有机el显示装置的显示方法和有机el显示装置的制作方法
专利名称：有机el显示装置的显示方法和有机el显示装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种有机EL(电致发光)显示装置的显示方法和有机EL显示装置。
背景技术：
作为使用了电流驱动型的发光元件的图像显示装置，使用了有机EL元件(0LED Organic Light Emitting Diode)的图像显示装置(有机EL显示器)为公众所知。该有机 EL显示器具有视角特性良好、功耗少的优点，因此作为下一代的FPD(Flat Panal Display, 平板显示器)的候选而受到关注。在有机EL显示器中，通常构成像素的有机EL元件被配置成矩阵状。在多个行电极(扫描线)和多个列电极(数据线)的交点设置有机EL元件、以在选择出的行电极和多个列电极之间施加与数据信号相当的电压的方式驱动有机EL元件的有机EL显示器被称为无源矩阵型有机EL显示器。另一方面，在多条扫描线和多条数据线的交点设置薄膜晶体管(TFT:Thin Film Transistor)，在该TFT上连接驱动晶体管的栅极，通过选择出的扫描线使该TFT导通，从数据线将数据信号输入到驱动晶体管，通过该驱动晶体管驱动有机EL元件的有机EL显示器被称为有源矩阵型有机EL显示器。与仅在选择各行电极(扫描线)的期间、连接于该行电极的有机EL元件进行发光的无源矩阵型有机EL显示器不同，在有源矩阵型有机EL显示器中，能够使有机EL 元件发光到下一次扫描(选择)，因此，即使扫描线数量上升也不会导致显示器的辉度 (brightness)减少。因此，能够以低电压进行驱动，所以能够实现低功耗化。但是，在有源矩阵型有机EL显示器中，由于在制造工序中产生的驱动晶体管和/或有机EL元件的特性不勻，有时即使提供相同的数据信号，在各像素中有机EL元件的辉度也会不同，将会产生条纹、斑块等的辉度不勻。针对此问题提出了如下的修正方法，即对于在有机EL显示器中产生的条纹、斑块，通过对图像信号(数据信号)进行修正，从而将与供给至各像素的图像信号对应的有机 EL元件的辉度修正为预定的基准辉度(例如，专利文献1)。在专利文献1的修正方法中，通过对有机EL显示器的每个像素至少进行3个灰度等级以上的辉度分布或电流分布的测定，从而能够求出用于将与供给至各像素的图像信号对应的有机EL元件的辉度修正为预定的基准辉度的修正参数、即增益和偏移量(offset)。在先技术文献专利文献1 日本特开2004-101143号公报
发明内容
但是，在以往的修正方法中，存在以下说明的问题。以往，作为修正参数的计算方法，例如具有使用最小二乘法求出作为修正参数的增益和偏移量的方法。在使用该最小二乘法的方法中，针对各像素进行多个灰度等级的辉度测定，基于在各测定中取得的各像素的辉度与代表电压-辉度特性的辉度差，通过预定的运算方法求出增益和偏移量。作为一例，如图1所示，针对某像素测定电压Vl V6这6 点的辉度Ll L6，作为修正参数而求出Vxl Vx6。但是，在使用例如最小二乘法的修正方法中，其性质上需要以至少3个灰度等级以上、优选5个灰度等级以上的灰度等级数进行各像素的辉度测定，存在从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止要花费时间的问题。特别是，在低灰度等级侧的辉度测定中需要特别长的时间。其结果，会产生从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍(tact)变长的问题。另外，在有机EL显示器中，具有在低灰度等级下容易产生条纹状的辉度不均等的性质。对于人眼而言，低灰度等级侧的辉度差比高灰度等级侧的辉度差更容易识别。因此， 最好是低灰度等级侧的修正精度高于高灰度等级侧的修正精度。但是，通常情况下，代表电压-辉度特性与各像素的电压-辉度特性的辉度差越是在高灰度等级侧就越大，在最小二乘法中，以使该高灰度等级侧的辉度差变为最小的方式通过运算同时求出增益和偏移量， 因此虽然能够减小高灰度等级侧的修正误差，但是也还是会出现低灰度等级侧的修正误差与高灰度等级侧的修正误差相比变大的问题。本发明是鉴于上述情况而做出的发明，其目的在于提供一种有机EL显示装置的显示方法和有机EL显示装置，其能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。为了实现上述目的，本发明的有机EL显示装置的制造方法是具有显示面板、并在所述显示面板所使用的预定的存储单元中存储修正参数的有机EL显示装置的制造方法， 包括第1步骤，准备具有多个像素单元的电路基板，所述像素单元包括电压驱动的驱动元件、和电容器，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极连接；第2步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出所述电容器所保持的所述对应电压；第3步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的对应电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述显示面板所使用的所述预定的存储单元中；第4步骤，准备具有所述电路基板、并且所述电路基板所包括的各像素单元具有通过所述驱动元件的驱动电流而发光的发光元件的所述显示面板；第5步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第6步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第7 步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2 测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第8步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数为使在所述第7步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数；以及第9步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述预定的存储单元中。根据本发明，能够实现能缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍的有机EL显示装置及其显示方法。具体而言，能够通过TFT基板的Vt测定和1个灰度等级的辉度测定这仅仅两次的测定来确定外部修正参数，并且在辉度测定中只进行高辉度部分的测定。由此，能够缩短辉度测定的节拍，使测定节拍变得非常短。
图1是用于说明求出修正参数的现有方法的图。图2是表示组装为显示面板之前的电路基板和测定该电路基板的阵列测试器的结构的框图。图3是表示显示单元具有的一个像素单元的电路结构的图。图4是表示本发明实施方式的像素单元的工作的定时图。图5是用于说明本发明实施方式的像素单元的写入期间TlO的工作的图。图6是用于说明本发明实施方式的像素单元的Vth检测期间T20的工作的图。图7是用于说明在Vth检测后保持在保持电容器中的电压的图。图8是用于说明本发明实施方式的像素单元的读出期间T30的工作的图。图9是用于说明第1修正参数计算处理的流程图。图10是表示显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。图11是有机EL显示装置具有的控制电路的功能结构图。图12是表示本实施方式的控制单元的功能结构图的一例的图。图13是表示预定的像素单元的电压-辉度特性与代表电压-辉度特性的图。图14是用于说明本实施方式的代表电压-辉度特性、高灰度等级域和低灰度等级域的图。图15是表示在本实施方式的辉度测定系统中计算第2修正参数的工作的一例的流程图。图16是示意地说明S24的图。图17是示意地说明S26的图。图18是用于说明本实施方式的修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理的图。图19是表示第1修正参数计算处理(Si)和第2修正参数计算处理(S》的流程图。图20是表示本实施方式的变形例的显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。图21是表示本实施方式的变形例的修正参数确定装置50确定修正参数的工作的一例的流程图。标号说明10像素单元11扫描线驱动电路12数据线驱动电路13输入输出端子20数据线21扫描线
23合并线
M高电压侧电源线
25低电压侧电源线
26基准电压电源线
27复位线
40有机EL显示装置
41控制电路
42控制单元
43存储单元
43a修正参数表
50修正参数确定装置
51测定控制单元
52修正参数计算单元
53区域划分单元
60测定装置
100显示面板
105显示单元
200阵列测试器
221电流测定单元
222通信单元
421乘法单元
422加法单元
具体实施例方式
第1方式的有机EL显示装置的制造方法是具有显示面板、并在所述显示面板所使用的预定的存储单元中存储修正参数的有机EL显示装置的制造方法，包括第1步骤，准备具有多个像素单元的电路基板，所述像素单元包括电压驱动的驱动元件、和电容器，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极连接；第 2步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出所述电容器所保持的所述对应电压；第3步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的对应电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述显示面板所使用的所述预定的存储单元中；第4步骤，准备具有所述电路基板、并且所述电路基板所包括的各像素单元具有通过所述驱动元件的驱动电流而发光的发光元件的所述显示面板；第5步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第6步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第7步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第8步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数为使在所述第7步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数；以及第9步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述预定的存储单元中。根据本方式，首先，使成为对象的像素所包括的电容器保持所述驱动元件的阈值电压，使用第1测定装置求出保持在所述电容器中的阈值电压。然后，将所述求出的阈值电压作为所述成为对象的像素的第1修正参数而存储在用于所述显示面板的预定的存储单元中。由此，上述的低灰度等级侧的辉度差会对所述驱动元件的阈值电压的不勻产生影响， 因此通过将所述阈值电压作为修正参数使用，从而能够在低灰度等级域中使从各像素发光的辉度与所述代表电压-辉度特性一致。接着，求出对属于中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述第1修正参数而得到的预定的电压，将所述预定的电压施加于所述成为对象的像素所包括的驱动元件，进行第2次的辉度测定。即，通过将作为所述驱动元件的阈值电压的第1修正参数加在属于所述中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压上，从而能够在使低灰度等级域的辉度与所述代表电压-辉度特性一致的状态下进行中灰度等级域或高灰度等级域中的辉度测定。之后，对所述成为对象的像素求出使所述成为对象的像素的辉度变为将所述预定的电压输入到表示所述代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。这样，读出所述驱动元件的阈值电压而作为第1修正参数使用，在使低灰度等级域的辉度与所述代表电压-辉度特性一致的状态下，使高灰度等级域中的各像素的辉度与所述代表电压-辉度特性所示的辉度一致，因此能够使属于低灰度等级域的预定的1个灰度等级和属于其他的灰度等级域的预定的1个灰度等级这2个灰度等级下的发光辉度与所述代表电压-辉度特性一致。其结果，能够抑制人眼所能识别的显示面板的辉度不均，并且能够任意对进行辉度测定的1个灰度等级进行选择，所以还能够抑制低灰度等级域以外的所期望的灰度等级域的辉度不均。另外，能够用1次测定求出第1修正参数，并且用1次辉度测定求出所述第2修正参数，因此能够用合计2次测定求出所述第1修正参数和第2修正参数。其结果，能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。在第2方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第8步骤中，通过运算求出从所述成为对象的像素单元发出的光的辉度变为所述基准辉度时的电压，所述第2修正参数是表示所述预定的信号电压与所述通过运算求出的电压之比的增益。在第3方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第2修正参数是表示以所述预定的信号电压使所述成为对象的像素单元发光时的辉度与所述基准辉度之比的增益。在第4方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述电容器的第2电极与所述驱动元件的源电极连接，所述多个像素单元各自还具有第1电源线，其用于确定所述驱动元件的漏电极的电位；第2电源线，其与所述发光元件的第2电极连接；第3电源线，其供给规定所述电容器的第1电极的电压值的第1基准电压；数据线，其用于供给信号电压；第1开关元件，其对所述电容器的第1电极与所述第3电源线的导通和非导通进行切换；第2开关元件，其一个端子与所述数据线连接，另一端子与所述电容器的第2电极连接，对所述数据线与所述电容器的第2电极的导通和非导通进行切换；以及第3开关元件，其一个端子与所述驱动元件的源电极连接，另一端子与所述第1电容器的第2电极连接，对所述驱动元件的源电极与所述第1电容器的第2电极的导通和非导通进行切换，在所述第2步骤中，通过使所述第1开关元件为导通状态而对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压，同时使所述第2开关元件为导通状态而从所述数据线施加比从所述第1基准电压减去所述驱动元件的阈值电压后得到的值低的第2基准电压，从而使所述电容器产生比所述驱动元件的阈值电压大的电位差，通过经过到所述电容器的电位差达到所述驱动元件的阈值电压而所述驱动元件变为截止状态为止的时间，从而使与所述阈值电压对应的对应电压保持在所述电容器中。根据本方式，能够保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压。在第5方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第1电源线和所述第3电源线为共用的电源线。根据本方式，在进行与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压的测定时，在各像素单元没有设置所述发光元件的情况下，可以将所述第1电源线和所述第2电源线设为共用的电源线。在第6方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第1步骤中，代替所述电路基板而准备在所述第4步骤中使用的所述显示面板。根据本方式，可以在所述多个像素单元的各个像素单元设置所述发光元件而进行与所述阈值电压对应的电压的测定。在第7方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第2步骤中，在对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压时，设定所述第1基准电压的电压值以使所述发光元件的第1电极与第2电极之间的电位差变为比所述发光元件开始发光的所述发光元件的阈值电压低的电压。根据本方式，在将所述发光元件设置在所述电路基板的各像素单元的状态下，在对所述电容器测定与所述阈值电压对应的对应电压时，设定所述第1基准电压的电压值以时在对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压时所述发光元件不发光。在第8方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第2步骤中，在使所述电容器保持与所述阈值电压对应的对应电压之后，使所述第2开关元件导通，使与所述对应电压对应的电流从所述电容器的第2电极流至所述数据线，通过由所述第1测定装置测定流至所述数据线的电流，从而读出保持在所述电容器中的对应电压。根据本方式，在使所述电容器保持与所述阈值电压对应的对应电压之后，使所述第2开关元件导通，使保持在所述电容器中的电压所对应的电流流至所述数据线。并且，通过所述第1测定装置测定流至所述数据线的电流。由此，能够根据通过所述第1测定装置测定出的电流来读出保持在所述电容器中的电压。在第9方式的有机EL显示装置的制造方法中，与所述阈值电压对应的对应电压是其电压值与所述阈值电压的电压值成比例、且比所述阈值电压的电压值小的电压。根据本方式，与所述阈值电压对应的对应电压是其电压值与所述阈值电压的电压值成比例、且比所述阈值电压的电压值小的电压。这样，不是将所述读出电压的值设为所述阈值电压的值而是设为比所述阈值电压的值小的电压值是因为所述代表电压-辉度特性的低灰度等级域与比所述阈值电压小的电压区域对应。通过读出值比所述阈值电压的电压值小的电压而作为所述第1修正参数来使用，能够提高在所述代表电压-辉度特性的低灰度等级域内的修正精度。在第10方式的有机EL显示装置的制造方法中，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的20% 100%的灰度等级所对应的电压。根据本方式，施加属于最大灰度等级的20% 100%的灰度等级域的1个灰度等级所对应的电压来作为属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压。在第11方式的有机EL显示装置的制造方法中，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的30%的灰度等级所对应的电压。根据本方式，施加与最大灰度等级的30%的灰度等级对应的电压来作为属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压。此时，能够最大地抑制高灰度等级域中的修正误差。在第12方式的有机EL显示装置的制造方法中，属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的10% 20%的灰度等级所对应的电压。根据本方式，施加属于最大灰度等级的10% 20%的灰度等级域的1个灰度等级所对应的电压来作为属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压。在第13方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述代表电压-辉度特性是针对所述显示面板所包括的多个像素单元中的预定的一个像素单元的电压-辉度特性。根据本方式，可以将所述代表电压-辉度特性作为针对所述显示面板所包括的多个像素单元中的任意一个像素单元的电压-辉度特性。在第14方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述代表电压-辉度特性是使所述显示面板所包括的多个像素单元中的2个以上的像素单元的电压-辉度特性平均化后得到的特性。根据本方式，对于所述代表电压-辉度特性，在包括所述多个像素的显示面板整体上共用地设定，使所述显示面板所包括的各像素的电压-辉度特性平均化而求出。由此， 求出修正参数以使所述显示面板所包括的各像素的辉度变为所述显示面板整体所共用的代表电压-辉度特性，因此能够在使用该修正参数对图像信号进行了修正的情况下，使从各像素发出的光的辉度均勻。在第15方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第5步骤中，将所述显示面板划分为多个划分区域，按各所述划分区域设定所述多个划分区域各自所包括的多个像素单元所共用的所述代表电压-辉度特性，在所述第8步骤中，针对所述成为对象的像素单元求出使以所述预定的信号电压令所述成为对象的像素单元发光时的辉度变为对包括所述成为对象的像素单元的划分区域的代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的第2修正参数。根据本方式，将所述显示面板划分为多个划分区域，按各所述划分区域设定所述多个划分区域各自所包括的像素所共用的所述代表电压-辉度特性。并且，求出使以所述预定的信号电压令所述成为对象的像素发光时的辉度变为将所述预定的信号电压输入到表示包括所述成为对象的像素的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。由此，能够仅修正例如因相邻像素间的辉度变化激烈而产生辉度不均的区域，因此能够求出用于使所述相邻像素间的辉度变化变得平滑的修正参数。在第16方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第1测定装置是阵列测试器。在第17方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第2测定装置是图像传感器。在第18方式的有机EL显示装置，具有显示面板，其具有多个像素，所述像素包括发光元件、电压驱动的驱动元件、以及电容器，所述驱动元件控制对所述发光元件的电流供给，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极和漏电极中的一方连接；存储单元，其针对所述多个像素单元的各个像素单元存储用于根据所述多个像素单元各自的特性修正从外部输入的图像信号的修正参数；以及控制单元，其从所述存储单元读出与所述多个像素单元各自对应的所述修正参数，将所述读出的修正参数与所述多个像素单元各自所对应的图像信号进行运算而得到修正信号电压，所述修正参数是通过如下步骤而生成的，即第1步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出保持在所述电容器中的所述对应电压；第2步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的阈值电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述存储单元中； 第3步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性； 第4步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域的任一方的1 个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第5步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第6步骤， 求出第2修正参数，所述第2修正参数为在所述第5步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的辉度的参数；以及第7步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述存储单元中。(实施方式1)以下，使用
本发明的实施方式。图2是表示组装为显示面板之前的电路基板和测定该电路基板的阵列测试器200 的结构的框图。图3是表示显示单元105具有的一个像素单元10的电路结构的图。图2所示的电路基板具有有机EL元件D1，并被组装到有机EL显示装置的显示面板100。在该电路基板上形成有显示单元105、扫描线驱动电路11、数据线驱动电路12、输入输出端子13。显示单元105具有排列成mXn的矩阵状的多个像素单元10，基于从外部输入到有机EL显示装置的辉度信号即图像信号来显示图像。在此，参照图3详细说明像素单元10 的电路结构。如图3所示，像素单元10具有作为电流发光元件的有机EL元件D1、驱动晶体管Tl、开关晶体管T2、保持电容Cs、参考晶体管T3以及分离晶体管T4。另外，对像素单元10 连接有扫描线21、用于供给信号电压的数据线20、合并(merge)线23、用于确定驱动晶体管 Tl的漏电极的电位的高电压侧电源线M、与有机EL元件Dl的第2电极连接的低电压侧电源线25、供给用于规定保持电容器Cs的第1电极的电压值的第1基准电压的基准电压电源线26、以及复位线27。有机EL元件Dl作为发光元件发挥功能，通过驱动晶体管Tl的驱动电流进行发光。有机EL元件Dl的阴极与低电压侧电源线25连接，有机EL元件Dl的阳极与驱动晶体管Tl的源极连接。在此，供给至低电压侧电源线25的电压为Vss，例如为O(V)。在图3 中，在像素单元10具有有机EL元件Dl，但是在组装为显示面板之前的电路基板的状态下， 像素单元10不一定必须具有有机EL元件Dl。驱动晶体管Tl是通过使电流在有机EL元件Dl中流动而使有机EL元件Dl发光的电压驱动的驱动元件。驱动晶体管Tl的栅极经由分离晶体管T4和开关晶体管T2与数据线20连接，其源极与有机EL元件Dl的阳极连接，其漏极与高电压侧电源线M连接。在此，供给至高电压侧电源线M的电压为Vdd，例如为20 (V)。由此，驱动晶体管Tl将供给至其栅极的信号电压(数据信号Data)转换为与该信号电压(数据信号Data)对应的信号电流，并将转换后的信号电流供给至有机EL元件D1。保持电容器Cs具有保持用于确定驱动晶体管Tl中流动的电流量的信号电压的功能。具体而言，保持电容器Cs连接在驱动晶体管Tl的源极(低电压侧电源线2 与驱动晶体管Tl的栅极之间。换言之，保持电容器Cs的第1电极与驱动晶体管Tl的栅电极连接， 保持电容器Cs的第2电极与驱动晶体管Tl的源电极连接。保持电容器Cs例如具有如下功能开关晶体管T2变为截止状态之后，也维持紧前的信号电压，继续使驱动电流从驱动晶体管Tl向有机EL元件Dl供给。保持电容器Cs由对信号电压乘以静电电容而得到的电荷来保持该信号电压。开关晶体管T2的一个端子与数据线20连接，另一个端子与保持电容器Cs的第2 电极连接，对数据线20与保持电容器Cs的第2电极的导通和非导通进行切换。具体而言， 开关晶体管T2具有用于将与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)写入至保持电容器Cs的功能。开关晶体管T2的栅极与扫描线21连接，其漏极或源极与数据线20。并且， 开关晶体管T2具有对将数据线20的信号电压(数据信号Data)供给至驱动晶体管Tl的栅极的定时进行控制的功能。参考晶体管T3对保持电容器Cs的第1电极与基准电压电源线沈的导通和非导通进行切换。具体而言，参考晶体管T3具有在检测驱动晶体管Tl的阈值电压Vth时对驱动晶体管Tl的栅极提供基准电压(Vr)的功能。参考晶体管T3的漏极和源极中的一方与驱动晶体管Tl的栅极连接，参考晶体管T3的漏极和源极中的另一方与用于施加参考电压 (Vr)的基准电压电源线沈连接。另外，参考晶体管T3的栅极与复位线27连接。分离晶体管T4的一个端子与驱动晶体管Tl的源电极连接，其另一个端子与保持电容器Cs的第2电极连接，对驱动晶体管Tl的源电极与保持电容器Cs的第2电极的导通和非导通进行切换。具体而言，分离晶体管T4具有如下功能在对保持电容器Cs写入电压的写入期间中，将保持电容器Cs和驱动晶体管Tl断开。分离晶体管T4的漏极和源极中的一方与驱动晶体管Tl的源极连接，该分离晶体管T4的漏极和源极中的另一方与保持电容器Cs的第2电极连接。另外，分离晶体管T4的栅极与合并线23连接。驱动晶体管Tl、开关晶体管T2、参考晶体管T3以及分离晶体管T4分别例如为N沟道薄膜晶体管、增强型晶体管。当然，既可以是P沟道薄膜晶体管也可以是耗尽型晶体管。如上所述构成像素单元10。再返回图2继续进行说明。扫描线驱动电路11与扫描线21连接，具有对像素单元10的开关晶体管T2的导通/非导通进行控制的功能。具体而言，扫描线驱动电路11对共用地连接在图2中沿行方向排列的像素单元10上的扫描线21分别独立地供给扫描信号scan。数据线驱动电路12与数据线20连接，具有输出与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)、确定在驱动晶体管Tl中流动的信号电流的功能。具体而言，数据线驱动电路12对共用地连接在图2中沿列方向排列的像素单元10上的数据线20分别独立地供给信号电压(数据信号Data)。输入输出端子13与数据线20连接，用于在预定的情况下读出属于多个像素单元 10的保持电容器Cs的电荷Q。另外，图2所示的阵列测试器200为第1测定装置，从成为对象的像素单元10所包括的保持电容器Cs读出与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压。另外，阵列测试器 200将从保持电容器Cs读出的对应电压作为成为对象的像素单元10的第1修正参数而存储在用于显示面板100的预定的存储单元43中。具体而言，阵列测试器200通过测定电路基板上的多个像素单元10各自的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth而计算出第1修正参数。 阵列测试器200具有电流测定单元221和通信单元222。如图2所示，存储单元43位于阵列测试器200的外部，但也可以在内部另外具有存储器，从该存储器进一步发送至存储单元43。电流测定单元221通过在后述的预定的条件下测定电路基板上的多个像素单元 10的电流，从而测定属于电路基板上的多个像素单元10的保持电容器Cs的保持电荷Qth。 在此，保持电容器Cs在后述的预定的条件下对在与驱动晶体管Tl的阈值电压Vth对应的对应电压上乘以保持电容器Cs的静电电容C而得到的保持电荷Oth进行保持。通信单元222向存储单元43发送根据通过电流测定单元221测定出的保持电荷 Qth而计算得到的、属于该像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。存储单元43在典型情况下位于阵列测试器200的外部，构成在控制显示面板100 的控制电路中。存储单元43存储通过通信单元222发送来的电路基板上的多个像素单元 10各自的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。使用如以上构成的电路基板和阵列测试器200，则能够测定分别属于电路基板上的多个像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。在上述说明中，使用阵列测试器200来测定组装为显示面板100之前的电路基板上的多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth，但不限于此。也可以使用阵列测试器200测定在具有有机EL元件Dl的显示面板100中多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。另外，在上述说明中，高电压侧电源线M和基准电压电源线沈为不同的电源线， 但也可以在测定与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压时，在各像素单元10不设置有机EL发光元件D1、即对电路基板上的像素单元10进行测定的情况下，将高电压侧电源线24和基准电压电源线沈设为共用的电源线。接着，说明使用阵列测试器200测定属于像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth时的测定程序。图4是表示本发明实施方式的像素单元10的工作的定时图。在多个像素单元10的每一个中，在一定的测定期间内进行如下的工作将与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)写入保持电容器Cs的工作、检测驱动晶体管Tl的阈值电压Vth的工作、以及读出保持在保持电容器Cs中的电荷的工作。将对保持电容器Cs 写入与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)的期间设为“写入期间T10”，将检测驱动晶体管Tl的阈值电压Vth的期间设为“Vth检测期间T20”，将读出保持在保持电容器Cs 中的电荷的期间设为“读出期间T30”，以下对工作进行详细说明。写入期间T10、Vth检测期间T20以及读出期间T30是对每一个像素单元10定义的，不需要对于所有的像素单元10 使所述3个期间的相位一致。(写入期间T10)图5是用于说明本发明实施方式中的像素单元的写入期间TlO的工作的图。在写入期间TlO的时刻tl2，首先使供给至复位线27的复位信号Reset为高电平， 使参考晶体管T3为导通状态。于是，供给至基准电压电源线沈的基准电压Vr施加在c点 (保持电容器Cs的第1电极)。S卩，在c点写入基准电压。在此，在电路基板具有有机EL元件Dl的情况下，基准电压电源线沈设定基准电压Vr以使有机EL元件Dl不发光。具体而言，在保持电容器Cs的第1电极施加第1基准电压时，设定第1基准电压的电压值以使有机EL元件Dl的第1电极与第2电极之间的电位差变为比有机EL元件Dl开始发光的该有机EL元件Dl的阈值电压低的电压。即，在电路基板的各像素单元10设有有机EL元件Dl的状态下，在保持电容器Cs测定与阈值电压对应的对应电压的情况下，设定第1基准电压的电压值，使得在保持电容器Cs的第1电极施加第1基准电压时有机EL元件Dl不发光。相反地，在电路基板没有有机EL元件Dl的情况下，基准电压电源线沈设定为与高电压侧电源线M相同的电压Vdd。这能够通过例如将高电压侧电源线M和基准电压电源线26设为共用的电源线而得以实现。即，在测定与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压时，在各像素单元10没有设置有机EL元件Dl的情况下，能够通过将高电压侧电源线M和基准电压电源线沈设为共用的电源线而得以实现。接着，使供给至扫描线21的扫描信号scan为高电平，使开关晶体管T2为导通状态。于是，此时与供给至数据线20的图像信号对应的信号电压(数据信号data)被施加在 b点(保持电容器Cs的第2电极)。在此，例如，该信号电压(数据信号data)被设定为与低电压侧电源线25相同的电压Vss。另外，在写入期间TlO中，供给至合并线23的合并信号merge为低电平，分离晶体管T4处于截止状态。因此，对保持电容器Cs提供与b点和c点的电位差(Vr-Vss)对应的电压，该电压施加在驱动晶体管Tl的栅极上。施加于保持电容器Cs的电压变为驱动晶体管Tl的阈值电压Vth以上的大小。这样来进行向保持电容器Cs的写入工作。就是说，对于保持电容器Cs，使参考晶体管T3为导通状态而对第1电极施加第1基准电压Vr，同时使开关晶体管T2为导通状态而由数据线20施加比从第1基准电压Vr减去驱动晶体管Tl的阈值电压后而得到的值低的第2基准电压。由此，在保持电容器Cs中，进行产生比驱动晶体管Tl的阈值电压大的电位差的写入工作。然后，在对保持电容器Cs的写入工作结束、即像素单元10的写入期间TlO结束的时刻tl3，使扫描信号kan返回为低电平，使开关晶体管T2为截止状态。(Vth 检测期间 T20)图6是用于说明本发明实施方式中的像素单元的Vth检测期间T20的工作的图。在Vth检测期间T20的最初的时刻tl4，使供给至合并线23的合并信号merge为高电平，使分离晶体管T4为导通状态。在此，在Vth检测期间T20中，供给至扫描线21的扫描信号scan为低电平，开关晶体管T2为截止状态。另外，在Vth检测期间T20，供给至复位线27的复位信号Reset为高电平，参考晶体管T3为导通状态。于是，在驱动晶体管Tl的栅极施加供给至基准电压电源线沈的基准电压Vr (c点的电位)，驱动晶体管Tl为导通状态。此时，有机EL元件Dl如上所述那样不发光。S卩，在对保持电容器Cs的第1电极施加第1基准电压Vr时，设定第1基准电压的电压值，使得有机EL元件Dl的第1电极与第2电极之间的电位差变为比有机EL元件Dl开始发光的该有机EL元件D1的阈值电压低的电压。并且，在b点(保持电容器Cs的第2电极)经由分离晶体管T4而施加与施加给驱动晶体管Tl的栅极的基准电压Vr对应的高电压侧电源线M的电压Vdd的一部分，b点 (保持电容器Cs的第2电极)的电位上升。接着，例如图4所示，直到时刻tl8 —直处于待机等而对处理时间进行调整，从而 b点与c点的电位差、即保持电容器Cs所保持的电压剩余与驱动晶体管Tl的阈值电压Vth 对应的电压(具体而言为与小于Vth的电压对应的电压)。这是因为在驱动晶体管Tl的栅极-源极间的电压Vgs与阈值电压Vth (具体而言为小于Vth的电压)变为相等的时刻， 驱动晶体管Tl变为截止状态。即，在保持电容器Cs中，经过到b点与c点的电位差即第1 电极与第2电极间的电压达到驱动晶体管Tl的阈值电压而使驱动晶体管Tl变为截止状态的时间，从而保持与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压。因此，对于保持电容器Cs， 通过调整处理时间，从而保持与比驱动晶体管Tl的阈值电压Vth小的对应电压成比例的电荷Qth(电荷Q =静电电容CX电压)。这样，在保持电容器Cs中进行使保持的电压变为与阈值电压Vth对应的对应电压的Vth补偿工作。然后，在Vth补偿工作结束、即像素单元10的Vth检测期间T20结束的时刻tl8， 使合并信号Merge返回为低电平，使分离晶体管T4为截止状态。在此，对在Vth补偿工作中保持电容器Cs保持的电压变为与比Vth小的电压对应的电压的理由进行说明。图7是用于说明在Vth检测后保持在保持电容器中的电压的图。在此，图7(a)是摘出驱动晶体管Tl和保持电容器Cs而进行记载的图。在图7(a)中，在Vth检测期间中， 分离晶体管T4为导通状态，因此省略分离晶体管T4的记载。施加在保持电容器Cs的电压为驱动晶体管Tl的栅极和源极间的电压，因此作为Vgs加以说明。在图7(a)所示的保持电容器Cs施加了例如比驱动晶体管Tl的阈值电压Vth大的电压(VA)。于是，保持电容器Cs使所保持的电荷通过驱动晶体管Tl的TFT沟道而向Vdd侧放电。然后，当保持电容器Cs的电极间电位变小、即施加在保持电容器Cs上的电压Vgs 变小时，则在驱动晶体管Tl的TFT沟道中流动的电流变小，因此放电需要花费时间。在此，如图7(b)所示，在驱动晶体管Tl为阈值电压Vth以下而不流动电流的理想情况下，保持电容器Cs的电极间的电位变为Vth时，则如上所述不会流动电流。因此，在保持电容器Cs维持驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。但是，实际上驱动晶体管Tl具有的TFT的特性存在不勻。因此，如图7(c)所示， 驱动晶体管Tl即便为阈值电压Vth以下也会流动微小的电流，因此会在保持电容器Cs保持驱动晶体管Tl的阈值电压Vth以下的电压。就是说，驱动晶体管Tl实际上如图7(d)所示，在电压Vth以下以指数函数性地减少的方式流动电流。因此，在保持电容器Cs与某设定时间对应地保持Vth以下的电位。因此，在Vth补偿工作中，保持电容器Cs保持的电压变为与小于Vth的电压对应的对应电压。就是说，对于保持电容器Cs保持的电压，会保持与阈值电压对应的对应电压。 在此，如上所述，与阈值电压对应的对应电压是指电压值与驱动晶体管Tl的阈值电压Vth 的电压值成比例、并且比阈值电压Vth的电压值小的电压。包含这些情况而记载为对应电压。(读出期间T30)图8是用于说明本发明实施方式的像素单元的读出期间T30的工作的图。首先，在Vth检测期间T20后，分离晶体管T4变为截止状态，因此保持电容器Cs 保持着电荷Qth即与b点和c点之间的电位差对应的电荷Qth。接着，在读出期间T30的最初的时刻tl9，使供给至扫描线21的扫描信号scan变为高电平，使开关晶体管T2变为导通状态。于是，保持电容器Cs的第2电极(b点)与数据线20连接，保持电容器Cs所保持的电荷Qth经由数据线20、与数据线20连接的输入输出端子13而被阵列测试器200(电流测定单元221)读出。具体而言，阵列测试器200(电流测定单元221)经由输入输出端子13测定电流的总和，读出保持电容器Cs所保持的电荷量Qth。这是因为在电容器中存在电荷量Q =电流i X时间t的关系式的缘故。这样，进行读出保持在保持电容器Cs中的电荷的工作。就是说，使保持电容器Cs 保持与阈值电压Vth对应的对应电压之后，使开关晶体管T2导通，使与对应电压对应的电流从保持电容器Cs的第2电极流至数据线20，通过阵列测试器200 (电流测定单元221)对流至数据线20的电流进行测定。由此，进行读出保持在保持电容器Cs中的对应电压的工作。然后，在该读出期间T30结束的时刻t21，使扫描信号kan返回为低电平，使开关晶体管T2为截止状态。阵列测试器200(电流测定单元221)从各数据线20并行地读出多个像素单元10 各自所包括的保持电容器Cs所保持的电荷量Qth。如上所述，阵列测试器200对属于像素单元10的保持电容器Cs所保持的电荷量 Qth进行测定。并且，在阵列测试器200中，根据通过电流测定单元221读出的保持电荷Qth计算属于像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth(包括Vth以下的对应电压)，通过通信单元222发送给存储单元43，作为第1修正参数而进行存储。在此，阈值电压Vth由电荷量Q=静电电容CX电压V所表示的电容器的关系式来计算。即，通过从保持电容器Cs所保持的电荷量Qth除以保持电容器Cs的静电电容，能够计算出保持电容器Cs所保持的驱动晶体管Tl的Vth(也包括Vth以下的对应电压)。这样，阵列测试器200能够测定多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl的阈值电压vth。并且，阵列测试器200能够将测定出的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth作为第1修正参数而存储在存储单元43中。使用
上述的测定程序即第1修正参数计算处理的流程。图9是用于说明第1修正参数计算处理的流程图。首先，准备具有多个像素单元10的电路基板(Sll)，所述像素单元10包括电压驱动的驱动晶体管Tl ；和第1电极与驱动晶体管Tl的栅电极连接、第2电极与驱动晶体管 Tl的源电极连接的保持电容器Cs。接着，使成为对象的像素单元10所包括的保持电容器Cs保持与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压，使用阵列测试器200从成为对象的像素单元10读出保持在保持电容器Cs中的对应电压(Si》。阵列测试器200读出保持在保持电容器Cs中的电荷Qth， 根据所读出的电荷Qth计算阈值电压Vth，但将其表现为使用阵列测试器200从成为对象的像素单元10读出保持在保持电容器Cs中的对应电压。接着，阵列测试器200将所读出的对应电压作为成为对象的像素单元10的第1修正参数而存储在用于显示面板100的预定的存储单元43中(S13)。如上所述，进行第1修正参数计算处理(Si)，将第1修正参数存储在存储单元43 中。对各像素单元10进行以上的第1修正参数计算处理。然后，阵列测试器200使第 1修正参数与各像素单元10对应，并存储在存储单元43中。然后，将存储在存储单元43中的第1修正参数作为用于将与供给至各像素单元10 的图像信号对应的有机EL元件Dl的辉度修正为预定的基准辉度的偏移量而进行使用。由此，能够减少为了求出作为第2修正参数的增益而测定各像素的辉度的次数，所述第2修正参数是用于将与供给至各像素单元10的图像信号对应的有机EL元件Dl的辉度修正为预定的基准辉度的参数。另外，如上所述，与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的电压是其电压值与阈值电压的电压值成比例、并且比阈值电压的电压值小的电压。这样，当读出的电压的值不是驱动晶体管Tl的阈值电压的值而是小于驱动晶体管Tl的阈值电压的值的电压值时，代表电压-辉度特性的低灰度等级域与小于阈值电压的电压区域对应。并且，通过读出值比驱动晶体管Tl的阈值电压的电压值小的电压来作为第1修正参数(偏移量)使用，从而能够实现提高代表电压-辉度特性的低灰度等级域的修正精度的效果。以下，对使用第1修正参数(偏移量)求出作为第2修正参数的增益的方法进行说明。图10是表示显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。使用测定装置60对准备好的显示面板100 (有机EL显示装置40具有的显示面板 100)进行显示面板100的辉度测定。并且，如后所述，该系统结构能够缩短辉度测定时间、同时降低显示面板100的辉度不均。图10所示的辉度测定系统具有有机EL显示装置40、修正参数确定装置50、测定装置60，用于进行有机EL显示装置40的显示面板100的辉度测定、求出作为第2修正参数的增益。有机EL显示装置40具有控制电路41和显示面板100。如上所述，显示面板100具有显示单元105、扫描线驱动电路11以及数据线驱动电路12，基于输入到扫描线驱动电路11和数据线驱动电路12的来自控制电路41的信号，在显示单元105显示图像。控制电路41具有控制单元42和存储单元43，具有供给用于在显示面板100上进行显示的图像信号、进行扫描线驱动电路11和数据线驱动电路12的控制而使显示面板100 显示图像的功能。具体而言，控制电路41根据来自测定控制单元51的指示，使显示面板 100所包括的多个像素单元10发光。另外，控制电路41还将修正参数计算单元52计算出的各像素单元10的第2修正参数(增益)进一步写入到存储单元43中。图11是表示本实施方式的存储单元所保持的修正参数表的一例的图。图12是表示本实施方式的控制电路的功能结构图的一例的图。存储单元43针对多个像素单元10的各个像素单元10，存储用于根据多个像素单元10各自的特性来修正从外部输入的图像信号的修正参数。具体而言，存储单元43存储包括各像素单元10的第1修正参数和第2修正参数的修正参数表43a。如图11所示，修正参数表43a是包括由各像素单元10的第1修正参数(偏移量) 和第2修正系数(增益)构成的修正参数的数据表。在图11中，第1修正参数用偏移量 OSll 偏移量OSmn表示。第2修正参数用增益Gll 增益Gmn表示，就是说，修正参数表 43a与显示单元105(m行Xn列)的矩阵对应，按各像素单元10存储由(增益、偏移量)构成的修正参数。在此，即在显示面板100的辉度测定时，已进行了上述的第1修正参数计算处理 (Si)，第1修正参数(偏移量)存储在存储单元43中。在该状态下，通过对显示面板进行辉度测定而计算出第2修正参数。因此，如图12所示，在修正参数表43a中，为了方便起见而将作为第2修正参数的增益存储为“1”，即存储为(1、0S11) (l、0Smn)。控制单元42具有乘法单元421和加法单元422。控制单元42从存储单元43读出与多个像素单元10分别对应的修正参数，将读出的修正参数与多个像素单元10各自所对应的图像信号进行运算而得到修正信号电压。然后，控制单元42通过将运算得到的修正信号电压输出到显示面板100，从而在显示面板100显示图像。具体而言，控制单元42在显示面板100的辉度测定时，从存储单元43的修正参数表43a读出为了方便起见使与多个像素单元10各自对应的修正参数、即第2修正参数也就是增益设为“1”的(1、0S11) (l、0Smn)。然后，根据读出的第2修正参数(增益)，对与多个像素单元10各自对应的信号电压(Vdata)乘以1倍(增益值)。通过在乘法运算后的信号电压1 X Vdata加上已存储的与多个像素单元10各自对应的OS (偏置值)，从而得到修正信号电压。测定装置60是能够测定从显示面板100具有的多个像素单元10发光的辉度的测定装置。具体而言，测定装置60是CCD (Charge Coupled Device，电荷耦合器件)图像传感器等图像传感器，能够通过1次拍摄以高精度测定显示面板100的显示单元105具有的所有像素单元10的辉度。测定装置60不限于图像传感器，只要能够测定显示单元105的像素单元10的辉度则任何测定装置均可。修正参数确定装置50具有测定控制单元51和修正参数计算单元52。修正参数确定装置50是基于测定装置60测定出的各像素单元10的辉度来确定用于进行修正使得显示面板100的显示单元105具有的多个像素单元10的辉度变为基准辉度的第2修正参数 (增益)的装置。另外，修正参数确定装置50将确定出的第2修正参数(增益)输出到有机EL显示装置40的控制电路41。在此，基准辉度是对表示代表电压-辉度特性的函数输入预定的电压时所得到的辉度。测定控制单元51是对从显示面板100所包括的多个像素单元10发光的辉度进行测定的处理单元。具体而言，测定控制单元51首先取得显示面板100所包括的1个以上的像素单元 10所共用的表示代表电压-辉度特性的函数。在此，代表电压-辉度特性是成为用于使辉度均勻化的基准的电压-辉度特性。例如，该代表电压-辉度特性是关于显示面板100所包括的多个像素单元10中预定的一个像素单元10的电压-辉度特性。另外，例如，该代表电压-辉度特性是关于显示面板100所包括的多个像素单元10中2个以上的像素单元10 的、使电压-辉度特性平均化的电压-辉度特性。此时，求出修正参数以使显示面板100所包括的各像素单元10的辉度变为显示面板100整体所共用的代表电压-辉度特性，因此， 在使用该修正参数修正了图像信号的情况下，能实现能够使从各像素单元10发出的光的辉度均勻的效果。另外，表示代表电压-辉度特性的函数是表示供给至驱动晶体管Tl的信号电压与通过有机EL元件Dl从成为对象的像素单元10发光的辉度之间的关系的函数。表示代表电压-辉度特性的函数通过另外的测定等而被预先确定。另外，测定控制单元51令控制电路41使显示面板100所包括的多个像素单元10 发光，使测定装置60测定从该多个像素单元10发光的辉度，从而取得该辉度。具体而言，测定控制单元51将在属于该代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压上加上成为对象的像素单元10 的第1修正参数而得到的预定的信号电压施加给多个像素单元10各自所包括的作为驱动元件的驱动晶体管Tl，通过使用测定装置60测定从多个像素单元10发光的辉度，从而取得该辉度。在此，对测定控制单元51测定属于该代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压的理由进行说明。图13是表示预定的像素单元的电压-辉度特性和代表电压-辉度特性的图。图13(a)示出预定的像素单元10的电压-辉度特性，图13(b)示出在预定的像素单元10中作为第1修正参数(偏移量)而加上了通过上述的第1修正参数计算处理(Si)计算出的驱动晶体管Tl的阈值电压 Vth时的电压-辉度特性。如图13(b)所示，在加上了第1修正参数(偏移量)的情况下，在代表电压-辉度特性的低灰度等级域中，示出了预定的像素单元10的电压-辉度特性与代表电压-辉度特性接近的特性。就是说，多个像素单元10的电压-辉度特性处于通过以加上第1修正参数 (偏移量)而得到的电压来显示辉度、从而使低灰度等级域符合代表电压-辉度特性的状态。另一方面，在代表电压-辉度特性的高辉度域中，预定的像素单元10的电压-辉度特性与代表电压-辉度特性没有表现出接近的特性。就是说，在代表电压-辉度特性的高辉度域中，两者的特性存在差距(gap)，处于不相符合的状态。因此，测定代表电压-辉度特性的区域中属于低灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压，也示出接近的特性，因此效果不明显。但是，测定控制单元51测定代表电压-辉度特性的区域中属于中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压，计算出增益，这是有效的。就是说，在代表电压-辉度特性中，只要求出高低灰度等级域的增益，不仅在低灰度等级域，在高低灰度等级域也能够使特性接近，因此是有效的。修正参数计算单元52使用测定控制单元51取得的辉度和表示代表电压-辉度特性的函数，针对成为对象的像素计算出第2修正参数(增益)。修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)输出到控制电路41。然后，控制电路41将该第2修正参数 (增益)存储到存储单元43中。具体而言，修正参数计算单元52通过运算求出测定控制单元51取得的辉度、即以预定的信号电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示代表电压-辉度特性的函数时所得到的辉度的情况下的电压，计算出表示该预定的电压与通过运算求出的电压之比的第2修正参数(增益)。就是说，第2修正参数(增益)是预定的信号电压与将以预定的信号电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度输入到表示代表电压-辉度特性的函数时所得到的电压之比。第2修正参数(增益)也可以作为以预定的电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度与输入预定的信号电压时得到的辉度(基准辉度)之比而进行计算。另外，修正参数计算单元52针对有机EL元件Dl发光的红色、绿色以及蓝色的各颜色求出第2修正参数。在此，对代表电压-辉度特性、高灰度等级域以及低灰度等级域进行说明。 图14是用于说明书本实施方式的代表电压-辉度特性、高灰度等级域以及低灰度等级域的图。如图14(a)所示，代表电压-辉度特性是用从像素单元10发光的辉度与供给至驱动晶体管Tl的电压的Y次方(例如，Y = 2.2)成比例的曲线所表示的特性。并且，显示面板100所包括的各像素单元10具有各自不同的电压-辉度特性。因此，在本实施方式中，代表电压-辉度特性为关于显示面板100所包括的多个像素单元10 中的任意一个像素的电压-辉度特性。由此，能够容易地取得表示代表电压-辉度特性的函数。代表电压-辉度特性是包括多个像素单元10的显示面板100整体共同地设定的特性，可以是使显示面板100所包括的各像素单元10的电压-辉度特性平均后得到的特性。此时，求出使显示面板100所包括的各像素10的辉度变为显示面板100整体所共用的代表电压-辉度特性的修正参数，因此在使用该修正参数修正了图像信号的情况下，能够使从各像素10发出的光的辉度均勻。另外，图14(b)示出与人的视觉灵敏度对应的代表电压-辉度特性。就是说，人眼具有近似于LOG函数的灵敏度，因此与人的视觉灵敏度对应的代表电压-辉度特性变为辉度用LOG函数的曲线表示的特性。因此，人眼在高灰度等级下难以识别辉度不勻，在低灰度等级下容易识别辉度不均，因此为了符合人的视觉灵敏度，优选是预先将高灰度等级域的宽度设定得大、将低灰度等级域的宽度设定得小。因此，属于代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压优选是能够在各像素单元10显示的最大灰度等级的20% 100%的灰度等级所对应的电压，进一步优选是与最大灰度等级的30%的灰度等级对应的电压。这是因为能够最大地抑制高灰度等级域内的修正误差。另外，属于代表电压-辉度特性的中灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压优选是能够在各像素单元10显示的最大灰度等级的10% 20%的灰度等级所对应的电压。属于代表电压-辉度特性的低灰度等级域的1个灰度等级优选是能够在各像素单元10显示的最大灰度等级的0% 10%的灰度等级。另外，由于人眼无法视觉识别在各像素单元10发光的最大灰度等级的0. 2%以下的灰度等级，所以属于代表电压-辉度特性的低灰度等级域的1个灰度等级进一步优选是最大灰度等级的0. 2% 10%的灰度等级。接着，使用
第2修正参数计算处理的流程(测定程序)。图15是表示在本实施方式的辉度测定系统中计算第2修正参数的工作的一例的流程图。图16是用于示意地说明SM的图，图17是用于示意地说明S26的图。首先，准备显示面板100(有机EL显示装置40) (S21)，所述显示面板100具有上述的电路基板，且该电路基板所包括的像素单元10具有通过其驱动晶体管Tl的驱动电流进行发光的有机EL元件D1。接着，测定控制单元51取得表示显示面板100所包括的1个以上的像素单元10 所共用的代表电压-辉度特性的函数(S22)。接着，测定控制单元51使控制电路41对显示面板100所包括的多个像素单元10 施加属于代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压。在控制电路41中，控制单元42从存储单元43取得成为对象的像素单元10的第1修正参数(偏移量)，加上该参数而取得预定的信号电压(SM)。这是因为如图16所示，当以加上第1修正参数(偏置)后得到的预定的信号电压显示成为对象的多个像素单元10的辉度时，对于其电压-辉度特性，能够在低灰度等级域中符合代表电压-辉度特性的状态下进行显示。然后，控制电路41将该预定的信号电压施加到成为对象的像素单元10所包括的驱动晶体管Tl。接着，测定控制单元51使用测定装置60测定并取得从显示面板100所包括的成为对象的像素单元10发光的辉度(S2Q。就是说，测定控制单元51使控制电路41对多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl施加加上第1修正参数(偏移量)而得到的预定的信号电压，使测定装置60测定从多个像素单元10发光的辉度，从而取得该辉度。接着，修正参数计算单元52使用测定控制单元51取得的辉度、和代表电压-辉度特性的函数来计算第2修正参数(增益)(S^)。具体而言，修正参数计算单元52求出使在S25中测定取得的成为对象的像素单元10的辉度变为将预定的信号电压输入到代表电压-辉度特性时得到的辉度的第2修正参数。在此，例如如图17所示，在成为对象的多个像素单元10的低灰度等级域中，符合代表电压-辉度特性，但在中灰度等级域至高灰度等级域中，不符合代表电压-辉度特性。因此，在属于代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压(图中的下，根据成为对象的多个像素单元10的辉度与代表电压-辉度特性中的辉度的比即辉度比来计算第2修正参数(增益)。关于修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理的详细内容将在后面叙述。然后，修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)与成为对象的像素单元10对应地存储在存储单元43中(S27)。具体而言，修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)与成为对象的像素单元10对应地发送给控制电路41，控制电路41 将接收到的第2修正参数存储在存储单元43中。如上所述，在辉度测定系统中进行计算第2修正参数的第2修正参数计算处理 (S2)。以上的处理针对有机EL元件Dl发光的红色、绿色以及蓝色的各颜色进行。就是说，测定控制单元51针对所述红色、绿色以及蓝色的各颜色测定并取得多个像素单元10的预定电压下的辉度。然后，修正参数计算单元52针对所述红色、绿色以及蓝色的各颜色求出第2修正参数。然后，修正参数计算单元52针对所述红色、绿色以及蓝色的各颜色，将计算出的第2修正参数输出到控制电路41，使控制电路41将所述第2修正参数写入到存储单元43中。由此，能够针对红色、绿色以及蓝色的各颜色进行修正以使辉度变得均勻。另外，在将修正参数写入存储单元43的有机EL显示装置40中，控制电路41对于从外部输入的图像信号，从存储单元43读出与多个像素单元10各自对应的修正参数，修正与多个像素单元10各自对应的图像信号。然后，控制电路41基于修正后的图像信号，控制扫描线驱动电路11和数据线驱动电路12，使显示面板100显示图像。图18是用于说明本实施方式的修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理的图。图18所示的曲线A是表示代表电压-辉度特性的曲线，曲线B是表示成为对象的像素单元10的电压-辉度特性的曲线。修正参数计算单元52针对成为对象的像素单元10求出使得以预定的信号电压令成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示代表电压-辉度特性的函数时得到的辉度(基准辉度)的第2修正参数。就是说，如图18所示，修正参数计算单元52计算出进行修正以使表示关于成为对象的像素单元10的电压-辉度特性的曲线B接近表示代表电压-辉度特性的曲线A的第2修正参数即增益。具体而言，首先，修正参数计算单元52计算增益计算用电压，该增益计算用电压是将以预定的信号电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度输入到表示代表电压-辉度特性的函数时所得到的电压。如图18所示，修正参数计算单元52算出将以预定的信号电压VdataJ1使成为对象的像素单元10发光时的辉度Lh输入到曲线A时所得到的电压即增益计算用电压Vdata_hk。接着，修正参数计算单元52使用预定的信号电压和增益计算用电压，作为第2修正参数而计算出增益。具体而言，修正参数计算单元52使用预定的信号电压VdataJ1和增益计算用电压Vdata_hk，通过以下的算式计算出增益G。
AVh = Vdata_hk-Vdata_h 算式 1G= {1- Δ Vh/ (Vdata_h+ Δ Vh)}算式 2就是说，增益G是表示预定的信号电压VdataJ1相对于增益计算用电压Vdata_hk 的比的数值。修正参数计算单元52也可以通过上述以外的方法来计算增益G，例如，通过使用图18所示的辉度Lh与第1基准辉度的辉度差Δ Lh、以及曲线A的斜率mh来计算出AVh， 从而计算出增益G。并且，修正参数计算单元52将作为第2修正参数的增益存储在有机EL显示装置 40具有的存储单元43中。具体而言，修正参数计算单元52通过将第2修正参数输出到控制电路41，从而使控制电路41将第2修正参数写入到存储单元43中，使修正参数表43a得到更新。通过以上工作，修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理(图15的S26)结束。以上，根据本发明能够实现如下的有机EL显示装置及其显示方法，即如图19所示，通过进行上述的第1修正参数计算处理(Si)和第2修正参数计算处理(S2)，能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数的测定节拍。这样，根据本发明的有机EL显示装置及其显示方法，首先，使成为对象的像素单元10所包括的保持电容器Cs保持驱动晶体管Tl的阈值电压，使用阵列测试器200求出保持电容器Cs所保持的阈值电压。然后，将求得的阈值电压作为成为对象的像素单元10的第 1修正参数而存储在用于显示面板100的预定的存储单元43中。上述的低灰度等级侧的辉度差会对驱动晶体管Tl的阈值电压的不勻产生影响，但通过将阈值电压作为偏置(第1修正参数)进行使用，能够在低灰度等级域中使从各像素单元10发光的辉度与代表电压-辉度特性一致。接着，求出在属于中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压上加上第1修正参数后得到的预定的电压，将预定的电压施加在成为对象的像素单元10所包括的驱动晶体管Tl上来进行第二次辉度测定。即，通过将作为驱动晶体管Tl的阈值电压的第1修正参数加到属于中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压上，从而能够在使低灰度等级域的辉度与代表电压-辉度特性一致的状态下进行中灰度等级域或高灰度等级域中的辉度测定。然后，针对成为对象的像素单元10求出使成为对象的像素单元10的辉度变为将所述预定的电压输入到表示代表电压-辉度特性的函数时得到的基准辉度的第2修正参数。因此，如上所述，读出驱动晶体管Tl的阈值电压而作为第1修正参数使用，在使低灰度等级域的辉度与代表电压-辉度特性一致的状态下，使高灰度等级域中的各像素单元 10的辉度与代表电压-辉度特性所示的辉度一致。由此，能够使属于低灰度等级域的预定的1个灰度等级以及属于其他灰度等级域的预定的1个灰度等级这2个灰度等级下的发光辉度与代表电压-辉度特性一致。其结果，能够抑制人眼所能视觉识别的显示面板100的辉度不均，并且能够任意地对进行辉度测定的1个灰度等级进行选择，因此还能够抑制低灰度等级域以外的所期望的灰度等级域的辉度不均。另外，能够以1次测定求出第1修正参数(偏移量)，并且能够以1次辉度测定求出第2修正参数(增益)，因此能够以合计2次测定求出第1修正参数和第2修正参数。其结果，能实现能够缩短从进行各像素单元10的辉度测定到求出修正参数(增益、偏移量) 为止的测定节拍的效果。(变形例)在上述实施方式中，针对显示面板100所包括的多个像素单元10确定第2修正参数(增益)，但不限于此。也可以将显示面板100分成多个划分区域，按所述各划分区域确定第2修正参数。图20是表示本实施方式的变形例的显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。控制电路41、显示面板100和测定装置60具有与图10所示的控制电路41、显示面板100和测定装置60相同的功能，因此省略详细的说明。修正参数确定装置50除了具有测定控制单元51和修正参数计算单元52之外，还具有区域划分单元53。区域划分单元53将显示面板100划分为多个划分区域，为了按各所述划分区域进行处理而对测定控制单元51和修正参数计算单元52提供指示。测定控制单元51根据区域划分单元的指示，按各所述划分区域取得表示多个划分区域各自所包括的多个像素单元10所共用的代表电压-辉度特性的函数。修正参数计算单元52根据区域划分单元53的指示，求出使测定控制单元51测定出的、以预定的信号电压令预定的划分区域所包括的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示所述预定的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。另外，修正参数计算单元52根据区域划分单元53的指示，求出使测定控制单元51测定出的、以预定的信号电压令预定的划分区域所包括的像素单元10 发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示所述预定的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。图21是表示本实施方式的变形例的修正参数确定装置50确定修正参数的工作的一例的流程图。首先，准备显示面板100(有机EL显示装置40) (S31)。详细情况与图15的S21是同样的，因此省略说明。接着，区域划分单元53将显示面板100划分为多个划分区域(S3》。在此，该区域划分单元划分的划分区域的数量没有特别限定，例如区域划分单元将显示面板100划分为纵16个X横沈个的划分区域。接着，测定控制单元51按各划分区域取得表示多个划分区域各自所包括的多个像素单元所共用的代表电压-辉度特性的函数(S33)。接着，测定控制单元51得到预定的信号电压(S34)。详细情况与SM是同样的，因此省略说明。接着，测定控制单元51使用测定装置60测定并取得所有划分区域所包括的多个像素单元10在预定的信号电压下的辉度(S35)。在此，测定控制单元51通过以预定的信号电压使所有划分区域所包括的多个像素单元10同时发光，从而同时取得所述多个像素单元10的辉度。接着，修正参数计算单元52针对所有的划分区域所包括的多个像素单元10计算出第2修正参数(增益)(S36)。这样，针对成为对象的像素单元10计算出使以预定的信号电压令成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到包括成为对象的像素单元10的划分区域的代表电压-辉度特性时所得到辉度的第2修正参数。然后，修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)与成为对象的像素单元10对应地存储到存储单元43中(S37)。这样，将显示面板100划分成多个划分区域，按各划分区域设定多个划分区域各自所包括的像素单元10所共用的代表电压-辉度特性。然后，求出使以预定的信号电压令成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示包括成为对象的像素单元10的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的辉度的第2修正参数。由此，能够仅修正例如因相邻像素间的辉度变化激烈而产生辉度不均的区域，因此能够求出使所述相邻像素间的辉度变化变得平滑的第2修正参数。以上，基于实施方式说明了本发明的有机EL显示装置的显示方法和有机EL显示装置，但本发明不限于该实施方式所限定的内容。只要不脱离本发明的构思，则对本实施方式实施了本领域技术人员能想到的各种变形而得到的方式、组合不同的实施方式中的构成要素而构成的方式也包含在本发明的范围内。产业上的可利用性本发明尤其在内置有机EL显示装置的有机EL平板显示器的制造方法中是有用的，最适合作为能够缩短测定时间、同时降低显示面板的辉度不均的有机EL显示装置的制造方法等使用。
权利要求
1.一种有机EL显示装置的制造方法，所述有机EL显示装置具有显示面板，并在所述显示面板所使用的预定的存储单元中存储修正参数，所述制造方法包括第1步骤，准备具有多个像素单元的电路基板，所述像素单元包括电压驱动的驱动元件和电容器，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极连接；第2步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出所述电容器所保持的所述对应电压；第3步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的对应电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述显示面板所使用的所述预定的存储单元中；第4步骤，准备具有所述电路基板、并且所述电路基板所包括的各像素单元具有通过所述驱动元件的驱动电流而发光的发光元件的所述显示面板；第5步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第6步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第7步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第8步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数为使在所述第7步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数；以及第9步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述预定的存储单元中。
2.根据权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第8步骤中，通过运算求出从所述成为对象的像素单元发出的光的辉度成为所述基准辉度时的电压，所述第2修正参数是表示所述预定的信号电压与所述通过运算求出的电压之比的增■、Λfrff. ο
3.根据权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第2修正参数是表示以所述预定的信号电压使所述成为对象的像素单元发光时的辉度与所述基准辉度之比的增益。
4.根据权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法， 所述电容器的第2电极与所述驱动元件的源电极连接， 所述多个像素单元各自还具有第1电源线，其用于确定所述驱动元件的漏电极的电位； 第2电源线，其与所述发光元件的第2电极连接；第3电源线，其供给规定所述电容器的第1电极的电压值的第1基准电压； 数据线，其用于供给信号电压；第1开关元件，其对所述电容器的第1电极与所述第3电源线的导通和非导通进行切换；第2开关元件，其一个端子与所述数据线连接，另一端子与所述电容器的第2电极连接，对所述数据线与所述电容器的第2电极的导通和非导通进行切换；以及第3开关元件，其一个端子与所述驱动元件的源电极连接，另一端子与所述第1电容器的第2电极连接，对所述驱动元件的源电极与所述第1电容器的第2电极的导通和非导通进行切换，在所述第2步骤中，通过使所述第1开关元件为导通状态而对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压，同时使所述第2开关元件为导通状态而从所述数据线施加比从所述第1基准电压减去所述驱动元件的阈值电压后得到的值低的第2基准电压，从而使所述电容器产生比所述驱动元件的阈值电压大的电位差，通过经过到所述电容器的电位差达到所述驱动元件的阈值电压而所述驱动元件变为截止状态为止的时间，从而使与所述阈值电压对应的对应电压保持在所述电容器中。
5.根据权利要求4所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第1电源线和所述第3电源线为共用的电源线。
6.根据权利要求1 5中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第1步骤中，代替所述电路基板而准备在所述第4步骤中使用的所述显示面板。
7.根据权利要求6所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第2步骤中，在对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压时，设定所述第 1基准电压的电压值以使所述发光元件的第1电极与第2电极之间的电位差变为比所述发光元件开始发光的所述发光元件的阈值电压低的电压。
8.根据权利要求1 7中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第2步骤中，在使所述电容器保持与所述阈值电压对应的对应电压之后，使所述第2开关元件导通而使与所述对应电压对应的电流从所述电容器的第2电极流至所述数据线，通过由所述第1测定装置测定流至所述数据线的电流，从而读出保持在所述电容器中的对应电压。
9.根据权利要求1 8中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，与所述阈值电压对应的对应电压是其电压值与所述阈值电压的电压值成比例、且比所述阈值电压的电压值小的电压。
10.根据权利要求1 9中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的20% 100%的灰度等级所对应的电压。
11.根据权利要求10所述的有机EL显示装置的制造方法，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的30%的灰度等级所对应的电压。
12.根据权利要求10所述的有机EL显示装置的制造方法，属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的10% 20%的灰度等级所对应的电压。
13.根据权利要求1 12中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述代表电压-辉度特性是关于所述显示面板所包括的多个像素单元中的预定的一个像素单元的电压-辉度特性。
14.根据权利要求1 12中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述代表电压-辉度特性是使所述显示面板所包括的多个像素单元中的2个以上的像素单元的电压-辉度特性平均化而得到的特性。
15.根据权利要求1 12中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第5步骤中，将所述显示面板划分为多个划分区域，按各所述划分区域设定所述多个划分区域各自所包括的多个像素单元所共用的所述代表电压-辉度特性，在所述第8步骤中，针对所述成为对象的像素单元求出第2修正参数，所述第2修正参数为以所述预定的信号电压使所述成为对象的像素单元发光时的辉度成为当对包括所述成为对象的像素单元的划分区域的代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数。
16.根据权利要求1 15中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第1测定装置是阵列测试器。
17.根据权利要求1 16中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第2测定装置是图像传感器。
18.一种有机EL显示装置，具有显示面板，其具有多个像素，所述像素包括发光元件、电压驱动的驱动元件、以及电容器，所述驱动元件控制对所述发光元件的电流供给，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极和漏电极中的一方连接；存储单元，其针对所述多个像素单元的各个像素单元存储用于根据所述多个像素单元各自的特性修正从外部输入的图像信号的修正参数；以及控制单元，其从所述存储单元读出与所述多个像素单元各自对应的所述修正参数，将所述读出的修正参数与所述多个像素单元各自所对应的图像信号进行运算而得到修正信号电压，所述修正参数是通过如下步骤而生成的，即第1步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出保持在所述电容器中的所述对应电压；第2步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的阈值电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述存储单元中；第3步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第4步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第5步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第6步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数使在所述第5步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为当对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的辉度的参数；以及第7步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述存储单元中。
全文摘要
一种有机EL显示装置的显示方法中，准备具有多个像素单元(10)的电路基板，所述像素单元(10)包括驱动晶体管(T1)和保持电容器(Cs)，使像素单元(10)所包括的保持电容器(Cs)保持驱动晶体管(T1)的阈值电压，使用阵列测试器(200)来读出，在属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压上加上像素单元(10)的第1修正参数而得到预定的信号电压，将预定的信号电压施加于驱动晶体管(T1)，使用测定装置(60)测定从像素单元(10)发光的辉度，求出使测定出辉度变为将所述预定的信号电压输入到代表电压-辉度特性时所得到的基准辉度的第2修正参数。由此，能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。
文档编号G09G3/32GK102272818SQ20108000296
公开日2011年12月7日 申请日期2010年4月5日 优先权日2010年4月5日
发明者中村哲朗, 小野晋也, 濑川泰生 申请人:松下电器产业株式会社
技术领域：
本发明涉及一种有机EL(电致发光)显示装置的显示方法和有机EL显示装置。
背景技术：
作为使用了电流驱动型的发光元件的图像显示装置，使用了有机EL元件(0LED Organic Light Emitting Diode)的图像显示装置(有机EL显示器)为公众所知。该有机 EL显示器具有视角特性良好、功耗少的优点，因此作为下一代的FPD(Flat Panal Display, 平板显示器)的候选而受到关注。在有机EL显示器中，通常构成像素的有机EL元件被配置成矩阵状。在多个行电极(扫描线)和多个列电极(数据线)的交点设置有机EL元件、以在选择出的行电极和多个列电极之间施加与数据信号相当的电压的方式驱动有机EL元件的有机EL显示器被称为无源矩阵型有机EL显示器。另一方面，在多条扫描线和多条数据线的交点设置薄膜晶体管(TFT:Thin Film Transistor)，在该TFT上连接驱动晶体管的栅极，通过选择出的扫描线使该TFT导通，从数据线将数据信号输入到驱动晶体管，通过该驱动晶体管驱动有机EL元件的有机EL显示器被称为有源矩阵型有机EL显示器。与仅在选择各行电极(扫描线)的期间、连接于该行电极的有机EL元件进行发光的无源矩阵型有机EL显示器不同，在有源矩阵型有机EL显示器中，能够使有机EL 元件发光到下一次扫描(选择)，因此，即使扫描线数量上升也不会导致显示器的辉度 (brightness)减少。因此，能够以低电压进行驱动，所以能够实现低功耗化。但是，在有源矩阵型有机EL显示器中，由于在制造工序中产生的驱动晶体管和/或有机EL元件的特性不勻，有时即使提供相同的数据信号，在各像素中有机EL元件的辉度也会不同，将会产生条纹、斑块等的辉度不勻。针对此问题提出了如下的修正方法，即对于在有机EL显示器中产生的条纹、斑块，通过对图像信号(数据信号)进行修正，从而将与供给至各像素的图像信号对应的有机 EL元件的辉度修正为预定的基准辉度(例如，专利文献1)。在专利文献1的修正方法中，通过对有机EL显示器的每个像素至少进行3个灰度等级以上的辉度分布或电流分布的测定，从而能够求出用于将与供给至各像素的图像信号对应的有机EL元件的辉度修正为预定的基准辉度的修正参数、即增益和偏移量(offset)。在先技术文献专利文献1 日本特开2004-101143号公报
发明内容
但是，在以往的修正方法中，存在以下说明的问题。以往，作为修正参数的计算方法，例如具有使用最小二乘法求出作为修正参数的增益和偏移量的方法。在使用该最小二乘法的方法中，针对各像素进行多个灰度等级的辉度测定，基于在各测定中取得的各像素的辉度与代表电压-辉度特性的辉度差，通过预定的运算方法求出增益和偏移量。作为一例，如图1所示，针对某像素测定电压Vl V6这6 点的辉度Ll L6，作为修正参数而求出Vxl Vx6。但是，在使用例如最小二乘法的修正方法中，其性质上需要以至少3个灰度等级以上、优选5个灰度等级以上的灰度等级数进行各像素的辉度测定，存在从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止要花费时间的问题。特别是，在低灰度等级侧的辉度测定中需要特别长的时间。其结果，会产生从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍(tact)变长的问题。另外，在有机EL显示器中，具有在低灰度等级下容易产生条纹状的辉度不均等的性质。对于人眼而言，低灰度等级侧的辉度差比高灰度等级侧的辉度差更容易识别。因此， 最好是低灰度等级侧的修正精度高于高灰度等级侧的修正精度。但是，通常情况下，代表电压-辉度特性与各像素的电压-辉度特性的辉度差越是在高灰度等级侧就越大，在最小二乘法中，以使该高灰度等级侧的辉度差变为最小的方式通过运算同时求出增益和偏移量， 因此虽然能够减小高灰度等级侧的修正误差，但是也还是会出现低灰度等级侧的修正误差与高灰度等级侧的修正误差相比变大的问题。本发明是鉴于上述情况而做出的发明，其目的在于提供一种有机EL显示装置的显示方法和有机EL显示装置，其能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。为了实现上述目的，本发明的有机EL显示装置的制造方法是具有显示面板、并在所述显示面板所使用的预定的存储单元中存储修正参数的有机EL显示装置的制造方法， 包括第1步骤，准备具有多个像素单元的电路基板，所述像素单元包括电压驱动的驱动元件、和电容器，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极连接；第2步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出所述电容器所保持的所述对应电压；第3步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的对应电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述显示面板所使用的所述预定的存储单元中；第4步骤，准备具有所述电路基板、并且所述电路基板所包括的各像素单元具有通过所述驱动元件的驱动电流而发光的发光元件的所述显示面板；第5步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第6步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第7 步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2 测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第8步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数为使在所述第7步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数；以及第9步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述预定的存储单元中。根据本发明，能够实现能缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍的有机EL显示装置及其显示方法。具体而言，能够通过TFT基板的Vt测定和1个灰度等级的辉度测定这仅仅两次的测定来确定外部修正参数，并且在辉度测定中只进行高辉度部分的测定。由此，能够缩短辉度测定的节拍，使测定节拍变得非常短。
图1是用于说明求出修正参数的现有方法的图。图2是表示组装为显示面板之前的电路基板和测定该电路基板的阵列测试器的结构的框图。图3是表示显示单元具有的一个像素单元的电路结构的图。图4是表示本发明实施方式的像素单元的工作的定时图。图5是用于说明本发明实施方式的像素单元的写入期间TlO的工作的图。图6是用于说明本发明实施方式的像素单元的Vth检测期间T20的工作的图。图7是用于说明在Vth检测后保持在保持电容器中的电压的图。图8是用于说明本发明实施方式的像素单元的读出期间T30的工作的图。图9是用于说明第1修正参数计算处理的流程图。图10是表示显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。图11是有机EL显示装置具有的控制电路的功能结构图。图12是表示本实施方式的控制单元的功能结构图的一例的图。图13是表示预定的像素单元的电压-辉度特性与代表电压-辉度特性的图。图14是用于说明本实施方式的代表电压-辉度特性、高灰度等级域和低灰度等级域的图。图15是表示在本实施方式的辉度测定系统中计算第2修正参数的工作的一例的流程图。图16是示意地说明S24的图。图17是示意地说明S26的图。图18是用于说明本实施方式的修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理的图。图19是表示第1修正参数计算处理(Si)和第2修正参数计算处理(S》的流程图。图20是表示本实施方式的变形例的显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。图21是表示本实施方式的变形例的修正参数确定装置50确定修正参数的工作的一例的流程图。标号说明10像素单元11扫描线驱动电路12数据线驱动电路13输入输出端子20数据线21扫描线
23合并线
M高电压侧电源线
25低电压侧电源线
26基准电压电源线
27复位线
40有机EL显示装置
41控制电路
42控制单元
43存储单元
43a修正参数表
50修正参数确定装置
51测定控制单元
52修正参数计算单元
53区域划分单元
60测定装置
100显示面板
105显示单元
200阵列测试器
221电流测定单元
222通信单元
421乘法单元
422加法单元
具体实施例方式
第1方式的有机EL显示装置的制造方法是具有显示面板、并在所述显示面板所使用的预定的存储单元中存储修正参数的有机EL显示装置的制造方法，包括第1步骤，准备具有多个像素单元的电路基板，所述像素单元包括电压驱动的驱动元件、和电容器，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极连接；第 2步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出所述电容器所保持的所述对应电压；第3步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的对应电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述显示面板所使用的所述预定的存储单元中；第4步骤，准备具有所述电路基板、并且所述电路基板所包括的各像素单元具有通过所述驱动元件的驱动电流而发光的发光元件的所述显示面板；第5步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第6步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第7步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第8步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数为使在所述第7步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数；以及第9步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述预定的存储单元中。根据本方式，首先，使成为对象的像素所包括的电容器保持所述驱动元件的阈值电压，使用第1测定装置求出保持在所述电容器中的阈值电压。然后，将所述求出的阈值电压作为所述成为对象的像素的第1修正参数而存储在用于所述显示面板的预定的存储单元中。由此，上述的低灰度等级侧的辉度差会对所述驱动元件的阈值电压的不勻产生影响， 因此通过将所述阈值电压作为修正参数使用，从而能够在低灰度等级域中使从各像素发光的辉度与所述代表电压-辉度特性一致。接着，求出对属于中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述第1修正参数而得到的预定的电压，将所述预定的电压施加于所述成为对象的像素所包括的驱动元件，进行第2次的辉度测定。即，通过将作为所述驱动元件的阈值电压的第1修正参数加在属于所述中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压上，从而能够在使低灰度等级域的辉度与所述代表电压-辉度特性一致的状态下进行中灰度等级域或高灰度等级域中的辉度测定。之后，对所述成为对象的像素求出使所述成为对象的像素的辉度变为将所述预定的电压输入到表示所述代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。这样，读出所述驱动元件的阈值电压而作为第1修正参数使用，在使低灰度等级域的辉度与所述代表电压-辉度特性一致的状态下，使高灰度等级域中的各像素的辉度与所述代表电压-辉度特性所示的辉度一致，因此能够使属于低灰度等级域的预定的1个灰度等级和属于其他的灰度等级域的预定的1个灰度等级这2个灰度等级下的发光辉度与所述代表电压-辉度特性一致。其结果，能够抑制人眼所能识别的显示面板的辉度不均，并且能够任意对进行辉度测定的1个灰度等级进行选择，所以还能够抑制低灰度等级域以外的所期望的灰度等级域的辉度不均。另外，能够用1次测定求出第1修正参数，并且用1次辉度测定求出所述第2修正参数，因此能够用合计2次测定求出所述第1修正参数和第2修正参数。其结果，能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。在第2方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第8步骤中，通过运算求出从所述成为对象的像素单元发出的光的辉度变为所述基准辉度时的电压，所述第2修正参数是表示所述预定的信号电压与所述通过运算求出的电压之比的增益。在第3方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第2修正参数是表示以所述预定的信号电压使所述成为对象的像素单元发光时的辉度与所述基准辉度之比的增益。在第4方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述电容器的第2电极与所述驱动元件的源电极连接，所述多个像素单元各自还具有第1电源线，其用于确定所述驱动元件的漏电极的电位；第2电源线，其与所述发光元件的第2电极连接；第3电源线，其供给规定所述电容器的第1电极的电压值的第1基准电压；数据线，其用于供给信号电压；第1开关元件，其对所述电容器的第1电极与所述第3电源线的导通和非导通进行切换；第2开关元件，其一个端子与所述数据线连接，另一端子与所述电容器的第2电极连接，对所述数据线与所述电容器的第2电极的导通和非导通进行切换；以及第3开关元件，其一个端子与所述驱动元件的源电极连接，另一端子与所述第1电容器的第2电极连接，对所述驱动元件的源电极与所述第1电容器的第2电极的导通和非导通进行切换，在所述第2步骤中，通过使所述第1开关元件为导通状态而对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压，同时使所述第2开关元件为导通状态而从所述数据线施加比从所述第1基准电压减去所述驱动元件的阈值电压后得到的值低的第2基准电压，从而使所述电容器产生比所述驱动元件的阈值电压大的电位差，通过经过到所述电容器的电位差达到所述驱动元件的阈值电压而所述驱动元件变为截止状态为止的时间，从而使与所述阈值电压对应的对应电压保持在所述电容器中。根据本方式，能够保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压。在第5方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第1电源线和所述第3电源线为共用的电源线。根据本方式，在进行与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压的测定时，在各像素单元没有设置所述发光元件的情况下，可以将所述第1电源线和所述第2电源线设为共用的电源线。在第6方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第1步骤中，代替所述电路基板而准备在所述第4步骤中使用的所述显示面板。根据本方式，可以在所述多个像素单元的各个像素单元设置所述发光元件而进行与所述阈值电压对应的电压的测定。在第7方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第2步骤中，在对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压时，设定所述第1基准电压的电压值以使所述发光元件的第1电极与第2电极之间的电位差变为比所述发光元件开始发光的所述发光元件的阈值电压低的电压。根据本方式，在将所述发光元件设置在所述电路基板的各像素单元的状态下，在对所述电容器测定与所述阈值电压对应的对应电压时，设定所述第1基准电压的电压值以时在对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压时所述发光元件不发光。在第8方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第2步骤中，在使所述电容器保持与所述阈值电压对应的对应电压之后，使所述第2开关元件导通，使与所述对应电压对应的电流从所述电容器的第2电极流至所述数据线，通过由所述第1测定装置测定流至所述数据线的电流，从而读出保持在所述电容器中的对应电压。根据本方式，在使所述电容器保持与所述阈值电压对应的对应电压之后，使所述第2开关元件导通，使保持在所述电容器中的电压所对应的电流流至所述数据线。并且，通过所述第1测定装置测定流至所述数据线的电流。由此，能够根据通过所述第1测定装置测定出的电流来读出保持在所述电容器中的电压。在第9方式的有机EL显示装置的制造方法中，与所述阈值电压对应的对应电压是其电压值与所述阈值电压的电压值成比例、且比所述阈值电压的电压值小的电压。根据本方式，与所述阈值电压对应的对应电压是其电压值与所述阈值电压的电压值成比例、且比所述阈值电压的电压值小的电压。这样，不是将所述读出电压的值设为所述阈值电压的值而是设为比所述阈值电压的值小的电压值是因为所述代表电压-辉度特性的低灰度等级域与比所述阈值电压小的电压区域对应。通过读出值比所述阈值电压的电压值小的电压而作为所述第1修正参数来使用，能够提高在所述代表电压-辉度特性的低灰度等级域内的修正精度。在第10方式的有机EL显示装置的制造方法中，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的20% 100%的灰度等级所对应的电压。根据本方式，施加属于最大灰度等级的20% 100%的灰度等级域的1个灰度等级所对应的电压来作为属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压。在第11方式的有机EL显示装置的制造方法中，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的30%的灰度等级所对应的电压。根据本方式，施加与最大灰度等级的30%的灰度等级对应的电压来作为属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压。此时，能够最大地抑制高灰度等级域中的修正误差。在第12方式的有机EL显示装置的制造方法中，属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的10% 20%的灰度等级所对应的电压。根据本方式，施加属于最大灰度等级的10% 20%的灰度等级域的1个灰度等级所对应的电压来作为属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压。在第13方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述代表电压-辉度特性是针对所述显示面板所包括的多个像素单元中的预定的一个像素单元的电压-辉度特性。根据本方式，可以将所述代表电压-辉度特性作为针对所述显示面板所包括的多个像素单元中的任意一个像素单元的电压-辉度特性。在第14方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述代表电压-辉度特性是使所述显示面板所包括的多个像素单元中的2个以上的像素单元的电压-辉度特性平均化后得到的特性。根据本方式，对于所述代表电压-辉度特性，在包括所述多个像素的显示面板整体上共用地设定，使所述显示面板所包括的各像素的电压-辉度特性平均化而求出。由此， 求出修正参数以使所述显示面板所包括的各像素的辉度变为所述显示面板整体所共用的代表电压-辉度特性，因此能够在使用该修正参数对图像信号进行了修正的情况下，使从各像素发出的光的辉度均勻。在第15方式的有机EL显示装置的制造方法中，在所述第5步骤中，将所述显示面板划分为多个划分区域，按各所述划分区域设定所述多个划分区域各自所包括的多个像素单元所共用的所述代表电压-辉度特性，在所述第8步骤中，针对所述成为对象的像素单元求出使以所述预定的信号电压令所述成为对象的像素单元发光时的辉度变为对包括所述成为对象的像素单元的划分区域的代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的第2修正参数。根据本方式，将所述显示面板划分为多个划分区域，按各所述划分区域设定所述多个划分区域各自所包括的像素所共用的所述代表电压-辉度特性。并且，求出使以所述预定的信号电压令所述成为对象的像素发光时的辉度变为将所述预定的信号电压输入到表示包括所述成为对象的像素的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。由此，能够仅修正例如因相邻像素间的辉度变化激烈而产生辉度不均的区域，因此能够求出用于使所述相邻像素间的辉度变化变得平滑的修正参数。在第16方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第1测定装置是阵列测试器。在第17方式的有机EL显示装置的制造方法中，所述第2测定装置是图像传感器。在第18方式的有机EL显示装置，具有显示面板，其具有多个像素，所述像素包括发光元件、电压驱动的驱动元件、以及电容器，所述驱动元件控制对所述发光元件的电流供给，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极和漏电极中的一方连接；存储单元，其针对所述多个像素单元的各个像素单元存储用于根据所述多个像素单元各自的特性修正从外部输入的图像信号的修正参数；以及控制单元，其从所述存储单元读出与所述多个像素单元各自对应的所述修正参数，将所述读出的修正参数与所述多个像素单元各自所对应的图像信号进行运算而得到修正信号电压，所述修正参数是通过如下步骤而生成的，即第1步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出保持在所述电容器中的所述对应电压；第2步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的阈值电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述存储单元中； 第3步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性； 第4步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域的任一方的1 个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第5步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第6步骤， 求出第2修正参数，所述第2修正参数为在所述第5步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的辉度的参数；以及第7步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述存储单元中。(实施方式1)以下，使用
本发明的实施方式。图2是表示组装为显示面板之前的电路基板和测定该电路基板的阵列测试器200 的结构的框图。图3是表示显示单元105具有的一个像素单元10的电路结构的图。图2所示的电路基板具有有机EL元件D1，并被组装到有机EL显示装置的显示面板100。在该电路基板上形成有显示单元105、扫描线驱动电路11、数据线驱动电路12、输入输出端子13。显示单元105具有排列成mXn的矩阵状的多个像素单元10，基于从外部输入到有机EL显示装置的辉度信号即图像信号来显示图像。在此，参照图3详细说明像素单元10 的电路结构。如图3所示，像素单元10具有作为电流发光元件的有机EL元件D1、驱动晶体管Tl、开关晶体管T2、保持电容Cs、参考晶体管T3以及分离晶体管T4。另外，对像素单元10 连接有扫描线21、用于供给信号电压的数据线20、合并(merge)线23、用于确定驱动晶体管 Tl的漏电极的电位的高电压侧电源线M、与有机EL元件Dl的第2电极连接的低电压侧电源线25、供给用于规定保持电容器Cs的第1电极的电压值的第1基准电压的基准电压电源线26、以及复位线27。有机EL元件Dl作为发光元件发挥功能，通过驱动晶体管Tl的驱动电流进行发光。有机EL元件Dl的阴极与低电压侧电源线25连接，有机EL元件Dl的阳极与驱动晶体管Tl的源极连接。在此，供给至低电压侧电源线25的电压为Vss，例如为O(V)。在图3 中，在像素单元10具有有机EL元件Dl，但是在组装为显示面板之前的电路基板的状态下， 像素单元10不一定必须具有有机EL元件Dl。驱动晶体管Tl是通过使电流在有机EL元件Dl中流动而使有机EL元件Dl发光的电压驱动的驱动元件。驱动晶体管Tl的栅极经由分离晶体管T4和开关晶体管T2与数据线20连接，其源极与有机EL元件Dl的阳极连接，其漏极与高电压侧电源线M连接。在此，供给至高电压侧电源线M的电压为Vdd，例如为20 (V)。由此，驱动晶体管Tl将供给至其栅极的信号电压(数据信号Data)转换为与该信号电压(数据信号Data)对应的信号电流，并将转换后的信号电流供给至有机EL元件D1。保持电容器Cs具有保持用于确定驱动晶体管Tl中流动的电流量的信号电压的功能。具体而言，保持电容器Cs连接在驱动晶体管Tl的源极(低电压侧电源线2 与驱动晶体管Tl的栅极之间。换言之，保持电容器Cs的第1电极与驱动晶体管Tl的栅电极连接， 保持电容器Cs的第2电极与驱动晶体管Tl的源电极连接。保持电容器Cs例如具有如下功能开关晶体管T2变为截止状态之后，也维持紧前的信号电压，继续使驱动电流从驱动晶体管Tl向有机EL元件Dl供给。保持电容器Cs由对信号电压乘以静电电容而得到的电荷来保持该信号电压。开关晶体管T2的一个端子与数据线20连接，另一个端子与保持电容器Cs的第2 电极连接，对数据线20与保持电容器Cs的第2电极的导通和非导通进行切换。具体而言， 开关晶体管T2具有用于将与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)写入至保持电容器Cs的功能。开关晶体管T2的栅极与扫描线21连接，其漏极或源极与数据线20。并且， 开关晶体管T2具有对将数据线20的信号电压(数据信号Data)供给至驱动晶体管Tl的栅极的定时进行控制的功能。参考晶体管T3对保持电容器Cs的第1电极与基准电压电源线沈的导通和非导通进行切换。具体而言，参考晶体管T3具有在检测驱动晶体管Tl的阈值电压Vth时对驱动晶体管Tl的栅极提供基准电压(Vr)的功能。参考晶体管T3的漏极和源极中的一方与驱动晶体管Tl的栅极连接，参考晶体管T3的漏极和源极中的另一方与用于施加参考电压 (Vr)的基准电压电源线沈连接。另外，参考晶体管T3的栅极与复位线27连接。分离晶体管T4的一个端子与驱动晶体管Tl的源电极连接，其另一个端子与保持电容器Cs的第2电极连接，对驱动晶体管Tl的源电极与保持电容器Cs的第2电极的导通和非导通进行切换。具体而言，分离晶体管T4具有如下功能在对保持电容器Cs写入电压的写入期间中，将保持电容器Cs和驱动晶体管Tl断开。分离晶体管T4的漏极和源极中的一方与驱动晶体管Tl的源极连接，该分离晶体管T4的漏极和源极中的另一方与保持电容器Cs的第2电极连接。另外，分离晶体管T4的栅极与合并线23连接。驱动晶体管Tl、开关晶体管T2、参考晶体管T3以及分离晶体管T4分别例如为N沟道薄膜晶体管、增强型晶体管。当然，既可以是P沟道薄膜晶体管也可以是耗尽型晶体管。如上所述构成像素单元10。再返回图2继续进行说明。扫描线驱动电路11与扫描线21连接，具有对像素单元10的开关晶体管T2的导通/非导通进行控制的功能。具体而言，扫描线驱动电路11对共用地连接在图2中沿行方向排列的像素单元10上的扫描线21分别独立地供给扫描信号scan。数据线驱动电路12与数据线20连接，具有输出与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)、确定在驱动晶体管Tl中流动的信号电流的功能。具体而言，数据线驱动电路12对共用地连接在图2中沿列方向排列的像素单元10上的数据线20分别独立地供给信号电压(数据信号Data)。输入输出端子13与数据线20连接，用于在预定的情况下读出属于多个像素单元 10的保持电容器Cs的电荷Q。另外，图2所示的阵列测试器200为第1测定装置，从成为对象的像素单元10所包括的保持电容器Cs读出与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压。另外，阵列测试器 200将从保持电容器Cs读出的对应电压作为成为对象的像素单元10的第1修正参数而存储在用于显示面板100的预定的存储单元43中。具体而言，阵列测试器200通过测定电路基板上的多个像素单元10各自的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth而计算出第1修正参数。 阵列测试器200具有电流测定单元221和通信单元222。如图2所示，存储单元43位于阵列测试器200的外部，但也可以在内部另外具有存储器，从该存储器进一步发送至存储单元43。电流测定单元221通过在后述的预定的条件下测定电路基板上的多个像素单元 10的电流，从而测定属于电路基板上的多个像素单元10的保持电容器Cs的保持电荷Qth。 在此，保持电容器Cs在后述的预定的条件下对在与驱动晶体管Tl的阈值电压Vth对应的对应电压上乘以保持电容器Cs的静电电容C而得到的保持电荷Oth进行保持。通信单元222向存储单元43发送根据通过电流测定单元221测定出的保持电荷 Qth而计算得到的、属于该像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。存储单元43在典型情况下位于阵列测试器200的外部，构成在控制显示面板100 的控制电路中。存储单元43存储通过通信单元222发送来的电路基板上的多个像素单元 10各自的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。使用如以上构成的电路基板和阵列测试器200，则能够测定分别属于电路基板上的多个像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。在上述说明中，使用阵列测试器200来测定组装为显示面板100之前的电路基板上的多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth，但不限于此。也可以使用阵列测试器200测定在具有有机EL元件Dl的显示面板100中多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。另外，在上述说明中，高电压侧电源线M和基准电压电源线沈为不同的电源线， 但也可以在测定与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压时，在各像素单元10不设置有机EL发光元件D1、即对电路基板上的像素单元10进行测定的情况下，将高电压侧电源线24和基准电压电源线沈设为共用的电源线。接着，说明使用阵列测试器200测定属于像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth时的测定程序。图4是表示本发明实施方式的像素单元10的工作的定时图。在多个像素单元10的每一个中，在一定的测定期间内进行如下的工作将与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)写入保持电容器Cs的工作、检测驱动晶体管Tl的阈值电压Vth的工作、以及读出保持在保持电容器Cs中的电荷的工作。将对保持电容器Cs 写入与图像信号对应的信号电压(数据信号Data)的期间设为“写入期间T10”，将检测驱动晶体管Tl的阈值电压Vth的期间设为“Vth检测期间T20”，将读出保持在保持电容器Cs 中的电荷的期间设为“读出期间T30”，以下对工作进行详细说明。写入期间T10、Vth检测期间T20以及读出期间T30是对每一个像素单元10定义的，不需要对于所有的像素单元10 使所述3个期间的相位一致。(写入期间T10)图5是用于说明本发明实施方式中的像素单元的写入期间TlO的工作的图。在写入期间TlO的时刻tl2，首先使供给至复位线27的复位信号Reset为高电平， 使参考晶体管T3为导通状态。于是，供给至基准电压电源线沈的基准电压Vr施加在c点 (保持电容器Cs的第1电极)。S卩，在c点写入基准电压。在此，在电路基板具有有机EL元件Dl的情况下，基准电压电源线沈设定基准电压Vr以使有机EL元件Dl不发光。具体而言，在保持电容器Cs的第1电极施加第1基准电压时，设定第1基准电压的电压值以使有机EL元件Dl的第1电极与第2电极之间的电位差变为比有机EL元件Dl开始发光的该有机EL元件Dl的阈值电压低的电压。即，在电路基板的各像素单元10设有有机EL元件Dl的状态下，在保持电容器Cs测定与阈值电压对应的对应电压的情况下，设定第1基准电压的电压值，使得在保持电容器Cs的第1电极施加第1基准电压时有机EL元件Dl不发光。相反地，在电路基板没有有机EL元件Dl的情况下，基准电压电源线沈设定为与高电压侧电源线M相同的电压Vdd。这能够通过例如将高电压侧电源线M和基准电压电源线26设为共用的电源线而得以实现。即，在测定与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压时，在各像素单元10没有设置有机EL元件Dl的情况下，能够通过将高电压侧电源线M和基准电压电源线沈设为共用的电源线而得以实现。接着，使供给至扫描线21的扫描信号scan为高电平，使开关晶体管T2为导通状态。于是，此时与供给至数据线20的图像信号对应的信号电压(数据信号data)被施加在 b点(保持电容器Cs的第2电极)。在此，例如，该信号电压(数据信号data)被设定为与低电压侧电源线25相同的电压Vss。另外，在写入期间TlO中，供给至合并线23的合并信号merge为低电平，分离晶体管T4处于截止状态。因此，对保持电容器Cs提供与b点和c点的电位差(Vr-Vss)对应的电压，该电压施加在驱动晶体管Tl的栅极上。施加于保持电容器Cs的电压变为驱动晶体管Tl的阈值电压Vth以上的大小。这样来进行向保持电容器Cs的写入工作。就是说，对于保持电容器Cs，使参考晶体管T3为导通状态而对第1电极施加第1基准电压Vr，同时使开关晶体管T2为导通状态而由数据线20施加比从第1基准电压Vr减去驱动晶体管Tl的阈值电压后而得到的值低的第2基准电压。由此，在保持电容器Cs中，进行产生比驱动晶体管Tl的阈值电压大的电位差的写入工作。然后，在对保持电容器Cs的写入工作结束、即像素单元10的写入期间TlO结束的时刻tl3，使扫描信号kan返回为低电平，使开关晶体管T2为截止状态。(Vth 检测期间 T20)图6是用于说明本发明实施方式中的像素单元的Vth检测期间T20的工作的图。在Vth检测期间T20的最初的时刻tl4，使供给至合并线23的合并信号merge为高电平，使分离晶体管T4为导通状态。在此，在Vth检测期间T20中，供给至扫描线21的扫描信号scan为低电平，开关晶体管T2为截止状态。另外，在Vth检测期间T20，供给至复位线27的复位信号Reset为高电平，参考晶体管T3为导通状态。于是，在驱动晶体管Tl的栅极施加供给至基准电压电源线沈的基准电压Vr (c点的电位)，驱动晶体管Tl为导通状态。此时，有机EL元件Dl如上所述那样不发光。S卩，在对保持电容器Cs的第1电极施加第1基准电压Vr时，设定第1基准电压的电压值，使得有机EL元件Dl的第1电极与第2电极之间的电位差变为比有机EL元件Dl开始发光的该有机EL元件D1的阈值电压低的电压。并且，在b点(保持电容器Cs的第2电极)经由分离晶体管T4而施加与施加给驱动晶体管Tl的栅极的基准电压Vr对应的高电压侧电源线M的电压Vdd的一部分，b点 (保持电容器Cs的第2电极)的电位上升。接着，例如图4所示，直到时刻tl8 —直处于待机等而对处理时间进行调整，从而 b点与c点的电位差、即保持电容器Cs所保持的电压剩余与驱动晶体管Tl的阈值电压Vth 对应的电压(具体而言为与小于Vth的电压对应的电压)。这是因为在驱动晶体管Tl的栅极-源极间的电压Vgs与阈值电压Vth (具体而言为小于Vth的电压)变为相等的时刻， 驱动晶体管Tl变为截止状态。即，在保持电容器Cs中，经过到b点与c点的电位差即第1 电极与第2电极间的电压达到驱动晶体管Tl的阈值电压而使驱动晶体管Tl变为截止状态的时间，从而保持与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压。因此，对于保持电容器Cs， 通过调整处理时间，从而保持与比驱动晶体管Tl的阈值电压Vth小的对应电压成比例的电荷Qth(电荷Q =静电电容CX电压)。这样，在保持电容器Cs中进行使保持的电压变为与阈值电压Vth对应的对应电压的Vth补偿工作。然后，在Vth补偿工作结束、即像素单元10的Vth检测期间T20结束的时刻tl8， 使合并信号Merge返回为低电平，使分离晶体管T4为截止状态。在此，对在Vth补偿工作中保持电容器Cs保持的电压变为与比Vth小的电压对应的电压的理由进行说明。图7是用于说明在Vth检测后保持在保持电容器中的电压的图。在此，图7(a)是摘出驱动晶体管Tl和保持电容器Cs而进行记载的图。在图7(a)中，在Vth检测期间中， 分离晶体管T4为导通状态，因此省略分离晶体管T4的记载。施加在保持电容器Cs的电压为驱动晶体管Tl的栅极和源极间的电压，因此作为Vgs加以说明。在图7(a)所示的保持电容器Cs施加了例如比驱动晶体管Tl的阈值电压Vth大的电压(VA)。于是，保持电容器Cs使所保持的电荷通过驱动晶体管Tl的TFT沟道而向Vdd侧放电。然后，当保持电容器Cs的电极间电位变小、即施加在保持电容器Cs上的电压Vgs 变小时，则在驱动晶体管Tl的TFT沟道中流动的电流变小，因此放电需要花费时间。在此，如图7(b)所示，在驱动晶体管Tl为阈值电压Vth以下而不流动电流的理想情况下，保持电容器Cs的电极间的电位变为Vth时，则如上所述不会流动电流。因此，在保持电容器Cs维持驱动晶体管Tl的阈值电压Vth。但是，实际上驱动晶体管Tl具有的TFT的特性存在不勻。因此，如图7(c)所示， 驱动晶体管Tl即便为阈值电压Vth以下也会流动微小的电流，因此会在保持电容器Cs保持驱动晶体管Tl的阈值电压Vth以下的电压。就是说，驱动晶体管Tl实际上如图7(d)所示，在电压Vth以下以指数函数性地减少的方式流动电流。因此，在保持电容器Cs与某设定时间对应地保持Vth以下的电位。因此，在Vth补偿工作中，保持电容器Cs保持的电压变为与小于Vth的电压对应的对应电压。就是说，对于保持电容器Cs保持的电压，会保持与阈值电压对应的对应电压。 在此，如上所述，与阈值电压对应的对应电压是指电压值与驱动晶体管Tl的阈值电压Vth 的电压值成比例、并且比阈值电压Vth的电压值小的电压。包含这些情况而记载为对应电压。(读出期间T30)图8是用于说明本发明实施方式的像素单元的读出期间T30的工作的图。首先，在Vth检测期间T20后，分离晶体管T4变为截止状态，因此保持电容器Cs 保持着电荷Qth即与b点和c点之间的电位差对应的电荷Qth。接着，在读出期间T30的最初的时刻tl9，使供给至扫描线21的扫描信号scan变为高电平，使开关晶体管T2变为导通状态。于是，保持电容器Cs的第2电极(b点)与数据线20连接，保持电容器Cs所保持的电荷Qth经由数据线20、与数据线20连接的输入输出端子13而被阵列测试器200(电流测定单元221)读出。具体而言，阵列测试器200(电流测定单元221)经由输入输出端子13测定电流的总和，读出保持电容器Cs所保持的电荷量Qth。这是因为在电容器中存在电荷量Q =电流i X时间t的关系式的缘故。这样，进行读出保持在保持电容器Cs中的电荷的工作。就是说，使保持电容器Cs 保持与阈值电压Vth对应的对应电压之后，使开关晶体管T2导通，使与对应电压对应的电流从保持电容器Cs的第2电极流至数据线20，通过阵列测试器200 (电流测定单元221)对流至数据线20的电流进行测定。由此，进行读出保持在保持电容器Cs中的对应电压的工作。然后，在该读出期间T30结束的时刻t21，使扫描信号kan返回为低电平，使开关晶体管T2为截止状态。阵列测试器200(电流测定单元221)从各数据线20并行地读出多个像素单元10 各自所包括的保持电容器Cs所保持的电荷量Qth。如上所述，阵列测试器200对属于像素单元10的保持电容器Cs所保持的电荷量 Qth进行测定。并且，在阵列测试器200中，根据通过电流测定单元221读出的保持电荷Qth计算属于像素单元10的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth(包括Vth以下的对应电压)，通过通信单元222发送给存储单元43，作为第1修正参数而进行存储。在此，阈值电压Vth由电荷量Q=静电电容CX电压V所表示的电容器的关系式来计算。即，通过从保持电容器Cs所保持的电荷量Qth除以保持电容器Cs的静电电容，能够计算出保持电容器Cs所保持的驱动晶体管Tl的Vth(也包括Vth以下的对应电压)。这样，阵列测试器200能够测定多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl的阈值电压vth。并且，阵列测试器200能够将测定出的驱动晶体管Tl的阈值电压Vth作为第1修正参数而存储在存储单元43中。使用
上述的测定程序即第1修正参数计算处理的流程。图9是用于说明第1修正参数计算处理的流程图。首先，准备具有多个像素单元10的电路基板(Sll)，所述像素单元10包括电压驱动的驱动晶体管Tl ；和第1电极与驱动晶体管Tl的栅电极连接、第2电极与驱动晶体管 Tl的源电极连接的保持电容器Cs。接着，使成为对象的像素单元10所包括的保持电容器Cs保持与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的对应电压，使用阵列测试器200从成为对象的像素单元10读出保持在保持电容器Cs中的对应电压(Si》。阵列测试器200读出保持在保持电容器Cs中的电荷Qth， 根据所读出的电荷Qth计算阈值电压Vth，但将其表现为使用阵列测试器200从成为对象的像素单元10读出保持在保持电容器Cs中的对应电压。接着，阵列测试器200将所读出的对应电压作为成为对象的像素单元10的第1修正参数而存储在用于显示面板100的预定的存储单元43中(S13)。如上所述，进行第1修正参数计算处理(Si)，将第1修正参数存储在存储单元43 中。对各像素单元10进行以上的第1修正参数计算处理。然后，阵列测试器200使第 1修正参数与各像素单元10对应，并存储在存储单元43中。然后，将存储在存储单元43中的第1修正参数作为用于将与供给至各像素单元10 的图像信号对应的有机EL元件Dl的辉度修正为预定的基准辉度的偏移量而进行使用。由此，能够减少为了求出作为第2修正参数的增益而测定各像素的辉度的次数，所述第2修正参数是用于将与供给至各像素单元10的图像信号对应的有机EL元件Dl的辉度修正为预定的基准辉度的参数。另外，如上所述，与驱动晶体管Tl的阈值电压对应的电压是其电压值与阈值电压的电压值成比例、并且比阈值电压的电压值小的电压。这样，当读出的电压的值不是驱动晶体管Tl的阈值电压的值而是小于驱动晶体管Tl的阈值电压的值的电压值时，代表电压-辉度特性的低灰度等级域与小于阈值电压的电压区域对应。并且，通过读出值比驱动晶体管Tl的阈值电压的电压值小的电压来作为第1修正参数(偏移量)使用，从而能够实现提高代表电压-辉度特性的低灰度等级域的修正精度的效果。以下，对使用第1修正参数(偏移量)求出作为第2修正参数的增益的方法进行说明。图10是表示显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。使用测定装置60对准备好的显示面板100 (有机EL显示装置40具有的显示面板 100)进行显示面板100的辉度测定。并且，如后所述，该系统结构能够缩短辉度测定时间、同时降低显示面板100的辉度不均。图10所示的辉度测定系统具有有机EL显示装置40、修正参数确定装置50、测定装置60，用于进行有机EL显示装置40的显示面板100的辉度测定、求出作为第2修正参数的增益。有机EL显示装置40具有控制电路41和显示面板100。如上所述，显示面板100具有显示单元105、扫描线驱动电路11以及数据线驱动电路12，基于输入到扫描线驱动电路11和数据线驱动电路12的来自控制电路41的信号，在显示单元105显示图像。控制电路41具有控制单元42和存储单元43，具有供给用于在显示面板100上进行显示的图像信号、进行扫描线驱动电路11和数据线驱动电路12的控制而使显示面板100 显示图像的功能。具体而言，控制电路41根据来自测定控制单元51的指示，使显示面板 100所包括的多个像素单元10发光。另外，控制电路41还将修正参数计算单元52计算出的各像素单元10的第2修正参数(增益)进一步写入到存储单元43中。图11是表示本实施方式的存储单元所保持的修正参数表的一例的图。图12是表示本实施方式的控制电路的功能结构图的一例的图。存储单元43针对多个像素单元10的各个像素单元10，存储用于根据多个像素单元10各自的特性来修正从外部输入的图像信号的修正参数。具体而言，存储单元43存储包括各像素单元10的第1修正参数和第2修正参数的修正参数表43a。如图11所示，修正参数表43a是包括由各像素单元10的第1修正参数(偏移量) 和第2修正系数(增益)构成的修正参数的数据表。在图11中，第1修正参数用偏移量 OSll 偏移量OSmn表示。第2修正参数用增益Gll 增益Gmn表示，就是说，修正参数表 43a与显示单元105(m行Xn列)的矩阵对应，按各像素单元10存储由(增益、偏移量)构成的修正参数。在此，即在显示面板100的辉度测定时，已进行了上述的第1修正参数计算处理 (Si)，第1修正参数(偏移量)存储在存储单元43中。在该状态下，通过对显示面板进行辉度测定而计算出第2修正参数。因此，如图12所示，在修正参数表43a中，为了方便起见而将作为第2修正参数的增益存储为“1”，即存储为(1、0S11) (l、0Smn)。控制单元42具有乘法单元421和加法单元422。控制单元42从存储单元43读出与多个像素单元10分别对应的修正参数，将读出的修正参数与多个像素单元10各自所对应的图像信号进行运算而得到修正信号电压。然后，控制单元42通过将运算得到的修正信号电压输出到显示面板100，从而在显示面板100显示图像。具体而言，控制单元42在显示面板100的辉度测定时，从存储单元43的修正参数表43a读出为了方便起见使与多个像素单元10各自对应的修正参数、即第2修正参数也就是增益设为“1”的(1、0S11) (l、0Smn)。然后，根据读出的第2修正参数(增益)，对与多个像素单元10各自对应的信号电压(Vdata)乘以1倍(增益值)。通过在乘法运算后的信号电压1 X Vdata加上已存储的与多个像素单元10各自对应的OS (偏置值)，从而得到修正信号电压。测定装置60是能够测定从显示面板100具有的多个像素单元10发光的辉度的测定装置。具体而言，测定装置60是CCD (Charge Coupled Device，电荷耦合器件)图像传感器等图像传感器，能够通过1次拍摄以高精度测定显示面板100的显示单元105具有的所有像素单元10的辉度。测定装置60不限于图像传感器，只要能够测定显示单元105的像素单元10的辉度则任何测定装置均可。修正参数确定装置50具有测定控制单元51和修正参数计算单元52。修正参数确定装置50是基于测定装置60测定出的各像素单元10的辉度来确定用于进行修正使得显示面板100的显示单元105具有的多个像素单元10的辉度变为基准辉度的第2修正参数 (增益)的装置。另外，修正参数确定装置50将确定出的第2修正参数(增益)输出到有机EL显示装置40的控制电路41。在此，基准辉度是对表示代表电压-辉度特性的函数输入预定的电压时所得到的辉度。测定控制单元51是对从显示面板100所包括的多个像素单元10发光的辉度进行测定的处理单元。具体而言，测定控制单元51首先取得显示面板100所包括的1个以上的像素单元 10所共用的表示代表电压-辉度特性的函数。在此，代表电压-辉度特性是成为用于使辉度均勻化的基准的电压-辉度特性。例如，该代表电压-辉度特性是关于显示面板100所包括的多个像素单元10中预定的一个像素单元10的电压-辉度特性。另外，例如，该代表电压-辉度特性是关于显示面板100所包括的多个像素单元10中2个以上的像素单元10 的、使电压-辉度特性平均化的电压-辉度特性。此时，求出修正参数以使显示面板100所包括的各像素单元10的辉度变为显示面板100整体所共用的代表电压-辉度特性，因此， 在使用该修正参数修正了图像信号的情况下，能实现能够使从各像素单元10发出的光的辉度均勻的效果。另外，表示代表电压-辉度特性的函数是表示供给至驱动晶体管Tl的信号电压与通过有机EL元件Dl从成为对象的像素单元10发光的辉度之间的关系的函数。表示代表电压-辉度特性的函数通过另外的测定等而被预先确定。另外，测定控制单元51令控制电路41使显示面板100所包括的多个像素单元10 发光，使测定装置60测定从该多个像素单元10发光的辉度，从而取得该辉度。具体而言，测定控制单元51将在属于该代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压上加上成为对象的像素单元10 的第1修正参数而得到的预定的信号电压施加给多个像素单元10各自所包括的作为驱动元件的驱动晶体管Tl，通过使用测定装置60测定从多个像素单元10发光的辉度，从而取得该辉度。在此，对测定控制单元51测定属于该代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压的理由进行说明。图13是表示预定的像素单元的电压-辉度特性和代表电压-辉度特性的图。图13(a)示出预定的像素单元10的电压-辉度特性，图13(b)示出在预定的像素单元10中作为第1修正参数(偏移量)而加上了通过上述的第1修正参数计算处理(Si)计算出的驱动晶体管Tl的阈值电压 Vth时的电压-辉度特性。如图13(b)所示，在加上了第1修正参数(偏移量)的情况下，在代表电压-辉度特性的低灰度等级域中，示出了预定的像素单元10的电压-辉度特性与代表电压-辉度特性接近的特性。就是说，多个像素单元10的电压-辉度特性处于通过以加上第1修正参数 (偏移量)而得到的电压来显示辉度、从而使低灰度等级域符合代表电压-辉度特性的状态。另一方面，在代表电压-辉度特性的高辉度域中，预定的像素单元10的电压-辉度特性与代表电压-辉度特性没有表现出接近的特性。就是说，在代表电压-辉度特性的高辉度域中，两者的特性存在差距(gap)，处于不相符合的状态。因此，测定代表电压-辉度特性的区域中属于低灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压，也示出接近的特性，因此效果不明显。但是，测定控制单元51测定代表电压-辉度特性的区域中属于中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压，计算出增益，这是有效的。就是说，在代表电压-辉度特性中，只要求出高低灰度等级域的增益，不仅在低灰度等级域，在高低灰度等级域也能够使特性接近，因此是有效的。修正参数计算单元52使用测定控制单元51取得的辉度和表示代表电压-辉度特性的函数，针对成为对象的像素计算出第2修正参数(增益)。修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)输出到控制电路41。然后，控制电路41将该第2修正参数 (增益)存储到存储单元43中。具体而言，修正参数计算单元52通过运算求出测定控制单元51取得的辉度、即以预定的信号电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示代表电压-辉度特性的函数时所得到的辉度的情况下的电压，计算出表示该预定的电压与通过运算求出的电压之比的第2修正参数(增益)。就是说，第2修正参数(增益)是预定的信号电压与将以预定的信号电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度输入到表示代表电压-辉度特性的函数时所得到的电压之比。第2修正参数(增益)也可以作为以预定的电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度与输入预定的信号电压时得到的辉度(基准辉度)之比而进行计算。另外，修正参数计算单元52针对有机EL元件Dl发光的红色、绿色以及蓝色的各颜色求出第2修正参数。在此，对代表电压-辉度特性、高灰度等级域以及低灰度等级域进行说明。 图14是用于说明书本实施方式的代表电压-辉度特性、高灰度等级域以及低灰度等级域的图。如图14(a)所示，代表电压-辉度特性是用从像素单元10发光的辉度与供给至驱动晶体管Tl的电压的Y次方(例如，Y = 2.2)成比例的曲线所表示的特性。并且，显示面板100所包括的各像素单元10具有各自不同的电压-辉度特性。因此，在本实施方式中，代表电压-辉度特性为关于显示面板100所包括的多个像素单元10 中的任意一个像素的电压-辉度特性。由此，能够容易地取得表示代表电压-辉度特性的函数。代表电压-辉度特性是包括多个像素单元10的显示面板100整体共同地设定的特性，可以是使显示面板100所包括的各像素单元10的电压-辉度特性平均后得到的特性。此时，求出使显示面板100所包括的各像素10的辉度变为显示面板100整体所共用的代表电压-辉度特性的修正参数，因此在使用该修正参数修正了图像信号的情况下，能够使从各像素10发出的光的辉度均勻。另外，图14(b)示出与人的视觉灵敏度对应的代表电压-辉度特性。就是说，人眼具有近似于LOG函数的灵敏度，因此与人的视觉灵敏度对应的代表电压-辉度特性变为辉度用LOG函数的曲线表示的特性。因此，人眼在高灰度等级下难以识别辉度不勻，在低灰度等级下容易识别辉度不均，因此为了符合人的视觉灵敏度，优选是预先将高灰度等级域的宽度设定得大、将低灰度等级域的宽度设定得小。因此，属于代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压优选是能够在各像素单元10显示的最大灰度等级的20% 100%的灰度等级所对应的电压，进一步优选是与最大灰度等级的30%的灰度等级对应的电压。这是因为能够最大地抑制高灰度等级域内的修正误差。另外，属于代表电压-辉度特性的中灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压优选是能够在各像素单元10显示的最大灰度等级的10% 20%的灰度等级所对应的电压。属于代表电压-辉度特性的低灰度等级域的1个灰度等级优选是能够在各像素单元10显示的最大灰度等级的0% 10%的灰度等级。另外，由于人眼无法视觉识别在各像素单元10发光的最大灰度等级的0. 2%以下的灰度等级，所以属于代表电压-辉度特性的低灰度等级域的1个灰度等级进一步优选是最大灰度等级的0. 2% 10%的灰度等级。接着，使用
第2修正参数计算处理的流程(测定程序)。图15是表示在本实施方式的辉度测定系统中计算第2修正参数的工作的一例的流程图。图16是用于示意地说明SM的图，图17是用于示意地说明S26的图。首先，准备显示面板100(有机EL显示装置40) (S21)，所述显示面板100具有上述的电路基板，且该电路基板所包括的像素单元10具有通过其驱动晶体管Tl的驱动电流进行发光的有机EL元件D1。接着，测定控制单元51取得表示显示面板100所包括的1个以上的像素单元10 所共用的代表电压-辉度特性的函数(S22)。接着，测定控制单元51使控制电路41对显示面板100所包括的多个像素单元10 施加属于代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压。在控制电路41中，控制单元42从存储单元43取得成为对象的像素单元10的第1修正参数(偏移量)，加上该参数而取得预定的信号电压(SM)。这是因为如图16所示，当以加上第1修正参数(偏置)后得到的预定的信号电压显示成为对象的多个像素单元10的辉度时，对于其电压-辉度特性，能够在低灰度等级域中符合代表电压-辉度特性的状态下进行显示。然后，控制电路41将该预定的信号电压施加到成为对象的像素单元10所包括的驱动晶体管Tl。接着，测定控制单元51使用测定装置60测定并取得从显示面板100所包括的成为对象的像素单元10发光的辉度(S2Q。就是说，测定控制单元51使控制电路41对多个像素单元10各自所包括的驱动晶体管Tl施加加上第1修正参数(偏移量)而得到的预定的信号电压，使测定装置60测定从多个像素单元10发光的辉度，从而取得该辉度。接着，修正参数计算单元52使用测定控制单元51取得的辉度、和代表电压-辉度特性的函数来计算第2修正参数(增益)(S^)。具体而言，修正参数计算单元52求出使在S25中测定取得的成为对象的像素单元10的辉度变为将预定的信号电压输入到代表电压-辉度特性时得到的辉度的第2修正参数。在此，例如如图17所示，在成为对象的多个像素单元10的低灰度等级域中，符合代表电压-辉度特性，但在中灰度等级域至高灰度等级域中，不符合代表电压-辉度特性。因此，在属于代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压(图中的下，根据成为对象的多个像素单元10的辉度与代表电压-辉度特性中的辉度的比即辉度比来计算第2修正参数(增益)。关于修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理的详细内容将在后面叙述。然后，修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)与成为对象的像素单元10对应地存储在存储单元43中(S27)。具体而言，修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)与成为对象的像素单元10对应地发送给控制电路41，控制电路41 将接收到的第2修正参数存储在存储单元43中。如上所述，在辉度测定系统中进行计算第2修正参数的第2修正参数计算处理 (S2)。以上的处理针对有机EL元件Dl发光的红色、绿色以及蓝色的各颜色进行。就是说，测定控制单元51针对所述红色、绿色以及蓝色的各颜色测定并取得多个像素单元10的预定电压下的辉度。然后，修正参数计算单元52针对所述红色、绿色以及蓝色的各颜色求出第2修正参数。然后，修正参数计算单元52针对所述红色、绿色以及蓝色的各颜色，将计算出的第2修正参数输出到控制电路41，使控制电路41将所述第2修正参数写入到存储单元43中。由此，能够针对红色、绿色以及蓝色的各颜色进行修正以使辉度变得均勻。另外，在将修正参数写入存储单元43的有机EL显示装置40中，控制电路41对于从外部输入的图像信号，从存储单元43读出与多个像素单元10各自对应的修正参数，修正与多个像素单元10各自对应的图像信号。然后，控制电路41基于修正后的图像信号，控制扫描线驱动电路11和数据线驱动电路12，使显示面板100显示图像。图18是用于说明本实施方式的修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理的图。图18所示的曲线A是表示代表电压-辉度特性的曲线，曲线B是表示成为对象的像素单元10的电压-辉度特性的曲线。修正参数计算单元52针对成为对象的像素单元10求出使得以预定的信号电压令成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示代表电压-辉度特性的函数时得到的辉度(基准辉度)的第2修正参数。就是说，如图18所示，修正参数计算单元52计算出进行修正以使表示关于成为对象的像素单元10的电压-辉度特性的曲线B接近表示代表电压-辉度特性的曲线A的第2修正参数即增益。具体而言，首先，修正参数计算单元52计算增益计算用电压，该增益计算用电压是将以预定的信号电压使成为对象的像素单元10发光时的辉度输入到表示代表电压-辉度特性的函数时所得到的电压。如图18所示，修正参数计算单元52算出将以预定的信号电压VdataJ1使成为对象的像素单元10发光时的辉度Lh输入到曲线A时所得到的电压即增益计算用电压Vdata_hk。接着，修正参数计算单元52使用预定的信号电压和增益计算用电压，作为第2修正参数而计算出增益。具体而言，修正参数计算单元52使用预定的信号电压VdataJ1和增益计算用电压Vdata_hk，通过以下的算式计算出增益G。
AVh = Vdata_hk-Vdata_h 算式 1G= {1- Δ Vh/ (Vdata_h+ Δ Vh)}算式 2就是说，增益G是表示预定的信号电压VdataJ1相对于增益计算用电压Vdata_hk 的比的数值。修正参数计算单元52也可以通过上述以外的方法来计算增益G，例如，通过使用图18所示的辉度Lh与第1基准辉度的辉度差Δ Lh、以及曲线A的斜率mh来计算出AVh， 从而计算出增益G。并且，修正参数计算单元52将作为第2修正参数的增益存储在有机EL显示装置 40具有的存储单元43中。具体而言，修正参数计算单元52通过将第2修正参数输出到控制电路41，从而使控制电路41将第2修正参数写入到存储单元43中，使修正参数表43a得到更新。通过以上工作，修正参数计算单元52计算第2修正参数的处理(图15的S26)结束。以上，根据本发明能够实现如下的有机EL显示装置及其显示方法，即如图19所示，通过进行上述的第1修正参数计算处理(Si)和第2修正参数计算处理(S2)，能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数的测定节拍。这样，根据本发明的有机EL显示装置及其显示方法，首先，使成为对象的像素单元10所包括的保持电容器Cs保持驱动晶体管Tl的阈值电压，使用阵列测试器200求出保持电容器Cs所保持的阈值电压。然后，将求得的阈值电压作为成为对象的像素单元10的第 1修正参数而存储在用于显示面板100的预定的存储单元43中。上述的低灰度等级侧的辉度差会对驱动晶体管Tl的阈值电压的不勻产生影响，但通过将阈值电压作为偏置(第1修正参数)进行使用，能够在低灰度等级域中使从各像素单元10发光的辉度与代表电压-辉度特性一致。接着，求出在属于中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压上加上第1修正参数后得到的预定的电压，将预定的电压施加在成为对象的像素单元10所包括的驱动晶体管Tl上来进行第二次辉度测定。即，通过将作为驱动晶体管Tl的阈值电压的第1修正参数加到属于中灰度等级域或高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压上，从而能够在使低灰度等级域的辉度与代表电压-辉度特性一致的状态下进行中灰度等级域或高灰度等级域中的辉度测定。然后，针对成为对象的像素单元10求出使成为对象的像素单元10的辉度变为将所述预定的电压输入到表示代表电压-辉度特性的函数时得到的基准辉度的第2修正参数。因此，如上所述，读出驱动晶体管Tl的阈值电压而作为第1修正参数使用，在使低灰度等级域的辉度与代表电压-辉度特性一致的状态下，使高灰度等级域中的各像素单元 10的辉度与代表电压-辉度特性所示的辉度一致。由此，能够使属于低灰度等级域的预定的1个灰度等级以及属于其他灰度等级域的预定的1个灰度等级这2个灰度等级下的发光辉度与代表电压-辉度特性一致。其结果，能够抑制人眼所能视觉识别的显示面板100的辉度不均，并且能够任意地对进行辉度测定的1个灰度等级进行选择，因此还能够抑制低灰度等级域以外的所期望的灰度等级域的辉度不均。另外，能够以1次测定求出第1修正参数(偏移量)，并且能够以1次辉度测定求出第2修正参数(增益)，因此能够以合计2次测定求出第1修正参数和第2修正参数。其结果，能实现能够缩短从进行各像素单元10的辉度测定到求出修正参数(增益、偏移量) 为止的测定节拍的效果。(变形例)在上述实施方式中，针对显示面板100所包括的多个像素单元10确定第2修正参数(增益)，但不限于此。也可以将显示面板100分成多个划分区域，按所述各划分区域确定第2修正参数。图20是表示本实施方式的变形例的显示面板的辉度测定时的辉度测定系统的结构的图。控制电路41、显示面板100和测定装置60具有与图10所示的控制电路41、显示面板100和测定装置60相同的功能，因此省略详细的说明。修正参数确定装置50除了具有测定控制单元51和修正参数计算单元52之外，还具有区域划分单元53。区域划分单元53将显示面板100划分为多个划分区域，为了按各所述划分区域进行处理而对测定控制单元51和修正参数计算单元52提供指示。测定控制单元51根据区域划分单元的指示，按各所述划分区域取得表示多个划分区域各自所包括的多个像素单元10所共用的代表电压-辉度特性的函数。修正参数计算单元52根据区域划分单元53的指示，求出使测定控制单元51测定出的、以预定的信号电压令预定的划分区域所包括的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示所述预定的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。另外，修正参数计算单元52根据区域划分单元53的指示，求出使测定控制单元51测定出的、以预定的信号电压令预定的划分区域所包括的像素单元10 发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示所述预定的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的基准辉度的第2修正参数。图21是表示本实施方式的变形例的修正参数确定装置50确定修正参数的工作的一例的流程图。首先，准备显示面板100(有机EL显示装置40) (S31)。详细情况与图15的S21是同样的，因此省略说明。接着，区域划分单元53将显示面板100划分为多个划分区域(S3》。在此，该区域划分单元划分的划分区域的数量没有特别限定，例如区域划分单元将显示面板100划分为纵16个X横沈个的划分区域。接着，测定控制单元51按各划分区域取得表示多个划分区域各自所包括的多个像素单元所共用的代表电压-辉度特性的函数(S33)。接着，测定控制单元51得到预定的信号电压(S34)。详细情况与SM是同样的，因此省略说明。接着，测定控制单元51使用测定装置60测定并取得所有划分区域所包括的多个像素单元10在预定的信号电压下的辉度(S35)。在此，测定控制单元51通过以预定的信号电压使所有划分区域所包括的多个像素单元10同时发光，从而同时取得所述多个像素单元10的辉度。接着，修正参数计算单元52针对所有的划分区域所包括的多个像素单元10计算出第2修正参数(增益)(S36)。这样，针对成为对象的像素单元10计算出使以预定的信号电压令成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到包括成为对象的像素单元10的划分区域的代表电压-辉度特性时所得到辉度的第2修正参数。然后，修正参数计算单元52将计算出的第2修正参数(增益)与成为对象的像素单元10对应地存储到存储单元43中(S37)。这样，将显示面板100划分成多个划分区域，按各划分区域设定多个划分区域各自所包括的像素单元10所共用的代表电压-辉度特性。然后，求出使以预定的信号电压令成为对象的像素单元10发光时的辉度变为将预定的信号电压输入到表示包括成为对象的像素单元10的划分区域的代表电压-辉度特性的函数时所得到的辉度的第2修正参数。由此，能够仅修正例如因相邻像素间的辉度变化激烈而产生辉度不均的区域，因此能够求出使所述相邻像素间的辉度变化变得平滑的第2修正参数。以上，基于实施方式说明了本发明的有机EL显示装置的显示方法和有机EL显示装置，但本发明不限于该实施方式所限定的内容。只要不脱离本发明的构思，则对本实施方式实施了本领域技术人员能想到的各种变形而得到的方式、组合不同的实施方式中的构成要素而构成的方式也包含在本发明的范围内。产业上的可利用性本发明尤其在内置有机EL显示装置的有机EL平板显示器的制造方法中是有用的，最适合作为能够缩短测定时间、同时降低显示面板的辉度不均的有机EL显示装置的制造方法等使用。
权利要求
1.一种有机EL显示装置的制造方法，所述有机EL显示装置具有显示面板，并在所述显示面板所使用的预定的存储单元中存储修正参数，所述制造方法包括第1步骤，准备具有多个像素单元的电路基板，所述像素单元包括电压驱动的驱动元件和电容器，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极连接；第2步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出所述电容器所保持的所述对应电压；第3步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的对应电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述显示面板所使用的所述预定的存储单元中；第4步骤，准备具有所述电路基板、并且所述电路基板所包括的各像素单元具有通过所述驱动元件的驱动电流而发光的发光元件的所述显示面板；第5步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第6步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第7步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第8步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数为使在所述第7步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数；以及第9步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述预定的存储单元中。
2.根据权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第8步骤中，通过运算求出从所述成为对象的像素单元发出的光的辉度成为所述基准辉度时的电压，所述第2修正参数是表示所述预定的信号电压与所述通过运算求出的电压之比的增■、Λfrff. ο
3.根据权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第2修正参数是表示以所述预定的信号电压使所述成为对象的像素单元发光时的辉度与所述基准辉度之比的增益。
4.根据权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法， 所述电容器的第2电极与所述驱动元件的源电极连接， 所述多个像素单元各自还具有第1电源线，其用于确定所述驱动元件的漏电极的电位； 第2电源线，其与所述发光元件的第2电极连接；第3电源线，其供给规定所述电容器的第1电极的电压值的第1基准电压； 数据线，其用于供给信号电压；第1开关元件，其对所述电容器的第1电极与所述第3电源线的导通和非导通进行切换；第2开关元件，其一个端子与所述数据线连接，另一端子与所述电容器的第2电极连接，对所述数据线与所述电容器的第2电极的导通和非导通进行切换；以及第3开关元件，其一个端子与所述驱动元件的源电极连接，另一端子与所述第1电容器的第2电极连接，对所述驱动元件的源电极与所述第1电容器的第2电极的导通和非导通进行切换，在所述第2步骤中，通过使所述第1开关元件为导通状态而对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压，同时使所述第2开关元件为导通状态而从所述数据线施加比从所述第1基准电压减去所述驱动元件的阈值电压后得到的值低的第2基准电压，从而使所述电容器产生比所述驱动元件的阈值电压大的电位差，通过经过到所述电容器的电位差达到所述驱动元件的阈值电压而所述驱动元件变为截止状态为止的时间，从而使与所述阈值电压对应的对应电压保持在所述电容器中。
5.根据权利要求4所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第1电源线和所述第3电源线为共用的电源线。
6.根据权利要求1 5中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第1步骤中，代替所述电路基板而准备在所述第4步骤中使用的所述显示面板。
7.根据权利要求6所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第2步骤中，在对所述电容器的第1电极施加所述第1基准电压时，设定所述第 1基准电压的电压值以使所述发光元件的第1电极与第2电极之间的电位差变为比所述发光元件开始发光的所述发光元件的阈值电压低的电压。
8.根据权利要求1 7中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第2步骤中，在使所述电容器保持与所述阈值电压对应的对应电压之后，使所述第2开关元件导通而使与所述对应电压对应的电流从所述电容器的第2电极流至所述数据线，通过由所述第1测定装置测定流至所述数据线的电流，从而读出保持在所述电容器中的对应电压。
9.根据权利要求1 8中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，与所述阈值电压对应的对应电压是其电压值与所述阈值电压的电压值成比例、且比所述阈值电压的电压值小的电压。
10.根据权利要求1 9中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的20% 100%的灰度等级所对应的电压。
11.根据权利要求10所述的有机EL显示装置的制造方法，属于所述代表电压-辉度特性的高灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的30%的灰度等级所对应的电压。
12.根据权利要求10所述的有机EL显示装置的制造方法，属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域的1个灰度等级所对应的信号电压是在各像素单元能够显示的最大灰度等级的10% 20%的灰度等级所对应的电压。
13.根据权利要求1 12中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述代表电压-辉度特性是关于所述显示面板所包括的多个像素单元中的预定的一个像素单元的电压-辉度特性。
14.根据权利要求1 12中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述代表电压-辉度特性是使所述显示面板所包括的多个像素单元中的2个以上的像素单元的电压-辉度特性平均化而得到的特性。
15.根据权利要求1 12中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，在所述第5步骤中，将所述显示面板划分为多个划分区域，按各所述划分区域设定所述多个划分区域各自所包括的多个像素单元所共用的所述代表电压-辉度特性，在所述第8步骤中，针对所述成为对象的像素单元求出第2修正参数，所述第2修正参数为以所述预定的信号电压使所述成为对象的像素单元发光时的辉度成为当对包括所述成为对象的像素单元的划分区域的代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的基准辉度的参数。
16.根据权利要求1 15中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第1测定装置是阵列测试器。
17.根据权利要求1 16中的任一项所述的有机EL显示装置的制造方法，所述第2测定装置是图像传感器。
18.一种有机EL显示装置，具有显示面板，其具有多个像素，所述像素包括发光元件、电压驱动的驱动元件、以及电容器，所述驱动元件控制对所述发光元件的电流供给，所述电容器的第1电极与所述驱动元件的栅电极连接，第2电极与所述驱动元件的源电极和漏电极中的一方连接；存储单元，其针对所述多个像素单元的各个像素单元存储用于根据所述多个像素单元各自的特性修正从外部输入的图像信号的修正参数；以及控制单元，其从所述存储单元读出与所述多个像素单元各自对应的所述修正参数，将所述读出的修正参数与所述多个像素单元各自所对应的图像信号进行运算而得到修正信号电压，所述修正参数是通过如下步骤而生成的，即第1步骤，使成为对象的像素单元所包括的电容器保持与所述驱动元件的阈值电压对应的对应电压，使用第1测定装置从所述成为对象的像素单元读出保持在所述电容器中的所述对应电压；第2步骤，使用所述第1测定装置将所述读出的阈值电压作为所述成为对象的像素单元的第1修正参数而存储在所述存储单元中；第3步骤，取得所述显示面板所包括的1个以上的像素单元所共用的代表电压-辉度特性；第4步骤，对属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域到高灰度等级域的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压加上所述成为对象的像素单元的所述第1修正参数而得到预定的信号电压；第5步骤，将所述预定的信号电压施加于所述成为对象的像素单元所包括的驱动元件，使用第2测定装置测定从所述成为对象的像素单元发光的辉度；第6步骤，求出第2修正参数，所述第2修正参数使在所述第5步骤中测定出的所述成为对象的像素单元的辉度成为当对所述代表电压-辉度特性输入了所述预定的信号电压时所得到的辉度的参数；以及第7步骤，将求出的所述第2修正参数与所述成为对象的像素单元进行关联并存储在所述存储单元中。
全文摘要
一种有机EL显示装置的显示方法中，准备具有多个像素单元(10)的电路基板，所述像素单元(10)包括驱动晶体管(T1)和保持电容器(Cs)，使像素单元(10)所包括的保持电容器(Cs)保持驱动晶体管(T1)的阈值电压，使用阵列测试器(200)来读出，在属于所述代表电压-辉度特性的中灰度等级域和高灰度等级域中的任一方的1个灰度等级所对应的信号电压上加上像素单元(10)的第1修正参数而得到预定的信号电压，将预定的信号电压施加于驱动晶体管(T1)，使用测定装置(60)测定从像素单元(10)发光的辉度，求出使测定出辉度变为将所述预定的信号电压输入到代表电压-辉度特性时所得到的基准辉度的第2修正参数。由此，能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。
文档编号G09G3/32GK102272818SQ20108000296
公开日2011年12月7日 申请日期2010年4月5日 优先权日2010年4月5日
发明者中村哲朗, 小野晋也, 濑川泰生 申请人:松下电器产业株式会社
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