影子变化仪的制作方法

专利名称：影子变化仪的制作方法
技术领域：
本发明实用于探究物体影子与物体高度的关系。
背景技术：
探究自然界物理现象要受许多条件限制，如果能模拟会将给科学探究带来春天。 如影子与物体高度的关系的探究就能模拟。

发明内容
为了探究物体影子与物体高度的关系，本发明提供一种影子变化仪。该影子变化仪的设计是在平板上架起抛物线轨道，光源在轨道移动，物体置于轨道平板中央，在平板上沿轨道方向刻度，如图所示。本发明的有益效果是，探究物体影子与物体高度的关系，结构简单，操作简便。


图1为影子变化仪的结构示意图
其中1是抛物线轨道，2是光源，3是物体，4是刻度，5是平板。
具体实施例方式图1中，在平板(5)上架起抛物线轨道(2)，光源(2)在轨道移动，物体(3)置于轨道平板中央，在平板上沿轨道方向刻度(4)。尺子测出物体的高度，光源(2)照在物体(3) 上沿轨道移动，影子在刻度(4)上变化。
权利要求
1.影子变化仪，其特征在于在平板上架起抛物线轨道，光源在轨道移动，物体置于轨道平板中央，在平板上沿轨道方向刻度。
全文摘要
一种影子变化仪实用于探究物体影子与物体高度的关系。探究自然界物理现象要受许多条件限制，如果能模拟会将给科学探究带来春天。如影子与物体高度的关系的探究就能模拟。在平板上架起抛物线轨道，光源在轨道移动，物体置于轨道平板中央，在平板上沿轨道方向刻度。
文档编号G09B23/00GK102542876SQ20111041308
公开日2012年7月4日 申请日期2011年12月10日 优先权日2011年12月10日
发明者刘安民 申请人:刘安民