阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板的制作方法
专利名称：阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板的制作方法
技术领域：
本发明关于一种液晶显示面板，尤指一种阵列测试垫及源极驱动电路设置于像素阵列的相反两侧的液晶显示面板。
背景技术：
液晶显示面板(Liquid Crystal Display，简称LCD)是目前最为普遍的显示器类型，在制造技术不断进步下，液晶显示面板的制造良率也随着提高，然而不可避免的，目前液晶显示面板的良率仍无法到达百分之百。基于良率上的考虑，在制造过程中，通常会加入检测机制以提高液晶显示面板的良率。请见图1，图1为现有液晶显示面板100的示意图，液晶显示面板100的中央部份包含一像素阵列102，像素阵列102的左右两侧设置一扫描驱动电路104，且扫描驱动电路 104耦接于像素阵列102，并用以驱动像素阵列102。像素阵列102下方设置一集成电路垫 106。在集成电路垫106与液晶显示面板100之间加入一阵列测试电路112，集成电路垫106 的底层包含一阵列测试垫，此阵列测试垫耦接于阵列测试电路112，且阵列测试垫上具有多个信号接点，用以进行阵列测试。然而，由于阵列测试垫是放在集成电路垫106的底层，所以当集成电路垫106的面积越做越小时，其底层的空间就会缩小，造成无法容纳阵列测试垫。此外，因LCD面板被设计为具有越来越高的分辨率，对进行液晶显示面板100进行阵列测试所需的信号接点的数目就会越来越多。因此，集成电路垫106的底层空间不足的问题将越趋明显，而无法容纳阵列测试垫。
发明内容
本发明的一实施例提供一种液晶显示面板，包含一像素阵列，包含多个以阵列方式排列的像素；一源极驱动电路，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号；一阵列测试电路，耦接于该像素阵列，用以对所述像素循序提供阵列测试信号；及一阵列测试垫，设置于该像素阵列的第二侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，用以控制该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号。该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。通过上述本发明液晶显示面板的设计，当集成电路垫的面积越做越小时，或是当对液晶显示面板进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时，液晶显示面板足以容纳更大的阵列测试垫，而不再有空间不足的问题。
图1为现有液晶显示面板的示意图；图2为本发明液晶显示面板的示意图3为图2液晶ι显示面板的电路架构图。
其中，附图标记
100,200液晶显示面板
102,202像素阵列
104,204扫描驱动电路
106,206集成电路垫
112阵列测试电路
214阵列测试机制
312第三色彩接点
314第三控制信号接点
318影像数据接点
320阵列测试垫
322第一色彩接点
328第一控制信号接点
330第一阵列测试接点
332阵列信号接点
334阵列测试信号接点
340单元测试垫
342第二色彩接点
348第二控制信号接点
350第二阵列测试接点
354单元测试信号接点
370源极驱动电路
372色彩开关
374第二控制开关
380阵列测试电路
382多路复用器
384阵列测试开关
386第一控制开关
388阵列信号开关
具体实施例方式为使熟习本发明所属技术领域的一般技艺者能更进一步了解本发明，下文特列举本发明的数个实施例，并配合所附图式，详细说明本发明的构成内容及所欲达成的功效。请参考图2及图3，图2为本发明液晶显示面板200的示意图，图3为本发明液晶显示面板200的电路架构图。如图2及图3所示，液晶显示面板200包含像素阵列202、扫描驱动电路204、阵列测试机制214、源极驱动电路370、单元测试垫340、集成电路垫206及基板220。像素阵列202包含多个以阵列方式排列的像素230。源极驱动电路370设置于像
5素阵列202的下侧，且耦接于像素阵列202，用以对像素230提供影像数据或单元测试信号。 阵列测试机制214包含阵列测试电路380及阵列测试垫320，阵列测试电路380耦接于像素阵列202，可设于像素阵列202的上侧及/或像素阵列202的左右两侧，用以对像素230循序提供阵列测试信号，阵列测试垫320设置于像素阵列202的上侧，且耦接于源极驱动电路 370及阵列测试电路380，用以控制源极驱动电路370及阵列测试电路380，并对阵列测试电路380提供阵列测试信号。集成电路垫206设置于像素阵列202的下侧，且耦接于源极驱动电路370及阵列测试电路380，用以控制源极驱动电路370及阵列测试电路380，并对源极驱动电路370提供影像数据。单元测试垫340设置于集成电路垫206的一侧，且耦接于源极驱动电路370及阵列测试电路380，用以控制源极驱动电路370及阵列测试电路380， 并对源极驱动电路370提供单元测试信号。扫描驱动电路204设于像素阵列202的左右两侧，且耦接于像素阵列202，用以驱动像素阵列202。阵列测试电路380包含多路复用器382、N个阵列测试开关384及N个第一控制开关386，多路复用器382具有N个阵列信号开关388，N为正整数，且阵列信号开关388耦接于像素阵列202，用以将阵列测试信号经由N个阵列信号开关388中对应的一阵列信号开关输出。N个阵列测试开关384分别耦接于N个阵列信号开关388，用以控制是否传递经由N 个阵列信号开关388传来的阵列测试信号。每一第一控制开关386耦接于N个阵列测试开关384中对应的一阵列测试开关及像素阵列202中对应的像素，用以控制是否将经由阵列测试开关384传来的阵列测试信号传递至像素阵列202中对应的像素。源极驱动电路370包含N组色彩开关372，耦接于像素阵列202，用以输出影像数据或单元测试信号至像素阵列202。液晶显示面板200另包含N个第二控制开关374，分别耦接于N组色彩开关372，用以控制是否传递单元测试信号至N组色彩开关372。阵列测试垫320包含一组第一色彩接点322、第一控制信号接点328、第一阵列测试接点330、N个阵列信号接点332及阵列测试信号接点334。第一色彩接点322耦接于N 组色彩开关372，用以控制N组色彩开关372的开启及关闭。第一控制信号接点3 耦接于 N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，用以控制N个第一控制开关386及N个第二控制开关374的开启及关闭。第一阵列测试接点330耦接于N个阵列测试开关384，用以控制N个阵列测试开关384的开启及关闭。N个阵列信号接点332分别耦接于N个阵列信号开关388，用以控制N个阵列信号开关388的开启及关闭。阵列测试信号接点334耦接于 N个阵列信号开关388，用以对N个阵列信号开关388提供阵列测试信号。单元测试垫340包含第二阵列测试接点350、一组第二色彩接点342、第二控制信号接点348及单元测试信号接点354。第二阵列测试接点350耦接于N个阵列测试开关 384，用以控制N个阵列测试开关384的开启及关闭。第二色彩接点342，耦接于N组色彩开关372，用以控制N组色彩开关372的开启及关闭。第二控制信号接点348耦接于N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，用以控制N个第一控制开关386及N个第二控制开关374的开启及关闭。单元测试信号接点354，耦接于N个第二控制开关374，用以对N个第二控制开关374提供单元测试信号。集成电路垫206包含一组第三色彩接点312、第三控制信号接点314及N个影像数据接点318。第三色彩接点312耦接于N组色彩开关372，用以控制N组色彩开关372的开启及关闭。第三控制信号接点314耦接于N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，用以控制N个第一控制开关386及N个第二控制开关374的开启及关闭。N个影像数据接点318耦接于N组色彩开关372，用以对N组色彩开关372提供影像数据。在N个影像数据接点318提供影像数据前，液晶显示面板200会先进行阵列测试程序及单元测试程序，以确保液晶显示面板200的良率，并在进行阵列测试程序及单元测试程序之后，安装基板220于像素阵列202、源极驱动电路370、阵列测试机制214及扫描驱动电路204的上方，待基板220安装后，N个影像数据接点318便可对液晶显示面板200提供影像数据，使其正常工作。当液晶显示面板200进行阵列测试程序时，N个阵列信号接点332的输出电位会循序开启N个阵列信号开关388，当N个阵列信号开关388的一个阵列信号开关388被开启时，其余的阵列信号开关388会关闭，因此同一时间仅有一个阵列信号开关388会被开启。 除此之外，在进行阵列测试程序时，第一控制信号接点3 的输出电位会开启N个第一控制开关386，第一阵列测试接点330的输出电位会开启N个阵列测试开关384，以使由阵列测试信号接点334输入的阵列测试信号得以经由N个阵列测试开关384及N个第一控制开关 386循序输入像素阵列202。另外，N组第一色彩接点322的输出电位会关闭N组色彩开关 372，以避免单元测试垫340或集成电路垫206经由N组色彩开关372输入噪声至像素阵列 202。当液晶显示面板200进行单元测试程序时，第二控制信号接点348的输出电位会开启N个第二控制开关374，且N组第二色彩接点342的输出电位会开启N组色彩开关372， 以使由单元测试信号接点3M输入的单元测试信号得以经由N个第二控制开关374及N组第二色彩接点342同时输入像素阵列202的各个像素。除此之外，第二阵列测试接点350的输出电位会关闭N个阵列测试开关384，以避免阵列测试垫320经由N个阵列测试开关384 输入噪声至像素阵列202。当N个影像数据接点318提供影像数据时，N组第三色彩接点312的输出电位会循序开启每一组色彩开关372的多个色彩开关，以使由N个影像数据接点318输入的不同颜色的影像数据得以经由每一组色彩开关372的多个色彩开关循序输入像素阵列202。除此之外，第三控制信号接点314的输出电位会关闭N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，以避免阵列测试垫320经由N个阵列测试开关384输入噪声至像素阵列202，也避免单元测试垫340经由N个第二控制开关374输入噪声至像素阵列202。上述实施例中所描述对电路元件中的开关进行开启或关闭等操控，可藉由调整输出电位为高电平或低电平的方式，而达到对各开关所需的操控。经由本发明实施例的设计与电路架构，特别是阵列测试垫320相对于源极驱动电路370而设置于像素阵列202的相反两侧，可使液晶显示面板200有充裕空间容纳对液晶显示面板200进行阵列测试所需的元件。因此，当集成电路垫206的面积越做越小时，或是当对液晶显示面板200进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时，液晶显示面板 200不再有上述空间不足的问题，因为液晶显示面板200在像素阵列202的上方有充裕的空间来设置阵列测试垫320。以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种液晶显示面板，其特征在于，包含 一像素阵列，包含多个以阵列方式排列的像素；一源极驱动电路，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号；一阵列测试电路，耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供阵列测试信号；及一阵列测试垫，设置于该像素阵列的第二侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号；其中该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一集成电路垫，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该源极驱动电路提供该影像数据。
3.根据权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一单元测试垫，设置于该像素阵列的第一侧，并对该源极驱动电路提供该单元测试信号。
4.根据权利要求1、2或3所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一扫描驱动电路， 设于该像素阵列的相对两侧，且耦接于该像素阵列，用以驱动该像素阵列。
5.根据权利要求4所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一基板，覆盖于该像素阵列、该源极驱动电路、该阵列测试电路、该阵列测试垫及该扫描驱动电路上。
6.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该阵列测试电路包含一多路复用器，包含多个阵列信号开关，耦接于该像素阵列，用以将该阵列测试信号经由所述阵列信号开关中之一阵列信号开关输出；多个阵列测试开关，分别耦接于所述阵列信号开关，用以控制是否传递经由所述阵列信号开关传来的阵列测试信号；及多个第一控制开关，分别耦接于所述阵列测试开关及该像素阵列，用以控制是否将经由所述阵列测试开关传来的阵列测试信号传递至该像素阵列。
7.根据权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，该源极驱动电路包含多组色彩开关，耦接于该像素阵列，用以输出该影像数据或该单元测试信号至该像素阵列；该液晶显示面板另包含多个第二控制开关，分别耦接于该多组色彩开关，用以控制是否传递该单元测试信号至该多组色彩开关。
8.根据权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，该阵列测试垫包含一组第一色彩接点，耦接于该多组色彩开关，用以控制该多组色彩开关的开启及关闭；一第一控制信号接点，耦接于所述第一控制开关及所述第二控制开关，用以控制所述第一控制开关及所述第二控制开关的开启及关闭；一第一阵列测试接点，耦接于所述阵列测试开关，用以控制所述阵列测试开关的开启及关闭；多个阵列信号接点，分别耦接于所述阵列信号开关，用以控制所述阵列信号开关的开启及关闭；及一阵列测试信号接点，耦接于所述阵列信号开关，用以对所述阵列信号开关提供该阵列测试信号。
9.根据权利要求8所述的液晶显示面板，其特征在于，于所述阵列信号接点的一阵列信号接点的输出电位开启所述阵列信号开关的一相对应的阵列信号开关时，所述阵列信号接点的其余阵列信号接点的输出电位关闭所述阵列信号开关的其余阵列信号开关。
10.根据权利要求9所述的液晶显示面板，其特征在于，当该液晶显示面板进行一阵列测试程序时，所述阵列信号接点的输出电位循序开启所述阵列信号开关，该第一控制信号接点的输出电位开启所述第一控制开关，该第一阵列测试接点的输出电位开启所述阵列信号开关，且该组第一色彩接点的输出电位关闭所述色彩开关。
11.根据权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一单元测试垫，包含 一第二阵列测试接点，耦接于所述阵列测试开关，用以控制所述阵列测试开关的开启及关闭；一组第二色彩接点，耦接于该多组色彩开关，用以控制该多组色彩开关的开启及关闭；一第二控制信号接点，耦接于所述第一控制开关及所述第二控制开关，用以控制所述第一控制开关及所述第二控制开关的开启及关闭；及一单元测试信号接点，耦接于所述第二控制开关，用以对所述第二控制开关提供该单元测试信号。
12.根据权利要求11所述的液晶显示面板，其特征在于，当该液晶显示面板进行一单元测试程序时，该第二阵列测试接点的输出电位关闭所述阵列测试开关，该第二控制信号接点的输出电位开启所述第二控制开关，且该组第二色彩接点的输出电位开启该多组色彩开关。
13.根据权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一集成电路垫，包含 一组第三色彩接点，耦接于该多组色彩开关，用以控制该多组色彩开关的开启及关闭；一第三控制信号接点，耦接于所述第一控制开关及所述第二控制开关，用以控制所述第一控制开关及所述第二控制开关的开启及关闭；及多个影像数据接点，分别耦接于该多组色彩开关，用以对该多组色彩开关提供该影像数据。
14.根据权利要求13所述的液晶显示面板，其特征在于，当所述影像数据接点提供该影像数据时，该组第三色彩接点的输出电位循序开启每一组色彩开关的多个色彩开关，且该第三控制信号接点的输出电位关闭所述第一控制开关及所述第二控制开关。
全文摘要
本发明有关于液晶显示面板，包含一像素阵列，包含多个以阵列方式排列的像素；一源极驱动电路，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号；一阵列测试电路，耦接于该像素阵列，用以对所述像素循序提供阵列测试信号；及一阵列测试垫，设置于该像素阵列的第二侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，用以控制该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号。该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。本发明当集成电路垫的面积越做越小时，或是进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时，液晶显示面板足以容纳更大的阵列测试垫。
文档编号G09G3/00GK102385828SQ20111032987
公开日2012年3月21日 申请日期2011年10月24日 优先权日2011年8月12日
发明者余建城 申请人:友达光电股份有限公司
技术领域：
本发明关于一种液晶显示面板，尤指一种阵列测试垫及源极驱动电路设置于像素阵列的相反两侧的液晶显示面板。
背景技术：
液晶显示面板(Liquid Crystal Display，简称LCD)是目前最为普遍的显示器类型，在制造技术不断进步下，液晶显示面板的制造良率也随着提高，然而不可避免的，目前液晶显示面板的良率仍无法到达百分之百。基于良率上的考虑，在制造过程中，通常会加入检测机制以提高液晶显示面板的良率。请见图1，图1为现有液晶显示面板100的示意图，液晶显示面板100的中央部份包含一像素阵列102，像素阵列102的左右两侧设置一扫描驱动电路104，且扫描驱动电路 104耦接于像素阵列102，并用以驱动像素阵列102。像素阵列102下方设置一集成电路垫 106。在集成电路垫106与液晶显示面板100之间加入一阵列测试电路112，集成电路垫106 的底层包含一阵列测试垫，此阵列测试垫耦接于阵列测试电路112，且阵列测试垫上具有多个信号接点，用以进行阵列测试。然而，由于阵列测试垫是放在集成电路垫106的底层，所以当集成电路垫106的面积越做越小时，其底层的空间就会缩小，造成无法容纳阵列测试垫。此外，因LCD面板被设计为具有越来越高的分辨率，对进行液晶显示面板100进行阵列测试所需的信号接点的数目就会越来越多。因此，集成电路垫106的底层空间不足的问题将越趋明显，而无法容纳阵列测试垫。
发明内容
本发明的一实施例提供一种液晶显示面板，包含一像素阵列，包含多个以阵列方式排列的像素；一源极驱动电路，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号；一阵列测试电路，耦接于该像素阵列，用以对所述像素循序提供阵列测试信号；及一阵列测试垫，设置于该像素阵列的第二侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，用以控制该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号。该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。通过上述本发明液晶显示面板的设计，当集成电路垫的面积越做越小时，或是当对液晶显示面板进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时，液晶显示面板足以容纳更大的阵列测试垫，而不再有空间不足的问题。
图1为现有液晶显示面板的示意图；图2为本发明液晶显示面板的示意图3为图2液晶ι显示面板的电路架构图。
其中，附图标记
100,200液晶显示面板
102,202像素阵列
104,204扫描驱动电路
106,206集成电路垫
112阵列测试电路
214阵列测试机制
312第三色彩接点
314第三控制信号接点
318影像数据接点
320阵列测试垫
322第一色彩接点
328第一控制信号接点
330第一阵列测试接点
332阵列信号接点
334阵列测试信号接点
340单元测试垫
342第二色彩接点
348第二控制信号接点
350第二阵列测试接点
354单元测试信号接点
370源极驱动电路
372色彩开关
374第二控制开关
380阵列测试电路
382多路复用器
384阵列测试开关
386第一控制开关
388阵列信号开关
具体实施例方式为使熟习本发明所属技术领域的一般技艺者能更进一步了解本发明，下文特列举本发明的数个实施例，并配合所附图式，详细说明本发明的构成内容及所欲达成的功效。请参考图2及图3，图2为本发明液晶显示面板200的示意图，图3为本发明液晶显示面板200的电路架构图。如图2及图3所示，液晶显示面板200包含像素阵列202、扫描驱动电路204、阵列测试机制214、源极驱动电路370、单元测试垫340、集成电路垫206及基板220。像素阵列202包含多个以阵列方式排列的像素230。源极驱动电路370设置于像
5素阵列202的下侧，且耦接于像素阵列202，用以对像素230提供影像数据或单元测试信号。 阵列测试机制214包含阵列测试电路380及阵列测试垫320，阵列测试电路380耦接于像素阵列202，可设于像素阵列202的上侧及/或像素阵列202的左右两侧，用以对像素230循序提供阵列测试信号，阵列测试垫320设置于像素阵列202的上侧，且耦接于源极驱动电路 370及阵列测试电路380，用以控制源极驱动电路370及阵列测试电路380，并对阵列测试电路380提供阵列测试信号。集成电路垫206设置于像素阵列202的下侧，且耦接于源极驱动电路370及阵列测试电路380，用以控制源极驱动电路370及阵列测试电路380，并对源极驱动电路370提供影像数据。单元测试垫340设置于集成电路垫206的一侧，且耦接于源极驱动电路370及阵列测试电路380，用以控制源极驱动电路370及阵列测试电路380， 并对源极驱动电路370提供单元测试信号。扫描驱动电路204设于像素阵列202的左右两侧，且耦接于像素阵列202，用以驱动像素阵列202。阵列测试电路380包含多路复用器382、N个阵列测试开关384及N个第一控制开关386，多路复用器382具有N个阵列信号开关388，N为正整数，且阵列信号开关388耦接于像素阵列202，用以将阵列测试信号经由N个阵列信号开关388中对应的一阵列信号开关输出。N个阵列测试开关384分别耦接于N个阵列信号开关388，用以控制是否传递经由N 个阵列信号开关388传来的阵列测试信号。每一第一控制开关386耦接于N个阵列测试开关384中对应的一阵列测试开关及像素阵列202中对应的像素，用以控制是否将经由阵列测试开关384传来的阵列测试信号传递至像素阵列202中对应的像素。源极驱动电路370包含N组色彩开关372，耦接于像素阵列202，用以输出影像数据或单元测试信号至像素阵列202。液晶显示面板200另包含N个第二控制开关374，分别耦接于N组色彩开关372，用以控制是否传递单元测试信号至N组色彩开关372。阵列测试垫320包含一组第一色彩接点322、第一控制信号接点328、第一阵列测试接点330、N个阵列信号接点332及阵列测试信号接点334。第一色彩接点322耦接于N 组色彩开关372，用以控制N组色彩开关372的开启及关闭。第一控制信号接点3 耦接于 N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，用以控制N个第一控制开关386及N个第二控制开关374的开启及关闭。第一阵列测试接点330耦接于N个阵列测试开关384，用以控制N个阵列测试开关384的开启及关闭。N个阵列信号接点332分别耦接于N个阵列信号开关388，用以控制N个阵列信号开关388的开启及关闭。阵列测试信号接点334耦接于 N个阵列信号开关388，用以对N个阵列信号开关388提供阵列测试信号。单元测试垫340包含第二阵列测试接点350、一组第二色彩接点342、第二控制信号接点348及单元测试信号接点354。第二阵列测试接点350耦接于N个阵列测试开关 384，用以控制N个阵列测试开关384的开启及关闭。第二色彩接点342，耦接于N组色彩开关372，用以控制N组色彩开关372的开启及关闭。第二控制信号接点348耦接于N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，用以控制N个第一控制开关386及N个第二控制开关374的开启及关闭。单元测试信号接点354，耦接于N个第二控制开关374，用以对N个第二控制开关374提供单元测试信号。集成电路垫206包含一组第三色彩接点312、第三控制信号接点314及N个影像数据接点318。第三色彩接点312耦接于N组色彩开关372，用以控制N组色彩开关372的开启及关闭。第三控制信号接点314耦接于N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，用以控制N个第一控制开关386及N个第二控制开关374的开启及关闭。N个影像数据接点318耦接于N组色彩开关372，用以对N组色彩开关372提供影像数据。在N个影像数据接点318提供影像数据前，液晶显示面板200会先进行阵列测试程序及单元测试程序，以确保液晶显示面板200的良率，并在进行阵列测试程序及单元测试程序之后，安装基板220于像素阵列202、源极驱动电路370、阵列测试机制214及扫描驱动电路204的上方，待基板220安装后，N个影像数据接点318便可对液晶显示面板200提供影像数据，使其正常工作。当液晶显示面板200进行阵列测试程序时，N个阵列信号接点332的输出电位会循序开启N个阵列信号开关388，当N个阵列信号开关388的一个阵列信号开关388被开启时，其余的阵列信号开关388会关闭，因此同一时间仅有一个阵列信号开关388会被开启。 除此之外，在进行阵列测试程序时，第一控制信号接点3 的输出电位会开启N个第一控制开关386，第一阵列测试接点330的输出电位会开启N个阵列测试开关384，以使由阵列测试信号接点334输入的阵列测试信号得以经由N个阵列测试开关384及N个第一控制开关 386循序输入像素阵列202。另外，N组第一色彩接点322的输出电位会关闭N组色彩开关 372，以避免单元测试垫340或集成电路垫206经由N组色彩开关372输入噪声至像素阵列 202。当液晶显示面板200进行单元测试程序时，第二控制信号接点348的输出电位会开启N个第二控制开关374，且N组第二色彩接点342的输出电位会开启N组色彩开关372， 以使由单元测试信号接点3M输入的单元测试信号得以经由N个第二控制开关374及N组第二色彩接点342同时输入像素阵列202的各个像素。除此之外，第二阵列测试接点350的输出电位会关闭N个阵列测试开关384，以避免阵列测试垫320经由N个阵列测试开关384 输入噪声至像素阵列202。当N个影像数据接点318提供影像数据时，N组第三色彩接点312的输出电位会循序开启每一组色彩开关372的多个色彩开关，以使由N个影像数据接点318输入的不同颜色的影像数据得以经由每一组色彩开关372的多个色彩开关循序输入像素阵列202。除此之外，第三控制信号接点314的输出电位会关闭N个第一控制开关386及N个第二控制开关374，以避免阵列测试垫320经由N个阵列测试开关384输入噪声至像素阵列202，也避免单元测试垫340经由N个第二控制开关374输入噪声至像素阵列202。上述实施例中所描述对电路元件中的开关进行开启或关闭等操控，可藉由调整输出电位为高电平或低电平的方式，而达到对各开关所需的操控。经由本发明实施例的设计与电路架构，特别是阵列测试垫320相对于源极驱动电路370而设置于像素阵列202的相反两侧，可使液晶显示面板200有充裕空间容纳对液晶显示面板200进行阵列测试所需的元件。因此，当集成电路垫206的面积越做越小时，或是当对液晶显示面板200进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时，液晶显示面板 200不再有上述空间不足的问题，因为液晶显示面板200在像素阵列202的上方有充裕的空间来设置阵列测试垫320。以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种液晶显示面板，其特征在于，包含 一像素阵列，包含多个以阵列方式排列的像素；一源极驱动电路，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号；一阵列测试电路，耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供阵列测试信号；及一阵列测试垫，设置于该像素阵列的第二侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号；其中该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一集成电路垫，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该源极驱动电路提供该影像数据。
3.根据权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一单元测试垫，设置于该像素阵列的第一侧，并对该源极驱动电路提供该单元测试信号。
4.根据权利要求1、2或3所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一扫描驱动电路， 设于该像素阵列的相对两侧，且耦接于该像素阵列，用以驱动该像素阵列。
5.根据权利要求4所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一基板，覆盖于该像素阵列、该源极驱动电路、该阵列测试电路、该阵列测试垫及该扫描驱动电路上。
6.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该阵列测试电路包含一多路复用器，包含多个阵列信号开关，耦接于该像素阵列，用以将该阵列测试信号经由所述阵列信号开关中之一阵列信号开关输出；多个阵列测试开关，分别耦接于所述阵列信号开关，用以控制是否传递经由所述阵列信号开关传来的阵列测试信号；及多个第一控制开关，分别耦接于所述阵列测试开关及该像素阵列，用以控制是否将经由所述阵列测试开关传来的阵列测试信号传递至该像素阵列。
7.根据权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，该源极驱动电路包含多组色彩开关，耦接于该像素阵列，用以输出该影像数据或该单元测试信号至该像素阵列；该液晶显示面板另包含多个第二控制开关，分别耦接于该多组色彩开关，用以控制是否传递该单元测试信号至该多组色彩开关。
8.根据权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，该阵列测试垫包含一组第一色彩接点，耦接于该多组色彩开关，用以控制该多组色彩开关的开启及关闭；一第一控制信号接点，耦接于所述第一控制开关及所述第二控制开关，用以控制所述第一控制开关及所述第二控制开关的开启及关闭；一第一阵列测试接点，耦接于所述阵列测试开关，用以控制所述阵列测试开关的开启及关闭；多个阵列信号接点，分别耦接于所述阵列信号开关，用以控制所述阵列信号开关的开启及关闭；及一阵列测试信号接点，耦接于所述阵列信号开关，用以对所述阵列信号开关提供该阵列测试信号。
9.根据权利要求8所述的液晶显示面板，其特征在于，于所述阵列信号接点的一阵列信号接点的输出电位开启所述阵列信号开关的一相对应的阵列信号开关时，所述阵列信号接点的其余阵列信号接点的输出电位关闭所述阵列信号开关的其余阵列信号开关。
10.根据权利要求9所述的液晶显示面板，其特征在于，当该液晶显示面板进行一阵列测试程序时，所述阵列信号接点的输出电位循序开启所述阵列信号开关，该第一控制信号接点的输出电位开启所述第一控制开关，该第一阵列测试接点的输出电位开启所述阵列信号开关，且该组第一色彩接点的输出电位关闭所述色彩开关。
11.根据权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一单元测试垫，包含 一第二阵列测试接点，耦接于所述阵列测试开关，用以控制所述阵列测试开关的开启及关闭；一组第二色彩接点，耦接于该多组色彩开关，用以控制该多组色彩开关的开启及关闭；一第二控制信号接点，耦接于所述第一控制开关及所述第二控制开关，用以控制所述第一控制开关及所述第二控制开关的开启及关闭；及一单元测试信号接点，耦接于所述第二控制开关，用以对所述第二控制开关提供该单元测试信号。
12.根据权利要求11所述的液晶显示面板，其特征在于，当该液晶显示面板进行一单元测试程序时，该第二阵列测试接点的输出电位关闭所述阵列测试开关，该第二控制信号接点的输出电位开启所述第二控制开关，且该组第二色彩接点的输出电位开启该多组色彩开关。
13.根据权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，另包含一集成电路垫，包含 一组第三色彩接点，耦接于该多组色彩开关，用以控制该多组色彩开关的开启及关闭；一第三控制信号接点，耦接于所述第一控制开关及所述第二控制开关，用以控制所述第一控制开关及所述第二控制开关的开启及关闭；及多个影像数据接点，分别耦接于该多组色彩开关，用以对该多组色彩开关提供该影像数据。
14.根据权利要求13所述的液晶显示面板，其特征在于，当所述影像数据接点提供该影像数据时，该组第三色彩接点的输出电位循序开启每一组色彩开关的多个色彩开关，且该第三控制信号接点的输出电位关闭所述第一控制开关及所述第二控制开关。
全文摘要
本发明有关于液晶显示面板，包含一像素阵列，包含多个以阵列方式排列的像素；一源极驱动电路，设置于该像素阵列的第一侧，且耦接于该像素阵列，用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号；一阵列测试电路，耦接于该像素阵列，用以对所述像素循序提供阵列测试信号；及一阵列测试垫，设置于该像素阵列的第二侧，且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路，用以控制该源极驱动电路及该阵列测试电路，并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号。该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。本发明当集成电路垫的面积越做越小时，或是进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时，液晶显示面板足以容纳更大的阵列测试垫。
文档编号G09G3/00GK102385828SQ20111032987
公开日2012年3月21日 申请日期2011年10月24日 优先权日2011年8月12日
发明者余建城 申请人:友达光电股份有限公司
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