电致发光显示装置和电致发光显示装置的显示偏差补偿方法
专利名称：电致发光显示装置和电致发光显示装置的显示偏差补偿方法
技术领域：
本发明涉及在各像素中具有电致发光元件的显示装置的显示偏差的补偿。
技术背景作为将自发光元件的电致发光元件(在下面称为"EL元件")用于各 像素的显示元件的EL显示装置，人们正在期待作为下一代的平面显示装 置并在研究开发。对于这样的EL显示装置，在玻璃、塑料等的基板上，形成EL元件 和用于针对每个像素而驱动该EL元件的薄膜晶体管(TFT)等的EL面板 (panel)，然后，经过几次检查，作为制品而出厂。在各像素中具有TFT的目前的有源矩阵型EL显示装置中，产生该 TFT造成的显示不均匀，特别是由于TFT的阈值Vth的偏差，产生EL元 件的亮度偏差，构成合格率下降的主要原因。提高这样的制品的合格率是 非常重要的，伴随元件设计、材料、制造方法等的改进，要求减小显示缺 陷和显示不均匀(显示偏差)，并且在JP特开2005—316408 (在下面称 为专利文献l)等中，在产生显示不均匀等的情况下，人们尝试通过对其 进行补偿，形成良好的面板。在专利文献l中，使EL面板发光，测定各像素的亮度，对应于该亮 度的偏差，对供向像素的数据信号(图像信号)进行补偿。另外，作为另 一方法，提出在各像素中，组装对控制流过EL元件的电流的元件驱动晶 体管的Vth的偏差进行补偿的电路。在如专利文献l那样，使EL面板发光，通过照相机对其进行拍摄， 测定亮度偏差时，如果EL面板进行高精细化处理，像素数量增加，则为 了针对每个像素，测定其亮度偏差，测定和补偿对象多，必须要求提高照 相机的分辨率，扩大补偿信息的存储部的容量等。另外，即使在Vth补偿用的电路元件未组装于像素中的情况下，对 TFT的Vth的偏差造成的显示不均匀进行补偿的要求非常强。发明内容本发明的目的在于正确而有效地测定EL显示装置的显示偏差，可对 该显示偏差进行补偿。本发明涉及一种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，其中，上述 显示装置在各像素中具备二极管结构的电致发光元件和元件驱动晶体管， 该元件驱动晶体管与该电致发光元件连接并用于控制流过该电致发光元 件的电流，向各像素供给使上述电致发光元件为发光电平的检査用导通显 示信号，并且使上述元件驱动晶体管在该晶体管的饱和区域动作，检测流 过上述电致发光元件的电流，根据该电流值，对供给到对应的像素的上述 数据信号进行补偿。本发明的另一形式涉及一种电致发光显示装置，该电致发光显示装置 具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据存储 部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个， 具备电致发光元件和与该电致发光元件连接的元件驱动晶体管，在上述补 偿数据存储部中存储有与在供给了使上述电致发光元件为发光电平的检 查用导通显示信号时流过上述电致发光元件的电流相对应的补偿数据，上 述补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。本发明的还一形式涉及一种电致发光显示装置，该电致发光显示装置 具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据存储 部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具 备电致发光元件和与该电致发光元件连接的元件驱动晶体管，在上述补偿 数据存储部中存储有与导通截止电流差对应的补偿数据，该导通截止电流 差为在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检查用截止显示信号 和使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信号时对应于上述 检查用截止显示信号流过上述电致发光元件的电流、和对应于上述检查用 导通显示信号流过上述电致发光元件的电流之间的导通截止电流差，上述 补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。本发明的又一形式涉及一种电致发光显示装置，该电致发光显示装置具备具有多个像素的显示部；用于检测各像素的显示偏差的偏差检测部; 和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具备电 致发光元件和与该电致发光元件连接的元件驱动晶体管，上述偏差检测部 对在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检查用截止显示信号和 使上述电致发光元件为发光电平的检査用导通显示信号时对应于上述检 査用截止显示信号流过上述电致发光元件的电流、和对应于上述检査用导 通显示信号流过上述电致发光元件的电流之间的导通截止电流差进行检 测，并且将检测到的上述导通截止电流差与基准值进行比较，上述补偿部 按照上述比较的结果，对供给到各像素的数据信号进行补偿。本发明的还一形式涉及上述电致发光显示装置，其中，还具备存储与 上述导通截止电流差相对应的补偿数据的补偿数据存储部，上述补偿部根 据上述存储的上述导通截止电流差，对上述数据信号进行补偿。另外，还可包括存储上述导通截止电流差的初始电流差数据的存储 部，上述补偿部根据上述初始电流差数据与上述已检测到的导通截止电流 差，对上述数据信号进行补偿。在本发明的又一形式中，流过上述电致发光元件的电流为例如，阴极 电流。按照本发明，在饱和区域使设置于各像素中的、驱动EL元件的元件 驱动晶体管动作，使EL元件发光，测定此时流过EL元件的电流，例如 阴极电流。在EL元件中，流过元件的电流和发光亮度具有相关关系，可 通过测定电流，检测EL元件的显示偏差。还有，由于测定对象不是发光亮度，而是电流，故可通过简单的结构 测定。另外，如果使EL元件导通截止，测定此时的导通截止电流值，则 能以截止作电流为基准，正确地得知导通电流，可容易地进行正确而高速 的测定和补偿处理。此外，通过在显示装置中设置流过EL元件的电流的测定功能，还可 对应于后来发生的显示不均匀的产生，对其进行补偿。
图1为说明本发明的实施方式相关的EL显示装置的概略电路结构的等效电 路图。图2为说明本发明的实施方式相关的元件驱动晶体管的特性偏差测定原理的图。图3为标本发明的实施方式相关的EL显示装置的结构和阴极电流检查装置的概略结构的图。图4为表示采用图3的检査装置的发光状态检査步骤的一个实例的图。图5为表就fi^l」用阴极电流的高速的检查用的驱动波形的图。图6为表示本发明的实施方式相关的阴极电流检测和具有补偿功能的EL显示装置的动作步骤的一个实例的图。
具体实施方式
下面通过附图，对本发明的优选实施方式(在下面称为实施方式)进 行描述。(检测原理)在本实施方式中，显示装置具体为有源矩阵型的有机EL显示装置， 具有多个像素的显示部形成于EL面板100上。图1为表示本实施方式相 关的有源矩阵型EL显示装置的电路结构的等效电路结构的图。在EL面 板100的显示部中，呈矩阵状设置多个像素，沿矩阵的水平扫描(行方向)， 依次形成输出选择信号的选择线GL，沿垂直扫描方向(列方向)，形成 输出数据信号(Vsig)的数据线DL，在作为被驱动的有机EL元件(在下 面简称为"EL元件")中，形成用于供给驱动电源PVDD的电源线VL。各像素设置于大致通过这些线划分的区域，各像素包括作为被驱动元 件的EL元件。另外，设置通过n型沟道的TFT构成的选择线晶体管Trl(以下称为"选择Trl")，保持容量Cs，由p型沟道的TFT构成的元件 驱动晶体管Tr2 (以下称为"元件驱动Tr2")。在选择Trl中，其漏极与数据线DL连接，该数据线DL将数据电压(Vsig)供给沿垂直扫描方向并列的各像素，栅极与栅极线GL连接，该 栅极线GL用于选择在1水平扫描线上并列的像素，其源极与元件驱动Tr2 的栅极连接。另外，元件驱动Tr2的源极与电源线VL连接，漏极与EL元件的阳 极连接。EL元件的阴极按照通过各像素共用的方式形成，与阴极电源CV 连接。EL元件通过二极管结构，在下部电极和上部电极之间，具有发光元 件层。发光元件层包括例如，至少具有有机发光材料的发光层，可根据发 光元件层所采用的材料特性等，采用单层结构，2层，3层或4层以上的 多层结构。在本实施方式中，下部电极用作针对每个像素，按照各自形状 进行制作图案处理，并作为上述阳极发挥功能，与元件驱动Tr2连接。另 外，上部电极按照与多个像素共用的方式用作阴极。在针对每个像素，具有上述那样的电路结构的有源矩阵型EL显示装 置中，如果元件驱动Tr2的动作阈值Vth有偏差，则即使将同一数据信号 供给各像素的，同一电流也不从驱动电源PVDD供给到EL元件，其成为 亮度偏差(显示偏差)的原因。图2表示产生元件驱动Tr2的特性偏差(电流供给特性的偏差，例如， 动作阈值Vth的偏差)时的像素的等效电路和元件驱动Tr2和EL元件的 IV特性。在元件驱动Tr2的动作阈值Vth产生偏差时，通过电路方式，如 图2 (b)所示的那样，可看到在元件驱动Tr2的漏极侧，连接大于正常的 电阻，或小于正常的电阻。于是，流过EL元件的电流(在本实施方式中， 阴极电流Icv)特性不相对正常像素而变化，但是，实际上，流过EL元件 的电流对应于元件驱动Tr2的特性偏差而变化。在元件驱动Tr2上的外加电压满足Vgs—Vth<Vds时，元件驱动Tr2 在饱和区域动作。如图2 (a)所示的那样，在元件驱动Tr2的动作阈值 Vth高于正常像素的像素中，该晶体管的漏极与源极之间的电流Ids小于 正常的晶体管，对EL元件的供给电流量，即，流过EL元件的电流小于 正常像素(AI大)，其结果是，该像素的发光亮度小于正常像素的发光亮 度，造成显示偏差。反之，在元件驱动Tr2的动作阈值Vth小于正常像素的像素中，该晶 体管的漏极与源极之间的电流Ids大于正常的晶体管，流过EL元件的电 流大于正常像素，发光亮度增加。另夕卜，在对元件驱动Tr2的外加电压满足Vgs—Vth〉Vds时，该元件驱动Tr2在线性区域动作，在该线性区域，在阈值vth高的元件驱动Tr2 和阈值vth低的元件驱动Tr2中，Ids—Vds特性的差小，由此，对EL元 件的供给电流量的差(AI)也小。由此，EL元件不依赖元件驱动Tr2的 特性偏差的有无，呈现基本相同的发光亮度，难以在线性区域检测特性偏 差造成的显示偏差，但是，如上述那样，通过在饱和区域使元件驱动Tr2 动作，可检测该元件驱动Tr2的特性偏差造成的显示偏差。此外，如果根据已检测到的电流值，对供给各像素的数据信号进行补 偿，则能够可靠地对显示偏差进行补偿。例如，元件驱动Tr2的阈值I Vth I 小于正常值时，供给基准的数据信号时的EL元件的发光亮度高于通常值。于是，在该情况下，通过对应于相对阈值lvthl的基准的偏离值，减小数据信号的绝对值I Vsig I ，可对亮度偏差进行补偿。在元件驱动Tr2的阈值lvthl高于正常时，通过对应于相对阈值lvthl的基准的偏离值，增加数据信号的绝对值I Vsig I ，可对亮度偏差进行补偿。另外，在以上的像素电路中，元件驱动晶体管采用p型沟道的TFT， 但是，也可采用n型沟道的TFT。此外，在以上的像素电路中，对针对l 个像素，采用具有作为晶体管的选择晶体管和驱动晶体管的2个晶体管的 结构的实例进行了说明，但是，晶体管并不限于2个类型和上述电路结构。 (具体实例)下面参照图3 图5，对基于上述原理的阴极电流的检查和显示偏差 补偿进行具体说明。图3表示测定阴极电流，对亮度偏差进行补偿的装置的概略结构。电 流检查部300作为下述的检查装置而提供，该检查装置用于在出厂时，根 据阴极电流的测定检查EL面板100的显示偏差的检查装置，检查用信号 发生电路320根据控制部310的控制，产生检查所必需的检查用电源，检 查用的时刻信号，显示信号等，将其通过端子IOOT供向EL面板IOO。偏 差检测部340根据阴极电流检测部350检测到的阴极电流Icv，检测显示 偏差是否发生。EL面板驱动装置200与EL面板100 —起构成EL显示装置，其包括 用于驱动EL面板100的面板驱动部210;补偿值存储部(补偿参数设定 部)250;偏差补偿部240，该偏差补偿部240采用在出厂时存储于该补偿值存储部250中的补偿值，对数据信号进行补偿。图4表示阴极电流的测定和显示偏差的补偿的步骤的一个实例。在显 示装置的出厂之前，通过电流检查部300的检查用信号发生电路320的信 号，使各像素的选择Trl导通，并且将检查用导通(on)显示信号通过相 应的像素的选择Trl，外加于元件驱动Tr2的栅极上(Sl)。此时，元件驱动Tr2按照在饱和区域动作，如上所述，满足Vgs—Vth <Vds的方式设定。元件驱动Tr2采用p型沟道的TFT时的电压与普通显 示模式相同，作为一个实例，将驱动电源PVDD为8.0V，阴极电源CV为 一3V，供给各像素的检查用导通显示信号采用OV的信号。阴极电流检测部350在饱和区域，使相应的像素的元件驱动Tr2动作， 检测使EL元件发光时的阴极电流Icv (S2)。偏差检测部340对已检测的 阴极电流Icv和基准值(基准范围)进行比较，在阴极电流大于基准值时， 计算增加供给到EL面板100的数据信号的电压，减小流过EL元件的电 流所必需的补偿值，另外在小于基准范围时，计算减小数据信号的电压， 增加流过EL元件的电流所必需的补偿值。这些补偿值作为每个像素的补 偿值，存储于存储部250中(S3)。另外，对于EL面板驱动装置200的 偏差补偿部240的功能，也可在存储部250中，不直接存储补偿值，而存 储补偿所必需的参数和已测定的每个像素的阴极电流值(初始阴极电流 值)。另外，在偏差检测部340中，作为对阴极电流Icv和基准值进行比 较的结果，阴极电流Icv超过允许范围，大于基准值时，或在小于该基准 值时，即使通过对数据信号进行补偿，仍不能够补偿，即，判定显示缺陷 的发生，如果可矫正，则可返回到矫正处理步骤。还有，在元件驱动Tr2为n型沟道的TFT时，对已检测到的阴极电流 Icv和基准值进行比较，在阴极电流大于基准值时，求得减小供给到EL面 板100的数据信号的电压并增加流过EL元件的电流所必需的补偿值，另 外，在小于基准值时，计算增大供给到EL面板100的数据信号的电压， 减小流过EL元件的电流所必需的补偿值。如上述那样，在存储部250中存储补偿值，另外，进行其它的检查， 最终将判定为良品的EL显示装置出厂，该EL显示装置在动作时， 一边 对数据信号进行补偿， 一边进行显示。在对从外部供给的图像信号进行处理，将每个像素的数据信号供给到EL面板100时，偏差补偿部240判断该数据信号的图像地址是否为补偿 的必需的像素，在地址一致，即，是补偿必需的像素时(S10)，从存储 部250读出补偿参数等的补偿信息(S11)，计算对数据信号的补偿值 (S12)。通过将已计算的补偿值，与例如所供给的数据信号相乘的方式，对数 据信号进行补偿(S13)，该数据信号(Vsig)通过EL面板100的图1所 示的数据线DL被供给到相应的像素，EL元件按照与已补偿的数据信号相 对应的亮度发光，进行显示(S14)。 (阴极电流高速测定)图5表示釆用阴极电流Icv，高速地检查显示偏差时的EL面板100 的驱动波形。在图5所示的检查方法中，在选择l个像素的期间中(l个 水平时钟信号的2分之1周期)，相对该像素，连续地外加导通显示信号 (EL发光)和截止(off)显示信号(EL非发光)来作为检査用显示信号 Vsig。另外，图3的检查用信号发生电路320采用水平起始信号STH、水 平时钟信号CKH等，由此，制作该检查用显示信号。阴极电流检测部350 分别检测与导通显示信号相对应的EL元件的阴极电流Icv。n和与截止显示 信号相对应的EL元件的阴极电流Icv。ff (根据需要，对电流进行放大)， 偏差检测部340计算导通和截止的阴极电流的差分AIcv，对该差分数据， 与例如基于正常像素的差分数据的基准值进行比较，由此，可捡测显示偏 差。此外，同样在图5所示的检查方法中，如上述那样，按照元件驱动 T。在饱和区域动作的方式设定驱动电源PVDD和阴极电流CV。另外， 在图5中，垂直时钟信号CKV为与垂直方向的像素数相对应的时钟信号， 使能(enable) ENB为用于防止在1个水平扫描期间的最初和最后，在数 据信号Vsig未确定的时候，将选择信号输出给各水平扫描线(栅极线GL) 时的禁止信号。如上那样，测定截止显示信号时的阴极信号ICV。ff，以该IcV。ff为基准，相对地把握导通显示信号时的阴极电流Icv。n，由此，不必正确地判断导通显示信号时的阴极电流ICV。n的绝对值，不必测定形成另一基准的截止显示信号时的阴极电流ICV。ff，可高精度地进行高速的自动检査。具体来说，作为一个实例，可针对R， G， B的各像素，分别按照小于3秒的时间，进 行阴极电流的测定，可进行极高速度的检查。例如，与使EL元件发光， 通过照相机对其进行拍摄，根据该拍摄数据，分析亮度的方法相比较，可 显著地縮短检查时间，另外，可针对全部像素，检测显示偏差。显然，在 必须减小补偿值存储部250的容量时，也可将阴极电流的测定对象作为多 个像素单元，存储多个像素(区域)单元的补偿值。此时，例如，在偏差 补偿部240中，可通过对邻接的多个像素区域的补偿值进行线性内插处理 等的方法，确定对关注像素的补偿值。另外，在图5所示的检査方法中，确定沿矩阵设置的像素的列方向， 即向各数据线DL输出显示信号的期间的水平启始信号STH，在2列的选 择期间设定。在普通显示时，各水平扫描线上的像素按照相应的1H期间 而选择，在此时相应的数据线DL上，每次按照相当于以l个水平扫描方 向的像素数量分割1H期间的期间，输出显示信号Vsig。相对该情况，在 偏差检査时采用检查用的水平开始信号STH，由此，相对1根数据线DL， 在2像素量的显示信号输出期间，供给检查用显示信号Vsig。 gp，在同一 水平扫描线中并列的像素中，邻接的2个像素同时构成检查对象。另外， 该像素的同时检查对象数并不限于2，例如，也可将每次3个像素作为检 査对象。象这样，针对1个像素，连续多次地形成检査对象，由此，在同 步信号、检査用显示信号Vsig等叠加噪音并产生像素误显示的情况下， 由于这样的噪音叠加在多个期间连续地发生的概率小，故可减小噪音的误、、、在这里，用于驱动EL面板100的显示部的各像素用的驱动电路中的 水平方向驱动电路，包括与水平扫描方向的像素数量相对应的级数的移位 寄存器，该移位寄存器对应于水平时钟信号CKH，依次转送水平启始信 号STH，并且从寄存器的各级，相对采样电路，输出确定向相应的数据线 DL输出显示信号Vsig的期间(采样期间)的采样保持信号。另外，呈现 该采样保持信号的采样期间与上述水平启始信号STH的期间(在这里，H 电平期间)相对应。由此，如果相对EL面板100的水平方向驱动电路， 在缺陷检查时，供给检査用信号发生电路320所制作的图5所示的这样的检查用的水平启始信号STH来作为水平启始信号STH，另外，向在各数 据线DL上经采样电路而连接的视频信号线，输出图5所示那样的检查用 显示信号Vsig，则可每次针对多个像素，供给检查用显示信号Vsig，进行检査。另外，图5的驱动方法对于包括与供给到数据线DL的显示信号的驱 动波形的切换时刻联动，设定元件驱动Tr2的导通截止(EL元件的发光， 非发光)时刻的像素电路时是有效的，作为一个实例，可应用于图l所示 的那样的像素电路结构。另外，即使在向用于控制各像素的保持电容Cs 的电位用的电容线CL，供给所需的交流信号这样的像素电路结构的情况 下，仍可附加在检查时，固定电容线CL的电位的电容电位控制开关等， 使元件驱动Tr2对应于供给到数据线DL的显示信号的时刻而动作，这样， 可采用图5那样的检査方法。(带有显示偏差测定功能的显示装置)以上针对在出厂时测定阴极电流，预先存储补偿值的方法进行了说 明，但是，也可在EL显示装置中设置阴极电流测定(显示偏差测定)功 能。下面参照图6，对具有显示偏差测定功能和补偿功能的EL显示装置 进行说明。EL显示装置的结构通过下述的方式实现，该方式为图3所示的电 流检查部300与EL面板100和EL面板驱动装置200 —起设置，从电流 检查部300的检查用信号发生电路320，例如如上述图5所示的那样，供 给使EL元件为非发光电平的检查用截止显示信号和使其为发光电平的检 查用导通显示信号，测定此时的阴极电流差AIcv。另外，该阴极电流测定 最好例如在装置启动时、等待时等的普通动作时以外的期间进行。阴极电流测定的方法如上所述，与图5相同，使选择Td导通，使元 件驱动Tr2处于饱和状态，施加检查用导通显示信号、检查用截止显示信 号(S30)，阴极电流检测部350检测阴极电流，偏差检测部340检测阴 极电流AIcv (S31)。偏差检测部340还对该阴极电流差AIcv是否为基准值(基准范围) 进行比较(S32)，对应于其结果，求出补偿值(S33)。如果阴极电流差 AIcv在基准范围内，则由于为正常像素(没有显示偏差)，故偏差补偿部240选择对于该像素的补偿量为0的参数，在不在基准范围内时，由于产 生显示偏差，因此计算与基准值的差相对应的补偿参数。象这样计算的补 偿参数在补偿值存储部250中设定。在普通显示时，偏差补偿部240与图 4的显示装置出厂后的使用时的步骤(S10 S14)相同，采用已设定的补 偿参数，对必要的像素的数据信号进行补偿，供给该数据信号，进行显示 (S34)。通过象这样，在显示装置中设置阴极电流测定功能，即使在通过出厂 后的伴随时间的变化，在元件驱动Tr2等产生特性变化的情况下，仍可对 应于其变化，对数据信号进行补偿，可长期地维持显示质量，可提高显示 装置的寿命。另外，在出厂时，测定初始状态(出厂)中的相同的阴极电流差AIcv， 将其测定值作为基准值，存储于存储部250中，由此，可更加正确地检测 伴随使用的特性随时间而产生的变化，另外，可考虑伴随时间的变化，进 行补偿运算。此外，以上，以在EL显示装置中设置阴极电流测定功能时，测定阴 极电流AIcv的方案为实例而进行了描述，但是，也可在出厂后的显示偏 差检测时，测定仅仅将检查用导通显示信号供给到各像素时的阴极电流， 预先存储规定基准值(例如初始阴极电流)，将其与该基准值进行比较。还有，以上，作为在出厂时或出厂后中的任意情况下显示偏差的检测 方法，以测定阴极电流的方法为实例进行了说明，但是，也可针对在出厂 时的显示偏差检测，如图3中的虚线所示的那样，采用使EL元件发光， 对其进行拍摄的照相机400，检测发光亮度，根据该亮度，计算补偿值。 另外，还可在出厂后，通过电流检查部300，检测阴极电流，进一步对数 据信号进行补偿。再有，如果就以上描述的偏差补偿部240的补偿来说，最终将供给到 产生显示偏差的像素的数据信号调整到合适的电平，对EL元件的发光亮 度进行补偿，则运算处理、补偿处理方法没有特别的限制。另外，可提供下述的显示装置，其中，将偏差补偿部240、内置于显 示装置中时的电流检査部300与面板驱动部210—起进行集成，由此，可 通过非常小的驱动电路，进行显示偏差的检测和补偿。此外，可相对补偿值存储部250，依次改写或添加在电流检查部300 中检测到的阴极电流值(AIcv)或补偿信息，由此，可恒久地实现没有显 示不均匀的显示装置。还有，在以上的说明中，给出了采用EL元件的阴极电流(例如AIcv) 作为偏差补偿的检查时测定的电流的实例，但是，可根据流过EL元件的 电流Ioled (AIoled)进行检查。流过该EL元件的电流Ioled也可不是例如 上述阴极电流Icv，而是阳极电流Iano。也可代替将EL元件的各像素的个 别电极作为阳极电极，多个像素中公共的电极作为阴极电极的方案，在个 别电极为阴极电极，公共电极为阳极电极时，如上述那样，测定流过公共 电极的电流的阳极电流(AIano)。
权利要求
1.一种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，上述显示装置在各像素中具备二极管结构的电致发光元件和元件驱动晶体管，该元件驱动晶体管与该电致发光元件连接并用于控制流过该电致发光元件的电流，向各像素供给使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信号，并且使上述元件驱动晶体管在该晶体管的饱和区域动作，检测流过上述电致发光元件的电流，根据该电流值，对供给到对应的像素的上述数据信号进行补偿。
2. 根据权利要求1所述的显示偏差补偿方法，其特征在于， 流过上述电致发光元件的电流为阴极电流。
3. —种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，上述显示装置在各像素中具备二极管结构的电致发光元件和元件驱 动晶体管，该元件驱动晶体管与该电致发光元件连接并用于控制流过该电 致发光元件的电流，使各像素的上述元件驱动晶体管在该晶体管的饱和区域动作，并且向 该像素供给使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信号和使 上述电致发光元件为非发光电平的检查用截止显示信号，检测对应于上述检查用导通显示信号而流过上述电致发光元件的电 流，和对应于上述检查用截止显示信号而流过上述电致发光元件的电流之 间的导通截止电流差，将上述导通截止电流差与基准值进行比较，检测动作的像素的特性偏差，按照上述检测到的特性偏差，对供给到对应的像素的上述数据信号进 行补偿。
4. 一种电致发光显示装置，具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据 存储部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个，具备电致发光元件和与该电致发光元件连接 的元件驱动晶体管，在上述补偿数据存储部中存储有与在供给了使上述电致发光元件为 发光电平的检查用导通显示信号时流过上述电致发光元件的电流相对应 的补偿数据，上述补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。
5. —种电致发光显示装置，具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据 存储部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具备电致发光元件和与该电致发光元件连接 的元件驱动晶体管，在上述补偿数据存储部中存储有与导通截止电流差对应的补偿数据， 该导通截止电流差为在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检查 用截止显示信号和使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信 号时对应于上述检查用截止显示信号的上述电致发光元件的阴极电流、和 对应于上述检查用导通显示信号的上述电致发光元件的阴极电流之间的 导通截止电流差，上述补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。
6. —种电致发光显示装置，具备具有多个像素的显示部；用于检测各像素的显示偏差的偏差检 测部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具备电致发光元件和与该电致发光元件连接 的元件驱动晶体管，上述偏差检测部对在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检 査用截止显示信号和使上述电致发光元件为发光电平的检査用导通显示 信号时流过对应于上述检查用截止显示信号的上述电致发光元件的电流、 和流过对应于上述检查用导通显示信号的上述电致发光元件的电流之间 的导通截止电流差进行检测，并且将检测到的上述导通截止电流差与基准数。然而，所选的量化参数仅适用于很有限数目的字段.这影响到必 须以未量化的方式传输大量字段.显然，这限制了数据的数字压缩的 效率.本发明的一个特定目的是它克服在本专业状态中的这些缺点。 更具体地说，本发明的一个目的旨在提供一个数据信号，以及<吏 用这个信号的方法和设备，以便于大大减小编码所必须的数据并因此传输和/或保存特别是以例如VRML和MPEG- 4标准的动画图形场景。本发明的另一个目的旨在提供一个对代表图形场景的数据编码 的技术，它能以低的通过量在一个网络上传输场景，并在终端中重建 这些场景，而其中终端不是必需的主要硬件或软件装置.本发明的另一个目的旨在提供这样一个技术，以使其对任何类型 的场景和构成这个场景一部分的任何类型的元素都有效，而不需要对 一些元素特別的(換句话说以一种未量化的方式)处理.这些目的和后面将描述的其它目的，按照本发明通过使用一个固 形场景的动画数据信号来实现，该图形场景被建造图象的装置所使 用，该图象可以被显示在至少一个屏幕上， 一个信号，其中所说的场 景以一组动画对象的形式来描述，每个对象与定义所说对象的一个参 数的至少一个特征字段有关，并包括至少一个量化对象，对于该对 象，特征字段定义所说的动画对象的特征字段的量化规则，每个适用 于至少两个不同的特征字段，因此具有一个数值的所说的动画对象的多数或全部特征字段可以被量化.因此，有限数目的量化类型或规則可以被定义以覆盖所有可能的 情况.此外，已经提议作为一个对象或结点来传输量化参数.作为一个 结点来传输这些参数的优点是从与在一个场景描迷流中的传输结点 有关的所有功能中得益-说明在场景中的一个结点，在预定义缺省值的情况下等效于说明它的所有字段；-说明任何字段是重新定义一个值而不是这个字段的缺省值的一种方法；-这个结点可以被标识，然后每当在场景中需要时，只要简单地 通过指出它的标识符就可被重新使用.
全文摘要
一种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，在饱和区域，使用于控制供给到EL元件的驱动电流的元件驱动晶体管动作，根据使EL元件为发光电平时的阴极电流，对数据信号进行补偿，由此，可进行高速的显示偏差检查和高精度的显示偏差补偿。另外，通过在EL显示装置中设置电流测定功能，从而还可对应于显示装置出厂后的特性变化而进行补偿。
文档编号G09G3/30GK101221723SQ200710182199
公开日2008年7月16日 申请日期2007年9月20日 优先权日2006年9月21日
发明者小川隆司 申请人:三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社
技术领域：
本发明涉及在各像素中具有电致发光元件的显示装置的显示偏差的补偿。
技术背景作为将自发光元件的电致发光元件(在下面称为"EL元件")用于各 像素的显示元件的EL显示装置，人们正在期待作为下一代的平面显示装 置并在研究开发。对于这样的EL显示装置，在玻璃、塑料等的基板上，形成EL元件 和用于针对每个像素而驱动该EL元件的薄膜晶体管(TFT)等的EL面板 (panel)，然后，经过几次检查，作为制品而出厂。在各像素中具有TFT的目前的有源矩阵型EL显示装置中，产生该 TFT造成的显示不均匀，特别是由于TFT的阈值Vth的偏差，产生EL元 件的亮度偏差，构成合格率下降的主要原因。提高这样的制品的合格率是 非常重要的，伴随元件设计、材料、制造方法等的改进，要求减小显示缺 陷和显示不均匀(显示偏差)，并且在JP特开2005—316408 (在下面称 为专利文献l)等中，在产生显示不均匀等的情况下，人们尝试通过对其 进行补偿，形成良好的面板。在专利文献l中，使EL面板发光，测定各像素的亮度，对应于该亮 度的偏差，对供向像素的数据信号(图像信号)进行补偿。另外，作为另 一方法，提出在各像素中，组装对控制流过EL元件的电流的元件驱动晶 体管的Vth的偏差进行补偿的电路。在如专利文献l那样，使EL面板发光，通过照相机对其进行拍摄， 测定亮度偏差时，如果EL面板进行高精细化处理，像素数量增加，则为 了针对每个像素，测定其亮度偏差，测定和补偿对象多，必须要求提高照 相机的分辨率，扩大补偿信息的存储部的容量等。另外，即使在Vth补偿用的电路元件未组装于像素中的情况下，对 TFT的Vth的偏差造成的显示不均匀进行补偿的要求非常强。发明内容本发明的目的在于正确而有效地测定EL显示装置的显示偏差，可对 该显示偏差进行补偿。本发明涉及一种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，其中，上述 显示装置在各像素中具备二极管结构的电致发光元件和元件驱动晶体管， 该元件驱动晶体管与该电致发光元件连接并用于控制流过该电致发光元 件的电流，向各像素供给使上述电致发光元件为发光电平的检査用导通显 示信号，并且使上述元件驱动晶体管在该晶体管的饱和区域动作，检测流 过上述电致发光元件的电流，根据该电流值，对供给到对应的像素的上述 数据信号进行补偿。本发明的另一形式涉及一种电致发光显示装置，该电致发光显示装置 具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据存储 部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个， 具备电致发光元件和与该电致发光元件连接的元件驱动晶体管，在上述补 偿数据存储部中存储有与在供给了使上述电致发光元件为发光电平的检 查用导通显示信号时流过上述电致发光元件的电流相对应的补偿数据，上 述补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。本发明的还一形式涉及一种电致发光显示装置，该电致发光显示装置 具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据存储 部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具 备电致发光元件和与该电致发光元件连接的元件驱动晶体管，在上述补偿 数据存储部中存储有与导通截止电流差对应的补偿数据，该导通截止电流 差为在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检查用截止显示信号 和使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信号时对应于上述 检查用截止显示信号流过上述电致发光元件的电流、和对应于上述检查用 导通显示信号流过上述电致发光元件的电流之间的导通截止电流差，上述 补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。本发明的又一形式涉及一种电致发光显示装置，该电致发光显示装置具备具有多个像素的显示部；用于检测各像素的显示偏差的偏差检测部; 和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具备电 致发光元件和与该电致发光元件连接的元件驱动晶体管，上述偏差检测部 对在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检查用截止显示信号和 使上述电致发光元件为发光电平的检査用导通显示信号时对应于上述检 査用截止显示信号流过上述电致发光元件的电流、和对应于上述检査用导 通显示信号流过上述电致发光元件的电流之间的导通截止电流差进行检 测，并且将检测到的上述导通截止电流差与基准值进行比较，上述补偿部 按照上述比较的结果，对供给到各像素的数据信号进行补偿。本发明的还一形式涉及上述电致发光显示装置，其中，还具备存储与 上述导通截止电流差相对应的补偿数据的补偿数据存储部，上述补偿部根 据上述存储的上述导通截止电流差，对上述数据信号进行补偿。另外，还可包括存储上述导通截止电流差的初始电流差数据的存储 部，上述补偿部根据上述初始电流差数据与上述已检测到的导通截止电流 差，对上述数据信号进行补偿。在本发明的又一形式中，流过上述电致发光元件的电流为例如，阴极 电流。按照本发明，在饱和区域使设置于各像素中的、驱动EL元件的元件 驱动晶体管动作，使EL元件发光，测定此时流过EL元件的电流，例如 阴极电流。在EL元件中，流过元件的电流和发光亮度具有相关关系，可 通过测定电流，检测EL元件的显示偏差。还有，由于测定对象不是发光亮度，而是电流，故可通过简单的结构 测定。另外，如果使EL元件导通截止，测定此时的导通截止电流值，则 能以截止作电流为基准，正确地得知导通电流，可容易地进行正确而高速 的测定和补偿处理。此外，通过在显示装置中设置流过EL元件的电流的测定功能，还可 对应于后来发生的显示不均匀的产生，对其进行补偿。
图1为说明本发明的实施方式相关的EL显示装置的概略电路结构的等效电 路图。图2为说明本发明的实施方式相关的元件驱动晶体管的特性偏差测定原理的图。图3为标本发明的实施方式相关的EL显示装置的结构和阴极电流检查装置的概略结构的图。图4为表示采用图3的检査装置的发光状态检査步骤的一个实例的图。图5为表就fi^l」用阴极电流的高速的检查用的驱动波形的图。图6为表示本发明的实施方式相关的阴极电流检测和具有补偿功能的EL显示装置的动作步骤的一个实例的图。
具体实施方式
下面通过附图，对本发明的优选实施方式(在下面称为实施方式)进 行描述。(检测原理)在本实施方式中，显示装置具体为有源矩阵型的有机EL显示装置， 具有多个像素的显示部形成于EL面板100上。图1为表示本实施方式相 关的有源矩阵型EL显示装置的电路结构的等效电路结构的图。在EL面 板100的显示部中，呈矩阵状设置多个像素，沿矩阵的水平扫描(行方向)， 依次形成输出选择信号的选择线GL，沿垂直扫描方向(列方向)，形成 输出数据信号(Vsig)的数据线DL，在作为被驱动的有机EL元件(在下 面简称为"EL元件")中，形成用于供给驱动电源PVDD的电源线VL。各像素设置于大致通过这些线划分的区域，各像素包括作为被驱动元 件的EL元件。另外，设置通过n型沟道的TFT构成的选择线晶体管Trl(以下称为"选择Trl")，保持容量Cs，由p型沟道的TFT构成的元件 驱动晶体管Tr2 (以下称为"元件驱动Tr2")。在选择Trl中，其漏极与数据线DL连接，该数据线DL将数据电压(Vsig)供给沿垂直扫描方向并列的各像素，栅极与栅极线GL连接，该 栅极线GL用于选择在1水平扫描线上并列的像素，其源极与元件驱动Tr2 的栅极连接。另外，元件驱动Tr2的源极与电源线VL连接，漏极与EL元件的阳 极连接。EL元件的阴极按照通过各像素共用的方式形成，与阴极电源CV 连接。EL元件通过二极管结构，在下部电极和上部电极之间，具有发光元 件层。发光元件层包括例如，至少具有有机发光材料的发光层，可根据发 光元件层所采用的材料特性等，采用单层结构，2层，3层或4层以上的 多层结构。在本实施方式中，下部电极用作针对每个像素，按照各自形状 进行制作图案处理，并作为上述阳极发挥功能，与元件驱动Tr2连接。另 外，上部电极按照与多个像素共用的方式用作阴极。在针对每个像素，具有上述那样的电路结构的有源矩阵型EL显示装 置中，如果元件驱动Tr2的动作阈值Vth有偏差，则即使将同一数据信号 供给各像素的，同一电流也不从驱动电源PVDD供给到EL元件，其成为 亮度偏差(显示偏差)的原因。图2表示产生元件驱动Tr2的特性偏差(电流供给特性的偏差，例如， 动作阈值Vth的偏差)时的像素的等效电路和元件驱动Tr2和EL元件的 IV特性。在元件驱动Tr2的动作阈值Vth产生偏差时，通过电路方式，如 图2 (b)所示的那样，可看到在元件驱动Tr2的漏极侧，连接大于正常的 电阻，或小于正常的电阻。于是，流过EL元件的电流(在本实施方式中， 阴极电流Icv)特性不相对正常像素而变化，但是，实际上，流过EL元件 的电流对应于元件驱动Tr2的特性偏差而变化。在元件驱动Tr2上的外加电压满足Vgs—Vth<Vds时，元件驱动Tr2 在饱和区域动作。如图2 (a)所示的那样，在元件驱动Tr2的动作阈值 Vth高于正常像素的像素中，该晶体管的漏极与源极之间的电流Ids小于 正常的晶体管，对EL元件的供给电流量，即，流过EL元件的电流小于 正常像素(AI大)，其结果是，该像素的发光亮度小于正常像素的发光亮 度，造成显示偏差。反之，在元件驱动Tr2的动作阈值Vth小于正常像素的像素中，该晶 体管的漏极与源极之间的电流Ids大于正常的晶体管，流过EL元件的电 流大于正常像素，发光亮度增加。另夕卜，在对元件驱动Tr2的外加电压满足Vgs—Vth〉Vds时，该元件驱动Tr2在线性区域动作，在该线性区域，在阈值vth高的元件驱动Tr2 和阈值vth低的元件驱动Tr2中，Ids—Vds特性的差小，由此，对EL元 件的供给电流量的差(AI)也小。由此，EL元件不依赖元件驱动Tr2的 特性偏差的有无，呈现基本相同的发光亮度，难以在线性区域检测特性偏 差造成的显示偏差，但是，如上述那样，通过在饱和区域使元件驱动Tr2 动作，可检测该元件驱动Tr2的特性偏差造成的显示偏差。此外，如果根据已检测到的电流值，对供给各像素的数据信号进行补 偿，则能够可靠地对显示偏差进行补偿。例如，元件驱动Tr2的阈值I Vth I 小于正常值时，供给基准的数据信号时的EL元件的发光亮度高于通常值。于是，在该情况下，通过对应于相对阈值lvthl的基准的偏离值，减小数据信号的绝对值I Vsig I ，可对亮度偏差进行补偿。在元件驱动Tr2的阈值lvthl高于正常时，通过对应于相对阈值lvthl的基准的偏离值，增加数据信号的绝对值I Vsig I ，可对亮度偏差进行补偿。另外，在以上的像素电路中，元件驱动晶体管采用p型沟道的TFT， 但是，也可采用n型沟道的TFT。此外，在以上的像素电路中，对针对l 个像素，采用具有作为晶体管的选择晶体管和驱动晶体管的2个晶体管的 结构的实例进行了说明，但是，晶体管并不限于2个类型和上述电路结构。 (具体实例)下面参照图3 图5，对基于上述原理的阴极电流的检查和显示偏差 补偿进行具体说明。图3表示测定阴极电流，对亮度偏差进行补偿的装置的概略结构。电 流检查部300作为下述的检查装置而提供，该检查装置用于在出厂时，根 据阴极电流的测定检查EL面板100的显示偏差的检查装置，检查用信号 发生电路320根据控制部310的控制，产生检查所必需的检查用电源，检 查用的时刻信号，显示信号等，将其通过端子IOOT供向EL面板IOO。偏 差检测部340根据阴极电流检测部350检测到的阴极电流Icv，检测显示 偏差是否发生。EL面板驱动装置200与EL面板100 —起构成EL显示装置，其包括 用于驱动EL面板100的面板驱动部210;补偿值存储部(补偿参数设定 部)250;偏差补偿部240，该偏差补偿部240采用在出厂时存储于该补偿值存储部250中的补偿值，对数据信号进行补偿。图4表示阴极电流的测定和显示偏差的补偿的步骤的一个实例。在显 示装置的出厂之前，通过电流检查部300的检查用信号发生电路320的信 号，使各像素的选择Trl导通，并且将检查用导通(on)显示信号通过相 应的像素的选择Trl，外加于元件驱动Tr2的栅极上(Sl)。此时，元件驱动Tr2按照在饱和区域动作，如上所述，满足Vgs—Vth <Vds的方式设定。元件驱动Tr2采用p型沟道的TFT时的电压与普通显 示模式相同，作为一个实例，将驱动电源PVDD为8.0V，阴极电源CV为 一3V，供给各像素的检查用导通显示信号采用OV的信号。阴极电流检测部350在饱和区域，使相应的像素的元件驱动Tr2动作， 检测使EL元件发光时的阴极电流Icv (S2)。偏差检测部340对已检测的 阴极电流Icv和基准值(基准范围)进行比较，在阴极电流大于基准值时， 计算增加供给到EL面板100的数据信号的电压，减小流过EL元件的电 流所必需的补偿值，另外在小于基准范围时，计算减小数据信号的电压， 增加流过EL元件的电流所必需的补偿值。这些补偿值作为每个像素的补 偿值，存储于存储部250中(S3)。另外，对于EL面板驱动装置200的 偏差补偿部240的功能，也可在存储部250中，不直接存储补偿值，而存 储补偿所必需的参数和已测定的每个像素的阴极电流值(初始阴极电流 值)。另外，在偏差检测部340中，作为对阴极电流Icv和基准值进行比 较的结果，阴极电流Icv超过允许范围，大于基准值时，或在小于该基准 值时，即使通过对数据信号进行补偿，仍不能够补偿，即，判定显示缺陷 的发生，如果可矫正，则可返回到矫正处理步骤。还有，在元件驱动Tr2为n型沟道的TFT时，对已检测到的阴极电流 Icv和基准值进行比较，在阴极电流大于基准值时，求得减小供给到EL面 板100的数据信号的电压并增加流过EL元件的电流所必需的补偿值，另 外，在小于基准值时，计算增大供给到EL面板100的数据信号的电压， 减小流过EL元件的电流所必需的补偿值。如上述那样，在存储部250中存储补偿值，另外，进行其它的检查， 最终将判定为良品的EL显示装置出厂，该EL显示装置在动作时， 一边 对数据信号进行补偿， 一边进行显示。在对从外部供给的图像信号进行处理，将每个像素的数据信号供给到EL面板100时，偏差补偿部240判断该数据信号的图像地址是否为补偿 的必需的像素，在地址一致，即，是补偿必需的像素时(S10)，从存储 部250读出补偿参数等的补偿信息(S11)，计算对数据信号的补偿值 (S12)。通过将已计算的补偿值，与例如所供给的数据信号相乘的方式，对数 据信号进行补偿(S13)，该数据信号(Vsig)通过EL面板100的图1所 示的数据线DL被供给到相应的像素，EL元件按照与已补偿的数据信号相 对应的亮度发光，进行显示(S14)。 (阴极电流高速测定)图5表示釆用阴极电流Icv，高速地检查显示偏差时的EL面板100 的驱动波形。在图5所示的检查方法中，在选择l个像素的期间中(l个 水平时钟信号的2分之1周期)，相对该像素，连续地外加导通显示信号 (EL发光)和截止(off)显示信号(EL非发光)来作为检査用显示信号 Vsig。另外，图3的检查用信号发生电路320采用水平起始信号STH、水 平时钟信号CKH等，由此，制作该检查用显示信号。阴极电流检测部350 分别检测与导通显示信号相对应的EL元件的阴极电流Icv。n和与截止显示 信号相对应的EL元件的阴极电流Icv。ff (根据需要，对电流进行放大)， 偏差检测部340计算导通和截止的阴极电流的差分AIcv，对该差分数据， 与例如基于正常像素的差分数据的基准值进行比较，由此，可捡测显示偏 差。此外，同样在图5所示的检查方法中，如上述那样，按照元件驱动 T。在饱和区域动作的方式设定驱动电源PVDD和阴极电流CV。另外， 在图5中，垂直时钟信号CKV为与垂直方向的像素数相对应的时钟信号， 使能(enable) ENB为用于防止在1个水平扫描期间的最初和最后，在数 据信号Vsig未确定的时候，将选择信号输出给各水平扫描线(栅极线GL) 时的禁止信号。如上那样，测定截止显示信号时的阴极信号ICV。ff，以该IcV。ff为基准，相对地把握导通显示信号时的阴极电流Icv。n，由此，不必正确地判断导通显示信号时的阴极电流ICV。n的绝对值，不必测定形成另一基准的截止显示信号时的阴极电流ICV。ff，可高精度地进行高速的自动检査。具体来说，作为一个实例，可针对R， G， B的各像素，分别按照小于3秒的时间，进 行阴极电流的测定，可进行极高速度的检查。例如，与使EL元件发光， 通过照相机对其进行拍摄，根据该拍摄数据，分析亮度的方法相比较，可 显著地縮短检查时间，另外，可针对全部像素，检测显示偏差。显然，在 必须减小补偿值存储部250的容量时，也可将阴极电流的测定对象作为多 个像素单元，存储多个像素(区域)单元的补偿值。此时，例如，在偏差 补偿部240中，可通过对邻接的多个像素区域的补偿值进行线性内插处理 等的方法，确定对关注像素的补偿值。另外，在图5所示的检査方法中，确定沿矩阵设置的像素的列方向， 即向各数据线DL输出显示信号的期间的水平启始信号STH，在2列的选 择期间设定。在普通显示时，各水平扫描线上的像素按照相应的1H期间 而选择，在此时相应的数据线DL上，每次按照相当于以l个水平扫描方 向的像素数量分割1H期间的期间，输出显示信号Vsig。相对该情况，在 偏差检査时采用检查用的水平开始信号STH，由此，相对1根数据线DL， 在2像素量的显示信号输出期间，供给检查用显示信号Vsig。 gp，在同一 水平扫描线中并列的像素中，邻接的2个像素同时构成检查对象。另外， 该像素的同时检查对象数并不限于2，例如，也可将每次3个像素作为检 査对象。象这样，针对1个像素，连续多次地形成检査对象，由此，在同 步信号、检査用显示信号Vsig等叠加噪音并产生像素误显示的情况下， 由于这样的噪音叠加在多个期间连续地发生的概率小，故可减小噪音的误、、、在这里，用于驱动EL面板100的显示部的各像素用的驱动电路中的 水平方向驱动电路，包括与水平扫描方向的像素数量相对应的级数的移位 寄存器，该移位寄存器对应于水平时钟信号CKH，依次转送水平启始信 号STH，并且从寄存器的各级，相对采样电路，输出确定向相应的数据线 DL输出显示信号Vsig的期间(采样期间)的采样保持信号。另外，呈现 该采样保持信号的采样期间与上述水平启始信号STH的期间(在这里，H 电平期间)相对应。由此，如果相对EL面板100的水平方向驱动电路， 在缺陷检查时，供给检査用信号发生电路320所制作的图5所示的这样的检查用的水平启始信号STH来作为水平启始信号STH，另外，向在各数 据线DL上经采样电路而连接的视频信号线，输出图5所示那样的检查用 显示信号Vsig，则可每次针对多个像素，供给检查用显示信号Vsig，进行检査。另外，图5的驱动方法对于包括与供给到数据线DL的显示信号的驱 动波形的切换时刻联动，设定元件驱动Tr2的导通截止(EL元件的发光， 非发光)时刻的像素电路时是有效的，作为一个实例，可应用于图l所示 的那样的像素电路结构。另外，即使在向用于控制各像素的保持电容Cs 的电位用的电容线CL，供给所需的交流信号这样的像素电路结构的情况 下，仍可附加在检查时，固定电容线CL的电位的电容电位控制开关等， 使元件驱动Tr2对应于供给到数据线DL的显示信号的时刻而动作，这样， 可采用图5那样的检査方法。(带有显示偏差测定功能的显示装置)以上针对在出厂时测定阴极电流，预先存储补偿值的方法进行了说 明，但是，也可在EL显示装置中设置阴极电流测定(显示偏差测定)功 能。下面参照图6，对具有显示偏差测定功能和补偿功能的EL显示装置 进行说明。EL显示装置的结构通过下述的方式实现，该方式为图3所示的电 流检查部300与EL面板100和EL面板驱动装置200 —起设置，从电流 检查部300的检查用信号发生电路320，例如如上述图5所示的那样，供 给使EL元件为非发光电平的检查用截止显示信号和使其为发光电平的检 查用导通显示信号，测定此时的阴极电流差AIcv。另外，该阴极电流测定 最好例如在装置启动时、等待时等的普通动作时以外的期间进行。阴极电流测定的方法如上所述，与图5相同，使选择Td导通，使元 件驱动Tr2处于饱和状态，施加检查用导通显示信号、检查用截止显示信 号(S30)，阴极电流检测部350检测阴极电流，偏差检测部340检测阴 极电流AIcv (S31)。偏差检测部340还对该阴极电流差AIcv是否为基准值(基准范围) 进行比较(S32)，对应于其结果，求出补偿值(S33)。如果阴极电流差 AIcv在基准范围内，则由于为正常像素(没有显示偏差)，故偏差补偿部240选择对于该像素的补偿量为0的参数，在不在基准范围内时，由于产 生显示偏差，因此计算与基准值的差相对应的补偿参数。象这样计算的补 偿参数在补偿值存储部250中设定。在普通显示时，偏差补偿部240与图 4的显示装置出厂后的使用时的步骤(S10 S14)相同，采用已设定的补 偿参数，对必要的像素的数据信号进行补偿，供给该数据信号，进行显示 (S34)。通过象这样，在显示装置中设置阴极电流测定功能，即使在通过出厂 后的伴随时间的变化，在元件驱动Tr2等产生特性变化的情况下，仍可对 应于其变化，对数据信号进行补偿，可长期地维持显示质量，可提高显示 装置的寿命。另外，在出厂时，测定初始状态(出厂)中的相同的阴极电流差AIcv， 将其测定值作为基准值，存储于存储部250中，由此，可更加正确地检测 伴随使用的特性随时间而产生的变化，另外，可考虑伴随时间的变化，进 行补偿运算。此外，以上，以在EL显示装置中设置阴极电流测定功能时，测定阴 极电流AIcv的方案为实例而进行了描述，但是，也可在出厂后的显示偏 差检测时，测定仅仅将检查用导通显示信号供给到各像素时的阴极电流， 预先存储规定基准值(例如初始阴极电流)，将其与该基准值进行比较。还有，以上，作为在出厂时或出厂后中的任意情况下显示偏差的检测 方法，以测定阴极电流的方法为实例进行了说明，但是，也可针对在出厂 时的显示偏差检测，如图3中的虚线所示的那样，采用使EL元件发光， 对其进行拍摄的照相机400，检测发光亮度，根据该亮度，计算补偿值。 另外，还可在出厂后，通过电流检查部300，检测阴极电流，进一步对数 据信号进行补偿。再有，如果就以上描述的偏差补偿部240的补偿来说，最终将供给到 产生显示偏差的像素的数据信号调整到合适的电平，对EL元件的发光亮 度进行补偿，则运算处理、补偿处理方法没有特别的限制。另外，可提供下述的显示装置，其中，将偏差补偿部240、内置于显 示装置中时的电流检査部300与面板驱动部210—起进行集成，由此，可 通过非常小的驱动电路，进行显示偏差的检测和补偿。此外，可相对补偿值存储部250，依次改写或添加在电流检查部300 中检测到的阴极电流值(AIcv)或补偿信息，由此，可恒久地实现没有显 示不均匀的显示装置。还有，在以上的说明中，给出了采用EL元件的阴极电流(例如AIcv) 作为偏差补偿的检查时测定的电流的实例，但是，可根据流过EL元件的 电流Ioled (AIoled)进行检查。流过该EL元件的电流Ioled也可不是例如 上述阴极电流Icv，而是阳极电流Iano。也可代替将EL元件的各像素的个 别电极作为阳极电极，多个像素中公共的电极作为阴极电极的方案，在个 别电极为阴极电极，公共电极为阳极电极时，如上述那样，测定流过公共 电极的电流的阳极电流(AIano)。
权利要求
1.一种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，上述显示装置在各像素中具备二极管结构的电致发光元件和元件驱动晶体管，该元件驱动晶体管与该电致发光元件连接并用于控制流过该电致发光元件的电流，向各像素供给使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信号，并且使上述元件驱动晶体管在该晶体管的饱和区域动作，检测流过上述电致发光元件的电流，根据该电流值，对供给到对应的像素的上述数据信号进行补偿。
2. 根据权利要求1所述的显示偏差补偿方法，其特征在于， 流过上述电致发光元件的电流为阴极电流。
3. —种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，上述显示装置在各像素中具备二极管结构的电致发光元件和元件驱 动晶体管，该元件驱动晶体管与该电致发光元件连接并用于控制流过该电 致发光元件的电流，使各像素的上述元件驱动晶体管在该晶体管的饱和区域动作，并且向 该像素供给使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信号和使 上述电致发光元件为非发光电平的检查用截止显示信号，检测对应于上述检查用导通显示信号而流过上述电致发光元件的电 流，和对应于上述检查用截止显示信号而流过上述电致发光元件的电流之 间的导通截止电流差，将上述导通截止电流差与基准值进行比较，检测动作的像素的特性偏差，按照上述检测到的特性偏差，对供给到对应的像素的上述数据信号进 行补偿。
4. 一种电致发光显示装置，具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据 存储部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个，具备电致发光元件和与该电致发光元件连接 的元件驱动晶体管，在上述补偿数据存储部中存储有与在供给了使上述电致发光元件为 发光电平的检查用导通显示信号时流过上述电致发光元件的电流相对应 的补偿数据，上述补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。
5. —种电致发光显示装置，具备具有多个像素的显示部；用于对显示偏差进行补偿的补偿数据 存储部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具备电致发光元件和与该电致发光元件连接 的元件驱动晶体管，在上述补偿数据存储部中存储有与导通截止电流差对应的补偿数据， 该导通截止电流差为在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检查 用截止显示信号和使上述电致发光元件为发光电平的检查用导通显示信 号时对应于上述检查用截止显示信号的上述电致发光元件的阴极电流、和 对应于上述检查用导通显示信号的上述电致发光元件的阴极电流之间的 导通截止电流差，上述补偿部按照上述补偿数据，对供给到各像素的数据信号进行补偿。
6. —种电致发光显示装置，具备具有多个像素的显示部；用于检测各像素的显示偏差的偏差检 测部；和用于对上述显示偏差进行补偿的补偿部，上述多个像素的每一个具备电致发光元件和与该电致发光元件连接 的元件驱动晶体管，上述偏差检测部对在供给了使上述电致发光元件为非发光电平的检 査用截止显示信号和使上述电致发光元件为发光电平的检査用导通显示 信号时流过对应于上述检查用截止显示信号的上述电致发光元件的电流、 和流过对应于上述检查用导通显示信号的上述电致发光元件的电流之间 的导通截止电流差进行检测，并且将检测到的上述导通截止电流差与基准数。然而，所选的量化参数仅适用于很有限数目的字段.这影响到必 须以未量化的方式传输大量字段.显然，这限制了数据的数字压缩的 效率.本发明的一个特定目的是它克服在本专业状态中的这些缺点。 更具体地说，本发明的一个目的旨在提供一个数据信号，以及<吏 用这个信号的方法和设备，以便于大大减小编码所必须的数据并因此传输和/或保存特别是以例如VRML和MPEG- 4标准的动画图形场景。本发明的另一个目的旨在提供一个对代表图形场景的数据编码 的技术，它能以低的通过量在一个网络上传输场景，并在终端中重建 这些场景，而其中终端不是必需的主要硬件或软件装置.本发明的另一个目的旨在提供这样一个技术，以使其对任何类型 的场景和构成这个场景一部分的任何类型的元素都有效，而不需要对 一些元素特別的(換句话说以一种未量化的方式)处理.这些目的和后面将描述的其它目的，按照本发明通过使用一个固 形场景的动画数据信号来实现，该图形场景被建造图象的装置所使 用，该图象可以被显示在至少一个屏幕上， 一个信号，其中所说的场 景以一组动画对象的形式来描述，每个对象与定义所说对象的一个参 数的至少一个特征字段有关，并包括至少一个量化对象，对于该对 象，特征字段定义所说的动画对象的特征字段的量化规则，每个适用 于至少两个不同的特征字段，因此具有一个数值的所说的动画对象的多数或全部特征字段可以被量化.因此，有限数目的量化类型或规則可以被定义以覆盖所有可能的 情况.此外，已经提议作为一个对象或结点来传输量化参数.作为一个 结点来传输这些参数的优点是从与在一个场景描迷流中的传输结点 有关的所有功能中得益-说明在场景中的一个结点，在预定义缺省值的情况下等效于说明它的所有字段；-说明任何字段是重新定义一个值而不是这个字段的缺省值的一种方法；-这个结点可以被标识，然后每当在场景中需要时，只要简单地 通过指出它的标识符就可被重新使用.
全文摘要
一种电致发光显示装置的显示偏差补偿方法，在饱和区域，使用于控制供给到EL元件的驱动电流的元件驱动晶体管动作，根据使EL元件为发光电平时的阴极电流，对数据信号进行补偿，由此，可进行高速的显示偏差检查和高精度的显示偏差补偿。另外，通过在EL显示装置中设置电流测定功能，从而还可对应于显示装置出厂后的特性变化而进行补偿。
文档编号G09G3/30GK101221723SQ200710182199
公开日2008年7月16日 申请日期2007年9月20日 优先权日2006年9月21日
发明者小川隆司 申请人:三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社
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