电容笔的压力校准方法、设备和存储介质与流程

1.本发明涉及电容笔技术领域，尤其涉及电容笔的压力校准方法、电容笔的压力校准设备和存储介质。


背景技术：

2.随着科学技术的发展，越来越多的电子设备配套有电容笔产品，电容笔作为利用笔与电容式屏幕完成人机对话操作的工具，能够模拟书写、绘画等输入动作，受到越来越多的用户青睐。
3.电容笔作为输入用的电子产品，对于人体接触并施加于电容笔上的压力检测有着高精度的需求，而电容笔的压力校准过程一般需要两个电容笔的压力值及对应的压力测试信号，其中一个压力测试信号为通过电容笔按照对应压力值实测得到的测试值，另一个压力测试信号为预设压力值对应的预先标定的固定值，实测的测试值会引入治具误差，而预先标定的固定值不存在治具误差，这会导致校准过程中的治具误差无法消除，导致校准结果不准确，影响电容笔的操作精度。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的在于提供一种电容笔的压力校准方法、电容笔的压力校准设备和存储介质，旨在提高电容笔压力测试信号校准的准确性，提高电容笔的操作精度。
5.为实现上述目的，本发明提供一种电容笔的压力校准方法，所述电容笔的压力校准方法包括以下步骤：
6.获取第一压力对应的电容笔的第一测试信号和第二压力对应的电容笔的第二测试信号；
7.根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数；
8.根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。
9.可选地，所述根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数的步骤包括：
10.确定所述第一测试信号与所述第二测试信号的第一信号差值，确定所述第一压力与所述第二压力之间的第一压力差值；
11.根据所述第一信号差值与所述第一压力差值的比值确定所述第一校准系数。
12.可选地，定义预设信号偏差为所述电容笔的治具误差，所述根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数的步骤包括：
13.确定所述第一测试信号与所述预设信号偏差的差值为所述电容笔在所述第一压力下的第一输出信号，确定所述第二测试信号与所述预设信号偏差的差值为所述电容笔在所述第二压力下的第二输出信号；
14.确定所述第一输出信号与所述第二输出信号的第二信号差值，确定所述第一压力
与所述第二压力之间的第二压力差值；
15.根据所述第二信号差值与所述第二压力差值的比值确定所述第一校准系数。
16.可选地，所述根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号的步骤之后，还包括：
17.控制所述电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得对应的测试轨迹的轨迹特征参数；
18.当所述轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，根据所述测试轨迹对应的测试参数确定第二校准系数，并根据所述第一校准系数和所述第二校准系数确定第三校准系数；
19.根据所述第三校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。
20.可选地，所述控制所述电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得对应的测试轨迹的轨迹特征参数的步骤包括：
21.按照第三压力和第四压力控制所述电容笔按照所述预设轨迹在所述测试面板上移动，分别获得所述第三压力对应的第一轨迹特征参数和所述第四压力对应的第二轨迹特征参数，所述轨迹特征参数包括所述第一轨迹特征参数和所述第二轨迹特征参数。
22.可选地，所述当所述轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，根据所述测试轨迹对应的测试参数确定第二校准系数，并根据所述第一校准系数和所述第二校准系数确定第三校准系数的步骤包括：
23.当所述第一轨迹特征参数或所述第二轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，获取所述第三压力对应的所述电容笔的第三测试信号和所述第四压力对应的所述电容笔的第四测试信号，所述测试参数包括所述第三压力和所述第四压力；
24.根据所述第三压力、所述第三测试信号、所述第四压力以及所述第四测试信号确定所述第二校准系数；
25.根据所述第一校准系数及对应的第一权重参数、以及所述第二校准系数及对应的第二权重参数确定所述第三校准系数。
26.可选地，所述根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号的步骤包括：
27.获取所述电容笔与所述测试面板之间的关联关系对应的所述测试面板的屏幕补正系数；
28.根据所述第一校准系数和所述屏幕补正系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。
29.可选地，所述第一压力为基于所述电容笔的用户数据统计获得的压力，所述第二压力为所述电容笔允许校准的压力上限值。
30.此外，为了实现上述目的，本技术还提出一种电容笔的压力校准设备，所述电容笔的压力校准设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电容笔的压力校准程序，所述电容笔的压力校准程序配置为实现如上所述的电容笔的压力校准方法的步骤。
31.此外，为了实现上述目的，本技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有电容笔的压力校准程序，所述电容笔的压力校准程序被处理器执行时实现如上所述的电容笔
的压力校准方法的步骤。
32.本发明提出的一种电容笔的压力校准方法，该方法通过获取第一压力对应的电容笔的第一测试信号和第二压力对应的电容笔的第二测试信号，确定压力校准的输入值和输出值，然后根据第一压力、第一测试信号、第二压力以及第二测试信号确定第一校准系数，进而根据第一校准系数校准电容笔检测的压力测试信号。相比于传统的电容笔压力校准方法，该方法利用两个压力以及对应的测试信号，用于校准的两个压力对应的测试信号均为实测得到的信号，使校准过程不再只是引入一个治具误差，有利于不同测试信号对应的治具误差可在校准过程中相互抵消，从而避免校准过程中治具误差对电容笔压力校准结果的影响，提高电容笔压力测试信号校准的准确性，提高电容笔的操作精度。
附图说明
33.图1为本发明电容笔的压力校准设备一实施例运行涉及的硬件结构示意图；
34.图2为本发明电容笔的压力校准方法一实施例的流程示意图；
35.图3为本发明电容笔的压力校准方法另一实施例的流程示意图；
36.图4为本发明电容笔的压力校准方法又一实施例的流程示意图。
37.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
38.应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
39.本发明实施例提出一种电容笔的压力校准设备。如图1所示，该电容笔的压力校准设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(central processing unit，cpu)，存储器1002。其中，存储器1002可以是高速的随机存取存储器(random access memory，ram)存储器，也可以是稳定的非易失性存储器(non-volatile memory，nvm)，例如磁盘存储器。存储器1002可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
40.本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对电容笔的压力校准设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
41.如图1所示，作为一种存储介质的存储器1002中可以包括电容笔的压力校准程序。在图1所示的电容笔的压力校准设备中，处理器1001可以用于调用存储器1004中存储的电容笔的压力校准程序，并执行以下实施例中电容笔的压力校准方法的相关步骤操作。
42.本发明实施例还提供了一种电容笔的压力校准方法，应用于上述电容笔的压力校准设备。
43.参照图2，提出本技术电容笔的压力校准方法一实施例。在本实施例中，所述电容笔的压力校准方法包括：
44.步骤s10，获取第一压力对应的电容笔的第一测试信号和第二压力对应的电容笔的第二测试信号；
45.第一压力和第二压力为电容笔压力校准过程中作为测试样本的两个压力值，需要说明的是，第一压力和第二压力为两个不相同的压力值，并且均不为零。对应的，第一测试信号为电容笔以第一压力为测试样本时输出的信号，第二测试信号为电容笔以第二压力为测试样本时输出的信号，通过第一测试信号或第二测试信号的信号值大小可以判断对应压
力的大小，电容笔正是根据该信号值的大小确认电容笔受到的压力并输出对应的书写效果。
46.可选地，通过设置不同克重的负重(例如砝码)以更换测试样本的压力值，分别设置电容笔受到第一压力对应的负重和第二压力对应的负重，并记录对应输出的第一测试信号和第二测试信号。
47.在其他实施例中，也可以获取两个以上的压力值和对应的测试信号进行电容笔压力校准。
48.步骤s20，根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数；
49.可选地，根据第一压力和第一测试信号可以建立对应的第一关系式，该第一关系式是以第一压力为输入参数，第一测试信号为输出参数的关系式。同时，也可根据第二压力和第二测试信号建立对应的第二关系式。进一步的，可确定关系式中和输入参数有关，并影响输出参数的参数为第一校准系数，通过结合第一关系式和第二关系式可以获得关于第一校准系数的第三关系式，该第三关系式是以第一校准系数为输出参数，第一压力、第一测试信号、第二压力以及第二测试信号为输入参数的关系式。根据第三关系式可以确定第一校准系数。
50.步骤s30，根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。
51.需要说明的是，对电容笔进行压力校准是电容笔生产过程中执行的其中一个工序，压力校准可以在电容笔的各部件组装完成之前进行，通过针对电容笔中与压力感应或校准相关的部件或模块作为校准对象。
52.此外，在对电容笔进行压力校准的过程中所使用的治具包括多种设备，例如电子秤和用于对模拟信号和数字信号进行转换的设备，每个设备根据各自的物理硬件均会在校准过程中产生一定的误差，各个设备所产生的误差汇总后最终对输出的结果产生影响，从而导致校准过程中出现治具误差，本实施例正是通过上述步骤消除治具误差，确定准确的第一校准系数。
53.可选地，在确定第一校准系数后，根据第一校准系数校准电容笔检测的压力测试信号，从而使电容笔的压力测试信号能够与实际的压力值相匹配。
54.本发明实施例提出的一种电容笔的压力校准方法，该方法通过获取第一压力对应的电容笔的第一测试信号和第二压力对应的电容笔的第二测试信号，确定压力校准的输入值和输出值，然后根据第一压力、第一测试信号、第二压力以及第二测试信号确定第一校准系数，进而根据第一校准系数校准电容笔检测的压力测试信号。相比于传统的电容笔压力校准方法，该方法利用两个压力以及对应的测试信号，用于校准的两个压力对应的测试信号均为实测得到的信号，使校准过程不再只是引入一个治具误差，有利于不同测试信号对应的治具误差可在校准过程中相互抵消，从而避免校准过程中治具误差对电容笔压力校准结果的影响，提高电容笔压力测试信号校准的准确性，提高电容笔的操作精度。
55.进一步的，在本实施例中，所述第一压力为基于所述电容笔的用户数据统计获得的压力，所述第二压力为所述电容笔允许校准的压力上限值。
56.可选地，通过用户数据统计，可以确定用户的实际使用环境中最常使用的压力值，或者可以数据统计中的平均数或中位数等方式确定目标数值，从而根据用户的实际使用情
况确定第一压力。此外，电容笔的压力校准存在有限的范围，当电容笔受到的压力大于该范围时，电容笔没有支持对应压力值的功能，甚至该压力值可能会导致电容笔损坏，因此也可以将电容笔在极限条件下的情况作为测试例，即将允许校准的压力上限值作为第二压力，确保电容笔在压力上限值下也能准确校准。
57.通过基于电容笔的用户数据统计和压力上限值确定第一压力和第二压力，能够保证作为测试样本的第一压力和第二压力的可靠性，从而提高电容笔压力校准的准确性，提高用户的使用体验。
58.进一步的，基于上述实施例，提出本技术电容笔的压力校准方法另一实施例。在本实施例中，参考图3，所述根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数的步骤包括：
59.步骤s21，确定所述第一测试信号与所述第二测试信号的第一信号差值，确定所述第一压力与所述第二压力之间的第一压力差值；
60.步骤s22，根据所述第一信号差值与所述第一压力差值的比值确定所述第一校准系数。
61.在本实施例中，电容笔的压力值及其对应的测试信号呈线性相关，具体的可预先建立电容笔的压力值及对应的测试信号的线性关系式，线性关系式中作为自变量的压力值的斜率表征的是电容笔的校准系数。基于线性关系式可建立电容笔在不同压力值下与测试信号之间的线性关系式，获得不同压力值分别对应的第一关系式和第二关系式，则可确定线性关系式中斜率参数，即确定第一校准系数。
62.可选地，第一压力对应第一关系式、第二压力对应第二关系式，根据第一关系式和第二关系式可确定电容笔压力测试信号的校准系数与第一压力、第二压力、第一测试信号、第二测试信号之间的数量关系。第一测试信号与第二测试信号的第一信号差值，即两个关系式的输出参数的差值，第一压力与第二压力之间的第一压力差值即为两个关系式输入参数的差值，第一信号差值与第一压力差值的比值即为两个线性关系式拟合后关于斜率参数的关系式。基于此，可获得第一校准系数与第一信号差值、第二信号差值之间的数量关系，基于该数量关系便可通过第一信号差值、第一压力差值的比值确定第一校准系数。
63.此外，线性关系式中的常数项为输入的压力值为零时的预压值，预压值通过人工输入设置。输入压力值为零即相当于以预压值作为测试样本，无法在两个压力测试样本中均引入治具误差从而消除，因此第一压力和第二压力均不为零。
64.在其他实施例中，也可根据实际需求，根据第一压力、第一测试信号、第二压力以及第二测试信号曲线拟合确定第一校准系数。
65.可确定第一测试信号和第二测试信号中均包括相同的治具误差，通过确定两个测试信号的第一信号差值，可将其中的治具误差相互抵消，继而根据第一信号差值与第一压力差值之间的比值确定第一校准系数，从而确定第一压力和第二压力两个测试样本下的测试例拟合的第一校准系数，提高电容笔压力校准的准确性。
66.进一步的，在本实施例中，定义预设信号偏差为所述电容笔的治具误差，所述根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数的步骤包括：
67.步骤s210，确定所述第一测试信号与所述预设信号偏差的差值为所述电容笔在所
述第一压力下的第一输出信号，确定所述第二测试信号与所述预设信号偏差的差值为所述电容笔在所述第二压力下的第二输出信号；
68.步骤s211，确定所述第一输出信号与所述第二输出信号的第二信号差值，确定所述第一压力与所述第二压力之间的第二压力差值；
69.步骤s220，根据所述第二信号差值与所述第二压力差值的比值确定所述第一校准系数。
70.预设信号偏差即为治具误差，第一输出信号和第二输出信号为对应压力下实际应输出的准确信号值，在压力校准过程中治具误差被引入，导致原应输出的第一输出信号和第二输出信号混合该预设信号偏差，从而输出第一测试信号和第二测试信号，即第一测试信号为预设信号偏差与第一输出信号的和，第二测试信号为预设信号偏差与第二输出信号的和。因为第一压力和第二压力均基于同样的治具进行校准，可以确定第一测试信号和第二测试信号中预设信号偏差的数值相同。
71.可选地，在实际校准过程中，预设信号偏差为未知参数，而第一测试信号为预设信号偏差与第一输出信号的和，并且第二测试信号为预设信号偏差与第二输出信号的和，因此第一测试信号与第二测试信号的差值即可将两方的预设信号偏差抵消，获得第一输出信号与第二输出信号的第二信号差值，继而根据第二信号差值和第二压力差值从而确定第一校准系数。
72.可确定第一测试信号和第二测试信号中均包括相等的预设信号偏差，通过第一测试信号与第二测试信号的差值将两方的预设信号偏差抵消，确定第一输出信号和第二输出信号的差值，继而根据准确的第一输出信号和第二输出信号，以及第一压力和第二压力确定第一校准系数，实现在确定第一校准系数过程中将引入的治具误差消除，提高电容笔压力校准的准确性。
73.进一步的，基于上述实施例，提出本技术电容笔的压力校准方法又一实施例。在本实施例中，参考图4，所述根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号的步骤之后，还包括：
74.步骤s40，控制所述电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得对应的测试轨迹的轨迹特征参数；
75.步骤s50，当所述轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，根据所述测试轨迹对应的测试参数确定第二校准系数，并根据所述第一校准系数和所述第二校准系数确定第三校准系数；
76.步骤s60，根据所述第三校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。
77.可选地，在完成根据第一校准系数校准电容笔检测的压力测试信号后，可进一步对电容笔的压力校准效果进行验证，即模拟实际使用场景，将电容笔组装完成并进行书写。
78.测试面板为电容屏，用于模拟实际使用场景中用户书写的屏幕，可以支持电容笔在面板上进行书写并反馈对应的书写效果。预设轨迹为模拟实际使用场景中用户可能操作电容笔书写的轨迹，例如某个汉字、图形或多组线条等，预设轨迹可由工作人员设置，以设计尽可能体现电容笔压力校准后书写效果的轨迹。
79.进一步的，轨迹特征参数为提取测试轨迹的特征后的对应参数，设备可根据轨迹特征参数确认测试轨迹的书写效果，示例性的，轨迹特征参数可以包括轨迹中心是否有不
连续的像素点，中心线条的位置，线条的磅数，像素点总面积等，在本实施例中不限定轨迹特征参数的种类。相对应的，预设轨迹特征参数为提取预设轨迹的特征后的对应参数，预设轨迹特征参数包括与轨迹特征参数相同种类的参数，可作为判断测试轨迹的书写效果是否与预设轨迹匹配的指标参数。当轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，则判断测试轨迹的书写效果不及格，示例性的，测试轨迹中心线条的位置与预设轨迹中心线条位置的距离大于预设距离，判断为不匹配。
80.此外，在控制电容笔在测试面板上移动书写时，需要对电容笔进行负重，以模拟实际使用时的压力条件，该负重数值即为测试参数，并且为了更好的验证压力校准效果，测试参数可设置为与第一压力以及第二压力均不相同的压力值。
81.可选地，进一步对电容笔的压力校准效果进行验证，控制电容笔在测试面板上按照预设轨迹移动，即进行书写输入，通过测试面板反馈的结果可获得该输入对应的测试轨迹，提取该测试轨迹的轨迹特征参数，将轨迹特征参数与对应预设轨迹的预设轨迹特征参数比对，确认是否匹配；当不匹配时，根据测试参数对电容笔再次进行压力校准以确定第二校准系数，并根据第一校准系数和第二校准系数确定第三校准系数。
82.通过比对测试轨迹的轨迹特征参数与预设轨迹的预设轨迹特征参数，可确定电容笔在实际使用场景中的书写效果，进一步确定电容笔的压力校准效果，并根据其结果对第一校准系数作出补正，提高电容笔压力校准的准确性。
83.进一步的，在本实施例中，所述控制所述电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得对应的测试轨迹的轨迹特征参数的步骤包括：
84.步骤s41，按照第三压力和第四压力控制所述电容笔按照所述预设轨迹在所述测试面板上移动，分别获得所述第三压力对应的第一轨迹特征参数和所述第四压力对应的第二轨迹特征参数，所述轨迹特征参数包括所述第一轨迹特征参数和所述第二轨迹特征参数。
85.第三压力和第四压力均为测试参数，需要说明的是，第三压力和第四压力均为与第一压力和第二压力不相同的压力值，以测试其他压力值下的书写效果。进一步的，第三压力和第四压力可基于电容笔的用户数据统计获得，例如可以选取与第一压力和第二压力不同且用户使用较多的两个压力值，也可根据员工经验设置，以选取能尽可能体现测试轨迹的轨迹特征参数的压力值。
86.可选地，确定第三压力和第四压力，使电容笔负重第三压力，控制电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得第三压力对应的第一轨迹和第一轨迹特征参数；使电容笔负重第四压力，控制电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得第四压力对应的第二轨迹和第二轨迹特征参数。
87.在其他实施例中，可选取其他压力值或使用更多的压力值执行本步骤，或针对不同的压力值设计不同的预设轨迹进行测试。
88.通过设置第三压力和第四压力并获取对应压力下的轨迹特征参数，可确定电容笔在对应压力下的书写效果，从而结合实际使用场景对电容笔压力校准结果进行测试，提高电容笔压力校准的准确性。
89.进一步的，在本实施例中，所述当所述轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，根据所述测试轨迹对应的测试参数确定第二校准系数，并根据所述第一校准系数和所
述第二校准系数确定第三校准系数的步骤包括：
90.步骤s51，当所述第一轨迹特征参数或所述第二轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，获取所述第三压力对应的所述电容笔的第三测试信号和所述第四压力对应的所述电容笔的第四测试信号，所述测试参数包括所述第三压力和所述第四压力；
91.步骤s52，根据所述第三压力、所述第三测试信号、所述第四压力以及所述第四测试信号确定所述第二校准系数；
92.步骤s53，根据所述第一校准系数及对应的第一权重参数、以及所述第二校准系数及对应的第二权重参数确定所述第三校准系数。
93.针对第三压力和第四压力两种情况，预设轨迹特征参数可以包括对应的第一预设轨迹特征参数和第二预设轨迹特征参数，用于比对两种压力下的轨迹特征参数是否匹配合格。
94.可选地，当第三压力或第四压力下的轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，可以第三压力和第四压力作为测试样本，再次进行压力校准，获取第三压力对应的第三测试信号和第四压力对应的第四测试信号，并根据第三压力、第三测试信号、第四压力以及第四测试信号确定第二校准系数。
95.进一步的，第一权重参数为关于第一校准系数在最终校准系数结果中所占比例的参数，第二权重参数为关于第二校准系数在最终校准系数结果中所占比例的参数，第一权重参数和第二权重参数可根据员工经验设置，例如均为0.5。基于第一校准系数及对应的第一权重参数、以及第二校准系数及对应的第二权重参数，可确定最终校准系数结果的第三校准系数。
96.通过基于测试效果不合格的压力值再次进行压力校准，并结合两次压力校准的校准系数确定最终的校准系数，可以进一步提高电容笔校准系数的准确性，消除第一校准系数中可能存在的误差，提高电容笔压力校准的准确性和电容笔的操作精度。
97.进一步的，在本实施例中，所述根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号的步骤包括：
98.步骤s31，获取所述电容笔与所述测试面板之间的关联关系对应的所述测试面板的屏幕补正系数；
99.步骤s32，根据所述第一校准系数和所述屏幕补正系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。
100.测试面板为模拟实际使用场景的电容屏，考虑到电容笔实际使用时可能会搭配各种品牌或型号的电容屏使用，而不同电容屏基于不同的硬件参数可能具备不同的输出反馈，可根据不同的电容屏设置对应的屏幕补正系数，用于弥补不同电容屏上可能出现的误差，使电容笔在不同电容屏上都具备相同的压力校准效果和相同的输出效果。屏幕补正系数可根据员工经验设置。
101.可选地，在电容笔与测试面板关联后，确定测试面板对应的屏幕补正系数，利用屏幕补正系数和第一校准系数同时对电容笔检测的压力测试信号进行校准。
102.通过结合实际使用时关联的电容屏，利用屏幕补正系数对电容笔的压力校准进行进一步的补正，可以使电容笔在应用于不同电容屏时均具备相同的压力校准准确性，提高电容笔使用体验的稳定性。
103.此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有电容笔的压力校准程序，所述电容笔的压力校准程序被处理器执行时实现如上电容笔的压力校准方法任一实施例的相关步骤。
104.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
105.上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
106.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
107.以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征：
1.一种电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述电容笔的压力校准方法包括以下步骤：获取第一压力对应的电容笔的第一测试信号和第二压力对应的电容笔的第二测试信号；根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数；根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。2.如权利要求1所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数的步骤包括：确定所述第一测试信号与所述第二测试信号的第一信号差值，确定所述第一压力与所述第二压力之间的第一压力差值；根据所述第一信号差值与所述第一压力差值的比值确定所述第一校准系数。3.如权利要求1所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，定义预设信号偏差为所述电容笔的治具误差，所述根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数的步骤包括：确定所述第一测试信号与所述预设信号偏差的差值为所述电容笔在所述第一压力下的第一输出信号，确定所述第二测试信号与所述预设信号偏差的差值为所述电容笔在所述第二压力下的第二输出信号；确定所述第一输出信号与所述第二输出信号的第二信号差值，确定所述第一压力与所述第二压力之间的第二压力差值；根据所述第二信号差值与所述第二压力差值的比值确定所述第一校准系数。4.如权利要求1所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号的步骤之后，还包括：控制所述电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得对应的测试轨迹的轨迹特征参数；当所述轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，根据所述测试轨迹对应的测试参数确定第二校准系数，并根据所述第一校准系数和所述第二校准系数确定第三校准系数；根据所述第三校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。5.如权利要求4所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述控制所述电容笔按照预设轨迹在测试面板上移动，获得对应的测试轨迹的轨迹特征参数的步骤包括：按照第三压力和第四压力控制所述电容笔按照所述预设轨迹在所述测试面板上移动，分别获得所述第三压力对应的第一轨迹特征参数和所述第四压力对应的第二轨迹特征参数，所述轨迹特征参数包括所述第一轨迹特征参数和所述第二轨迹特征参数。6.如权利要求5所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述当所述轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，根据所述测试轨迹对应的测试参数确定第二校准系数，并根据所述第一校准系数和所述第二校准系数确定第三校准系数的步骤包括：当所述第一轨迹特征参数或所述第二轨迹特征参数与预设轨迹特征参数不匹配时，获取所述第三压力对应的所述电容笔的第三测试信号和所述第四压力对应的所述电容笔的第四测试信号，所述测试参数包括所述第三压力和所述第四压力；
根据所述第三压力、所述第三测试信号、所述第四压力以及所述第四测试信号确定所述第二校准系数；根据所述第一校准系数及对应的第一权重参数、以及所述第二校准系数及对应的第二权重参数确定所述第三校准系数。7.如权利要求4所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号的步骤包括：获取所述电容笔与所述测试面板之间的关联关系对应的所述测试面板的屏幕补正系数；根据所述第一校准系数和所述屏幕补正系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。8.如权利要求1至7中任一项所述的电容笔的压力校准方法，其特征在于，所述第一压力为基于所述电容笔的用户数据统计获得的压力，所述第二压力为所述电容笔允许校准的压力上限值。9.一种电容笔的压力校准设备，其特征在于，所述电容笔的压力校准设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电容笔的压力校准程序，所述电容笔的压力校准程序配置为实现如权利要求1至8中任一项所述的电容笔的压力校准方法的步骤。10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有电容笔的压力校准程序，所述电容笔的压力校准程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的电容笔的压力校准方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种电容笔的压力校准方法、电容笔的压力校准设备和存储介质，属于电容笔技术领域，该方法包括：获取第一压力对应的电容笔的第一测试信号和第二压力对应的电容笔的第二测试信号；根据所述第一压力、所述第一测试信号、所述第二压力以及所述第二测试信号确定第一校准系数；根据所述第一校准系数校准所述电容笔检测的压力测试信号。本发明旨在提高电容笔压力测试信号校准的准确性，提高电容笔的操作精度。笔的操作精度。笔的操作精度。


技术研发人员：钟洪耀 李林 丁新满
受保护的技术使用者：深圳市千分一智能技术有限公司
技术研发日：2022.09.01
技术公布日：2023/1/6