，它们可以相同，也可以不同。并且，在形 成液晶显示装置时，例如可以在适当位置配置1层或2层以上扩散板、防闪耀层、防反射膜、 保护板、棱镜阵列、透镜阵列片材、光扩散板、背光灯等适当部件。液晶显示装置可以形成为将光学薄膜配置在液晶单元的一侧或两侧而成的透过 型、反射型、或透过反射两用型的参照以往的适当构造。因此，形成液晶显示装置的液晶 单元是任意的，例如可以使用薄膜晶体管型所代表的有源矩阵驱动型等适当类型的液晶单兀。另外，当在液晶单元的两侧设置偏光板、光学部件时，它们可以是相同的部件，也 可以是不同的部件。并且，在形成液晶显示装置时，例如可以在适当的位置配置1层或2层 以上的棱镜阵列片材、透镜阵列片材、光扩散板、背光灯等适当部件。
2权利要求
一种光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置，其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果，修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排除的排除机构。
2.根据权利要求1所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，具备切断机构，该切断机构按照由所述光学薄膜检查机构根据修正后的所述检测条件 检测出的缺点，不包含在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所述光学 薄膜切断，所述排除机构将被所述切断机构切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。
3.根据权利要求1或2所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，所述检测条件修正机构将所述光学薄膜检查机构的检查结果与所述光学显示装置检 查机构的检查结果进行比较，按照所述光学薄膜检查机构与所述光学显示装置检查机构提 取出光学薄膜中的满足相同基准的缺点的方式，修正所述检测条件。
4.根据权利要求1 3中任意一项所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，所述光学薄膜检查机构只在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情况下， 将其检测为缺点，在该光学薄膜检查机构检测出的缺点未被所述光学显示装置检查机构检测到的情况 下，所述检测条件修正机构将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。
5.根据权利要求1 4中任意一项所述的光学显示装置制造系统，其特征在于，所述检测条件由所述光学薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的大小来规定。
6.一种光学显示装置制造方法，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料 送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置， 其特征在于，具备对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行检查，来检测缺点的光学薄膜检 查步骤；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行检查，来检测缺点的光学显示装置检 查步骤；根据所述光学显示装置检查步骤的检查结果，修正通过所述光学薄膜检查步骤对所述 光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正步骤；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查步骤检测到的缺点的光学薄 膜排除的排除步骤。
7.根据权利要求6所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，具备切断步骤，在该切断步骤中，按照由所述光学薄膜检查步骤根据修正后的所述检 测条件检测出的缺点，不包含在与光学显示单元贴合的区域内的方式，避开缺点部分将所 述光学薄膜切断，在所述排除步骤中，将通过所述切断步骤被切断的包含所述缺点的光学薄膜排除。
8.根据权利要求6或7所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，在所述检测条件修正步骤中，将所述光学薄膜检查步骤的检查结果与所述光学显示装 置检查步骤的检查结果进行比较，按照在所述光学薄膜检查步骤与所述光学显示装置检查 步骤中提取出光学薄膜中的满足相同基准的缺点的方式，修正所述检测条件。
9.根据权利要求6 8中任意一项所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，在所述光学薄膜检查步骤中，只在所述光学薄膜中包含的缺点满足所述检测条件的情 况下，将其检测为缺点，在所述检测条件修正步骤中，当通过该光学薄膜检查步骤检测出的缺点未被所述光学 显示装置检查步骤检测到时，将与该缺点对应的条件从所述检测条件中排除。
10.根据权利要求6 9中任意一项所述的光学显示装置制造方法，其特征在于，所述检测条件由所述光学薄膜中的所述缺点与该缺点的周围的亮度差、及所述缺点的 大小规定。
全文摘要
本发明提供一种能够更好地进行缺点检查的光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法。根据由检查装置(30)进行的对被贴合了光学薄膜的光学显示装置的检查结果，修正由缺点检查装置(14、24)进行的被贴合到光学显示单元之前的光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由缺点检查装置(14、24)根据该修正后的检测条件检测出的缺点的光学薄膜排除。由此，由于能够按照之后由检查装置(30)进行的缺点检查的基准，调整由缺点检查装置(14、24)进行的缺点检查的基准，所以可以更好地进行缺点检查，能够提高光学薄膜的成品率。
文档编号G09F9/00GK101965605SQ20098010829
公开日2011年2月2日 申请日期2009年4月10日 优先权日2008年4月14日
发明者中园拓矢, 北田和生, 小盐智, 由良友和 申请人:日东电工株式会社
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