有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法
专利名称：有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法
技术领域：
本发明涉及一种像素电路及其修补方法，尤其涉及一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法。
背景技术：
有机发光显示器件(OLED)是主动发光器件。相比现在的主流平板显示技术薄膜晶体管液晶显示器(TFT -IXD )，OLED具有高对比度，广视角，低功耗，体积更薄等优点， 有望成为继LCD之后的下一代平板显示技术，是目前平板显示技术中受到关注最多的技术之一。在AMOLED制备过程中，AMOLED显示器的像素点不良和信号线断线不良是制备工艺中不可避免出现的两类主要缺陷，而且这两类缺陷大部分集中在阵列工艺末端以后，当检测出上述不良时，就需要进行相应的修复。对于封装之后出现的像素点不良，现有技术未给出切实可行的方案。因此，有必要对现有的有源矩阵有机发光显示器的像素电路进行改进，并提供修补方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，能够将异常的亮点修成灰点，提高产品良率，且结构简单，易于实施。本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路，包括多条绝缘交叉的扫描线和数据线，所述扫描线和数据线分隔区域内形成有像素电极，所述扫描线和数据线交叉处设置有开关薄膜晶体管和驱动薄膜晶体管； 多条VDD线，沿所述数据线方向延伸，所述VDD线和驱动薄膜晶体管的漏极相连，并通过存储电容和驱动薄膜晶体管的栅极相连；相邻像素电极之间跨接设置修补线，所述修补线两端和像素电极绝缘相交叠。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路，其中，所述修补线设置在远离开关薄膜晶体管和驱动薄膜晶体管一侧的像素电极的边角处。本发明为解决上述技术问题还提供一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，包括如下步骤a)确认异常亮点对应的不良像素点位置；b)将该不良像素点的驱动薄膜晶体管失效；c)以修补线为桥梁将该不良像素点的像素电极和周围相邻像素电极相连在一起，使得该像素电极和周围相邻像素电极发出相同灰阶的光。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其中，所述步骤b)采用激光切割方法从显示器阵列基板的一侧将所述不良像素点的驱动薄膜晶体管的栅极断开，使所述不良像素点的驱动薄膜晶体管失效。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其中，所述步骤C)采用激光熔接方法使该像素电极和该像素周围的像素电极熔接在一起。本发明对比现有技术有如下的有益效果本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，通过先将不良像素驱动TFT失效，然后将其像素电极通过修补线熔接到相邻像素电极上，在显示过程中，它与相邻像素显示相同的灰阶，故该点缺陷不明
Mo
图1为一种有源矩阵有机发光显示器的像素结构示意图； 图2为一种有源矩阵有机发光显示器的像素结构等效电路图； 图3为本发明的有源矩阵有机发光显示器的像素结构示意图； 图4为本发明实施例修补像素的方法的流程图5为本发明实施例中使坏点的驱动TFT失效的示意图； 图6为本发明以修补线作为桥梁熔接坏点像素的阳极和周围像素电极的示意图。图中
1数据线2扫描线3存储电容
4 VDD线5开关薄膜晶体管6驱动薄膜晶体管
7像素电极8修补线9切割点
10第一焊接点11第二焊接点。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。图3为本发明的有源矩阵有机发光显示器的像素结构示意图。请参见图3，本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路包括多条绝缘交叉的扫描线2和数据线1，所述扫描线2和数据线1分隔区域内形成有像素电极7，所述扫描线2和数据线1交叉处设置有开关薄膜晶体管5和驱动薄膜晶体管6 ；多条VDD线4， 沿所述数据线方向延伸，所述VDD线4和驱动薄膜晶体管6的漏极相连，并通过存储电容3 和驱动薄膜晶体管6的栅极相连；另有VSS线(图未示)和有机发光二极管的阴极相连，所述有机发光二极管的阳极和驱动薄膜晶体管6的源极相连；相邻像素电极7之间跨接设置修补线8，所述修补线8两端和像素电极7绝缘相交叠。等效像素电路参见图2，所述VDD线4和驱动薄膜晶体管T2的漏极相连，并通过存储电容Cs和驱动薄膜晶体管T2的栅极相连；VSS线(图未示)和有机发光二极管(OLED) 的阴极相连，所述有机发光二极管的阳极和驱动薄膜晶体管T2的源极相连，开关薄膜晶体管Tl的栅极和扫描线2相连接收行扫描信号Vscan，源极和数据线1相连接收数据信号 Vdata0为了不影响开口率，所述修补线8优选设置在远离开关薄膜晶体管5和驱动薄膜晶体管6 —侧的像素电极的边角处。图4为本发明实施例修补像素的方法的流程图。请参见图4，本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法包括如下步骤
步骤S401 确认异常亮点像素位置；步骤S402 采用激光切割方法使所述像素驱动TFT失效；
步骤S403 以修补线8为桥梁将该不良像素点的像素电极和周围相邻像素电极相连在一起；
步骤S404:使得该像素电极和周围相邻像素电极发出相同灰阶的光，完成异常亮点像素的修复。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，使所述像素驱动TFT失效可采用激光切割方法，从阵列极板的一侧在切割点9处将所述像素点驱动TFT栅极断开，如图5所示。优选采用激光熔接方法以修补线8作为桥梁将坏掉的像素的阳极和周围像素电极连在一起，这样这个坏掉像素电极和周围像素发出相同灰阶的光，这个坏点将不明显，如图6所示的第一焊接点10和第二焊接点11。虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。
权利要求
1.一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路，其特征在于，包括多条绝缘交叉的扫描线(2)和数据线(1)，所述扫描线(2)和数据线(1)分隔区域内形成有像素电极(7)，所述扫描线(2)和数据线(1)交叉处设置有开关薄膜晶体管(5)和驱动薄膜晶体管(6);多条VDD线G)，沿所述数据线方向延伸，所述VDD线(4)和驱动薄膜晶体管(6)的漏极相连，并通过存储电容(3)和驱动薄膜晶体管(6)的栅极相连；相邻像素电极(7)之间跨接设置修补线(8)，所述修补线(8)两端和像素电极(7)绝缘相交叠。
2.如权利要求1所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路，其特征在于，所述修补线(8)设置在远离开关薄膜晶体管(5)和驱动薄膜晶体管(6) —侧的像素电极的边角处。
3.—种如权利要求1所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其特征在于，包括如下步骤a)确认异常亮点对应的不良像素点位置；b)将该不良像素点的驱动薄膜晶体管(6)失效；c)以修补线(8)为桥梁将该不良像素点的像素电极和周围相邻像素电极相连在一起， 使得该像素电极和周围相邻像素电极发出相同灰阶的光。
4.如权利要求3所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其特征在于， 所述步骤b)采用激光切割方法从显示器阵列基板的一侧将所述不良像素点的驱动薄膜晶体管(6)的栅极断开，使所述不良像素点的驱动薄膜晶体管(6)失效。
5.如权利要求3所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其特征在于， 所述步骤c)采用激光熔接方法使该像素电极和该像素周围的像素电极熔接在一起。
全文摘要
本发明公开了一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，所述像素电路包括多条绝缘交叉的扫描线和数据线，所述扫描线和数据线分隔区域内形成有像素电极，所述扫描线和数据线交叉处设置有开关薄膜晶体管和驱动薄膜晶体管和有机发光二极管；相邻像素电极之间跨接设置修补线，所述修补线两端和像素电极绝缘相交叠。本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，通过先将不良像素驱动TFT失效，然后将其像素电极通过修补线熔接到相邻像素电极上，从而将异常的亮点修成灰点，提高产品良率，且结构简单，易于实施。
文档编号G09G3/32GK102402943SQ20111041903
公开日2012年4月4日 申请日期2011年12月15日 优先权日2011年12月15日
发明者张婷婷, 邱勇, 韩珍珍, 高孝裕, 黄秀颀 申请人:昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司
技术领域：
本发明涉及一种像素电路及其修补方法，尤其涉及一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法。
背景技术：
有机发光显示器件(OLED)是主动发光器件。相比现在的主流平板显示技术薄膜晶体管液晶显示器(TFT -IXD )，OLED具有高对比度，广视角，低功耗，体积更薄等优点， 有望成为继LCD之后的下一代平板显示技术，是目前平板显示技术中受到关注最多的技术之一。在AMOLED制备过程中，AMOLED显示器的像素点不良和信号线断线不良是制备工艺中不可避免出现的两类主要缺陷，而且这两类缺陷大部分集中在阵列工艺末端以后，当检测出上述不良时，就需要进行相应的修复。对于封装之后出现的像素点不良，现有技术未给出切实可行的方案。因此，有必要对现有的有源矩阵有机发光显示器的像素电路进行改进，并提供修补方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，能够将异常的亮点修成灰点，提高产品良率，且结构简单，易于实施。本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路，包括多条绝缘交叉的扫描线和数据线，所述扫描线和数据线分隔区域内形成有像素电极，所述扫描线和数据线交叉处设置有开关薄膜晶体管和驱动薄膜晶体管； 多条VDD线，沿所述数据线方向延伸，所述VDD线和驱动薄膜晶体管的漏极相连，并通过存储电容和驱动薄膜晶体管的栅极相连；相邻像素电极之间跨接设置修补线，所述修补线两端和像素电极绝缘相交叠。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路，其中，所述修补线设置在远离开关薄膜晶体管和驱动薄膜晶体管一侧的像素电极的边角处。本发明为解决上述技术问题还提供一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，包括如下步骤a)确认异常亮点对应的不良像素点位置；b)将该不良像素点的驱动薄膜晶体管失效；c)以修补线为桥梁将该不良像素点的像素电极和周围相邻像素电极相连在一起，使得该像素电极和周围相邻像素电极发出相同灰阶的光。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其中，所述步骤b)采用激光切割方法从显示器阵列基板的一侧将所述不良像素点的驱动薄膜晶体管的栅极断开，使所述不良像素点的驱动薄膜晶体管失效。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其中，所述步骤C)采用激光熔接方法使该像素电极和该像素周围的像素电极熔接在一起。本发明对比现有技术有如下的有益效果本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，通过先将不良像素驱动TFT失效，然后将其像素电极通过修补线熔接到相邻像素电极上，在显示过程中，它与相邻像素显示相同的灰阶，故该点缺陷不明
Mo
图1为一种有源矩阵有机发光显示器的像素结构示意图； 图2为一种有源矩阵有机发光显示器的像素结构等效电路图； 图3为本发明的有源矩阵有机发光显示器的像素结构示意图； 图4为本发明实施例修补像素的方法的流程图5为本发明实施例中使坏点的驱动TFT失效的示意图； 图6为本发明以修补线作为桥梁熔接坏点像素的阳极和周围像素电极的示意图。图中
1数据线2扫描线3存储电容
4 VDD线5开关薄膜晶体管6驱动薄膜晶体管
7像素电极8修补线9切割点
10第一焊接点11第二焊接点。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。图3为本发明的有源矩阵有机发光显示器的像素结构示意图。请参见图3，本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路包括多条绝缘交叉的扫描线2和数据线1，所述扫描线2和数据线1分隔区域内形成有像素电极7，所述扫描线2和数据线1交叉处设置有开关薄膜晶体管5和驱动薄膜晶体管6 ；多条VDD线4， 沿所述数据线方向延伸，所述VDD线4和驱动薄膜晶体管6的漏极相连，并通过存储电容3 和驱动薄膜晶体管6的栅极相连；另有VSS线(图未示)和有机发光二极管的阴极相连，所述有机发光二极管的阳极和驱动薄膜晶体管6的源极相连；相邻像素电极7之间跨接设置修补线8，所述修补线8两端和像素电极7绝缘相交叠。等效像素电路参见图2，所述VDD线4和驱动薄膜晶体管T2的漏极相连，并通过存储电容Cs和驱动薄膜晶体管T2的栅极相连；VSS线(图未示)和有机发光二极管(OLED) 的阴极相连，所述有机发光二极管的阳极和驱动薄膜晶体管T2的源极相连，开关薄膜晶体管Tl的栅极和扫描线2相连接收行扫描信号Vscan，源极和数据线1相连接收数据信号 Vdata0为了不影响开口率，所述修补线8优选设置在远离开关薄膜晶体管5和驱动薄膜晶体管6 —侧的像素电极的边角处。图4为本发明实施例修补像素的方法的流程图。请参见图4，本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法包括如下步骤
步骤S401 确认异常亮点像素位置；步骤S402 采用激光切割方法使所述像素驱动TFT失效；
步骤S403 以修补线8为桥梁将该不良像素点的像素电极和周围相邻像素电极相连在一起；
步骤S404:使得该像素电极和周围相邻像素电极发出相同灰阶的光，完成异常亮点像素的修复。上述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，使所述像素驱动TFT失效可采用激光切割方法，从阵列极板的一侧在切割点9处将所述像素点驱动TFT栅极断开，如图5所示。优选采用激光熔接方法以修补线8作为桥梁将坏掉的像素的阳极和周围像素电极连在一起，这样这个坏掉像素电极和周围像素发出相同灰阶的光，这个坏点将不明显，如图6所示的第一焊接点10和第二焊接点11。虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。
权利要求
1.一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路，其特征在于，包括多条绝缘交叉的扫描线(2)和数据线(1)，所述扫描线(2)和数据线(1)分隔区域内形成有像素电极(7)，所述扫描线(2)和数据线(1)交叉处设置有开关薄膜晶体管(5)和驱动薄膜晶体管(6);多条VDD线G)，沿所述数据线方向延伸，所述VDD线(4)和驱动薄膜晶体管(6)的漏极相连，并通过存储电容(3)和驱动薄膜晶体管(6)的栅极相连；相邻像素电极(7)之间跨接设置修补线(8)，所述修补线(8)两端和像素电极(7)绝缘相交叠。
2.如权利要求1所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路，其特征在于，所述修补线(8)设置在远离开关薄膜晶体管(5)和驱动薄膜晶体管(6) —侧的像素电极的边角处。
3.—种如权利要求1所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其特征在于，包括如下步骤a)确认异常亮点对应的不良像素点位置；b)将该不良像素点的驱动薄膜晶体管(6)失效；c)以修补线(8)为桥梁将该不良像素点的像素电极和周围相邻像素电极相连在一起， 使得该像素电极和周围相邻像素电极发出相同灰阶的光。
4.如权利要求3所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其特征在于， 所述步骤b)采用激光切割方法从显示器阵列基板的一侧将所述不良像素点的驱动薄膜晶体管(6)的栅极断开，使所述不良像素点的驱动薄膜晶体管(6)失效。
5.如权利要求3所述的有源矩阵有机发光显示器的像素电路修补方法，其特征在于， 所述步骤c)采用激光熔接方法使该像素电极和该像素周围的像素电极熔接在一起。
全文摘要
本发明公开了一种有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，所述像素电路包括多条绝缘交叉的扫描线和数据线，所述扫描线和数据线分隔区域内形成有像素电极，所述扫描线和数据线交叉处设置有开关薄膜晶体管和驱动薄膜晶体管和有机发光二极管；相邻像素电极之间跨接设置修补线，所述修补线两端和像素电极绝缘相交叠。本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的像素电路及其修补方法，通过先将不良像素驱动TFT失效，然后将其像素电极通过修补线熔接到相邻像素电极上，从而将异常的亮点修成灰点，提高产品良率，且结构简单，易于实施。
文档编号G09G3/32GK102402943SQ20111041903
公开日2012年4月4日 申请日期2011年12月15日 优先权日2011年12月15日
发明者张婷婷, 邱勇, 韩珍珍, 高孝裕, 黄秀颀 申请人:昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司
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