Gip面板的测试结构的制作方法
专利名称：Gip面板的测试结构的制作方法
技术领域：
本实用新型是关于一种测试面板的架构，特别是针对具有双边栅极驱动的GIP面板的测试架构，可降低面板的测试成本。
背景技术：
为了降低显示器面板的成本，面板制造商逐渐将面板上的栅极驱动电路直接作在面板上，因此在组装面板时不需要再额外购买栅极驱动IC。此种不需要栅极驱动IC的面板称之为GIP (gate in panel)面板，或称为无栅极(gateless)面板。一般较大尺寸或解度较高的GIP面板，其面板上的栅极驱动电路会作在面板基板的左右两侧，分别可驱动面板上的奇数栅极线与偶数栅极线，或者，此左右两侧的驱动电路各驱动面板上左右各半边的栅极线。传统上，在测试此种GIP面板100时，其测试流程如图1所示，先驱动左侧的奇数栅极线，以测试面板中一半的像素101，然后再驱动右侧的偶数栅极线，以测试面板中另一半的像素102，最后再整合这两半的像素数据以得到完整的面板点缺分布103。此种传统的方式若要同时驱动左右两侧的栅极驱动电路，则需要两套的测试设备，尤其是测试设备中的测试信号产生器。在大量生产的情况之下，测试每一面板需要两个测试信号产生器，使得测试极为不经济。若是只使用一个测试信号产生器，则必须在测完一半的面板像素后，拆卸测试设备，然后再测试另一半的像素；如此的做法，将使执行测试的时间变长，故不论以上述的何种方式，均无法有效降低测试成本。因此本实用新型公开一种新的测试架构与方法，针对具有双边栅极驱动的GIP面板，减少测试设备的需求，进而降低测试成本。
实用新型内容本实用新型是提出一种测试GIP面板的架构与方法，较于传统方法，应用本实用新型可节省执行测试时所需的测试设备。本实用新型的GIP面板的测试结构，包含有一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路。该第一片基板可为显示器面板之上基板或下基板，该基板上的栅极驱动电路可被设置为具有移位缓存器功能，而得以分时启动 (activate)基板上的该些栅极线。在测试该显示器面板时，该复数个串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由第一栅极驱动电路，经过该复数个串接衬垫与该测试系统，而传送到第二栅极驱动电路。相反地，该复数个串接衬垫亦可被设计为与第二栅极驱动电路电性连接，然后于测试显示器面板时，再由该测试系统电性连接至第一栅极驱动电路。该测试系统包含有一探针治具，该探针治具上有一控制线路与复数个探针，于执
3行测试时，该控制线路可将基板上该复数个串接衬垫电性连接到第二栅极驱动电路；该测试系统上的复数个探针可分别与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路与该复数个串接衬垫电性连接；一针测机台，该针测机台装载着该探针治具，并控制该探针治具与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路及该复数个串接衬垫的电性连接；一信号产生器，用以产生包含有一频率信号、一频率的反相信号、一启动信号、一参考电压信号与复数个电压脉冲信号等测试信号。执行本实用新型的GIP面板测试方法，包含有使用上述的显示器面板的该第一片基板，及使用上述的该测试系统；于测试动作时，该针测机台控制其所装置的探针治具， 使该探针治具上的复数个探针分别与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、该复数个串接衬垫电性连接；其中该复数个串接衬垫会经由该探针治具上的控制线路电性连接至第二栅极驱动电路；故当测试系统中的信号产生器送一测试信号到第一栅极驱动电路后，该电路会分时依序逐条启动栅极线，直到该电路所控制的最后一条栅极线时，该测试信号会被传送到第一片基板上的复数个串接衬垫、然后由探针治具上的复数个探针与控制线路传送到第二栅极驱动电路，该驱动电路也同样分时依序逐条启动其所控制的栅极线，直到测试完成。在执行测试显示器面板时，其第一片基板上的第一栅极驱动电路与第二栅极驱动电路会先被设置为具有移位缓存器功能；为避免模糊本实用新型的焦点，不在此赘叙移位缓存器的原理与详细功能；其结果是该测试信号可经由第一栅极驱动电路与第二栅极驱动电路分时依序启动显示器面板上的复数条栅极线。所谓分时依序启动是指栅极驱动电路可以如移位缓存器的功能，以一频率(Clock)启动某一条栅极线，逐条启动，直到扫过所有的栅极线。正当该第一基板上的某一条栅极线被启动的期间内，信号产生器可以对该基板上的复数条源极线送出电压脉冲信号(pulse)，以对该条栅极线上的每一像素输入一电压； 由于栅极驱动电路分时依序逐条启动该些栅极线直到扫过所有的栅极线，故面板上的每一个像素均可经由该些源极线被输入电压。于完成对每一像素输入电压之后，如同上述的方式再由栅极驱动电路分时依序启动该基板上的复数条栅极线，当某一条栅极线被启动的期间内，可读取该复数条源极线的电压；以此方式读取所有像素的电压值，而得用以分析该显示器面板的缺陷分布。
图1是说明一 GIP显示器面板的传统测试方式。图2是说明一基板具有左右两侧的栅极驱动电路，复数条栅极线与复数条源极线。图3是说明移位缓存器的电路架构与功能。图4是说明本实用新型的测试架构。
具体实施方式
本实用新型将以较佳的实施例及观点加以详细叙述，而此类叙述是解释本实用新型的结构，只用以说明而非用以限制本实用新型的申请专利范围。因此，除说明书中的较佳实施例之外，本实用新型亦可广泛实行于其它实施例。本实用新型是公开一种GIP面板的测试结构与方法，尤其是应用在一种具有两侧栅极驱动的GIP面板，应用本实用新型的测试架构与方法可节省测试设备。准备一显示器面板，一般面板包含有上下两片基板，基板的材质为可透光材料，如玻璃。如图2所示，在此面板的其中一片基板200的两侧具有栅极驱动电路，以下将左右两侧的栅极驱动电路分别称为第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203。此外，在基板 200上还具有数条横向可导电的驱动线，在此称为栅极线210，以及具有数条纵向可导电的驱动线，在此称为源极线220。在栅极线210与源极线220相交的地方为显示器面板的一个像素，经由控制栅极线与源极线的电压即可控制该像素。第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203可启动(activate)基板200上的栅极线210，当某一条栅极线210被启动的期间，若与该条栅极线相交的纵向源极线220输入电压信号，则可以控制该像素的电压值；以上述的栅极线控制方式，亦可由源极线读出该像素的电压值。在本实施例中，第一栅极驱动电路201可启动奇数的栅极线，而第二栅极驱动电路203则可启动偶数的栅极线，故第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203的总和可以驱动基板上全数的栅极线210。在另一实例中亦可由第一栅极驱动电路201控制偶数的栅极线，由第二栅极驱动电路203控制奇数的栅极线。在另一实施例中，基板200中的栅极线在该基板的中线部位被分为左右两半，以第一栅极驱动电路201控制其中一半的栅极线(举例为左半部)，由第二栅极驱动电路203 控制另一半的栅极线(举例为右半部)。在测试显示器面板时，第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203可被设置成移位缓存器300，如图3所示。为避免模糊本实用新型的焦点，在此不赘叙移位缓存器的动作原理。当第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203被设置成移位缓存器300时， 只要对此第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203输入一频率信号CK 311与一启动信号Vst 312，则第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203则可分时依序产生如图 3所示的OUTl 313、0UT2 314与0UT3 315等脉冲信号，用以分时依序启动栅极线210。然由于第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203未电性连接，故测试此基板200时，必须分别输入启动信号Vst 312给第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203，才能够启动基板200上全数的栅极线210。在一实施例中，如图4所示，准备一上述的基板200，在此基板上制作复数个串接衬垫250，该些串接衬垫250与第一栅极驱动电路201电性连接，用以准备传送由该驱动电路201过来的信号。准备一测试系统，该系统包含有一信号产生器40，一针测机台(Probe Station)(未绘示于图中)，一探针治具50。信号产生器40可产生包含有频率信号(CK)，频率的反相信号(/CK)，启动信号 (Vst)，参考电压信号(Vg)，及复数个电压脉冲信号(Pulse)(未绘示于图中)。该针测机台可控制探针治具的行动，而探针治具50上有复数个探针，用以跟第一栅极驱动电路201、第二栅极驱动电路203、串接衬垫250，及执行测试所必要的接触点电性连接。探针治具上另有一控制线路，可在执行测试时，将串接衬垫250电性连接到第二栅极驱动电路203 (原本串接衬垫250与第二栅极驱动电路203呈断路状态)。执行显示器面板测试时，基板200上的第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203已被设置为具有移位缓存器功能。信号产生器40透过针测机台、探针治具将测试信号传送到第一栅极驱动电路201，该驱动电路201将依序以一个频率(clock)启动一条奇数的栅极线。当第一栅极驱动电路201启动基板上最后一条奇数的栅极线时，该测试信号会传送到串接衬垫250，并经由探针治具上的控制线路传送到第二栅极驱动电路203，开始依序启动偶数的栅极线，直到启动最后一条偶数的栅极线为止。以上述方式测试显示器面板，对于有左右两侧栅极驱动电路的基板，只需要使用一套信号产生器40，就可完成测试显示器面板测试。以下补充说明本实施例更详细的测试细节在上述第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203启动某一条栅极线210的期间内，可由信号产生器40或其它的测试设备分别输入一电压脉冲信号(pulse)至每一条源极线220，以对该条栅极线上的每一个像素输入一电压；由于栅极线210被分时依序逐条启动，故显示器面板上的每一个像素均可被输入一个电压。所谓分时依序逐条启动的方式是如同图3所示的移位缓存器300的动作方法，也就是以一个频率，输入一电压脉冲信号至某一条栅极线，直到扫完所有的栅极线。测试执行完毕之后，再以上述相同的方式分时依序启动栅极线210，然后依序读取每一条源极线220的电压值，即可知道整片显示器板上的像素缺陷分布。上述叙述为本实用新型的较佳实施例。此领域的技艺者应得以领会其是用以说明本实用新型而非用以限定本实用新型所主张的专利权利范围。其专利保护范围当视前述的申请专利范围及其等同领域而定。凡熟悉此领域的技艺者，在不脱离本专利精神或范围内， 所作的更动或润饰，均属于本实用新型所揭示精神下所完成的等效改变或设计，且应包含在上述的申请专利范围内。
权利要求1.一种GIP面板的测试结构，其特征在于，包含有一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。
2.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该显示器面板包含有一上基板与一下基板，该第一片基板可为该上基板或为该下基板。
3.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该些串接衬垫可被设计为与该第二栅极驱动电路电性连接，然后于测试该显示器面板时，再由该测试系统电性连接至该第一栅极驱动电路。
4.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该测试系统包含有一探针治具，该探针治具上有一控制线路与复数个探针，于执行测试时，而该些探针可各与该第一栅极驱动电路、该第二栅极驱动电路与该些串接衬垫电性连接；一针测机台，该针测机台装载着该探针治具，并控制该探针治具与该第一栅极驱动电路、该第二栅极驱动电路、及该些串接衬垫的电性连接；一信号产生器，用以产生该测试信号。
5.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该控制线路可将该些串接衬垫电性连接至该第二栅极驱动电路。
6.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该信号产生器可产生包含有一频率信号；一频率的反相信号；一启动信号；一参考电压信号；复数个电压脉冲信号。
7.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该些串接衬垫会经由该探针治具上的该控制线路电性连接至该第二栅极驱动电路；使该信号产生器能送一测试信号到该第一栅极驱动电路；该测试信号会再经由该些串接衬垫、该些探针与该控制线路传送到该第二栅极驱动电路。
专利摘要本实用新型公开一种GIP面板的测试结构，包含有一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。本实用新型经由在面板上设计一些串接衬垫与在探针治具上设计一控制线路，可减少测试面板所需要的测试设备，进而降低测试成本。
文档编号G09G3/00GK202042156SQ20102060347
公开日2011年11月16日 申请日期2010年11月9日 优先权日2010年11月9日
发明者吴启文, 李明泉, 黄世豪 申请人:中华映管股份有限公司, 华映视讯(吴江)有限公司
技术领域：
本实用新型是关于一种测试面板的架构，特别是针对具有双边栅极驱动的GIP面板的测试架构，可降低面板的测试成本。
背景技术：
为了降低显示器面板的成本，面板制造商逐渐将面板上的栅极驱动电路直接作在面板上，因此在组装面板时不需要再额外购买栅极驱动IC。此种不需要栅极驱动IC的面板称之为GIP (gate in panel)面板，或称为无栅极(gateless)面板。一般较大尺寸或解度较高的GIP面板，其面板上的栅极驱动电路会作在面板基板的左右两侧，分别可驱动面板上的奇数栅极线与偶数栅极线，或者，此左右两侧的驱动电路各驱动面板上左右各半边的栅极线。传统上，在测试此种GIP面板100时，其测试流程如图1所示，先驱动左侧的奇数栅极线，以测试面板中一半的像素101，然后再驱动右侧的偶数栅极线，以测试面板中另一半的像素102，最后再整合这两半的像素数据以得到完整的面板点缺分布103。此种传统的方式若要同时驱动左右两侧的栅极驱动电路，则需要两套的测试设备，尤其是测试设备中的测试信号产生器。在大量生产的情况之下，测试每一面板需要两个测试信号产生器，使得测试极为不经济。若是只使用一个测试信号产生器，则必须在测完一半的面板像素后，拆卸测试设备，然后再测试另一半的像素；如此的做法，将使执行测试的时间变长，故不论以上述的何种方式，均无法有效降低测试成本。因此本实用新型公开一种新的测试架构与方法，针对具有双边栅极驱动的GIP面板，减少测试设备的需求，进而降低测试成本。
实用新型内容本实用新型是提出一种测试GIP面板的架构与方法，较于传统方法，应用本实用新型可节省执行测试时所需的测试设备。本实用新型的GIP面板的测试结构，包含有一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路。该第一片基板可为显示器面板之上基板或下基板，该基板上的栅极驱动电路可被设置为具有移位缓存器功能，而得以分时启动 (activate)基板上的该些栅极线。在测试该显示器面板时，该复数个串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由第一栅极驱动电路，经过该复数个串接衬垫与该测试系统，而传送到第二栅极驱动电路。相反地，该复数个串接衬垫亦可被设计为与第二栅极驱动电路电性连接，然后于测试显示器面板时，再由该测试系统电性连接至第一栅极驱动电路。该测试系统包含有一探针治具，该探针治具上有一控制线路与复数个探针，于执
3行测试时，该控制线路可将基板上该复数个串接衬垫电性连接到第二栅极驱动电路；该测试系统上的复数个探针可分别与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路与该复数个串接衬垫电性连接；一针测机台，该针测机台装载着该探针治具，并控制该探针治具与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路及该复数个串接衬垫的电性连接；一信号产生器，用以产生包含有一频率信号、一频率的反相信号、一启动信号、一参考电压信号与复数个电压脉冲信号等测试信号。执行本实用新型的GIP面板测试方法，包含有使用上述的显示器面板的该第一片基板，及使用上述的该测试系统；于测试动作时，该针测机台控制其所装置的探针治具， 使该探针治具上的复数个探针分别与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、该复数个串接衬垫电性连接；其中该复数个串接衬垫会经由该探针治具上的控制线路电性连接至第二栅极驱动电路；故当测试系统中的信号产生器送一测试信号到第一栅极驱动电路后，该电路会分时依序逐条启动栅极线，直到该电路所控制的最后一条栅极线时，该测试信号会被传送到第一片基板上的复数个串接衬垫、然后由探针治具上的复数个探针与控制线路传送到第二栅极驱动电路，该驱动电路也同样分时依序逐条启动其所控制的栅极线，直到测试完成。在执行测试显示器面板时，其第一片基板上的第一栅极驱动电路与第二栅极驱动电路会先被设置为具有移位缓存器功能；为避免模糊本实用新型的焦点，不在此赘叙移位缓存器的原理与详细功能；其结果是该测试信号可经由第一栅极驱动电路与第二栅极驱动电路分时依序启动显示器面板上的复数条栅极线。所谓分时依序启动是指栅极驱动电路可以如移位缓存器的功能，以一频率(Clock)启动某一条栅极线，逐条启动，直到扫过所有的栅极线。正当该第一基板上的某一条栅极线被启动的期间内，信号产生器可以对该基板上的复数条源极线送出电压脉冲信号(pulse)，以对该条栅极线上的每一像素输入一电压； 由于栅极驱动电路分时依序逐条启动该些栅极线直到扫过所有的栅极线，故面板上的每一个像素均可经由该些源极线被输入电压。于完成对每一像素输入电压之后，如同上述的方式再由栅极驱动电路分时依序启动该基板上的复数条栅极线，当某一条栅极线被启动的期间内，可读取该复数条源极线的电压；以此方式读取所有像素的电压值，而得用以分析该显示器面板的缺陷分布。
图1是说明一 GIP显示器面板的传统测试方式。图2是说明一基板具有左右两侧的栅极驱动电路，复数条栅极线与复数条源极线。图3是说明移位缓存器的电路架构与功能。图4是说明本实用新型的测试架构。
具体实施方式
本实用新型将以较佳的实施例及观点加以详细叙述，而此类叙述是解释本实用新型的结构，只用以说明而非用以限制本实用新型的申请专利范围。因此，除说明书中的较佳实施例之外，本实用新型亦可广泛实行于其它实施例。本实用新型是公开一种GIP面板的测试结构与方法，尤其是应用在一种具有两侧栅极驱动的GIP面板，应用本实用新型的测试架构与方法可节省测试设备。准备一显示器面板，一般面板包含有上下两片基板，基板的材质为可透光材料，如玻璃。如图2所示，在此面板的其中一片基板200的两侧具有栅极驱动电路，以下将左右两侧的栅极驱动电路分别称为第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203。此外，在基板 200上还具有数条横向可导电的驱动线，在此称为栅极线210，以及具有数条纵向可导电的驱动线，在此称为源极线220。在栅极线210与源极线220相交的地方为显示器面板的一个像素，经由控制栅极线与源极线的电压即可控制该像素。第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203可启动(activate)基板200上的栅极线210，当某一条栅极线210被启动的期间，若与该条栅极线相交的纵向源极线220输入电压信号，则可以控制该像素的电压值；以上述的栅极线控制方式，亦可由源极线读出该像素的电压值。在本实施例中，第一栅极驱动电路201可启动奇数的栅极线，而第二栅极驱动电路203则可启动偶数的栅极线，故第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203的总和可以驱动基板上全数的栅极线210。在另一实例中亦可由第一栅极驱动电路201控制偶数的栅极线，由第二栅极驱动电路203控制奇数的栅极线。在另一实施例中，基板200中的栅极线在该基板的中线部位被分为左右两半，以第一栅极驱动电路201控制其中一半的栅极线(举例为左半部)，由第二栅极驱动电路203 控制另一半的栅极线(举例为右半部)。在测试显示器面板时，第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203可被设置成移位缓存器300，如图3所示。为避免模糊本实用新型的焦点，在此不赘叙移位缓存器的动作原理。当第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203被设置成移位缓存器300时， 只要对此第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203输入一频率信号CK 311与一启动信号Vst 312，则第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203则可分时依序产生如图 3所示的OUTl 313、0UT2 314与0UT3 315等脉冲信号，用以分时依序启动栅极线210。然由于第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203未电性连接，故测试此基板200时，必须分别输入启动信号Vst 312给第一栅极驱动电路201与第二栅极驱动电路203，才能够启动基板200上全数的栅极线210。在一实施例中，如图4所示，准备一上述的基板200，在此基板上制作复数个串接衬垫250，该些串接衬垫250与第一栅极驱动电路201电性连接，用以准备传送由该驱动电路201过来的信号。准备一测试系统，该系统包含有一信号产生器40，一针测机台(Probe Station)(未绘示于图中)，一探针治具50。信号产生器40可产生包含有频率信号(CK)，频率的反相信号(/CK)，启动信号 (Vst)，参考电压信号(Vg)，及复数个电压脉冲信号(Pulse)(未绘示于图中)。该针测机台可控制探针治具的行动，而探针治具50上有复数个探针，用以跟第一栅极驱动电路201、第二栅极驱动电路203、串接衬垫250，及执行测试所必要的接触点电性连接。探针治具上另有一控制线路，可在执行测试时，将串接衬垫250电性连接到第二栅极驱动电路203 (原本串接衬垫250与第二栅极驱动电路203呈断路状态)。执行显示器面板测试时，基板200上的第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203已被设置为具有移位缓存器功能。信号产生器40透过针测机台、探针治具将测试信号传送到第一栅极驱动电路201，该驱动电路201将依序以一个频率(clock)启动一条奇数的栅极线。当第一栅极驱动电路201启动基板上最后一条奇数的栅极线时，该测试信号会传送到串接衬垫250，并经由探针治具上的控制线路传送到第二栅极驱动电路203，开始依序启动偶数的栅极线，直到启动最后一条偶数的栅极线为止。以上述方式测试显示器面板，对于有左右两侧栅极驱动电路的基板，只需要使用一套信号产生器40，就可完成测试显示器面板测试。以下补充说明本实施例更详细的测试细节在上述第一栅极驱动电路201和第二栅极驱动电路203启动某一条栅极线210的期间内，可由信号产生器40或其它的测试设备分别输入一电压脉冲信号(pulse)至每一条源极线220，以对该条栅极线上的每一个像素输入一电压；由于栅极线210被分时依序逐条启动，故显示器面板上的每一个像素均可被输入一个电压。所谓分时依序逐条启动的方式是如同图3所示的移位缓存器300的动作方法，也就是以一个频率，输入一电压脉冲信号至某一条栅极线，直到扫完所有的栅极线。测试执行完毕之后，再以上述相同的方式分时依序启动栅极线210，然后依序读取每一条源极线220的电压值，即可知道整片显示器板上的像素缺陷分布。上述叙述为本实用新型的较佳实施例。此领域的技艺者应得以领会其是用以说明本实用新型而非用以限定本实用新型所主张的专利权利范围。其专利保护范围当视前述的申请专利范围及其等同领域而定。凡熟悉此领域的技艺者，在不脱离本专利精神或范围内， 所作的更动或润饰，均属于本实用新型所揭示精神下所完成的等效改变或设计，且应包含在上述的申请专利范围内。
权利要求1.一种GIP面板的测试结构，其特征在于，包含有一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。
2.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该显示器面板包含有一上基板与一下基板，该第一片基板可为该上基板或为该下基板。
3.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该些串接衬垫可被设计为与该第二栅极驱动电路电性连接，然后于测试该显示器面板时，再由该测试系统电性连接至该第一栅极驱动电路。
4.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该测试系统包含有一探针治具，该探针治具上有一控制线路与复数个探针，于执行测试时，而该些探针可各与该第一栅极驱动电路、该第二栅极驱动电路与该些串接衬垫电性连接；一针测机台，该针测机台装载着该探针治具，并控制该探针治具与该第一栅极驱动电路、该第二栅极驱动电路、及该些串接衬垫的电性连接；一信号产生器，用以产生该测试信号。
5.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该控制线路可将该些串接衬垫电性连接至该第二栅极驱动电路。
6.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该信号产生器可产生包含有一频率信号；一频率的反相信号；一启动信号；一参考电压信号；复数个电压脉冲信号。
7.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该些串接衬垫会经由该探针治具上的该控制线路电性连接至该第二栅极驱动电路；使该信号产生器能送一测试信号到该第一栅极驱动电路；该测试信号会再经由该些串接衬垫、该些探针与该控制线路传送到该第二栅极驱动电路。
专利摘要本实用新型公开一种GIP面板的测试结构，包含有一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。本实用新型经由在面板上设计一些串接衬垫与在探针治具上设计一控制线路，可减少测试面板所需要的测试设备，进而降低测试成本。
文档编号G09G3/00GK202042156SQ20102060347
公开日2011年11月16日 申请日期2010年11月9日 优先权日2010年11月9日
发明者吴启文, 李明泉, 黄世豪 申请人:中华映管股份有限公司, 华映视讯(吴江)有限公司
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