本公开涉及测距,具体而言,涉及一种测距装置与清洁设备。
背景技术:
1、飞行时差测距(time offlight,tof)装置是通过光飞行时间测量目标物与参考位置之间物距的技术,由于其具有感测距离长、测量范围大等优点被广泛应用。
2、tof装置中通常包括发射模组和接收模组,发射模组用于向检测范围发射检测光,检测光遇到物体后反射,传感器通过计算光线发射和反射时间差或相位差,来换算被拍摄景物的距离,以产生深度信息。
3、然而,现有的tof装置的感测精度较低,无法满足更高精度场景的需求。
4、需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、本公开的目的在于提供一种测距装置与清洁设备。
2、根据本公开的一个方面,提供了一种测距装置,测距装置包括:
3、发射模组,所述发射模组被配置为向检测范围内发射用于进行距离检测的感测光束;
4、接收模组,所述接收模组被配置为接收来自检测范围内的反射光束,并根据接收到的反射光束输出相应的光感应信号;
5、第一匀光器件,所述第一匀光器件设于所述接收模组接收反射光束的接收路径上,所述第一匀光器件被配置为对所述反射光束进行匀光;
6、控制模块,所述控制模块被配置为控制所述发射模组向检测范围内发射用于进行距离检测的感测光束。
7、在本公开的一种示例性实施例中,所述测距装置还包括:
8、第二匀光器件,所述第二匀光器件设于所述发射模组发射感测光束的发射路径上,所述第二匀光器件被配置为对所述感测光束进行匀光。
9、在本公开的一种示例性实施例中,所述第一匀光器件包括磨砂匀光片、光学材质匀光片、衍射光学匀光片、薄膜匀光片、镀膜匀光片中的至少一种;和/或,所述第二匀光器件包括磨砂匀光片、光学材质匀光片、衍射光学匀光片、薄膜匀光片、镀膜匀光片中的至少一种。
10、在本公开的一种示例性实施例中,所述发射模组包括发射透镜和发射器,所述第二匀光器件位于所述发射透镜与所述发射器之间。
11、在本公开的一种示例性实施例中,所述第二匀光器件设于所述发射透镜上或所述发射器上。
12、在本公开的一种示例性实施例中,所述接收模组包括接收透镜和探测器,所述第一匀光器件位于所述接收透镜与所述探测器之间。
13、在本公开的一种示例性实施例中,所述第一匀光器件设于所述接收透镜上或所述探测器上。
14、在本公开的一种示例性实施例中,所述接收模组包括接收透镜和探测器,所述发射模组包括发射透镜和发射器;所述发射模组与所述接收模组为同轴设置;所述第一匀光器件位于所述接收透镜与所述探测器之间的接收路径上,或者所述第一匀光器件同时位于所述接收透镜与所述探测器之间的接收路径上及所述发射透镜与所述发射器之间的发射路径上。
15、在本公开的一种示例性实施例中,所述测距装置还包括:
16、处理模组,所述处理模组被配置为在一次检测周期内,根据所述光感应信号输出检测范围内反射光束的物体与测距装置之间的距离。
17、根据本公开的另一个方面,提供了一种清洁设备,清洁设备包括上述的测距装置。
18、本公开提供的测距装置,接收模组接收反射光束的接收路径上设有第一匀光器件,反射光束经过第一匀光器件后,探测器的感光面上回波归一化强度差异较小,即强度会变得均匀分布,从而使得反射光束的光强差异减小,进而能够通过光强均匀的反射光束提高测量精度;同时,能够避免由于收发对准失调带来的产品性能差异增大,提升了生产良率。
19、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
1.一种测距装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述测距装置还包括:
3.根据权利要求2所述的测距装置,其特征在于,所述第一匀光器件包括磨砂匀光片、光学材质匀光片、衍射光学匀光片、薄膜匀光片、镀膜匀光片中的至少一种;和/或,所述第二匀光器件包括磨砂匀光片、光学材质匀光片、衍射光学匀光片、薄膜匀光片、镀膜匀光片中的至少一种。
4.根据权利要求2所述的测距装置,其特征在于,所述发射模组包括发射透镜和发射器,所述第二匀光器件位于所述发射透镜与所述发射器之间。
5.根据权利要求4所述的测距装置,其特征在于,所述第二匀光器件设于所述发射透镜上或所述发射器上。
6.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述接收模组包括接收透镜和探测器,所述第一匀光器件位于所述接收透镜与所述探测器之间。
7.根据权利要求6所述的测距装置,其特征在于,所述第一匀光器件设于所述接收透镜上或所述探测器上。
8.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述接收模组包括接收透镜和探测器,所述发射模组包括发射透镜和发射器;所述发射模组与所述接收模组为同轴设置;所述第一匀光器件位于所述接收透镜与所述探测器之间的接收路径上,或者所述第一匀光器件同时位于所述接收透镜与所述探测器之间的接收路径上及所述发射透镜与所述发射器之间的发射路径上。
9.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述测距装置还包括:
10.一种清洁设备,其特征在于,包括权利要求1~9任一项所述的测距装置。
